例文 (999件) |
process of inspectionの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1060件
From the perspectives of implementing efficient and effective inspections and lightening the burdens of firms that receive inspections, and in relation to the measures considered in the above-mentioned “Project for Reviewing the Inspection Process,” the items such as the trial introduction of prior notice inspection and the meeting with top management, of which directions are fixed to some extent, have been incorporated into the “Basic Inspection Guidelines.” The guidelines are currently undergoing public comment. 例文帳に追加
効率的かつ効果的な検査の実施や検査対象先の負担軽減等の観点から、先述の業務点検プロジェクトの検討状況において、予告検査の試行的な導入や経営陣を交えたミーティング等一定の方向性が固まった項目については、「証券検査に関する基本指針」に盛り込み、パブリック・コメントに付したところである。 - 金融庁
To provide an inspection method of a polymer film for a fuel cell capable of detecting a hole having a submicron-level diameter important for the durability of the fuel cell at an initial stage (a polymer film or MEA) of a manufacturing process of a fuel cell stack.例文帳に追加
燃料電池のスタックの製造工程の初期段階(高分子膜またはMEA)で、燃料電池の耐久性に重要な直径サブμmの孔を検出可能な燃料電池用高分子膜の検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide a cream solder print inspection method and a print inspection apparatus for preventing the production from being continued while the print is abnormal when abnormality occurs in the print process of cream solder, improving the productivity and improving a non-defective product rate.例文帳に追加
クリーム半田の印刷工程に異常が発生した場合に、印刷異常のまま生産が続行されることを防止して、生産性を向上させ良品率を向上させるクリーム半田印刷検査方法及び印刷検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a defect inspection apparatus and a defect inspection method, which enable potential failures and signs of abnormality to be discovered in order to prevent any defect from occurring in its market, by referring to history information in the inspection process, even in the case of an object to be inspected whose apparent operation is normal or whose characteristic meets a specification.例文帳に追加
検査時に履歴情報も参照することにより、見かけ上正常動作しているまたは規格値に入っている検査対象であっても、潜在的な故障や異常の兆候を発見できるようにして市場での不良発生を未然に防止することができる不良検査装置および不良検査方法を提供する。 - 特許庁
To enable the speedy ad definite discovery of the generation of failure, etc., by allowing the 100% inspection of recording media in the manufacturing process of the recording media and systematically recognizing the manufacturing history of the variations in deposition, etc., of a recording layer.例文帳に追加
記録媒体の製造過程において、記録媒体に対する全数検査を可能とし、記録層の成膜ばらつき等の製造履歴を体系的に把握できるようにして、故障の発生等を迅速に、かつ、的確に発見できるようにする。 - 特許庁
To stabilize dispersion of data collected by each cycle of charging and discharging, to determine more accurately the acceptability of products in measurement/inspection of initial quality, which is performed at the final step of the manufacturing process of an electric double-layer capacitor.例文帳に追加
電気二重層キャパシタの製造過程の最終段階で行われる初期性能の測定・検査において、製品の合否を正確に判定しやすくするため、充放電のサイクル毎に収集されるデータのバラツキを安定化させるようにする。 - 特許庁
Brightness data of each pixel of a point defect or a strain defect having a smaller area than an irregular defect in the image data acquired in the inspection image acquisition process is replaced with an interpolation value based on brightness data of a peripheral pixel, to thereby repair the non-evaluation object defect species (point/strain defect repair process ST200).例文帳に追加
検査画像取得工程にて取得された画像データ中でムラ欠陥よりも面積が小さい点欠陥、シミ欠陥の各画素の輝度データを周囲の画素の輝度データに基づく補間値で置き換えてこの非評価対象欠陥種を修補する(点・シミ欠陥修補工程ST200)。 - 特許庁
In this inspection method of a plasma display panel, a formation state of the photosensitive film is inspected by entering light having a wavelength without being sensed by the photosensitive film into the photosensitive film after an exposure process and before a development process, and imaging reflection of the light.例文帳に追加
本発明のプラズマディスプレイパネルの検査方法は、露光処理後であって現像処理前の感光性膜に、前記感光性膜を感光させない波長の光を入射し、前記光の反射を撮像して、前記感光性膜の形成状態を検査することを特徴とする。 - 特許庁
The heat generation inspection method for the heater comprises a process used to measure surface-temperature distribution data on a region including a heat generation part of the heater electrified by a prescribed voltage, and a process used to decide whether an abnormal heat generation part of the heater exists on the basis of the measured surface-temperature distribution data.例文帳に追加
