「process of inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(17ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an inspection device and a test method for a rotary electric machine capable of evading the fear of being unable to perform an insulation test under a high voltage since a heavy current flows in a stator coil, when a defect test of the stator is performed in a manufacturing process.例文帳に追加

製造工程におけるステータの不良検査時において、大電流がステータコイル流れるために高電圧での絶縁試験ができないおそれを回避できる回転電機の検査装置および検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To obtain a color filter substrate which facilitates correction of a defect in a color filter portion, which does not require a plurality of times of inspection steps in the manufacturing process and which shows no display failure even when used for a liquid crystal display device after correcting a defect.例文帳に追加

カラーフィルタ部分の欠陥修正を容易に実現できるとともに、製造過程で複数回の検査工程を必要とせず、欠陥修正後に液晶表示装置に用いても表示が不良とならないカラーフィルタ基板の実現を課題とする。 - 特許庁

To provide a correction method and device for hole clogging for a printed wiring board for effectively achieving external appearance inspection, foreign matter removal, and correction in the course of a manufacturing process of the printed wiring board, and provide a manufacturing method of the printed wiring board.例文帳に追加

プリント配線板の製造工程途中での外観検査、異物除去、修正を効率よく実施するための、プリント配線板の孔づまり修正方法及び修正装置並びにプリント配線板の製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a substrate inspection unit which can detect the state of the bottom of a treatment container in which wafers are contained for reducing the break rate of substrates and substrate cleaning equipment which enhances the yield in the cleaning process by using the unit.例文帳に追加

ウエハーが受容される処理容器の底部状態を感知できるようにして、基板破損率を減らすことのできる基板検査装置、ならびにこの基板検査装置を利用して洗浄工程収率を高める基板洗浄装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for measuring a sampled liquid which is used for measuring the sampled liquid such as measuring of blood, which reduces a burden on a patient in a process from the sampling of blood to measuring of the blood, which highly accurately measures the blood at low inspection cost.例文帳に追加

採液測定、たとえば、血液測定に用いられて、採血から血液測定までの過程において被検者の負担が少なく、測定精度が高く、検査コストの低い採液測定装置及び採液測定方法を提供する。 - 特許庁

When there is a poor ejection nozzle, the process of executing nozzle inspection again after cleaning is executed (S260, 270, and S230) is repeated within a range wherein an execution number of times of cleaning N does not exceed the maximum number of times Nmax until there is no poor ejection nozzle.例文帳に追加

そして、吐出不良ノズルがあるときは、クリーニングを実行したあと再びノズル検査を実行する処理（Ｓ２６０，２７０，Ｓ２３０）をクリーニング実行回数Ｎが最大回数Ｎｍａｘを超えない範囲で吐出不良ノズルがなくなるまで繰り返す。 - 特許庁

To provide a manufacturing system for a game board capable of suppressing the delivery of a defective game board without lowering game board manufacturing efficiency by making a propriety inspection of a game base plate serving as a base material of the game board in a game board manufacturing process.例文帳に追加

遊技盤の製造工程において遊技盤の基材となる遊技基板の適否検査を行うことにより、遊技盤の製造効率を低下させることなく、不良な遊技盤が出荷されることを抑制できる遊技盤の製造システムを提供する。 - 特許庁

Accordingly, in an inspection process or the like where the color filter 10 is actually rotated at a high speed, the radial scattering of the uncured part of the adhesive to the disc surface 12a of the color filter 10 can be reliably prevented and a yield of the color wheel 10 can be improved.例文帳に追加

よって、実際にカラーフィルタ１０を高速回転させる検査工程等において、カラーフィルタ１０の盤面１２ａに接着剤の未硬化部分が放射状に飛散することを確実に防ぎ、カラーホイール１０の歩留まりを向上させることが可能となる。 - 特許庁

The image inspection process part 24 compares a differential image output of the differential image formation part 22 and a differential image output of the differential image formation part 23 with each other, and outputs the judgment result of whether or not the printing quality to the pre-printed sheet is abnormal on the basis of the comparison result.例文帳に追加

画像検査処理部２４は、差分画像生成部２２の差分画像出力と、差分画像生成部２３の差分画像出力とを比較し、その比較結果に基づき、プレプリントシートへの印字品質が異常であるか否かの判定結果を出力する。 - 特許庁

In electron beam type automatic defect inspection equipment comprising an X-ray detector, the X-ray spectrum and image of a dust generated on a wafer for process QC are registered as reference data and defects occurring on the process wafer are sorted with reference to the reference data.例文帳に追加

