「process of inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

In the process of this aging treatment, the stacked CSP 2 in the area 12 to be inspected is selected, and the flash memory 4 is inspected by the inspection circuit forming area 11.例文帳に追加

このエージング工程中に被検査領域１２内にあるスタックドＣＳＰ２が選択され、そのフラッシュメモリ４が検査回路形成領域１１によって検査される。 - 特許庁

To provide a sensor, which has sufficient detection sensitivity, can greatly shorten the washing time in a sensing process, and enhances the efficiency of measurement and inspection.例文帳に追加

十分な検出感度を有し、かつ、センシング工程における洗浄時間を大幅に短縮することができ、測定や検査の効率化が計られたセンサーを提供すること。 - 特許庁

In a labeling tabulation memory block 26, data for pattern inspection in the inspecting pattern is generated based on the result of the labeling process from both the labeling blocks 13 and 20.例文帳に追加

そして、ラベリング集計メモリブロック２６では、前記両ラベリングブロック１３，２０のラベリング処理結果に基づいて前記被検査パターンにおけるパターン検査用データを生成する。 - 特許庁

To provide a highly accurate internal voltage generating circuit by generating supplementary voltage, according to use conditions, without necessity of performing trimming adjustment in an inspection process.例文帳に追加

検査工程でトリミング調整を行なう必要がなく、使用条件に応じて常に補正電圧を発生するより高精度な内部電圧発生回路を提供する。 - 特許庁

The electrode pad includes: a first region having connections with the rewiring layer; and a second region on which a test probe is abutted in an inspection process of the semiconductor substrate.例文帳に追加

電極パッドは再配線層との接続部を有する第１領域と、半導体基板の検査工程で検査プローブが当接される第２領域とからなる。 - 特許庁

To provide a semiconductor wafer in which a plurality of alignment marks or inspection marks can be arranged more densely than before, and to provide a semiconductor device and its fabrication process.例文帳に追加

複数のアライメントマーク又は検査マークを従来よりも密に配列することができる導体ウエハ、半導体装置、及び半導体装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁

In a first inspection process, a source signal capable of alternately switching positive polarity voltage Vs(H) and negative polarity voltage Vs(L) at each prescribed time is applied to each data line 4.例文帳に追加

第１検査工程では、各データ線４に、正極性の電圧Ｖｓ（Ｈ）と負極性の電圧Ｖｓ（Ｌ）が所定時間ごとに交互に切り替わるソース信号を印加する。 - 特許庁

To provide an inspection method for a silicon wafer backside projection that can easily and accurately evaluate projections produced at a silicon wafer backside and a production process of a silicon wafer.例文帳に追加

シリコンウェーハ裏面生じた突起を容易かつ高精度に判別できるシリコンウェーハ裏面の突起検査方法およびこれを用いたシリコンウェーハの製造方法を提供する。 - 特許庁

A chip is prepared which has a plurality of inspection areas 301 divided by a chip area 202 and includes an element formed by a semiconductor process in an element area 203.例文帳に追加

チップ領域２０２で分割される複数の検査領域３０１を有し、素子領域２０３に半導体プロセスによって形成された素子を有するチップを準備する。 - 特許庁

The characteristic information of an automatic transmission body 10 which is acquired in a finished product inspection process is described in a code 12 and the code 12 is attached to the automatic transmission body 10.例文帳に追加

自動変速機本体１０の完成品検査工程にて取得された特性情報は、コード１２に記載されて自動変速機本体１０に貼付される。 - 特許庁

An authorized inspector name is printed on each product being conveyed on the real time basis as the person in charge of the inspection in the production process together with the time display.例文帳に追加

認証された検査人員名を製造工程上の検査担当者名として、時間表示とともに流れている一つ一つの製品にリアルタイムに印刷する。 - 特許庁

To provide a defect extraction method and a printed wiring board final appearance inspection device, supressing generation of false information due to fluctuation in manufacturing process for an object board to be inspected.例文帳に追加

被検査対象基板の製造工程のバラツキによる虚報の発生をおさえた欠陥抽出手法及びプリント配線板最終外観検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an oil-immersed transformer insulating oil processing device, that is capable of preventing environmental pollution and shortening a time required for a maintenance-inspection process.例文帳に追加

本発明の目的は、環境汚染を防止すると共に保守点検工程を短縮できる油入変圧器の絶縁油処理装置を提供することにある。 - 特許庁

White blemish correction information is recorded in a flash memory 20d of a digital camera 1 determined to have a correctable white blemish in an inspection process.例文帳に追加