ヒータの発熱検査方法であって、所定電圧で通電されたヒータの発熱部を含む領域の表面温度分布データを測定する工程と、測定された表面温度分布データに基づいて前記ヒータの異常発熱部の有無を判定する工程と、を含むことを特徴とする。 - 特許庁
A cumulative travel distance of a traveling vehicle is received via the Internet, and if it matches inspection items following the cumulative travel distance of the vehicle prestored in a database, a message notifying a necessity of an inspecting process of the inspection items is sent to the traveling vehicle via the Internet.例文帳に追加
走行中の車両の累積走行距離をインターネットを介して受信し、予めデータベースに蓄積した前記車両の累積走行距離に伴う点検項目に一致する場合には、インターネットを介して前記点検項目の点検処理が必要である旨のメッセージを前記走行中の車両に送信する。 - 特許庁
To provide an automatic chemical analyzer reducing a delay of inspection due to a simple error and improving efficiency and speed of data submission of an inspection department by providing a function storing the whole reaction process during an analysis, applied to a concentration calculation of a random sample by a random calibration result and recalculating it.例文帳に追加
分析時の全反応過程を記憶しておき、任意のキャリブレーション結果により任意の試料の濃度計算に適用し、再計算する機能を有することにより、単純ミスによる検査の遅れが減少し、検査室のデータ提出スピードアップ化や効率向上が図れる自動化学分析装置を実現する。 - 特許庁
To provide a technique for improving the manufacture yield of a semiconductor product without spoiling speediness of inspection for a manufacturing technique for semiconductor product including an inspection process for a multilayer wiring layer by a method of efficiently improving a detection rate and in a manner of reducing the probability that an undetected part becomes defective.例文帳に追加
効率的に検出率を向上する方法及び未検出箇所が不良になる確率を低減させる手法により、多層配線層の検査工程を含む半導体製品の製造技術において、検査の迅速性を損なうことなく、半導体製品の製造歩留まりを向上させる技術を提供する。 - 特許庁
The inspection recess is used for inspection of the horizontality of the face plate, the assembly of the head body and the face plate can be quickly and accurately completed before the manufacturing process for the temporary welding and high energy welding, and horizontal assembly of the face plate after the temporary welding can be inspected.例文帳に追加
検査用凹欠部はフェース板の水平の組立を検査するのに用いられ、仮溶接および高エネルギー溶接の製造過程の前にヘッド本体とフェース板の組立を迅速かつ精確に完成でき、さらに仮溶接後にフェース板の水平の組立を検査することができるように構成されている。 - 特許庁
The device for performing fluid-tight inspection after repair of fluid leakage of the piping includes: an AE sensor 10 for measuring an elastic wave from the piping of the fluid filling process after piping repair; and an analyzing part 20 for evaluating operation and fluid re-leakage of an air valve connected to the piping of the fluid filling process by analyzing signals from an AE sensor.例文帳に追加
配管の漏液の補修後の液密性検査を行う装置は、配管補修後の充液過程の配管からの弾性波を測定するためのAEセンサ10と、AEセンサからの信号を解析し、充液過程の配管に接続される空気弁の動作及び再漏液の評価を行う解析部20とを具備する。 - 特許庁
To eliminate, regarding a filament winding apparatus and a filament winding method in which a fiber bundle is wound round the surface of a member to be wound, the time lag between the winding treatment process and the inspection process and minimize generation of defective products whose resin deposition amounts are under a criteria.例文帳に追加
被巻付部材の表面に繊維束を巻き付けるフィラメントワインディング装置とフィラメントワインディング方法に関して、巻付処理工程と検査工程とのタイムラグをなくして、樹脂付着量が基準に満たない不良品の発生を最小限化する。 - 特許庁
To provide a method for forming an exposure pattern capable of detecting the connection failure of an exposure pattern unique to electron beam exposure technology with high accuracy in a Die to Die defect inspection just like a pattern failure caused by a process other than an exposure process.例文帳に追加
Die to Dieの欠陥検査において、電子線露光技術特有の露光パターンの接続不良を、露光プロセス以外のプロセスに起因するパターン不良と同様に精度良く検出することができる露光パターンの形成方法及び電子線露光装置の提供。 - 特許庁
To provide a mark erasing device for freely erasing unnecessary displays in a preceding process in a continuous production line or an inspection line even in the case of erroneously displaying caused by the defects of a steel plate inspection device or the like to improve the production efficiency.例文帳に追加
本発明は、鋼板の検査装置等の不具合によって誤って表示を付した場合でも連続生産ラインや検査ライン等の前工程で自由に不要な表示を消去でき、生産効率の向上が期待できるマーク消去装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