Ｘ線検出器を備えた電子線式自動欠陥検査装置において、プロセスＱＣ用ウエーハ上に生じた異物のＸ線スペクトルと画像とを参照用データとして登録し、前記参照用データを照会してプロセスウエーハ上に生じた欠陥を分類する。 - 特許庁

The quality control support server 1, when receiving information about the details of inspection from a print checker 5, specifies information about a corresponding state after the printing process, determines whether the product after the printing process corresponds to a non-defective product, based on the information, and calculates a defective fraction.例文帳に追加

品質管理支援サーバ１は、印刷検査機５から検査内容に関する情報を受信すると、これに対応する印刷工程後の状態に関する情報を特定し、これらの基づいて、印刷工程後の製品が良品に該当するか否かを判別し、不良率を算出する。 - 特許庁

To avoid reduction in yield due to apparatus factors by changing process lots, based on acquired workmanship inspection results and the yield rank of individual apparatus ID obtained by arithmetically processing a low process history, and attaining a favourable yield by processing using an apparatus favourable in yield.例文帳に追加

収集した出来映え検査結果と、ロット処理履歴に演算処理を施し、演算により得られた装置ＩＤ別歩留順位に基づき、処理ロットを変更することで、装置要因による歩留低下を避け、歩留の良い装置を用いて処理することで、良い歩留を達成することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for producing a cell sample which can simply be produced in a series of processes from a preliminary treatment process for extracting and purifying a nucleic acid to a process for detecting a nucleic acid amplification reaction and an amplified product, can be stored for a long period, and can be used for process accuracy control, in nucleic acid analysis such as gene expression amount inspection.例文帳に追加

遺伝子発現量検査等の核酸解析において、核酸を抽出・精製する前処理工程から、核酸増幅反応及び増幅産物の検出工程までの一連の工程において、簡便に製造することができ、長期保存も可能であり、さらに工程精度管理に用いることができる細胞試料の製造方法の提供。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of rapidly performing measurement of high precision by causing no fine change of potential in the surface fine region of a sample by properly holding the potential difference between the surface of the sample and a probe when the sample due to the probe is measured in an inspection process.例文帳に追加

検査工程での探針による試料測定時に試料の表面と探針との間の電位差を適切に保ち、試料表面の微細領域での微細な電位変化を生じさせず、迅速にかつ高い精度の測定を行うことができる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To realize reduction of an electric wiring area in a PLC (Planar Lightwave Circuit) substrate, reduction of a module size by dispensing with IC mounting substrate, reduction of the number of wire bonding lines between the PLC substrate and an electronic circuit board and simplification of an inspection process in an optical module for controlling output characteristics with electricity.例文帳に追加

電気で出力特性を制御する光モジュールにおいて、ＰＬＣ基板内の電気配線の面積の低減、ＩＣ実装基板が不要になることによる、モジュールサイズの低減、ＰＬＣ基板と電子回路基板との間のワイヤボンディング本数の低減、検査工程の簡略化を実現する。 - 特許庁

In the inspection method of the resin-coated glass bottle, steam is sprayed to the surface of the glass bottle that has completed a resin-coating treatment process for generating a blur on the surface, and the degree of blur is detected optically, thus discriminating the presence or absence of the resin-coated film on the surface of the glass bottle.例文帳に追加

樹脂コーティング処理工程を終えたガラスびんの表面に蒸気を吹きつけて表面に曇りを発生させ、この曇り度合いを光学的に検出することによりガラスびん表面の樹脂コーティング膜の有無を判別するようにした樹脂コートガラスびんの検査方法。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing for high quality liquid crystal display substrates for inspection with neither admixture of air bubbles nor gap non-uniformity disturbing recognition of defects and the assembling device in the liquid crystal display substrates used for evaluation of a manufacturing process of the liquid crystal display substrates.例文帳に追加

本発明は液晶表示基板の製造プロセスの評価に用いる液晶表示基板において、不良発見の妨げとなる気泡の混入やギャップ不良の無い高品質な検査用液晶表示基板の製造方法及び組立装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a superposition inspection system that can inspect the superposition of respective substrates in a lot without deteriorating the original throughput of a lithography system and can maintain high precision that can be used for correction in an exposure process.例文帳に追加

