「defect inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(19ページ目) - Weblio英語例文検索

To recognize whether a reflector reflecting an ultrasonic wave has a defect due to a crack or a defect other than a defect due to rust, when a reflected wave is obtained in ultrasonic inspection of a low-pressure steam turbine wheel.例文帳に追加

低圧蒸気タービンホイールの超音波検査において、反射波が得られた場合に、超音波の反射体が割れ等の欠陥なのか錆等の欠陥以外のものかを識別する。 - 特許庁

To ensure the sensitivity for detecting a low intensity defect, and accurately determine a defect rank of a high intensity defect in a halation region in an image inspection.例文帳に追加

画像検査において、低輝度の欠陥を検出するための感度を確保しつつ、ハレーション領域における高輝度の欠陥についても、正確な欠陥ランクの判定を可能にする。 - 特許庁

To provide a semiconductor defect inspection device which automatically detects a defect on a semiconductor wafer using circuit design data to estimate the cause of the defect generation, and a method thereof.例文帳に追加

回路設計データを用いた半導体ウェーハ上の欠陥を自動的に検出し、欠陥発生原因の推定を行う半導体欠陥検査装置ならびにその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection method and apparatus capable of detecting a minute surface defect and setting and changing in accordance with the depth of the minute surface defect, a criterion for determining the quality of an object under test.例文帳に追加

微細な表面欠陥を検出し、さらには微細な欠陥の深さに基づいて被検査物の良否の判定を設定、変更できる表面検査方法及び装置を得る。 - 特許庁

To provide an inspection method enabling accurate detection of a defect by a foreign substance and a defect by a minute change in film thickness around the defect in manufacturing an antireflection film.例文帳に追加

反射防止フィルムの製造において、異物などの欠陥とその周辺の膜厚の微小な変化による欠陥を正確に検出できる検査方法を提供するものである。 - 特許庁

To access a defect position quickly and surely when a defect on a semiconductor wafer detected by a defect inspection apparatus is reviewed and analyzed by means of a charged beam system.例文帳に追加

荷電ビーム装置で欠陥検査装置で検出された半導体ウェハの欠陥をレビュー，分析するに際し、欠陥位置へのアクセスが迅速かつ的確に行なうことを可能にする。 - 特許庁

To provide a nozzle visual inspection apparatus capable of identifying the kind of a defect that occurs in a nozzle hole, and a nozzle visual inspection method.例文帳に追加

ノズル穴に生じる欠陥の種類を特定可能なノズル外観検査装置、およびノズル外観検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of inspecting a large-hole connection defect of a shadow mask without deterioration in inspection accuracy and inspection efficiency.例文帳に追加

シャドウマスクの大孔つながり不良を検査精度及び検査能率を落とすことなく検査する方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The inspection is carried out after the objective region for the defect inspection of the intrinsically transparent liquid cell substrate 8 is confined by using the image.例文帳に追加

この画像を用い、本来透明な液晶セル基板８の欠陥検査の対象領域を限定してから検査を実行する。 - 特許庁

To make the inspection of pattern defects possible in a photomask using a resist as a light shield by a photomask defect inspection device which detects transmitting light.例文帳に追加

レジストを遮光体としたホトマスクにおいて、透過光検出型のホトマスク欠陥検査装置によるパターン欠陥検査を可能にする。 - 特許庁

To provide an inspection method and inspection apparatus for accurately detecting a defect of a double row bearing and for detecting torque abnormality.例文帳に追加

複列軸受の欠陥を高精度に検出でき、また、トルク異常の検出も可能な検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a soldering inspection method and a soldering inspection device in which an electrical bonding defect can be inspected at high speed and with high accuracy.例文帳に追加

高速かつ高精度な白目不良の検査を行なうことができる、半田付け検査方法及び半田付け検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an infrared image inspection device inexpensively inspect a defect without disassebling or moving an inspection object.例文帳に追加

検査対象物を分解あるいは移動することなくより安価に欠陥を検査することができる赤外線映像検査装置である。 - 特許庁

Inspection units 10 and 20 performing macro defect inspection or line width measurement of a pattern are disposed in the indexer ID.例文帳に追加