検査工程で補正可能な白キズが発生するとされたデジタルカメラ１のフラッシュメモリ２０ｄには、白キズを補正するための白キズ補正情報が記録されている。 - 特許庁

To provide an optical inspection apparatus which can surely carry out a filtering process to a scattering light from a measuring object,, and has its efficiency of utilizing light improved.例文帳に追加

測定対象からの散乱光に対して確実にフィルタ処理を行うことができるとともに、その光利用効率が向上される光学検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a rolling roll scratch inspection apparatus for accurately detecting roll scratches in a rolling process of a steel sheet from a light degree to a heavy degree.例文帳に追加

鋼板の圧延プロセスにおけるロール疵を軽度なものから重度のものまで精度よく検出する圧延性ロール疵検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an image processing method and its device which can perform a difference process corresponding to the importance of inspection and make an accurate nondefective/defective decision.例文帳に追加

検査上の重要度に応じた差分処理が実行でき、正確に良／不良の判定が行える画像処理方法及びそのその装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a mother substrate for information display for which the frequency of lighting inspection is minimized and saves troubles, and waste in the manufacturing process can be reduced.例文帳に追加

点灯検査の回数を最小限とし手間がかからないとともに、製造工程の無駄を少なくすることができる情報表示用マザー基板を提供する。 - 特許庁

An array element and an organic electroluminescent diode are configured with different substrates.After an inspection process for each substrate, connection is made to reduce a fraction defective of products.例文帳に追加

アレー素子と有機電界発光ダイオードを相異なる基板に構成し、各基板に対する検査工程を経た後連結することにより、製品不良率を低減する。 - 特許庁

A gray scale image is rendered for a color component in the RGB color space or another color space and through the process of pattern recognition, the inspection object is detected.例文帳に追加

ＲＧＢ色空間の色成分または他の色空間の色成分のグレースケール画像を作成し、パターン認識の手法によって検査対象物を検出する。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor storage apparatus for speeding up the writing operation of a physical checker pattern, logical checker pattern, etc., which are performed in an inspection process.例文帳に追加

検査工程で行われる物理チェッカーパターン、論理チェッカーパターン等の書き込み動作の高速化を図る不揮発性半導体記憶装置、及びその書き込み方法を提供する。 - 特許庁

The process control part 6 obtains position information from a maintenance and inspection file stored in the storage part 4 according to the identification number of a course menu file stored in the storage part 4.例文帳に追加

処理制御部６は、記憶部４に記憶されたコースメニューファイルの識別番号に従って、記憶部４に記憶された整備・点検ファイルから部位情報を取得する。 - 特許庁

To enhance production effciency in manufacture of a display device, and to reduce a burden in a visual inspection process.例文帳に追加

表示デバイス製造における生産効率を高めるとともに目視検査工程の負荷を軽減するような目視検査支援システム及び表示デバイスの製造方法を提供する。 - 特許庁

To make it possible to use the inspection result of a paste pattern applied on a substrate in a device for a downstream process and eliminate unneeded material consumption in the downstream device to increase productivity.例文帳に追加

基板に塗布描画したペーストパターンの検査結果を下流工程の装置で利用可能とし、下流の装置での材料消費の無駄を排除し、生産性をより高める。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of stable and highly reliable operation in inspections on wafers etc. without operation halts in an inspection apparatus or any damage to a probe even if samples are charged in an inline automatic inspection process of wafers etc.例文帳に追加

ウェハ等のインライン自動検査工程でたとえ試料が帯電していたとしても、当該ウェハ等の検査で、検査装置が動作停止に陥らず、探針が損傷を受けることなく安定かつ信頼性の高い動作が可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

When reaching the discrimination process using the medical image not acquired yet in the decision tree (step M2; Y), a control part judges the required inspection from the kinds of the medical images to be required in the succeeding discrimination processes and the information of the inspection is displayed by a display part (step M6).例文帳に追加

決定木において未取得の医用画像を用いる判別工程に至ると（ステップＭ２；Ｙ）、それ以降の判別工程で必要な医用画像の種類から必要な検査を制御部が判断し、その検査の情報を表示部により表示させる（ステップＭ６）。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus and inspection method for coiled bodies of tapes which are capable of reducing a cost and improving a product yield by sorting the defective and non-defective tapes without undergoing a tape rewinding process step and a tape take-up mechanism and tape take-up method.例文帳に追加

テープ巻き直し工程を経ることなくテープの良・不良選別を行って、コストの低減及び製品歩留まりの向上を図ることができるテープ巻装体の検査装置及び検査方法、並びにテープ巻取装置及びテープ巻取方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an inspection device and a test method for circuit board which can precisely judge quality in continuity/insulation performance of a circuit within the inspecting circuit board even if the circuit board has no inside layer conductive plane, in order to promote efficiency of circuit board inspection process.例文帳に追加