リソグラフィシステムの本来のスループットを低下させることなくロット内の各基板の重ね合わせ検査を行うことができ、かつ、露光工程の補正に使用可能な高い精度を維持することもできる重ね合わせ検査システムを提供する。 - 特許庁

To realize an indication characteristics measuring device capable of efficiently measuring chromaticity, brightness, contrast and flicker as important administrative items in a control and inspection process of products using a liquid crystal display, for example, with one measuring apparatus.例文帳に追加

１台の測定器で例えば液晶ディスプレイを用いた製品の調整検査工程における重要な管理項目である色度、輝度、コントラスト、フリッカなどを効率よく測定できる表示特性測定装置を実現すること。 - 特許庁

To enable changing the setting of a scramble circuit in an inspection process of a semiconductor device with a real time in a data storage device which are suitable for analyzing a semiconductor device in which plural function blocks are incorporated.例文帳に追加

本発明は複数の機能ブロックが搭載された半導体装置の解析に適したデータ記憶装置に関し、スクランブル回路の設定を半導体装置の検査過程でリアルタイムに変更できるようにすることを目的とする。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus in which an error can be specified easily at the time of maintenance or inspection by not presenting a print format set by a user but presenting the determination process of an actually performed print state as a report.例文帳に追加

ユーザの設定した印刷形式ではなく、現実に実行された印刷状態の決定過程をレポートとして示すことにより、保守点検等の際にエラーの特定を容易に行える画像形成装置を提供する。 - 特許庁

Or, the inspection apparatus 101 carries out steps of subjecting a synthesized image of the RGB image to translucent process (step 208 and step 209), and synthesizing with a trapping enhanced image having an enhanced overlapped part to produce a difference enhancing image (step 207).例文帳に追加

また、検版装置１０１は、ＲＧＢ画像の合成画像に半透明化処理を行い（ステップ２０８、ステップ２０９）、重複部分を強調処理したトラッピング強調画像と合成して、差異強調画像を作成する（ステップ２０７）。 - 特許庁

A control computer 19 replaces the image of the wiring, which is not the object to be inspected and can be a noise source in the defect inspection, with the self-generated image, and inspects the defect of the wiring to be inspected based on the contrast image after the replacing process.例文帳に追加

制御用計算機１９は、欠陥検査においてノイズ源となる非検査対象の配線の画像を自己生成画像で置き換え、置換処理後のコントラスト画像に基づいて検査対象の配線の欠陥を検査する。 - 特許庁

The manufacturing processes can be simplified, and the reliability of the inspection process is enhanced, to lower the production costs, and non-detection in the subsequent processes can be minimized, to improve the competitive strength of the manufacturing company.例文帳に追加

本発明によれば、製造工程を簡素化し、検査工程での信頼性を高めて生産原価を減らすことができ、後続工程での未検出を最小化して、製造会社の競争力を向上させることができる。 - 特許庁

The tape carrier for TAB is obtained by loading only a plurality of flexible wiring substrates 1 of the individual piece type, which have been manufactured separately and decided as good ones previously in the inspection process on a transfer supporting film 7 keeping the predetermined interval.例文帳に追加

別途作製され、予め検査工程において良品と判断された個片状のフレキシブル配線基板１のみを、搬送支持フィルム７上に所定間隔を隔てて複数搭載することによりＴＡＢ用テープキャリアを得る。 - 特許庁

The terminal working method consisting in simultaneously executing a process for electrically cutting bus lines and the terminals for inspection by cutting the substrate surface of the liquid crystal display device to a line form by the projections described above and a process for chamfering the peripheral edge of the substrate by the grinding wheel surface is implemented.例文帳に追加

そして、前記端子加工砥石を用い、前記突起で前記液晶表示装置の基板表面をライン状に削る事によりバスラインと検査用端子の電気的切断を行う工程と、前記砥石面で前記基板周縁部の面取りを行う工程とを、同時に実行する事を特徴とする端子加工方法を行う。 - 特許庁

Further, a laser inspection process is performed by an interruption process at fixed intervals of time by using a 1st laser irradiation flag 13, a 2nd laser irradiation flag 14, a laser irradiation time area 15, and a RAM check area 16 in a RAM 12 and a laser output port 9 and a key input/output port 10 of the CPU 8.例文帳に追加

さらに、ＲＡＭ１２の第１レーザー照射フラグ１３,第２レーザー照射フラグ１４,レーザー照射時間エリア１５およびＲＡＭチェックエリア１６とＣＰＵ８のレーザー出力ポート９,キー入出力ポート１０とを用いて、一定時間毎に割り込み処理によってレーザー検査処理を実行する。 - 特許庁

