「process of inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To change a setting of a product inspection process without stopping the product inspection process during the product inspection process.例文帳に追加

製品検査処理中においても当該製品検査処理を中止することなく当該製品検査処理の設定を変更する。 - 特許庁

MANUFACTURING PROCESS AND INSPECTION METHOD OF ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

電子装置の製造方法およびその検査方法 - 特許庁

AUTOMATED WAFER DEFECT INSPECTION SYSTEM AND PROCESS OF PERFORMING SUCH INSPECTION例文帳に追加

自動化ウェハ欠陥検査システムおよびこのような検査を実行する方法 - 特許庁

IN-PROCESS INSPECTION DEVICE FOR DIAMETER OF CYLINDRICAL PARTS例文帳に追加

円筒形部品の直径の工程内検査装置 - 特許庁

In a wafer inspection process c, a wafer inspection device requests skip judging of wafer inspection to the semiconductor inspection management device (204a).例文帳に追加

ウェハ検査（工程ｃ）で、ウェハ検査装置はウェハ検査のスキップ判定を半導体検査管理装置に依頼する２０４ａ。 - 特許庁

To provide an automatic inspection system capable of enhancing inspection precision of a post process, using effectively an inspection result in a prior process.例文帳に追加

前工程の検査結果を有効に利用して、後工程の検査精度を向上させることのできる自動検査システムを提供する。 - 特許庁

INSPECTION METHOD IN MANUFACTURING PROCESS OF ASEPTICALLY FILLING BOTTLE例文帳に追加

無菌充填ボトル製造工程における検査方法 - 特許庁

To prevent a toner seal from being pulled off in the course of an assembly (inspection) process.例文帳に追加

組立て（検査）工程でのトナーシール引かれ防止。 - 特許庁

When the inspection switch 40 is turned "off" immediately after determination of the linked inspection, the linked inspection process is carried out.例文帳に追加

連動点検の確定の直後に点検スイッチ４０をＯＦＦにすると連動点検処理を行う。 - 特許庁

In relation to a recovered used battery 1A, presence of a battery protecting function is determined by a protective circuit inspection process, a submergence history inspection process, an expiration date inspection process and a temperature history inspection process.例文帳に追加

回収された使用済み電池１Ａについて、保護回路検査工程と、水没履歴検査工程と、使用期限検査工程と、温度履歴検査工程とにより、電池保護機能の有無を判定する。 - 特許庁

To enhance inspection accuracy of leakage and the function of exter nal washing process of container by combining the external washing process with the leak inspection process.例文帳に追加

容器の外洗工程を容器漏れの検査工程と組み合わせることにより、漏れ検査精度を高め、外洗工程の機能を高める。 - 特許庁

To provide integration of the machining process of a rotor and a noncontact inspection system.例文帳に追加

ロータの機械加工と非接触検査システムを一体化する。 - 特許庁

A contamination inspection device transmits result of contamination inspection performed in a contamination inspection process b to a semiconductor inspection management device (202c).例文帳に追加

異物検査装置は、異物検査（工程ｂ）で行った異物検査の結果を半導体検査管理装置に送信する２０２ｃ。 - 特許庁

To provide an automatic inspection system wherein an inspection process of a digital X-ray inspection device used for industrial inspection is automatized.例文帳に追加

工業用検査に利用されるデジタルＸ線検査装置の検査工程を自動化した自動検査システムを提供する。 - 特許庁

To allow inspection of the inside of a process apparatus at any time and measurement of the inside of a process chamber without disassembling the process chamber.例文帳に追加

いつでもプロセス装置内部の検査ができ、プロセス室内部の測定がプロセス室を分解する必要なしに行う。 - 特許庁

To provide a crack inspection method of a separator for a fuel cell having a simple inspection process and to provide a crack inspection device of the separator.例文帳に追加

検査工程が簡略な燃料電池用セパレータのクラック検査方法およびクラック検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a simple control system of inspection score data on an inspection process in production of an automobile.例文帳に追加

自動車の生産における検査工程の検査成績データの簡易な管理システムを提供する。 - 特許庁

INSPECTION METHOD OF FERROELECTRIC FILM AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING INSPECTION PROCESS例文帳に追加

