「defect inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(23ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an LSI inspection circuit capable of realizing inspection of an LSI operated with a low voltage at high speed, without being influenced by a capacity component and a resistance component added to an external terminal, and facilitating specification of a defect sport when a defect is generated in the LSI inspection.例文帳に追加

低電圧高速動作するＬＳＩの検査を、外部端子に付加される容量成分、抵抗成分の影響を受けずに実現し、ＬＳＩ検査で不良が発生した場合、不良個所の特定を容易にするＬＳＩ検査回路を提供する。 - 特許庁

To obtain a reproduction output signal for inspection having a sufficient level even at the time of off-track of a magnetic heat for inspection, when the defect inspection of a discrete track type magnetic disk medium provided with grooves is performed by using a defect inspecting device for the present mass-production line not furnished with servo function.例文帳に追加

溝付きのディスクリート・トラック型磁気ディスク媒体の欠陥検査を、サーボ機能を備えていない既存の量産ラインの欠陥検査装置を用いて行う際、検査用磁気ヘッドのオフトラック時にも十分なレベルの検査用再生出力信号を得る。 - 特許庁

A method for the inspection is provided, in which a semiconductor wafer is inspected, and a defect image detected by the inspection is displayed on a screen, and an input interface is employed, capable of selecting any one from defects whose image is displayed, and the inspection is carried out after adjusting the inspection condition such that the ability for detecting the defect taught by a user rises.例文帳に追加

半導体ウェハを検査し、検査で検出した欠陥の画像を画面に表示し、画像を表示された欠陥から任意の欠陥を選択可能な入力インターフェースを設け、ユーザによって教示された欠陥の検出性能が高くなるように検査条件を調整し、検査を行う。 - 特許庁

Defect kind number distribution work is repeated when a plurality of defects of an inspection object exists after all is evaluation-finished, and a recipe file is output as the accumulated condition with the large defect signal intensity and an inspection condition item distribution as an inspection recipe to be provided to the inspection condition setting person.例文帳に追加

全て評価完了し、検査対象としたい欠陥が複数ある場合には欠陥種類数分作業を繰返し、蓄積された欠陥信号強度の大きい条件及び検査条件項目分布を検査条件レシピとして自動的にレシピファイルを出力して検査条件設定作業者に提供する。 - 特許庁

The analyzer is an inspection device interface module 214, constituted to simulate an inspection device interface 212 in at least one display unit, the inspection device interface includes functions usable on corresponding inspection tool, and at least one part of the inspection device interface includes the inspection device interface module, based on a defect result from the inspection tool.例文帳に追加

この装置は、前記少なくとも１つのディスプレイ装置中で検査器インタフェース（２１２）をシミュレーションするよう構成された検査器インタフェースモジュール（２１４）であって、前記検査器インタフェースは、対応する検査ツール上で利用可能な機能を含み、前記検査器インタフェースは、少なくとも一部は前記検査ツールからの欠陥結果に基づく、検査器インタフェースモジュールを含む。 - 特許庁

To provide an inspection system capable of setting easily an inspection condition in a relatively short time, capable of setting easily the inspection condition even when no sample exists, and capable of providing the inspection condition and a defect signal intensity to an inspection condition setting person to support the setting for the inspection condition.例文帳に追加

検査条件設定を比較的短時間にかつ容易に行うことができ、また、サンプルがない場合にも検査条件設定の検討を可能にし、さらに、検査条件と欠陥信号強度を検査条件設定者に提供して検査条件設定を支援することができる検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for defect inspection, capable of detecting the defects of an inspection member that has large surface roughness and irregularities on surface, without having to maintain the surface of the inspection member.例文帳に追加

被検査材の表面を手入れすることなく、表面粗さが大きく、表面に凹凸をもつ被検査材の欠陥を検出する欠陥検査方法および装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an efficient defect inspection device that does not require a preparation process for special region detection for an inspection object conveyed continuously in a manufacture line, and can greatly shorten an inspection time.例文帳に追加

