例文 (555件) |
diffusion transistorの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 555件
DIFFUSION SHEET FOR THIN FILM TRANSISTOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY例文帳に追加
薄膜トランジスタ液晶ディスプレイ用拡散シート - 特許庁
ELECTRONIC DEVICE, MOM CAPACITOR, MOS TRANSISTOR, AND DIFFUSION BARRIER LAYER例文帳に追加
電子デバイス、MOMキャパシタ、MOSトランジスタ、拡散バリア層 - 特許庁
A diffusion layer of memory cell and the selective gate transistor is n-type.例文帳に追加
メモリセル及び選択ゲートトランジスタの拡散層は、n型である。 - 特許庁
Each transistor includes two diffusion regions associated with a gate, the diffusion regions of each transistor being arranged in a first direction.例文帳に追加
各トランジスタはゲートと関連する2つの拡散領域を含み、各トランジスタの拡散領域は第1の方向に配置されている。 - 特許庁
A transistor model registration part registers the transistor model on the basis of the diffusion layer length-dependent parameter.例文帳に追加
トランジスタモデル登録部は、拡散層長依存パラメータに基づいてトランジスタモデルを登録する。 - 特許庁
Between a source diffusion layer 8 and a drain diffusion layer 9 of a semiconductor substrate 1, a memory transistor and a select transistor are formed side by side via an intermediate diffusion layer 10.例文帳に追加
半導体基板1のソース拡散層8とドレイン拡散層9との間に中間拡散層10を介してメモりトランジスタとセレクトトランジスタとを並べて形成する。 - 特許庁
Separation part regions Scp1, Scp2 are respectively formed between an impurity diffusion region 11 of a transistor Tp1 and an impurity diffusion region 12 of a transistor Tp2, and between an impurity diffusion region 13 of the transistor Tp2 and an impurity diffusion region 14 of a transistor Tp3.例文帳に追加
トランジスタTp1の不純物拡散領域11とトランジスタTp2の不純物拡散領域12との間、および、トランジスタTp2の不純物拡散領域13とトランジスタTp3の不純物拡散領域14との間に、分離部分領域Scp1,Scp2がそれぞれ形成されている。 - 特許庁
Prior to a process that forms a silicide film 25 on the surface of a transistor diffusion layer 24, the surface of the transistor diffusion layer 24 is subjected to recess etching.例文帳に追加
トランジスタ拡散層24の表面にシリサイド膜25を形成する工程に先だって、トランジスタ拡散層24の表面をリセスエッチングする。 - 特許庁
A drain diffusion layer portion of the reset transistor and a drain diffusion layer portion of the amplification transistor are shared between different adjacent cells which share the pixels.例文帳に追加
更に、リセットトランジスタのドレイン拡散層部と増幅トランジスタのドレイン拡散層部を異なる画素共有単位隣接セル間で共有させる。 - 特許庁
To provide a lateral diffusion metal oxide semiconductor (LDMOS) transistor, and a method for manufacturing the transistor.例文帳に追加
本発明は、横方向拡散金属酸化物半導体(LDMOS)トランジスタと、これを製造する方法を提供する。 - 特許庁
The first impurity diffusion layer 104 constitutes the drain region of a memory transistor MT and the source region of a selection transistor ST, and the first impurity diffusion layer 124 constitutes the drain region of the selection transistor ST.例文帳に追加
第1不純物拡散層104はメモリトランジスタMTのドレイン領域と選択トランジスタSTのソース領域、第1不純物拡散層124は選択トランジスタSTのドレイン領域をなす。 - 特許庁
To provide a transistor model generation device and a transistor model generation method, easily creating a transistor model reflecting a diffusion layer length-dependent parameter corresponding to each diffusion layer.例文帳に追加
それぞれの拡散層に対応する拡散層長依存パラメータが反映されるトランジスタモデルを容易に作成するトランジスタモデル生成装置、トランジスタモデル生成方法を提供する。 - 特許庁
A transistor includes a gate electrode 2, a gate insulating film 4, and a diffusion layer constituting the diffusion bit line 5.例文帳に追加
トランジスタは、ゲート電極2、ゲート絶縁膜4および拡散ビット線5を構成する拡散層とからなる。 - 特許庁
The transfer transistor, the short transistor and the driver transistor are continuously disposed via the diffusion layers in common, and thereby, variation of characteristics of the transfer transistor can be prevented.例文帳に追加
