「process of inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

More preferably, the method includes an inspection process of performing inspection by inputting a signal to an input terminal 9 of the liquid crystal display panel 7 after the back case assembling process and before the case parting process.例文帳に追加

好ましくは、裏ケース組付け工程の後で、ケース分断工程の前に、液晶表示パネル７の入力端子９に信号を入力して検査を行なう検査工程を含む。 - 特許庁

To provide a mounted base board visual inspection device and its visual inspection method allowing both of mounting inspection and soldering inspection by means of a single inspection device so as to improve efficiency of an inspection process and so as to lower an equipment cost.例文帳に追加

単一の検査装置によって実装検査および半田検査が行え、検査工程の効率を向上させると共に設備費用を削減できる実装基板の外観検査装置および外観検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The damage inspection method of the screen is attained by the screen damage inspection device 10 and includes a signal output process and a damage determination process.例文帳に追加

スクリーンの損傷検査方法は、スクリーン損傷検査装置１０により実現され、信号出力工程と損傷判定工程とを含む。 - 特許庁

To provide an inspection system including a single rejector and a number of inspection machines using a pass/fail judgement process.例文帳に追加

単一の廃棄装置と合否判定プロセスを用いる多数の検査用機械とからなる検査システムを提供する。 - 特許庁

Inspection facilities is narrowed down based on inspection process from inspection facilities of which installation positions are included in the facility detection area.例文帳に追加

そして、当該設備検出範囲に設置位置が含まれる検査設備を対象として、検査工程に基づく検査設備の絞り込みがなされる。 - 特許庁

In the inspection process of the production line of the distribution device 330, its operation is inspected as well.例文帳に追加

この振分装置３３０の生産ラインの検査工程ではその動作検査も行う。 - 特許庁

To classify the types of defects of TFT arrays, in a TFT array inspection process.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ検査工程において、ＴＦＴアレイの欠陥の種類を分類する。 - 特許庁

The manufacturing method of an electrophotographic photoreceptor includes at least the inspection process 101, and the inspection process includes at least a defect detection process 102 of detecting a defective part of an electrophotographic photoreceptor.例文帳に追加

電子写真感光体の製造方法は検査工程１０１を少なくとも含み、検査工程は電子写真感光体の欠陥部を検出する欠陥検出工程１０２を少なくとも含む。 - 特許庁

INSPECTION METHOD OF DEFECT IN PHOTORESIST, MENDING METHOD OF PHOTORESIST, AND MANUFACTURING PROCESS OF PRINTED CIRCUIT BOARD例文帳に追加

フォトレジストの欠陥を検査および修復する方法、並びにプリント回路基板の製造プロセス - 特許庁

Accordingly, the information necessary for the inspection can be acquired properly, in comparison with a conventional constitution wherein the item already subjected to the inspection in the previous process of the lighting inspection process is omitted.例文帳に追加

したがって、従来のように点灯検査工程の前工程において検査済みの項目を省略する構成と比べて、検査に関する必要な情報を適切に得ることができる。 - 特許庁

To provide a tablet inspection device and a PTP packing machine capable of rapidly improving inspection accuracy and inspection efficiency in an appearance inspection of tablets at a manufacturing process of a PTP sheet.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における錠剤の外観検査に際し、検査精度や検査効率の飛躍的な向上を図ることのできる錠剤検査装置及びＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

To provide a solder inspection method, a board inspection system, and a solder inspection machine that highly accurately distinguish whether the condition of solder is proper or not by applying a different inspection criterion depending on the condition of a portion to be inspected as of before a reflow process is performed.例文帳に追加

リフロー工程を実施する前の検査対象部位の状態の違いによって異なる検査基準を適用することにより、はんだ付け状態の適否を精度良く見分ける。 - 特許庁

To reduce the length of time (cycle time) to elapse from process processing through inspection processing and also to improve the operating rate of each process device.例文帳に追加

プロセス処理から検査処理までの時間（サイクルタイム）を短縮しつつ，各プロセス装置の稼働率を向上させる。 - 特許庁

To shorten inspection time of a whole inspection process group in an inspection process of an information processor equipped with a storage medium 8 for which shut-down processing is necessary before power supply interruption after access.例文帳に追加

アクセスがあった後の電源遮断の前にシャットダウン処理が必要な記憶媒体８を備える情報処理装置の検査工程において、検査工程群全体での検査時間を短縮する。 - 特許庁

When the server 2 receives an image inspection right requesting signal including the inspection ID from an image inspection device 3, the server reads the image inspection flag correlated with the inspection ID from the image inspection management table and determines whether the image inspection process for the medial image data DT1 of the inspection indicated by the inspection ID is executed or not.例文帳に追加

そして、検像装置３から検査ＩＤを含む検像権要求信号を受信すると、当該検査ＩＤに対応付けられた検像フラグを検像管理テーブルから読み出し、その検査ＩＤで示される検査の医用画像データＤＴ１に対する検像処理が未検像であるか判定する。 - 特許庁