マクロ欠陥検査やパターンの線幅測定等を行う検査ユニット１０および検査ユニット２０はインデクサＩＤの内部に配置している。 - 特許庁

To provide a substrate inspection method for improving detection precision of a defect, and to provide a selection method of the substrate inspection method.例文帳に追加

欠陥の検出精度の向上を図ることが可能な基板検査方法及び基板検査方法の選択方法を提供する。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE OF DISK STORAGE MEDIUM, AND CORRECTION METHOD AND DEVICE OF INSPECTION SLICE VALUE例文帳に追加

ディスク記憶媒体の欠陥検査方法，ディスク記憶媒体の欠陥検査装置，検査スライス値の補正方法および検査スライス値の補正装置 - 特許庁

The inspection control device 10 is equipped with a panel alignment means for performing alignment between the inspection panel 2 and the reference panel 5 by moving the table 3, and a defect inspection means for imaging the inspection panel 2 by the CCD camera 6 by lighting the inspection panel 2 and the reference panel 5 and inspecting a displayed defect of the inspection panel 2 based on the imaged image.例文帳に追加

検査制御装置１０は、テーブル３を移動させて検査パネル２および基準パネル５の位置合わせを行うパネル位置合わせ手段と、検査パネル２および基準パネル５を点灯させてＣＣＤカメラ６で検査パネル２を撮像し、その撮像画像に基づいて検査パネル２の表示欠陥を検査する欠陥検査手段とを備える。 - 特許庁

The exposure mask is provided with a design pattern 3 which forms an actual device and a monitor pattern which possesses a defect having the smallest defect size exceeding a permissible range and further a defect detectable by a defect inspection apparatus and having the defect size within the permissible range together with the design pattern.例文帳に追加

露光マスクに、実デバイス形成用の設計パタン３と共に、許容範囲を越える最小の欠陥サイズを有する欠陥、さらには欠陥検査装置による検出が可能でかつ許容範囲内の欠陥サイズを有する欠陥を備えたモニタパタンとを設ける。 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEFLECTOR AND CHARGED PARTICLE BEAM DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD USING THE SAME例文帳に追加

荷電粒子ビーム偏向装置及びそれを用いた荷電粒子ビーム欠陥検査装置及び方法 - 特許庁

To provide an inspection device for inspecting a defect with high detection sensitivity at high speed.例文帳に追加

高い検出感度で、高速に欠陥検査をすることができる検査装置提供すること。 - 特許庁

To visualize and display a fluctuation state and defect distribution state of the measured value of a panel inspection apparatus.例文帳に追加

パネル検査装置の測定値の変動状態や欠陥分布を可視化して表示すること。 - 特許庁

To improve utilization efficiency of an inspection apparatus capable of executing a plurality of defect inspecting algorithms.例文帳に追加

複数の欠陥検査アルゴリズムを実行可能な検査装置の利用効率を向上させる。 - 特許庁

In the recoil line, as the position of a defect approaches an inspection base, an line speed is automatically decelerated.例文帳に追加

リコイルラインでは、欠陥のある位置が検査台に近づくと自動的にライン速度が減速される。 - 特許庁

A first coordinate system is created in a defect inspection device using the physical scale (S3).例文帳に追加

前記物理目盛を用いて欠陥検査装置内での第１の座標系を作成する（Ｓ３）。 - 特許庁

TAPE-CARRIER DEFECT INSPECTION APPARATUS AND ALIGNMENT METHOD FOR IMAGING MEANS THEREIN例文帳に追加

テープキャリア欠陥検査装置及びテープキャリア欠陥検査装置における撮像手段の位置合わせ方法 - 特許庁

To convey a flat inspection object, while keeping flat state, and to accurately detect defect.例文帳に追加

平坦な被検査物をフラットな状態を維持しながら搬送して、精度よく欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide an inspection tool capable of determining the size of a defect of a painted surface speedily and correctly.例文帳に追加

迅速に且つ正確に塗装面の欠陥の大きさを判定できる検査冶具を提供する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION OF DEFECT AS WELL AS MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE USING THEM例文帳に追加