製造ラインを連続して搬送される被検査物に対して、特殊領域検出のために準備工程を必要とせず、検査時間の大幅な短縮が可能な、効率の良い検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detector capable of supplying a power source to a defect detector control circuit by the power generated by using a solar cell at a defect inspection time, simultaneously with detection of deterioration of a light source, and performing efficient and accurate light source inspection.例文帳に追加

本発明は、光源の劣化を検出すると同時に、欠点検査時に太陽電池を用いて発電する電力で欠点検出器制御回路に電源を供給可能な、効率的かつ正確な光源検査が可能な欠陥検出器を提供せんとするものである。 - 特許庁

The inspection standard determining apparatus 1 determines the inspection standard which is used for determining as to whether a defect candidate area of a sample is a defect, by using the appearance feature quantity of the defect candidate area, based on the psychological measurement curve obtained, by digitizing the response of the inspector M to a stimulation consisting of the feature quantity.例文帳に追加

検査基準決定装置１は、試料の欠陥候補領域が有する外観的特徴量により欠陥であるかどうかを判定する検査基準を、その特徴量からなる刺激に対する検査員Ｍの応答を数値化した心理測定曲線、に基づいて決定する。 - 特許庁

To provide a device having a small device scale, allocating surely a defect of an observation object into a visual field of an electron microscope or the like, concerning a device for observing minutely by the electron microscope or the like, a defect detected by an optical defect inspection device or an optical appearance inspection device.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を電子顕微鏡等で詳細に観察する装置において、観察対象の欠陥を確実に電子顕微鏡等の視野内に入れることができ、かつ装置規模を小さくできる装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect marker and a defect marking method for films with improved accuracy in recognizing the location of a defect in a marking area, thus capable of preventing reduction of yield and reducing man-hours required for a visual inspection.例文帳に追加

マーキングエリアでの欠陥部分の位置の認識精度を向上させることで歩留りを下げることなく、かつ、目視検査の工数を削減できるフィルム用欠陥マーキング装置及び欠陥マーキング方法を提供する。 - 特許庁

To provide a phase difference defect inspection device which easily discriminates and detects the residual defect of a phase shifter and the surface flaw defect of a glass substrate from another defects, such as foreign matter (light shielding) defects.例文帳に追加

位相シフターの残存欠陥及びガラス基板の表面傷欠陥を異物（遮光）欠陥等の他の欠陥と区別して検出することを簡便に行なう位相差欠陥検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus, for the inspection of a defect, wherein the existence of the defect in even a weld in a nuclear reactor can be detected surely and the shape or the size of the defect can be found.例文帳に追加

原子炉の溶接部であってもその溶接部の欠陥の有無を確実に検出することができ、しかも、その欠陥の形状や大きさを求めることのできる欠陥検査方法と欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an optical disk inspection device which inspects a defect of an optical disk with high accuracy.例文帳に追加

光ディスクの欠陥検査において、精度の高い検査を行うことのできる光ディスク検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a substrate inspection method and apparatus in which the erroneous determination of a foreign material or a defect is sufficiently prevented.例文帳に追加

異物や欠陥の誤判定を十分に防止することができる基体検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a distortion defect inspection device unaffected by lighting environment for inspecting surface conditions.例文帳に追加

表面の状態と検査する照明環境などに左右されない表面歪み欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

Therefore, disturbance in the alignment of this range is prevented and appropriate defect inspection can be performed.例文帳に追加

このため、この範囲内でのアライメントの混乱の発生が防止され、適切な欠陥検査を行うことができる。 - 特許庁

To quickly apply marking for a defect portion on an inspection object, and to reduce the size of a device.例文帳に追加

検査対象物上の欠陥箇所に対するマーキングを迅速に行うとともに、装置の小型化を図る。 - 特許庁

SUBSTRATE FOR DISPLAY DEVICE, LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL, LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE, AND DEFECT INSPECTION METHOD OF WIRING FOR REPAIR例文帳に追加

表示装置用基板、液晶表示パネル及び液晶表示装置並びにリペア用配線の欠陥検査方法 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus for stably detecting defects even if an optical system fluctuates.例文帳に追加

