「defect inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

NONDESTRUCTIVE DEFECT INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

非破壊欠陥検査システム - 特許庁

INSPECTION APPARATUS FOR DEFECT OF WAFER例文帳に追加

ウェーハ欠陥検査装置 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

表面欠陥検査装置 - 特許庁

MASK DEFECT INSPECTION APPARATUS AND MASK DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

マスク欠陥検査装置及びマスク欠陥検査方法 - 特許庁

PREPREG DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

プリプレグ欠点検査方法 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

表面欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD OF COATING DEFECT INSPECTION例文帳に追加

塗装不良検査方法 - 特許庁

STEEL SHEET DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

鋼板欠陥検査装置 - 特許庁

WAFER DEFECT INSPECTION METHOD AND WAFER DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

ウェハ欠陥検査方法及びウェハ欠陥検査装置 - 特許庁

MASK DEFECT INSPECTION METHOD AND MASK DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

マスク欠陥検査方法及びマスク欠陥検査装置 - 特許庁

IMAGE DEFECT INSPECTION DEVICE, IMAGE DEFECT INSPECTION SYSTEM, DEFECT CLASSIFICATION DEVICE, AND IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

画像欠陥検査装置、画像欠陥検査システム、欠陥分類装置及び画像欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD OF SHEET MATERIAL AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

シート材の欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION APPARATUS AND PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査装置およびパターン欠陥検査方法 - 特許庁

INTERNAL DEFECT INSPECTION DEVICE AND INTERNAL DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

内部欠陥検査装置および内部欠陥検査方法 - 特許庁

INTERNAL DEFECT INSPECTION METHOD AND INTERNAL DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

内部欠陥検査方法および内部欠陥検査装置 - 特許庁

MASK DEFECT INSPECTION APPARATUS AND MASK DEFECT INSPECTION PROGRAM例文帳に追加

マスク欠陥検査装置およびマスク欠陥検査プログラム - 特許庁

PHASE DIFFERENCE DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

位相差欠陥検査装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査装置およびパターン欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE FOR SUBSTRATE例文帳に追加

基板の欠陥検査装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査装置、及び、パターン欠陥検査方法 - 特許庁

MASK DEFECT INSPECTION DEVICE AND MASK DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

マスク欠陥検査装置およびマスク欠陥検査方法 - 特許庁

RETICLE DEFECT INSPECTION DEVICE AND RETICLE DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

レチクル欠陥検査装置およびレチクル欠陥検査方法 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

表面欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT INFORMATION ACQUISITION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置、欠陥情報取得装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

SILICON WAFER DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

シリコンウェハ欠陥検査装置 - 特許庁

OPTICAL DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

光学式欠陥検査装置 - 特許庁

TAPE CARRIER DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

テープキャリア欠陥検査装置 - 特許庁

PHOTOMASK DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

フォトマスクの欠陥検査装置 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

表面欠陥の検査装置 - 特許庁

STICK BAR DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

スティックバー不良検査装置 - 特許庁

CONCRETE DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

コンクリートの欠陥検査装置 - 特許庁

TAPE CARRIER DEFECT INSPECTION SYSTEM, TAPE CARRIER DEFECT INSPECTION METHOD, AND TAPE CARRIER DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

テープキャリア欠陥検査システム、テープキャリア欠陥検査方法及びテープキャリア欠陥検査装置 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE, SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD, AND SURFACE DEFECT INSPECTION PROGRAM例文帳に追加

表面欠陥検査装置、表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査プログラム - 特許庁

INSPECTION METHOD OF PATTERN DEFECT AND INSPECTION DEVICE THEREOF例文帳に追加

パターン欠陥検査方法および装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION APPARATUS AND DEFECT INSPECTING METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTING DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE OF GRAY TONE MASK, AND DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE OF PHOTOMASK例文帳に追加

グレートーンマスクの欠陥検査方法及び欠陥検査装置、並びにフォトマスクの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE FOR FACE PLATE例文帳に追加

面板の欠陥検査装置 - 特許庁

TRANSPARENT PLATE DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

透明板欠陥検査装置 - 特許庁

ELECTRON BEAM DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

電子ビーム欠陥検査装置 - 特許庁

TRANSFER FOIL DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

転写箔欠点検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD OF CRT PANEL例文帳に追加

ＣＲＴパネルの欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

MEDIUM DEFECT INSPECTION DEVICE AND MEDIUM DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

媒体欠陥検査装置、および媒体欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD OF CIRCUIT PATTERN例文帳に追加

回路パターンの欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