強誘電体膜の検査方法及びその検査工程を有する半導体装置の製造方法 - 特許庁

To provide an inspection tool capable of easily detecting common short-circuit in the liquid crystal cell inspection process or module inspection process of a liquid crystal display device.例文帳に追加

液晶表示装置の液晶セル検査工程またはモジュール検査工程においてコモンショートを容易に検出することができる検査工具を提供する。 - 特許庁

To provide an inspecting method capable of improving productivity in a product inspection process, without performing a complicated inspection in an inspection pre-stage, a chip inspection process in particular, for instance, in the product inspection process of a remote controller light receiver.例文帳に追加

たとえばリモートコントローラ受光装置の製品検査工程において、検査前工程、特にチップ検査工程での複雑な検査を実施することなく、製品検査工程での生産性を向上させ得る検査方法の提供。 - 特許庁

INSPECTION METHOD AND DEVICE OF PNEUMATIC TIRE IN MANUFACTURING PROCESS例文帳に追加

製造途中の空気入りタイヤの検査方法および検査装置 - 特許庁

In an inspection process, the IC tag 4 is prepared for every element article 2 or every group of the same kind of element articles 2 being the units of inspection, and recorded with information acquired in the inspection process.例文帳に追加

検査工程では、ＩＣタグ４を、要素品２毎または検査の単位となる同種類の要素品２の組毎に準備し、検査工程で得られる情報を記録する。 - 特許庁

To provide an electronic component inspection vessel capable of making inspection process of the electronic components high precision and simplification.例文帳に追加

電子部品の検査作業を高精度且つ簡易化する電子部品検査用容器を提供する。 - 特許庁

PATTERN EVALUATION METHOD, ALIGNMENT METHOD, INSPECTION METHOD OF INSPECTION APPARATUS, AND CONTROL METHOD OF SEMICONDUCTOR-MANUFACTURING PROCESS例文帳に追加

パターン評価方法，位置合わせ方法、検査装置の検査方法，半導体製造工程の管理方法 - 特許庁

To provide a flaw inspection method of high sensitivity corresponding to the micronization of the pattern formed on a substrate through a membrane process, and a flaw inspection device.例文帳に追加

パターンの微細化に対応した高感度欠陥検査方法とその装置を提供する。 - 特許庁

INSPECTION EQUIPMENT OF SOLAR CELL PANEL, FILM POLISH INSPECTION METHOD, AND PROCESS FOR MANUFACTURING SOLAR CELL PANEL例文帳に追加

太陽電池パネルの検査装置、膜研磨検査方法、及び太陽電池パネルの製造方法 - 特許庁

Original data are generated in real time in each of a plurality of inspection cycles by progress of the inspection process (51).例文帳に追加

複数の検査サイクル各々に対して、検査工程の進行によってリアルタイムで原始データを生成する（５１）。 - 特許庁

To enable hot spot inspection under process conditions corresponding to a plurality of process windows without increasing process conditions.例文帳に追加

プロセス条件を増やすことなく、複数のプロセスウインドウに該当するプロセス条件でのホットスポット検査を可能にする。 - 特許庁

To reduce the time, process and cost required for inspection of a printing state, and to reflect the result of inspection on a following printing process.例文帳に追加

プリンティング状態の検査に必要な時間、工程及び費用を減少させ、また、検査の結果を後続プリンティング工程に反映する。 - 特許庁

To reduce the cost incurred in the process of inspection in a chip state.例文帳に追加

チップ状態での検査工程で発生するコストを低減する。 - 特許庁

METHOD FOR WRITING APPLICATION SOFTWARE AT INSPECTION PROCESS OF ELECTRONIC SYSTEM例文帳に追加

電子システムの検査工程時におけるアプリケーションソフト書込み方法 - 特許庁

The Semiconductor inspection management device which received the skip judging request of inspection transmits skip judging result to the wafer inspection device by using inspection result of the contamination inspection process b (203g).例文帳に追加