光学系の変動が生じても、欠陥を安定して検出することができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a metal ring inspection apparatus for solving a problem of excessive defect detection and a problem of cost increase.例文帳に追加

過剰な欠陥検出の問題やコスト上昇の問題を解決した金属リング検査装置を提供する。 - 特許庁

The substrate (1) to be subjected to normal/defective condition deciding is subjected to defect inspection and the defects and their addresses are determined.例文帳に追加

本発明では、良否判定すべき基板（１）について欠陥検査を行い、欠陥及びそのアドレスを求める。 - 特許庁

A 1st inspection screen 524 is constituted of a production data display part 520 and a defect breakdown display part 522.例文帳に追加

第１の検査画面５２４は、生産データ表示部５２０と欠陥内訳表示部５２２とで構成されている。 - 特許庁

To provide a means for inspecting a response to only an OFF stimulus in an inspection of advancing a visual field defect.例文帳に追加

視野欠損の進行の検査において、ＯＦＦ刺激のみに対する応答を検査する手段を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method for a filter with good sensitivity of detecting the defect of a filter and with excellent work efficiency.例文帳に追加

フィルタの欠陥を検知する感度が良く、かつ作業効率に優れるフィルタの検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a transparent body inspection device for determining whether any defect exists as to various types of defects.例文帳に追加

複数の種類の欠陥について欠陥の有無を判定することができる透明体検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method for inspecting a micro phase defect in an EUV mask blank simply with high sensitivity.例文帳に追加

ＥＵＶマスクブランクス中の微細な位相欠陥を感度良く且つ簡易に検出する検査方法を提供する。 - 特許庁

Ultrasonic waves are transmitted and received by a probe 10, thereby detecting a defect S or flaws of the inspection object 100.例文帳に追加

探触子１０から超音波を送受信することで、試験体１００の欠陥Ｓまたはきずを検出する。 - 特許庁

The SW transistor 128_k is driven by time sharing in a light emission period without performing inspection or repair of the unlit defect.例文帳に追加

滅点の検査やリペアをせずに、発光期間において、ＳＷトランジスタ１２８_kを時分割で駆動する。 - 特許庁

Thereby, the influence by the ghost image can be eliminated at the inspection of a photomask defect using ultraviolet laser light.例文帳に追加

こうすることで、紫外レーザ光を用いたフォトマスクの欠陥の検査におけるゴースト像の影響を排除する。 - 特許庁

After performing skew correction of the inspection image data, image collation is performed, and thereby a print defect is extracted (S204, S205).例文帳に追加

検査画像データをスキュー補正した後に、画像照合して印刷欠陥を抽出する（Ｓ２０４，Ｓ２０５）。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR DETECTING DEFECT BY 8- NEIGHBORHOOD POINT ADJOINING COMPARISON SYSTEM IN IMAGING INSPECTION DEVICE例文帳に追加

撮像検査装置における８近傍点隣接比較方式による欠陥検出方法、欠陥検出システム - 特許庁

An evaluation part 81 evaluates the presence of the defect in the inspection portion of the infrared cut-off filter 10, based on a digital image obtained therein, and records a state of the defect such as a position and a size a shape of the defect, in an HDD 82, when the defect exists.例文帳に追加

このとき得られるデジタルな画像をもとに、評価部８１は赤外カットフィルタ１０の検査部分に欠陥があるか否かを評価し、欠陥がある場合には、その欠陥の位置、大きさ、形状などの欠陥の状態をＨＤＤ８２に記録する。 - 特許庁

To provide a defect detection optical system and a defect inspection device that can detect a defect at a high accuracy and have a simple structure without being affected by scratch in a substrate surface or directivity of scattered light on a chip defect.例文帳に追加

基板表面のスクラッチやカケ欠陥の散乱光の指向性に影響されることなく、欠陥検出が高い精度で検出でき、かつ構造が簡単な欠陥検出光学系欠陥検出光学系および欠陥検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To obtain a defective image even when a defect is present under an optically transparent film, in the case where the defect is observed by using an SEM based on defect position data outputted from a defect inspection device by an optical means.例文帳に追加