When the order of the inspection product Q is not a divisor of the order (q), inspection failure is outputted and the process is ended.例文帳に追加

検査積Ｑの位数が位数ｑの約数でないときは検査不合格の旨を出力して処理を終了する。 - 特許庁

The inspection pad 4 is used for inspecting the behavior of the IC chip 2 in an inspection process, and is cut off together with the scribe line 3 in a cut process.例文帳に追加

検査用パッド４は、検査工程において、ＩＣチップ２の動作を検査するために使用され、切断工程において、スクライブライン３とともに切り落とされる。 - 特許庁

To improve the efficiency of design by smoothly performing information cooperation in a design inspection process and a design process.例文帳に追加

設計検討過程、設計過程における情報の連携を円滑に図ることで設計を効率化する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a battery including an inspection process capable of identifying the abnormal portion of a wound electrode body before assembling a battery; and to provide a manufacturing device of the battery including an inspection means capable of achieving an inspection process.例文帳に追加

電池が構築される前に捲回電極体の異常部位を特定可能な検査プロセスを包含する電池の製造方法、および検査プロセスを実現可能な検査手段を備えた電池の製造装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electron-beam wafer inspection device capable of shortening a time required for subjecting a wafer to an inspection process.例文帳に追加

１個のウエハの検査処理に要する時間を短くすることができる電子線式ウエハ検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection system for time sequentially displaying a series of medical treatment process and inspection result of a patient, and for performing the unitary confirmation of the inspection result history or medical treatment effect of the patient even when a sudden inspection order is issued.例文帳に追加

突然の検査オーダが発行された場合にも、患者の一連の治療経過と検査結果とを時系列に表示し、患者の検査結果履歴や治療効果を一元的に確認できる検査システムを提供。 - 特許庁

To make an efficient and accurate inspection in the process of inspecting piezoelectric ceramics for defects.例文帳に追加

圧電セラミックスの欠陥検査工程において，効率よく，高精度の検査を行う。 - 特許庁

PROCESS FOR MANUFACTURING PRINTED WIRING BOARD, AND INSPECTION PATTERN UNIT OF PRINTED WIRING BOARD例文帳に追加

プリント配線基板の製造方法およびプリント配線基板の検査用パターンユニット - 特許庁

Preferably, an atmosphere replacement process for filling the inside of the inspection container with inert gas after depressurizing once preliminarily the inside of the inspection container is performed before the depressurization process.例文帳に追加

減圧工程の前には、一旦予備的に上記検査容器内を減圧した後に不活性ガスを充満させる雰囲気置換工程を行うことが好ましい。 - 特許庁

To provide a tablet inspection device and a PTP-packaging machine capable of significantly improving the inspection accuracy, at the inspection of chipping of a tablet in a production process of a PTP sheet.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における錠剤の欠け等の検査に際し、検査精度の飛躍的な向上を図ることのできる錠剤検査装置及びＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

To provide a tablet inspection device and a PTP packaging machine capable of significantly improving the inspection accuracy, at the inspection of chipping of a tablet in a production process of a PTP sheet.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における錠剤の欠け等の検査に際し、検査精度の飛躍的な向上を図ることのできる錠剤検査装置及びＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device constituted so as to be capable of achieving the drastic enhancement of inspection precision at the time of inspection of defect in a PTP sheet manufacturing process, and a PTP packaging machine.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における不良を検査するに際し、検査精度の飛躍的な向上を図ることのできる不良検査装置、及び、ＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device having unprecedented high accuracy, in a defect inspection device of a manufacturing process of a semiconductor device; and to provide a defect inspection (or evaluation) method.例文帳に追加

半導体デバイスの製造過程の欠陥検査装置において従来にはない精度の良い欠陥検査装置及び検査（或いは評価）方法を実現する。 - 特許庁

To provide a robot guide assembly capable of increasing throughput in a manufacturing process and/or an inspection process of a semiconductor.例文帳に追加

半導体の生産プロセスおよび／または検査プロセスのスループットを増大させることができるロボット案内組立体を提供する。 - 特許庁

To improve the reliability of the outward appearance inspection of a wire harness and to make the inspecting process efficient.例文帳に追加

ワイヤハーネスの外観検査の信頼性を向上させると共に検査工程の効率化を図る。 - 特許庁

To provide a rapid inspection method for determining the effectiveness of a sterilization process of medical instruments.例文帳に追加

医療用具類の滅菌プロセスの有効性を決定するための迅速な検査法を提供する。 - 特許庁

To provide a process measurement control system maintenance and inspection device capable of making drastically efficient realization of maintenance and inspection work.例文帳に追加