欠陥検査方法、欠陥検査装置及びそれらを用いた半導体デバイスの製造方法 - 特許庁

INSPECTION METHOD OF DEFECT IN PHOTORESIST, MENDING METHOD OF PHOTORESIST, AND MANUFACTURING PROCESS OF PRINTED CIRCUIT BOARD例文帳に追加

フォトレジストの欠陥を検査および修復する方法、並びにプリント回路基板の製造プロセス - 特許庁

To provide an external appearance inspection device which can detect the defect of a reticle with high sensitivity.例文帳に追加

レチクルの欠陥の検出を高感度で行うことのできる外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface inspection device capable of detecting easily a large-scale defect of a wafer.例文帳に追加

ウェハにおける大規模な欠陥を容易に検出可能な表面検査装置を提供する。 - 特許庁

DUST-PROOFING DEVICE, STENCIL MASK WITH DUST-PROOFING DEVICE, EXPOSURE METHOD, INSPECTION METHOD AND DEFECT CORRECTING METHOD例文帳に追加

防塵装置、防塵装置付きステンシルマスクおよび露光方法、検査方法と欠陥修正方法 - 特許庁

A defect inspection device 1 is equipped with a camera 3 for obtaining a surface image of the workpiece W.例文帳に追加

欠陥検査装置１は、ワークＷの表面画像を取得するカメラ３を備えている。 - 特許庁

Then the wafer is transferred into a microscopic inspection device, in which the defect is examined more closely and imaged.例文帳に追加

そしてウエハを微視的検査装置に移送し、欠陥をより詳細に検査し、撮像する。 - 特許庁

Therefore, the accuracy of defect detection at the end of the inspection domain can be improved.例文帳に追加

これにより検査領域の端部における欠陥検出の精度を向上させることができる。 - 特許庁

To provide a circuit inspection device capable of detecting surely and easily a defect of a circuit board.例文帳に追加

確実かつ容易に回路基板の不良を検出できる回路検査装置を提供する。 - 特許庁

To efficiently and surely perform the visual inspection of a defect which is present on a coil face.例文帳に追加

コイル端面に存在する欠陥の目視検査を効率良く且つ確実に実施できるようにする。 - 特許庁

To provide a defect inspection device constituted so as not to photograph a rolling streak by devising the illumination way of a shearing surface.例文帳に追加

せん断加工面の照明の仕方を工夫して圧延スジを撮影しないようにする。 - 特許庁

To provide a photomask which facilitates defect inspection and which facilitates handling of CAD data.例文帳に追加

欠陥検査が容易であり、かつ、ＣＡＤデータのハンドリングが容易であるフォトマスクを提供すること。 - 特許庁

To accurately adjust the defect inspection sensitivity of a circuit pattern formed on a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェーハ上に形成された回路パターンの欠陥検査感度を正確に調整する。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD OF PHOTOMASK, METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING PHOTOMASK例文帳に追加

フォトマスクの欠陥検査方法、半導体装置の製造方法、およびフォトマスクの製造方法 - 特許庁

SPECTROSCOPIC DETECTION METHOD, APPARATUS THEREOF, DEFECT INSPECTION METHOD USING SAME, AND APPARATUS THEREOF例文帳に追加

分光検出方法及びその装置並びにそれを用いた欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

To provide an inspection method for extracting a target defect among defects acquired from an image.例文帳に追加

画像から取得される欠陥から目的欠陥を抽出するための検査方法を提供する。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR SIMULTANEOUS OR CONTINUOUS, MULTIPLE, SLANT-VIEWED SPECIMEN DEFECT INSPECTION例文帳に追加

同時のまたは連続的な多重の斜視的な試料欠陥検査のためのシステムおよび方法 - 特許庁

TAPE CARRIER DEFECT INSPECTION DEVICE, AND TAPE CARRIER CONVEYING METHOD IN THE SAME DEVICE例文帳に追加

テープキャリア欠陥検査装置及びテープキャリア欠陥検査装置におけるテープキャリアの搬送方法 - 特許庁