When the maintenance timing of a light source 13 is reached, after inspection process has been interrupted temporarily and an image sensor element for light source adjustment is conveyed to be placed on a placing section 11 (S1), imaging is carried out with the image sensor element for light source adjustment (S2), under identical conditions as the imaging conditions at inspection of image sensor element 12.例文帳に追加
光源13のメンテナンスのタイミングになると、検査工程が一時中断され、光源調整用撮像素子が載置部11へと搬送されて載置され(S1)、撮像素子12を検査する際の撮像条件と同じ条件で、光源調整用撮像素子により撮像が行われる(S2)。 - 特許庁
Data processing is performed by a work station connected with a data center through a network in a process in which an additive is automatically prepared and poured simultaneously when supplying liquid fuel to calculate actual running fuel economy by equipment as a first process and a process in which the inspection of exhaust gas component and the measurement of fixed speed fuel economy are performed to obtain data as a second process.例文帳に追加
個別車両に対し、第一工程として機器類による、液体燃料の給油と同時に添加剤を自動調合注入して実走行燃費を算出する工程と、第二工程として排出ガス成分検査と定速燃費を測定してデーターを出す工程と、ネットワークを通じてデーターセンターに接続したワークステイションによりデーター処理をすることを特徴とする。 - 特許庁
The data management device 8 has a function of storing process information on processing conditions of each processing, in a storage device in association with identification codes for specifying products, deleting the whole process information on products determined to be non-defective products as a result of an inspection process performed on the produced products, from the storage device, and holding other information than that.例文帳に追加
このデータ管理装置8は、各処理の処理条件に関するプロセス情報を製品を特定する識別符号と対応させて記憶装置に記憶させ、生産された製品について行われた検査工程の結果、良品と判定されたものに関する全プロセス情報を記憶装置から削除し、それ以外を保持させる機能を備えている。 - 特許庁
In inspection preparation process, the laser emitting device 1 is set on the downstream side of the conduit 105, the pipe center measuring instrument 2 is set on the upstream side, and the optical axis 6 of the laser beam is adjusted.例文帳に追加
調査準備工程においては、管渠105の下流側にレーザ発射装置1をセットするとともに上流側に管芯測定器2をセットし、レーザ光の光軸6を調整する。 - 特許庁
To simultaneously execute a process trace difficult to execute, which is caused by the large error in the position information of the appearance inferior places output from a plurality of visual inspection devices, during usual automatic imaging.例文帳に追加
複数の外観検査装置から出力される外観不良箇所の位置情報が大きな誤差をもつことが原因で、実施が困難な工程トレースを通常の自動撮像時に同時に実行する。 - 特許庁
To provide a voltage control circuit, capable of reducing the consumption power of a semiconductor chip without complicating an inspection process, and to provide a voltage control system with the voltage control circuit.例文帳に追加
検査工程の複雑化を招くことなく、半導体チップの消費電力の低減を図ることのできる電圧制御回路及びこの電圧制御回路を備える電圧制御システムを提供する。 - 特許庁
To carry out inspection with high accuracy without causing any pseudo defects by performing the pattern data collation corresponding to a small change of the pattern generated by an etching process of the pattern formed on a photo mask.例文帳に追加
フォトマスク上に形成されるパターンのエッチングプロセスによって生じるパターンの微妙な変化に対応したパターンデータの合わせを行い、疑似欠陥の発生を招くことなく精度良い検査を行う。 - 特許庁
To provide a defect reviewing system, a defect reviewing method, a defect analyzing method and a method of manufacturing a semiconductor device by which the purpose of inspection can be limited and a process that generates defects can be easily specified.例文帳に追加
検査目的を限定でき、欠陥の発生する工程を特定することが容易になる欠陥レビュー装置、欠陥レビュー方法及び欠陥解析方法、半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
A backward transmission pass is not executed when no unattained transition exists, but the presence of a specification error in the input state chart is determined to finish a process, and a vector output of an inspection result is generated (690).例文帳に追加
未達の遷移がない場合、逆方向伝搬パスを実行せずに、入力ステートチャートに仕様誤りがあると判断してプロセスを終了し、検査結果のベクトル出力を生成する(690)。 - 特許庁
A method and device for manufacturing bearing are used for inspecting a cylindrical bearing 20 which becomes a slide bearing or dynamic bearing in the state of a single bearing or bearing unit in the inspection step of the final process.例文帳に追加