検査対象の回路基板が内層導電プレーンを持たなくとも、回路基板内の回路の導通性能、絶縁性能の良否を高速で高精度で判定できる回路基板検査装置及び検査方法を提供し、回路基板検査工程の効率化を図る。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection apparatus which prevents applied ink from adhering to good chips due to deformation or scattering of the ink and consequently avoids overkill, in other words, elimination of the good chips as defects in the semiconductor inspection process.例文帳に追加

塗布されたインクの変形や飛散による良品チップへの付着を回避することができ、その結果、半導体検査工程でのオーバーキル、つまり良品を不良品として排除してしまうことを回避することができる半導体検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an optical member inspection device having the capability of reasonably grouping a plurality of extracted elements having the same defect factors and separated at a binarization process after binarizing image data obtained by photographing an optical member as an inspection object.例文帳に追加

検査対象光学部材を撮像して得られた画像データを２値化した後で、同一の不良要因に起因しているが二値化の過程で分離されてしまった複数の抽出要素を合理的にグループ化することができる光学部材検査装置を、提供する。 - 特許庁

Moreover, as this method for inspecting water stain deposited on a transparent film, a water stain inspection method is used which is characterized by comprising a water stain imaging process for imaging the water stain, a contrast improvement process for improving the contrast of the water stain, and a defect determination process for determining the water stain to be a defect.例文帳に追加

また、透明フィルムに付着した水しみを検査する方法において、水しみを撮像する水しみ撮像工程、水しみのコントラストを改善するコントラスト改善工程、水しみを欠陥として判定する欠陥判定工程を有することを特徴とする水しみ検査方法を用いる。 - 特許庁

In inspecting a semiconductor device, the forward voltage of a protection diode formed in the semiconductor chip contained in the semiconductor device is measured before and after (S3) and (S5) of an inspection process (S4) composed of a plurality of inspection items for inspecting function and performance, for judging breakage of the semiconductor device (S6).例文帳に追加

半導体装置における検査において、半導体装置の中に入っている半導体チップ内に形成された保護ダイオードの順方向電圧の測定を複数の検査項目からなる機能及び性能を検査する検査工程（Ｓ４）の前後（Ｓ３）（Ｓ５）に実施して、半導体装置の破壊を判定（Ｓ６）する。 - 特許庁

The welds of pressure boundary components and the containment, etc. shall undergo the operator’s inspection on welding, as well as the review by the Japan Nuclear Energy Safety Organization (safety management review on welding) on the organization in charge of implementation of inspection, process management and other issues specified by the Ordinances of the Ministry of Economy, Trade and Industry.例文帳に追加

さらに、耐圧部分及び格納容器等の溶接については、溶接事業者検査を行うとともに、検査の実施に係る組織、検査の方法、工程管理その他経済産業省令で定める事項について、原子力安全基盤機構が行う審査（溶接安全管理審査）を受けなければならない。 - 経済産業省

To provide a quality management system for a photoelectric conversion device that allows easy and integrated execution of management of a manufacturing process of a photoelectric conversion device and management of inspection results by a simple and inexpensive device.例文帳に追加

光電変換装置の製造工程の管理、検査結果の管理を簡易で安価な装置で、容易にかつ統一して行うことを可能とする、光電変換装置の品質管理システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To obtain an optical writing unit employing an LED head in which generation of white streak can be prevented thoroughly without causing any variation in the magnification of main scan or deterioration in the work efficiency of process inspection at the time of manufacture.例文帳に追加

ＬＥＤヘッドを用いた光書込装置において、主走査変倍率が変化したり、製造時の工程検査の作業効率が悪化したりすることなく、白筋の発生を完全に防止できるようにする。 - 特許庁

To provide a plasma display panel in which the display quality is not deteriorated by sudden changes in display brightness depending on its positions, and of which production efficiency is not reduced by frequent occurrence of misdetection at the time of inspection in manufacturing process of members.例文帳に追加

表示輝度が位置によって急激に変化し、表示品位が悪化したり、部材の製造工程で検査の際、誤検出が多発し生産効率を低下させることのない、プラズマディスプレイパネルを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device preventing a crack from occurring on an insulating film at a lower layer of a pad electrode by a stress given to the pad electrode in the case of bonding in a semiconductor process, or in the case of probing at the time of inspection.例文帳に追加

半導体プロセスにおけるボンディング又は検査時のプロービングの際に、パッド電極にかかる応力によって、パッド電極の下層の絶縁膜にクラックが発生することを防止する半導体装置を提供する。 - 特許庁