トランスファトランジスタ、ショートトランジスタおよびドライバトランジスタを共通の拡散層を介して連続的に配置することで、トランスファトランジスタの特性がばらつくことを防止できる。 - 特許庁
A common diffusion layer 22b of the transistor 4 and the transistor 8 and a diffusion layer 22f of the transistor 6 which diffusion layers constitute a part of a storage node are connected by using a T-shaped trench wiring 28 buried in an interlayer insulating film.例文帳に追加
記憶ノードの部分を構成する、トランジスタ4およびトランジスタ8に共通の拡散層22bと、トランジスタ6の拡散層22fとを層間絶縁膜に埋め込まれたT字形状の溝配線28を用いて接続する。 - 特許庁
A transfer transistor and the short transistor have a diffusion layer in common coupled to one of the storage nodes.例文帳に追加
トランスファトランジスタおよびショートトランジスタは、記憶ノードの一方に接続された共通の拡散層を有している。 - 特許庁
One impurity diffusion region of the first transistor constitutes a common diffusion region continuously up to one impurity diffusion region of the second transistor through the impurity diffusion region arranged to the surface layer section of a substrate.例文帳に追加
第1のトランジスタの一方の不純物拡散領域が、基板の表層部に配置された不純物拡散領域を介して第2のトランジスタの一方の不純物拡散領域まで連続して共通拡散領域を構成している。 - 特許庁
The drain of the transistor 19 has a double diffusion construction which is composed of a first P-type drain diffusion layer 5d and a second P-type drain diffusion layer 11d.例文帳に追加
トランジスタ19のドレインは第1P型ドレイン拡散層5dと第2P型ドレイン拡散層11dからなる二重拡散構造を備えている。 - 特許庁
To provide a field-effect transistor manufacturing method that utilizes diffusion of magnesium from a lower layer.例文帳に追加
下層からのマグネシウムの拡散を利用した電界効果トランジスタの製造。 - 特許庁
LATERAL DOUBLE-DIFFUSION FIELD EFFECT TRANSISTOR, AND INTEGRATED CIRCUIT HAVING SAME例文帳に追加
横型二重拡散型電界効果トランジスタおよびそれを備えた集積回路 - 特許庁
Furthermore, the backing method can incorporate a bit diffusion selection transistor and/or a control gate line selection transistor.例文帳に追加
更に、この裏打ち方法は、ビット拡散選択トランジスタ及び/又はコントロールゲート線選択トランジスタを組み込むことができる。 - 特許庁
In the vertical PNP transistor 21, on the other hand, the forming area of the transistor 21 is surrounded by an N^+-type diffusion region 38.例文帳に追加
一方、縦型PNPトランジスタ21では、N+型拡散領域38でトランジスタ21形成領域を囲っている。 - 特許庁
Moreover, the gate of an amplifier transistor AMP and the source of a reset transistor RS are connected to the floating diffusion FD.例文帳に追加
フローティングディフュージョンFDには、また、増幅トランジスタAMPのゲートおよびリセットトランジスタRSのソースが接続されている。 - 特許庁
The LDD diffusion region 34 of the second MIS transistor Tr2 is formed under the same condition as the LDD diffusion region 44 of a third MIS transistor Tr3.例文帳に追加
第2のMISトランジスタTr2のLDD拡散領域34を第3のMISトランジスタTr3のLDD拡散領域44と同条件で形成する。 - 特許庁
Formation of a mask can be facilitated by employing an identical pattern in the diffusion layer constituting the source potential connection transistor and in the diffusion layer of a memory cell transistor.例文帳に追加
また、ソース電位接続トランジスタを構成する拡散層の形状をメモリセルトランジスタの拡散層の形状と同一パターンにすることで、マスク作成の容易化を実現できる。 - 特許庁
A lower electrode is electrically connected to one diffusion layer of the selection transistor.例文帳に追加
下部電極が選択トランジスタの一方の拡散層に電気的に接続されている。 - 特許庁
The first electrodes 15 and 16 are connected to the first diffusion layer of the transistor.例文帳に追加
第1の電極15、16は、トランジスタの第1の拡散層に接続されている。 - 特許庁
To provide a bipolar transistor wherein the device characteristics of the transistor are not deteriorated, while impurity diffusion in the layers in the transistor is inhibited, and moreover by the generation of damage to the transistor due to an ion implantation into the layers or the like.例文帳に追加