保守点検作業の大幅な効率化を実現することができるプロセス計測制御システム保守点検装置を提供すること。 - 特許庁

Record of an inspection result in the preceding process is displayed on the outside development displayed for the input, and the display of the input of the outside inspection result of the defect in the own process is made different from the display of the inspection result in the preceding process such that the operator can decide whether the defect inputted in the own process is generated in the own process or in the preceding process.例文帳に追加

入力用として表示してなる外観展開図上に、前工程における検査結果の記録を表示しておき、前記オペレータが自工程で入力する欠陥について、自工程で発生したものか、前工程で発生したものかを判別できるように、自工程での欠陥の外観検査結果の入力を、前工程での検査結果の表示とは異なる表示とする。 - 特許庁

To provide an inspection subject unit, a decision program and a method therefor, in which a part to be inspected is inspected in a proper inspection process according to characteristics of an inspection process.例文帳に追加

検査工程の特性に応じて、検査対象となる部品が適切な検査工程で検査されるようにするための検査対象部品決定装置、決定プログラムおよび方法を提供する。 - 特許庁

The inspection method for inspecting a plurality of inspection objects, each of which has a larger inspection domain than an imageable dimension by the camera, while conveying them on a conveyance line, has an inspection process for inspecting the whole inspection domain of the inspection object.例文帳に追加

カメラで撮像可能な寸法より大きい検査領域を有する検査対象物であって、複数の前記検査対象物を搬送ライン上にて搬送しつつ検査を行なう検査方法において、検査対象物の検査領域全体の検査を行なう検査を有する。 - 特許庁

(i) Component which is manufactured: Inspection for design or manufacturing process of the component 例文帳に追加

一　製造をした装備品　当該装備品の設計又は製造過程についての検査 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To process an inspection, exposure or the like of a wafer without polluting a sample, a lens or the like.例文帳に追加

試料やレンズ等を汚染することなく、ウエハの検査や露光等の作業を行う。 - 特許庁

To provide a visual inspection method and a visual inspection device for a tape carrier for a semiconductor device executing visual inspection on a line of a production process, without increasing the number of workers and an in-process inventory.例文帳に追加

作業人員や仕掛在庫を増やすことなく、製造工程ライン中で外観検査が実施できるようにした半導体装置用テープキャリアの外観検査方法および外観検査装置を提供すること。 - 特許庁

This display controller 4 can shorten an inspection time necessary for a visual inspection process, since the controller includes a display control unit 7 which excludes, from display objects on the occasion of the visual inspection process, lighting patterns for detecting defects belonging to inspection items determined to have no defects in an automatic inspection process.例文帳に追加

本発明の表示制御装置４は、目視検査工程の際、自動検査工程において欠陥がないと判定された検査項目の欠陥を検出するための点灯パターンを表示対象から除外する表示制御部７を備えているので、目視検査工程に要する検査時間を短縮することができる。 - 特許庁

To realize an inspection device capable of obtaining stable results by automatizing the inspection process including organoleptic tests.例文帳に追加

官能検査を含む検査工程を自動化し、安定した結果をえることができる検査装置を実現することを目的にする。 - 特許庁

To attain an automated inspection process capable of preventing missed detection by not depending on visual inspection but executing detection by an electronic sensor.例文帳に追加

目視検査に頼らず電子的なセンサーで検知することにより、見逃しをなくし自動化した検査工程を可能とする。 - 特許庁

To provide a display panel defect inspection system which keeps a throughput of an inspection process even if the number of inspectors is reduced, and improving the throughput of the inspection process by dispersing a visual inspection work to the plurality of inspectors.例文帳に追加

本発明は、検査員の数を減らしたとしても、検査工程のスループットを維持することができ、更に、目視検査の作業を複数の検査員に分散させることで、検査工程のスループットを向上させることが可能なディスプレイパネル欠陥検査システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

A semi-product of a shadow mask is manufactured by performing treatment processes in an iron band for a shadow mask including a sensitive liquid application process 12, an exposure process 13, a development/ printing process 14 and a punching process 15, and an inspection process 16.例文帳に追加

シャドウマスク用鉄帯に対し、感光液塗布工程12、露光工程13、現像・焼付工程14、孔開け工程15の処理工程及び検査工程16を経て、シャドウマスクの半製品を形成する。 - 特許庁

To prevent faulty printing or faulty printing inspection even when, in a printing process or printing inspection process, the surface of a bag is warped or undulated.例文帳に追加

印字工程又は印字検査工程において、袋の袋面が反っていたり、波打っていたりした場合でも、印字不良又は印字検査ミスが生じるのを防止する。 - 特許庁

To obtain a method for inspecting efficiently by incorporating its inspection process in a manufacturing process, when a shape measuring inspection of a thin film magnetic head is performed by SEM.例文帳に追加

ＳＥＭにより薄膜磁気ヘッドの形状測定検査を行う場合において、その検査工程を製造工程中に組み込み、効率よく検査する方法を得る。 - 特許庁