In this inspection process, inspection is performed after confirming that the contact resistance of a lead terminal 15 of the sensor intermediate assembly 11 is at a level not to affect the abnormality detection and the measurement of characteristic information, so that accurate characteristic information on the detecting element 4 can be obtained to secure the detection accuracy of the completed NOx sensor 1.例文帳に追加

また、この検査工程においては、センサ中間組立体（１１）のリード端子（１５）の接触抵抗が検出素子（４）の異常検出や特性情報の測定に影響を与えないレベルにあることを確認した上で検査が行われるため、検出素子（４）について正確な特性情報を得ることができ、完成後のＮＯｘセンサ（１）の検出精度を確保することができる。 - 特許庁

To provide a matrix array board, for a liquid crystal display device or the like, by which an array inspection process can be performed easily and surely even when the arrangement pitch of connecting pads in a peripheral edge part is 50 μm or less.例文帳に追加

液晶表示装置用等のマトリクスアレイ基板において、検周縁部の接続パッドの配列ピッチが５０μｍ以下である場合にも、アレイ検査工程を容易かつ確実に行なうことができるものを提供する。 - 特許庁

The image inspection device 20 determines which processing of the automatic confirmation processing and the normal confirmation processing is executed based on the signal receiving channel that has received the selection information and the medical image data, and executes the process.例文帳に追加

そして、検像装置２０は、この選択情報と医用画像データを受信した受信チャンネルとに基づいて、自動コンファーム処理、通常コンファーム処理のどちらの処理を実行するか判定し実行する。 - 特許庁

In this detection process, the microorganism as a subject to inspection in the specimen comes through the preculture medium and the above entering window and arrives at a detection culture medium where the microorganism is proliferated and the resultant change in the color tone of the detection culture medium is observed.例文帳に追加

検出方法は、被検試料中の検査対象微生物が前培養培地及び進入用窓部を経て検出用培地に到達し、増殖された結果生じる検出用培地の色調変化を観察する。 - 特許庁

To provide lubricant compositions such as a calibration fluid composition for calibration (operation test) of an injector and a low viscosity lubricating rust preventive oil composition, which are used for an inspection line in a diesel injector manufacturing process.例文帳に追加

ディーゼルインジェクター製造工程における検査ラインで使用するインジェクターのキャリブレーション（作動検定）用のキャリブレーションフルード組成物や低粘度潤滑防錆油組成物などの潤滑油組成物を提供する。 - 特許庁

This warpage detector 10 of the glass substrate G performs total inspection with laser displacement gauges 24 and 24 while conveying the glass substrate G with a conveyor 12, thereby preventing flow out to a downstream process.例文帳に追加

実施の形態のガラス基板Ｇの反り検出装置１０は、ガラス基板Ｇを搬送装置１２によって搬送しながら、レーザ変位計２４、２４による全数検査を実施し、下流工程への流出防止を図る。 - 特許庁

To provide an electric rice cooker capable of omitting a microcomputer mounted on a control substrate side by substituting storage means such as an EEPROM for the microcomputer, and writing adjustment data from an inspection machine in a production process.例文帳に追加

制御基板側に搭載していたマイコンをＥＥＰＲＯＭ等の記憶手段で代用し、製造過程で検査機から調整用データを書き込むことにより、制御基板側のマイコンを省略できるようにする。 - 特許庁

To provide an agitating dryer allowing an easy manufacturing, inspection, repairing or the like, particularly capable of preventing a dried object from locally stagnating and aggregating during a drying process, thereby obtaining a uniformly dried object.例文帳に追加

その製作、点検及び補修等が容易であり、とりわけ乾燥中に被乾燥物の局部的な滞留や塊状化が起こるのを防止して均質な乾燥物を得ることができる撹拌式乾燥機を提供する。 - 特許庁

In this quality control system S, shipment inspection data as the quality data inputted from a supplier terminal 30 are stored in a database of the server 10, and the server 10 performs a statistic process to automatically generate a control diagram.例文帳に追加

品質管理システムＳは、サプライヤ端末３０から入力された品質データとしての出荷検査データをサーバ１０のデータベースに蓄積し、サーバ１０で統計処理を行って管理図を自動生成する。 - 特許庁