光学的手段による欠陥検査装置により出力された欠陥位置データに基づいてＳＥＭを用いて該欠陥を観察する場合において、該欠陥が光学的に透明な膜の下に存在する場合でも、欠陥画像の取得を行えるようにする。 - 特許庁

To provide a pattern defect repairing device where a problem when a laser beam is adopted as a light source of an inspection device of a pattern defect, the defect of a pattern is inspected with higher resolution and the defect of the mask pattern can highly precisely be repaired.例文帳に追加

レーザ光をパターン欠陥の検査装置の光源として採用した場合の問題点を解決し、より高い分解能でパターンの欠陥を検査し、これにより高精細なマスクパターンの欠陥修復を行なえるパターン欠陥修復装置を提供する。 - 特許庁

To provide a solid-state image pickup device, a pixel defect inspection device and a pixel defect correction method that can properly correct a defect of a remarkable area in an image screen and satisfy a requirement for effective utilization of a defect correction performance so as to obtain an excellent image.例文帳に追加

画面での目立つ領域の欠陥補正を的確に行い、かつ欠陥補正能力の有効利用という要求を満足させて良好な画像を得ることのできる固体撮像装置、画素欠陥検査装置および画素欠陥補正方法の提供。 - 特許庁

To provide a pattern defect repair apparatus capable of repairing the defect of a higher fineness mask pattern by solving the problem of the case a laser beam is employed as a light source for an inspection apparatus for the pattern defect and by inspecting the defect of the pattern with higher resolution.例文帳に追加

レーザ光をパターン欠陥の検査装置の光源として採用した場合の問題点を解決し、より高い分解能でパターンの欠陥を検査し、これにより高精細なマスクパターンの欠陥修復を行なえるパターン欠陥修復装置を提供する。 - 特許庁

To solve a problem wherein there is similarly no reference in the result of defect inspection of a circular sample such as a disk substrate where a reference position cannot be created, so that the re-inspection of the same sample, comparing inspection between manufacturing processes, reproducibility evaluation of an inspection apparatus, and matching with other inspection apparatuses are ambiguous.例文帳に追加

ディスク基板のような基準位置を作成できない円形の試料において、欠陥検査の結果も同様に基準が無いため、同一試料の再検査、製造工程間での比較検査、検査装置の再現性評価、他検査装置との突合せなどが曖昧である。 - 特許庁

When a line defect 7 is found by lighting inspection, the drive IC chip 4, connected to a signal line at the part of line defect 7, is replaced with a new one.例文帳に追加

点灯検査によって線欠陥７が発見された場合には、線欠陥７の箇所の信号線に接続する駆動ＩＣチップ４を、新しいものと交換する。 - 特許庁

To provide a device and method for defect inspection, capable of inspecting a defect generated on the surface of a workpiece at high speed with high accuracy.例文帳に追加

被検査物の表面上に発生する欠陥を、高速に、かつ、高精度に検査することのできる欠陥検査装置及び欠陥検査方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a system and a method for pattern defect inspection which can speed up detailed analysis of detected pattern defect in semiconductor circuit pattern formation process, by skipping visual reinspection through a review device.例文帳に追加

半導体回路パターン形成工程において、レビュー装置による目視再検査を省略して、検出したパターン欠陥の詳細な解析を迅速化する。 - 特許庁

To provide a defect detection device and method capable of shortening an inspection time corresponding to the case where a large defect larger than a prescribed size exists.例文帳に追加

所定サイズ以上の大欠陥がある場合に対応して検査時間を短縮することができる欠陥検出装置および欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To prevent a fault at defect inspection or a disconnection defect of wiring due to irregularities caused on a surface when reducing the thickness of copper foil by etching.例文帳に追加

銅箔の厚さをエッチングによって減少させるときに、表面に凹凸が生じることで欠陥検査の障害となったり、配線の断線不良となったりすること。 - 特許庁