検査のスキップ判定依頼を受信した半導体検査管理装置は異物検査（工程ｂ）の検査結果を用いて、スキップ判定結果をウェハ検査装置に送信する２０３ｇ。 - 特許庁

A prediction calculation section 4 calculates the predicted values (inspection predicted values) of inspection measured values in an inspection process C on the basis of the various kinds of measured values of the process devices A1, A2, ... obtained.例文帳に追加

予測演算部４は、上記取得されたプロセス装置Ａ1,Ａ2,…の上記各種計測値に基づいて、検査工程Ｃでの検査測定値の予測値(検査予測値)を演算する。 - 特許庁

To provide a periodic inspection process management system for supporting addition or change of an inspection process so as not to generate interference between each inspection process, in a nuclear power plant.例文帳に追加

原子力発電所において、点検工程間の干渉などが生じないよう点検工程を追加または変更するのを支援する定期点検工程管理システムを提供する。 - 特許庁

To assure the quality and reduce the manufacturing cost by simplifying the flow of a continuity inspection process before repair, a repair process, and a continuity inspection process after repair.例文帳に追加

修理前の導通検査工程と修理工程と修理後の導通検査工程のフローの簡素化による品質保証と製造コストの低減化。 - 特許庁

This configuration inspection is a process to estimate the outline of an inspection object pattern and compute the degree of closeness of the inspection object pattern to a right configuration.例文帳に追加

形状検査は、被検査パターンの輪郭を推定し、被検査パターンが正しい形状にどの程度近いかを算出する処理である。 - 特許庁

To provide an LED lighting inspection apparatus capable of reducing working hours in an inspection process and reducing the inspection burden of an inspector.例文帳に追加

検査工程における工数を減少させ、検査者の検査負担を軽減することができるＬＥＤ点灯検査装置を提供する。 - 特許庁

To eliminate overlapped outputs of unnecessary check results and to secure the reliability of a check of a connection inspection process by producing a check result of the connection inspection process using the check result in a component inspection process.例文帳に追加

部品検査工程におけるチェック結果を利用して結合検査工程のチェック結果を生成し、不必要なチェック結果の重複出力をなくすと共に、結合検査工程のチェックに対する信頼性を確保する。 - 特許庁

To decrease a process loss and ensure a stabilization of an inspection quality by enabling an automatization of an inspection of a picture quality at an inspection line of a cathode-ray tube.例文帳に追加

ブラウン管の検査ラインにおいて、工程ロスを削減し、画質検査の自動化を可能にすることにより検査品質の安定化を図ることを目的とする。 - 特許庁

Since the conditions of the inspection are altered automatically on the basis of the state of assembly to the previous process in this way, the result of the inspection can be obtained under different conditions from those of the previous process with respect to the same item as subjected to the inspection in the previous process.例文帳に追加

このため、前工程までの組立状態に基づいて検査の条件を自動的に変更するので、前工程で検査した項目と同じ項目について前工程とは違う条件での検査結果を得ることがでる。 - 特許庁

INSPECTION METHOD FOR SILICON WAFER BACKSIDE PROJECTION AND PRODUCTION PROCESS OF SILICON WAFER例文帳に追加

シリコンウェーハ裏面の突起検査方法およびシリコンウェーハの製造方法 - 特許庁

To automate inspection process of a processor and a restoration processing from maintenance.例文帳に追加

処理装置の検査工程やメンテナンスからの復帰処理を自動化する。 - 特許庁

To put a wafer used for the PL (Photoluminescence) wavelength inspection of an active layer of the wafer into a wafer process by performing the PL wavelength inspection before putting the wafer into the wafer process.例文帳に追加

ウェハプロセス投入前にウェハの活性層のＰＬ（Photoluminescence）波長検査を行い、検査に用いたウェハをウェハプロセスに投入できるようにする。 - 特許庁

In a primary discrimination process, existence of a failure of a plurality of inspection objects 1 is discriminated.例文帳に追加

一次判別工程では、複数の検査対象物１の不良の有無を判別する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device inspection method for performing inspection where the inspection process and content of a semiconductor device have been simplified.例文帳に追加

半導体装置の検査工程及び検査内容が簡略化された検査を行う半導体装置検査方法を提供すること。 - 特許庁