不純物拡散を抑制しつつ、しかもイオン注入に基づくダメージの発生などによりデバイス特性が劣化しないバイポーラトランジスタを提供することを目的とする。 - 特許庁
The switching element comprises a source diffusion layer 9, a channel diffusion layer 7, and a drain diffusion layer 5, and is an LDMOS transistor, having the surface of the channel diffusion layer 7 immediately under a gate electrode 19 as a channel region.例文帳に追加
スイッチング素子は、ソース拡散層9、チャネル拡散層7及びドレイン拡散層5を備え、ゲート電極19直下のチャネル拡散層7表面をチャネル領域とするLDMOSトランジスタである。 - 特許庁
The p^+-type diffusion layer 3p forms the source/drain of an MIS transistor, and the n^+-type diffusion layer 4n forms a tap TP1.例文帳に追加
p^+型拡散層3pはMISトランジスタのソース/ドレインを構成し、n^+型拡散層4nはタップTP1を構成する。 - 特許庁
N- diffusion layers 14b and 17b are formed deeper than the diffusion layer of the source/drain of a MOS transistor for internal circuits.例文帳に追加
N^-拡散層14b,17bは内部回路用MOSトランジスタのソース、ドレインの拡散層よりも深く形成されている。 - 特許庁
The first electrode is connected to a diffusion region constituting the transistor.例文帳に追加
前記第1の電極は、前記トランジスタを構成する拡散領域と接続されている。 - 特許庁
This transistor has source diffusion extending in the plane of the substrate adjacent to the deep trench.例文帳に追加
このトランジスタは、深いトレンチに隣接する基板の平面内に延びるソース拡散を有する。 - 特許庁
The semiconductor device includes a P-type semiconductor substrate; an N-type well, a first P^+ diffusion region, a second P^+ diffusion region, a Schottky diode, a first N^+ diffusion region, a second N^+ diffusion region, a third P^+ diffusion region, a fourth P^+ diffusion region, a first insulating layer, a second insulating layer, a first parasitic bipolar transistor, and a second parasitic bipolar transistor.例文帳に追加
本発明の半導体デバイスは:P型半導体基板、N型ウェル、第1P+拡散領域、第2P+拡散領域、ショットキー・ダイオード、第1N+拡散領域、第2N+拡散領域、第3P+拡散領域、第4P+拡散領域、第1絶縁層、第2絶縁層、第1寄生バイポーラトランジスタ、及び第2寄生バイポーラトランジスタ、を含む。 - 特許庁
An N-type diffusion layer 8 of the protection element 1 and an N-type diffusion layer 19 of the MOS transistor 15 are formed in the same process, while a diffusion width W3 of the N-type diffusion layer 8 is larger than a diffusion width W4 of the N-type diffusion layer 19.例文帳に追加
そして、保護素子1を構成するN型の拡散層8とMOSトランジスタ15を構成するN型の拡散層19を同一工程で形成するが、N型の拡散層8の拡散幅W3が、N型の拡散層19の拡散幅W4よりも広くなる。 - 特許庁
Thus, the p-type diffusion layer 11, the n-type collector diffusion layer 14 and the n-type diffusion layer 16 are selectively extracted, and a parasitic npn bipolar transistor 22 consisting of the n-type collector diffusion layer 14, the p-type diffusion layer 11 and the n-type diffusion layer 16 is recognized.例文帳に追加
これにより、マスクレイアウトからP型半導体基板11、N型コレクタ拡散層14及びN型拡散層16が選択的に抽出され、N型コレクタ拡散層14とP型拡散層11とN型拡散層16とからなる寄生NPN型バイポーラトランジスタ22が認識される。 - 特許庁
Since the channel length of the transistor depends on the length of the P type channel diffusion layer 15 under the gate electrode 13, that is, the diffusion depth of the P type channel diffusion layer 15 and the diffusion depth of the P type channel diffusion layer 15 has excellent controllability, the manufacturing method can stably manufacture the MOS transistor according to the fine rule technique.例文帳に追加
トランジスタのチャネル長は、ゲート電極13下のP型チャネル拡散層15の長さ、すなわちP型チャネル拡散層15の拡散深さにより決定され、P型チャネル拡散層15の拡散深さは制御性がよいので、微細ルールのMOSトランジスタを安定的に作ることができる。 - 特許庁
The n-type diffusion area 12 and the p-type diffusion area 17 correspond to body contact areas for setting the back gate potential levels of the PMOS transistor and the NMOS transistor.例文帳に追加