To detect the shape of fluorophor layer formed on a substrate by non-destructive inspection during the manufacturing process of a plasma display panel, with respect to a method for evaluating the application state of the fluorophor of a plasma display panel.例文帳に追加

プラズマディスプレイパネルの蛍光体塗布状態を評価する方法に関し、基板に形成された蛍光体層の形状を非破壊検査によって、プラズマディスプレイパネルの製造工程中に検出することを課題とする。 - 特許庁

The licensee shall also receive the review by the Japan Nuclear Energy Safety Organization (periodic safety management review) on the organization in charge of implementation of inspection, process management and other issues specified by the Ordinances of the Ministry of Economy, Trade and Industry.例文帳に追加

また、検査の実施に係る組織、検査の方法、工程管理その他経済産業省令で定める事項について、原子力安全基盤機構が行う審査（定期安全管理審査）を受けなければならない。 - 経済産業省

The method for inspecting a photomask for a semiconductor integrated circuit formed based on the data for drawing patterns includes: a process of classifying the drawing patterns of the semiconductor integrated circuit into a plurality of ranks according to prescribed references of features and extracting; and a process of determining the inspection accuracy for each rank and judging the quality of the photomask depending on whether the extracted pattern satisfies the determined inspection accuracy or not.例文帳に追加

描画パターンデータに基づいて形成された半導体集積回路用のフォトマスクを検査する方法において、前記半導体集積回路の描画パターンを、所定の特徴基準に従って、複数のランクに分類して抽出する工程と、当該ランク毎に検査精度を決定し、この決定された検査精度を満たしているか否かによってフォトマスクの良否を判定する工程とを具備している。 - 特許庁

To provide substrate treating equipment capable of quickly and efficiently performing a bump shaping process and an inspection process for the state of a bump after shaping in a series of processes including a re-shaping process that is executed when a bump shaping failure occurs, for efficiency in facility costs and footprints, with reduced labor of workers.例文帳に追加

バンプ整形処理及び整形後のバンプの状態に関する検査処理を、バンプ整形不良発生時に行う再整形処理を含めて一連の工程で迅速かつ効率よく行うことができるとともに、設備コストや設置面積等の面で効率が図れ、また作業者の手間を削減できる基板処理装置を提供する。 - 特許庁

When probe inspection is executed for a manufacturing process of a semiconductor chip via a process controlling monitor; a pad 5 used as an electrode of the process controlling monitor is laminated by a plurality of wiring layers 7, each wiring layer 7 is connected by via holes 6 to increase the adherence strength of each wiring layer 7, and then, dicing is carried out so that the via holes 6 are left.例文帳に追加

プロセスコントロールモニタを通じて半導体チップの製造プロセスに対してプローブ検査する際にプロセスコントロールモニタの電極として用いるパッド５を、複数の配線層７により積層構造にして、各配線層７をビア６で接続し、各配線層７の密着強度を増加させた状態で、ビア６部分を残してダイシングする。 - 特許庁

An analyzing section 10e prepares the process-quality model by carrying out an analysis by a data mining by using the process feature quantity and the inspection-result information associated with each other through the commonness of the related unit object.例文帳に追加

解析部１０ｅは、関連する単位対象品が共通していることによって対応付けられたプロセス特徴量と検査結果情報とを用いて、データマイニングによる解析を実行することにより、プロセス−品質モデルを作成する。 - 特許庁

A laser printer is provided with: a detection part 141 where, the detection state changes when one of a process cartridge 21 or a cartridge 180 for inspection is attached to the laser printer, and a detection part 140 where, the detection state changes when the other of the process cartridge 21 or the cartridge 180 for inspection is attached to the laser printer 1.例文帳に追加

レーザプリンタにおいては、プロセスカートリッジ２１および検査用カートリッジ１８０のうちの一方がレーザプリンタに装着されたときに検知状態が変化する検知部１４１と、プロセスカートリッジ２１および検査用カートリッジ１８０のうちの少なくとも他方がレーザプリンタ１に装着されたときに検知状態が変化する検知部１４０と、を備えている。 - 特許庁

The method of manufacturing the radiation detector includes: an inspection first process for separately forming the scintillator crystal layer by using a container 7 and inspecting a first face α1 of the scintillator crystal layer to specify the inferior crystal; and an inspection second process for inspecting a second face α2 opposed to the first face α1 to specify the inferior crystal.例文帳に追加

本発明の放射線検出器の製造方法は、容器７を用いてシンチレータ結晶層が別個に形成され、シンチレータ結晶層の第１面α１を検査して不良結晶を特定する検査第１工程と、第１面α１と対向する第２面α２を検査して不良結晶を特定する検査第２工程とを備えている。 - 特許庁