滑り軸受ないし動圧軸受となる円筒状の被検査軸受20を、最終工程の検査工程で、軸受単体、または軸受ユニットの状態で検査する製造方法および装置である。 - 特許庁
(2) Notwithstanding the provisions of the preceding paragraph, a part of inspection for design or manufacturing process may not be performed for designs pertaining to supplemental type design or aircrafts pertaining to those designs listed in the following: 例文帳に追加
2 前項の規定にかかわらず、次に掲げる追加型式設計に係る設計及びその設計に係る航空機については、設計又は製造過程について検査の一部を行わないことができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
To provide a method and a device for automatic detection of existence of mercury or amalgam in a fluorescent lamp with mercury or amalgam sealed into it without providing an additional inspection process period.例文帳に追加
水銀または水銀合金を封入した蛍光ランプの、水銀または水銀合金の有無を、新たに検査工程時間を設けることなく自動検出する方法および装置を提供する。 - 特許庁
To realize a process in which what size of an image which is currently displayed as an index image is printed out by only the visual inspection of the index image which is list-displayed.例文帳に追加
一覧表示したインデックス画像を視認するだけで、インデックス画像として表示されている画像が具体的にどの程度の大きさでプリントアウトされるのかまでを実感することができるようにする。 - 特許庁
(c) If it has deemed it necessary and appropriate in the process of conducting procedure (b) above, the Board shall implement an on-site inspection of other relevant parties including the entity that has been audited by the firm, in order to confirm the situation surrounding that firm’s audit practices. 例文帳に追加
③ 上記②の過程で、さらに監査事務所における監査業務に関する状況を確認するため必要かつ適当であると認めるときは被監査会社等に立入検査を行う。 - 金融庁
A protective film exfoliating inspection is previously performed (s9)in a comparatively strong direction of interlayer strength in a manufacturing process of the sticking plate 10 so that interlayer exfoliation is not generated when a protective film 15 is exfoliated (s11).例文帳に追加
保護フィルム15を剥がす(s11)際に、層間剥離が生じないように、貼合板10の製造工程で、予め層間強度が比較的強い方向に、保護フィルム剥ぎ検査を行っておく(s9)。 - 特許庁
To provide a manufacturing method of a plasma display panel in which a calcining process in forming an electrode and dielectric layer can be simplified, and moreover, an inspection and rectification of the electrode can be done suitably.例文帳に追加
電極および誘電体層の形成工程における焼成工程を簡略化でき、かつ、電極の検査および修正を好適に実施できるPDPの製造方法を提供する。 - 特許庁
The IC tag 9 is recorded with at least the manufacture lot number of the manufacture lot number and the recorded information of the IC tag 4 after the inspection process of each element article 2 used for the machine element commodity 1.例文帳に追加
このICタグ9に、製造ロット番号、および上記機械要素商品1に用いられた各要素品2の上記検査工程後のICタグ4の記録情報のうち、少なくとも製造ロット番号を記録する。 - 特許庁
A crystal structure is formed in a process of directly sticking an inspection object such as saliva to the surface of the lens with an angular magnification of 200 or more and drying them, so that the ovulation date is determined based on difference in pattern.例文帳に追加
角倍率が200倍以上のレンズの表面に直接に唾液等の検視物を付着させて乾燥する過程で、結晶構造が形成されるので、その、文様の違いで排卵日を判定する。 - 特許庁
To provide a probe film for a probe block and a manufacturing method of the probe film, which are capable of effectively inspecting a display panel having micro electrodes arrayed with high density and capable of decreasing a pin miss in an inspection process.例文帳に追加
高密度に微細電極が配列されたディスプレーパネルを効果的に検査することができ、検査工程中のピンミスを減少させることができるプローブブロック用プローブフィルム、及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a manufacturing method of a semiconductor laser device capable of determining, by a simple method, whether deviation of a resonator length is in an allowable range on a chip basis; and an inspection method of a semiconductor laser bar in its manufacturing process.例文帳に追加
簡便な方法でチップ毎に共振器長のずれが許容範囲内であるか否かを判別可能な半導体レーザ装置の製造方法およびその製造工程における半導体レーザバーの検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide a substrate treatment system capable of detecting an abnormality of the chip on a substrate in a stage before the inspection process of the substrate is performed in-line by measuring the temperature or temperature distribution of the substrate accompanied by operation or the chip on the substrate during treatment.例文帳に追加