N型拡散領域12及びP型拡散領域17はPMOSトランジスタ及びNMOSトランジスタのバックゲート電位設定用に設けられたボディコンタクト領域に相当する。 - 特許庁
The second transistor 3-1 is disposed on a third impurity diffusion layer 210 provided on the second impurity diffusion layer 206-12, so as to constitute a portion of the pixels, and is connected to the first transistor 2-1.例文帳に追加
第2トランジスタ3-1は、第2不純物拡散層206-12上の第3不純物拡散層210上に設けられ、画素の一部を構成すると共に、第1トランジスタ2-1に接続される。 - 特許庁
The n-type diffusion layer 117a becomes a drain of the junction field effect transistor 151, and the n-type diffusion layer 117b becomes the source of the junction field effect transistor 151.例文帳に追加
前記N型拡散層117aは接合型電界効果トランジスタ151のドレインとなり、前記N型拡散層117bは前記接合型電界効果トランジスタ151のソースとなる。 - 特許庁
To prevent threshold voltage of a low breakdown strength MOS transistor from varying and to form a channel diffusion layer and the source diffusion layer of an LDMOS transistor, while being self-aligning.例文帳に追加
低耐圧MOSトランジスタのしきい値電圧が変化するのを防ぐとともに、LDMOSトランジスタのチャネル用拡散層とソース拡散層をともに自己整合的に形成する。 - 特許庁
Each pixel 20 of a solid-state imaging element has a photodiode 51, a floating diffusion 54, a transfer transistor 55, a pixel amplifier 58, a reset transistor 59 and a selection transistor 60.例文帳に追加
固体撮像素子の各画素20は、フォトダイオード51、フローティングディフュージョン54、転送トランジスタ55、画素アンプ58、リセットトランジスタ59及び選択トランジスタ60を有する。 - 特許庁
A unit pixel 10 in a pixel array of a CMOS image sensor is equipped with: a photodiode 1; a lead transistor 2; a floating diffusion FD; a reset transistor 3; and an amplification transistor 4.例文帳に追加
CMOSイメージセンサの画素アレイにおける単位画素10は、フォトダイオード1と、リードトランジスタ2と、フローティングディフュージョンFDと、リセットトランジスタ3と、増幅トランジスタ4とを具備する。 - 特許庁
To realize high breakdown voltage and high reliability of a bipolar transistor wherein an outer base diffusion layer is formed in an outer circumferential part of an intrinsic base diffusion layer.例文帳に追加
真性ベース拡散層の外周部に外部ベース拡散層を形成したバイポーラトランジスタにおいて、高耐圧、高信頼性化を図る。 - 特許庁
The concentration of an N-type intrinsic base diffusion area 23 adjoining to the emitter diffusion area 23 of an L-PNP transistor is made higher than that of a base buried layer 3B adjoining to the collector diffusion area 16B of an L-PNP bipolar transistor.例文帳に追加
L−PNPトランジスタのエミッタ拡散領域23に隣接するN型真性ベース拡散領域22の濃度を、L−PNPバイポーラトランジスタのコレクタ拡散領域16Bに隣接するベース埋め込み層3Bの濃度より高くする。 - 特許庁
A D/A converting circuit has gate lines 8 and diffusion layers 9 which are arranged in a lattice shape and when an arbitrary MOS transistor Q1 arranged at an intersection of a gate line 8 and a diffusion layer 9 turns on, diffusion layers 9 on the right and left sides of the position of the above MOS transistor Q1 conduct through the MOS transistor Q1.例文帳に追加
D/A変換回路は、格子状に配置されるゲート線8と拡散層9を有し、ゲート線8と拡散層9の交差位置に配置された任意のMOSトランジスタQ1がオンすると、その場所の左右にある拡散層9がMOSトランジスタQ1を介して導通する。 - 特許庁
The DMOS transistor contains an n^+ diffusion layer 21d as a source, a p-type diffusion layer 17e as a back gate region, and an n-type diffusion layer 67 in a low concentration as a drain and an n^+ diffusion layer 21e in a high concentration.例文帳に追加
DMOSトランジスタは、ソースとなるn^+拡散層21dと、バックゲート領域となるp型拡散層17eと、ドレインとなる低濃度のn型拡散層67および高濃度のn^+拡散層21eとを含む。 - 特許庁
To provide a manufacturing method for forming a shallow diffusion layer between a cell transistor and a selection gate transistor while miniaturizing an element.例文帳に追加
素子の微細化を図りつつ、セルトランジスタと選択ゲートトランジスタとの間に浅い拡散層が形成できる製造方法を提供する。 - 特許庁
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