The gas inspecting method includes an adhering step for making the gas-sensing material adhere to the surface of an inspection object; and a heat developing step in which the gas-sensing material is subjected to a heat development process.例文帳に追加

前記ガス検出用材料を被検査対象物表面に付着させる付着工程と、該ガス検出用材料を熱現像処理する熱現像工程とを含むことを特徴とするガス検査方法である。 - 特許庁

In the mold releasing process, an inspection mechanism for inspecting whether the lens molded article 46 is stuck to an upper mold or not and a claw moving mechanism 53 for moving a couple of oppositely disposed claws 51, 52 in a horizontal direction are arranged.例文帳に追加

離型工程には、上型にレンズ成形品４６が付着しているか否かを検査する検査機構と、対向配置された一対の爪５１，５２を水平方向に移動する爪移動機構５３とが配されている。 - 特許庁

To form an aperture exposing a PAD (pad) in one process and to reliably measure the contact resistance by specifying the vertical position of the PAD, a contact hole or the like in an inspection element formation region.例文帳に追加

検査素子形成領域におけるＰＡＤ及びコンタクトホール等の垂直位置を規定することによって、ＰＡＤを露出させる開孔部を１工程で形成すると共に、確実なコンタクト抵抗の測定を可能にする。 - 特許庁

To shorten a semiconductor measurement time in a semiconductor measurement device used in a semiconductor product inspection process testing electric characteristics of a semiconductor, a break in a wire, and the like, for example.例文帳に追加

本発明は、例えば、半導体の電気的特性、断線等を検査する半導体製品検査工程において使用される半導体測定装置に関し、半導体測定時間の短縮を図ることが課題である。 - 特許庁

To enhance bonding accuracy of a pixel electrode substrate and a microlens substrate, and to eliminate an inspection process which is complicated and requires cost when the pixel electrode substrate and microlens substrate which composes a liquid crystal display panel are stuck together.例文帳に追加

液晶表示パネルを構成する画素電極基板とマイクロレンズ基板とを貼り合わせる際に、それらの貼り合わせ精度を向上させ、煩雑でコストのかかる検査工程を省略できるようにする。 - 特許庁

To form aperture parts through which PAD should be exposed, in one process by prescribing vertical positions of PAD, contact holes, etc. in an inspection element forming region and to allow a contact resistance to be surely measured.例文帳に追加

検査素子形成領域におけるＰＡＤ及びコンタクトホール等の垂直位置を規定することによって、ＰＡＤを露出させる開孔部を１工程で形成すると共に、確実なコンタクト抵抗の測定を可能にする。 - 特許庁

To reliably discriminate a main surface of a magnetic disk substrate, where a defect is detected in a magnetic recording layer in the defect inspection of a process for manufacturing the magnetic disk substrate, in a subsequent film-forming process, and to reduce costs by preventing the use of an expensive material for a substrate surface obviously not to be used as a recording surface.例文帳に追加

磁気ディスク基板の製造工程における欠陥検査で磁気記録層に不適切な欠陥が検出された磁気ディスク基板の主表面を、後の成膜工程において確実に判別することができ、初めから記録面として用いられないことが判っている基板面にまで高価な材料を用いることを回避してコストの削減を図ること。 - 特許庁

On the subject of an inspection committee for the Incubator Bank of Japan, I said that trust is a must in financial affairs. We are in the process of properly selecting appropriate people at appropriate times. There are some who have already accepted our offer and I am committed to working on this process responsibly in my capacity as the Minister. 例文帳に追加

日本振興銀行の検証委員会は金融には信頼が必要だということを申し上げました。それにふさわしい人材を適時適切に選考中でございまして、もう引き受けてくれた人もいますけれども、これは年を越しますけれども、責任を持って、きちんと国務大臣としての責任においてやらせていただきたいと思っております。 - 金融庁

The inspection method for the coaxial cable in which the existence of the damage of the metal shield in the coaxial cable is inspected nondestructively is constituted so as to be provided with a process in which an electrostatic noise is applied to a casing of the coaxial cable, and a process in which a signal at a prescribed level or more generated in a core wire in the coaxial cable due to its application is detected.例文帳に追加

同軸ケーブルにおける金属シールドの破損の有無を非破壊で検査する同軸ケーブルの検査方法であって、前記同軸ケーブルの外皮に静電気ノイズを印加する工程と、前記印加により同軸ケーブルにおける芯線に生じた所定レベル以上の信号を検出する工程と、を備えるように構成する。 - 特許庁