動作を伴う基板や処理中の基板上のチップの温度または温度分布をインラインで計測して、基板の検査工程を行う前の段階で基板上のチップの異常を検出できる基板処理システムを提供する。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing a probe fixing substrate capable of performing the total inspection in a manufacturing process of a probe fixing substrate so that all of the manufactured probe fixing substrates have good measuring precision.例文帳に追加
プローブ固定化基体の製造過程において全数検査を行い、製造されたプローブ固定化基体が全て良好な測定精度を有することを可能にする、プローブ固定化基体の製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
Furthermore, the quarantine stations provide complete instructions for checking that the production process of imported foods is not illegal in exporting countries and that raw materials, additives, manufacturing process, inspection data and all other aspects conform to the Act. In addition, the quarantine stations provide instructions for making proper import-notification documents based on accurate and the latest information obtained from producers or manufactures.例文帳に追加
また、輸入する食品等が輸出国において違法に生産等されたものではないこと、原材料、添加物、製造方法、検査データ等が法に適合していることについての確認を徹底するよう指導する。 - 厚生労働省
When a terminal misalignment is generated, since the thick width pattern terminal 142 is short-circuited by an adjacent pattern terminal, shipment of abnormal products is prevented by detecting the short circuit at the inspection process.例文帳に追加
端子ずれを起こした場合に、太幅パターン端子142が隣接するパターン端子と短絡するので、検査工程で短絡を検知して異常品の出荷を防止することができる。 - 特許庁
An element quality inspection process 15 for feeding only a good article to a belt assembling line 13 by inspecting a molding condition of the element is provided in an element manufacturing line 11 for molding an element.例文帳に追加
エレメントを成形するエレメント製造ライン11に、エレメントの成形状態を検査して良品のみをベルト組立ライン13へ送るエレメント品質検査工程15を設ける。 - 特許庁
To provide a convenient validity/invalidity determining device that has a simple configuration and is capable of determining whether the abnormal input is abnormal so that a process inspection system is to be stopped or not.例文帳に追加
単純な構成で、異常入力が工程検査システム等を停止させるべき異常か否かを判断可能な利便性に優れた有効/無効判定装置を提供する。 - 特許庁
As each process (program part), a one suitable to an inspection object is set from a setting personal computer 25, transmission and receiving of data between the processes is performed through a system shared memory 16.例文帳に追加
各プロセス(プログラム部品)は、検査対象物に対して適したものを設定用パソコン25から設定されており、各プロセス間のデータの送受は、システム共有メモリ16を介して行う。 - 特許庁
Unnecessary logs including those obtained during the inspection of the plant and when the operation is stopped are not printed by arranging a printing setting process means for every log cycle for setting whether cyclic printing is required or not for each log.例文帳に追加
ログ毎に周期印字の有無を設定するログ毎周期印字設定処理手段を設け、プラントの点検中や運転停止時などの不要なログを印字しないようにする。 - 特許庁
Since usefulness of hollow 52 as standards and shape for fixing continues to exist after first production process, hollow 52 is useful for inspection and repair after production.例文帳に追加
基準としておよび固定するための形状としてのくぼみ52の有用性は、最初の製造処理を経ても存続するので、くぼみ52は、製造後の検査や修理のために有用である。 - 特許庁
To optimize easily various parameters for extracting the line edge shape of a pattern with high precision and over a wide range in a semiconductor device inspection process using a scanning type microscope.例文帳に追加
走査型顕微鏡を用いた半導体装置検査工程においてパターンのラインエッジ形状を高精度で広範囲に渡って抽出するための各種パラメータを簡便に最適化する。 - 特許庁
In a comparison process, by comparing the calibration curve spectrum group FB with the object spectrum FB_j(f), the thickness Δw of the aperture A, which is the inspection object, is measured.例文帳に追加
比較工程にて、検量線スペクトル群FBと対象スペクトルFB_j(f)とを比較することにより、検査対象となる空隙Aの厚さΔwを計測することができる。 - 特許庁
Probe contact for the probe contact area 32 is used for contacting the edge of a test probe in a semiconductor chip inspection process performed prior to the bonding.例文帳に追加
プローブ接触領域32へのプローブ接触は、上記ボンディングに先立って行われる半導体チップ検査工程において、試験用プローブの先端を接触させるために用いられる。 - 特許庁
To provide a pill inspecting device for inspecting for inclusion of different pills in a PTP sheet manufacturing process which can improve inspection accuracy dramatically, and provide a PTP packaging machine.例文帳に追加
PTPシートの製造過程における異種錠の混入検査に関し、検査精度の飛躍的な向上を図ることのできる錠剤検査装置、及び、PTP包装機を提供する。 - 特許庁
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※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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