「process of inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an inspection device of a rolling roll flaw for precisely detecting the roll flaw in the rolling process of a steel sheet from a light degree to a heavy degree.例文帳に追加

鋼板の圧延プロセスにおけるロール疵を軽度なものから重度のものまで精度よく検出する圧延性ロール疵検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a jig which can operate efficiently a connecting and removing operation of a vehicle battery and a battery cord in a completion inspection process of a two-wheeled vehicle.例文帳に追加

二輪車の完成検査工程において、車載バッテリとバッテリコードとの接続作業ならびに取り外し作業を効率良く行なうことのできる治具を提供する。 - 特許庁

To provide a game machine including a function of inspecting a storage means, surely preventing inspection for the storage means from being performed in the process of a game.例文帳に追加

記憶手段を検査する機能を備えた遊技機であって、遊技中に記憶手段の検査が実行されることを確実に防止できる遊技機を提供すること。 - 特許庁

The case 27 arrived at the physical distribution center 3 is carried to each of stores after information of the two-dimensional code label 26 is read by a scanner 32 and an inspection process is carried out.例文帳に追加

物流センタ３に入荷されたケース２７は、スキャナ３２により二次元コードラベル２６の情報が読み取られ、検品処理が行われた後、各店舗に搬送される。 - 特許庁

The temperature control achieves a condition clarifying the transistor characteristics of the TFT substrate and increases the intensity of a detection signal, thereby allowing inspection in the array process.例文帳に追加

温度制御により、ＴＦＴ基板のトランジスタ特性を顕著化させた状態とし、検出信号強度を高めることでアレイ工程での検査を可能とする。 - 特許庁

To reduce a burden on preparation of a management document necessary for management of a production process related to a pipe to reduce a time spent for the preparation and inspection.例文帳に追加

配管にかかわる生産工程の管理において必要となる管理ドキュメントの作成にかかる負担を軽減し、作成および検査にかかる時間の削減をはかる。 - 特許庁

The inspection table data conformed to the data of the read machine model code and assembling serial number is retrieved from the database of a process monitoring server 300a, and displayed on the screens.例文帳に追加

そして、読み取った機種コードおよび組付連番のデータと一致する検査表データを工程監視サーバー３００ａのデータベースから検索し画面に表示する。 - 特許庁

In the process of executing the electric inspection of a semiconductor element formed in a chip area by bringing a plurality of probes of a probe card into contact with a plurality of pads respectively formed in the plurality of chip areas of a wafer among the manufacture processes of the semiconductor device, the wafer is sucked and held by an inspection stage 30.例文帳に追加

半導体装置の製造工程のうち、プローブカードの複数のプローブをウエハの複数のチップ領域にそれぞれ形成された複数のパッドに接触させてチップ領域に形成された半導体素子の電気的検査を行う工程において、ウエハを検査ステージ３０に吸着保持させる。 - 特許庁

Execution of non-contact inspection in place of a conventional continuity test can eliminate contact on the electrode surface of the display portion and shorten inspection process for formation of the electrode, making it possible to inspect faults of the electrode developed in processes after the electrode formation to improve the quality.例文帳に追加

導通検査に代えて非接触検査を行うことにより、表示部の電極表面に接触せずに済み、また電極形成時の検査工程を短縮することができ、電極形成以降の工程において発生する電極欠陥の検査が可能となり、品質の向上が図れる。 - 特許庁

To attain high inspection yield in and after the assembly process, by measuring the DC parameter of each FET accurately, thereby eliminating a failure element.例文帳に追加

各ＦＥＴのＤＣパラメータを正確に測定して、ＤＣ検査において不良素子を排除し、組立工程以降で高いＲＦ検査歩留まりを実現する。 - 特許庁

To provide a ball bump wafer inspection device which inspects efficiently the height (including the shape) of the whole ball bump in a ball bump wafer production process.例文帳に追加

本発明は、ボールバンプウエハ生産工程で、全ボールバンプの高さ（形状含む）を効率良く検査するボールバンプウエハ検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a substrate inspection device capable of inspecting a prescribed marking on an objective substrate between each manufacturing process in a short time with a simple structure.例文帳に追加

各製造工程間における対象基板上の所定のマークを、安価な構成により短時間で検査できる基板検査装置を提供すること。 - 特許庁

To obtain an accurate position of a region to be inspected on a substrate by eliminating a positional error in a manufacturing process and improving positional accuracy and inspection accuracy.例文帳に追加

製造工程における位置誤差を解消して、位置精度を高め、検査精度を高め、基板上の検査対象領域の正確な位置を取得する。 - 特許庁

To provide a desired liquid jetting head with little dispersion and a manufacturing method that can make a highly accurate inspection in a manufacturing process of the liquid jetting head.例文帳に追加

所望のばらつきの少ない液体噴射ヘッド及び液体噴射ヘッドの製造工程において高精度に検査できる製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a cutting device equipped with an inspection means which inspects with high accuracy the shape of a tape after cutting, while performing a cutting process.例文帳に追加

裁断処理を行いながら、裁断後のテープの形状を高精度で検査することのできる検査手段を備えた裁断装置を提供する。 - 特許庁

In an inspection process after manufacturing the printed wiring boards 1, the information of the printed wiring boards 1 is registered in the management server 4 and history information such as the shipment, transport and integration into products is transmitted to the management server 4.例文帳に追加

製造後の検査工程で管理サーバ４に登録し、出荷、輸送、製品への組み込みなどの履歴情報を管理サーバ４に送信する。 - 特許庁

To provide a reduction method for power consumption, in which a maximum power consumption is reduced in the inspection process of a scan- designed semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

スキャン設計された半導体集積回路の検査工程における最大消費電力を削減する消費電力削減方法を提供する。 - 特許庁

To quickly fill a test gas into an electric component and to quickly transport the electric component to an inspection device, by automating a process of filing the gas and transporting the device.例文帳に追加

電子部品へテスト用ガスを充填して検査装置へ移送する過程を自動化し、テスト用ガスの充填と検査装置への移送を速やかに行う。 - 特許庁

To provide a foreign-body inspection apparatus by which defects in large quantities can be prevented and by which a yield is maintained in the mass-production line of a semiconductor production process.例文帳に追加

半導体製造工程の量産ラインにおいて、大量の不良を未然に防ぎ、歩留りを維持させるための異物検査装置を提供する。 - 特許庁

To acquire electrical characteristics of a defect without being limited to detecting a substrate defect at the stage of a substrate inspection process and to determine a causative substance being a factor of the detected defect.例文帳に追加

基板検査工程の段階で、基板欠陥を検出するに限らず、その欠陥の電気的特性を取得し、検出した欠陥の要因となる原因物質を特定する。 - 特許庁

To provide a working system of a printed circuit board, capable of systematically managing the information on defective printed circuit boards and preventing the occurrence of secondary failures by an inspection process.例文帳に追加

不良印刷回路基板に関する情報を体系的に管理することができ、検査工程による２次不良発生を防止することができる印刷回路基板の加工システムを提供する。 - 特許庁

To realize the acceleration of an inspection in a device which inspects the defects of the same design patterns, foreign matter, residue or the like on a wafer in the manufacturing process of a semiconductor device with electron beams.例文帳に追加

半導体装置の製造過程にあるウェハ上の同一設計パターンの欠陥、異物、残渣等を電子線により検査する装置において、検査の高速化を実現すること。 - 特許庁

To provide an inspection method for a semiconductor integrated circuit including an equalization process for generating a burn-in test pattern for equalizing the number of times of toggling on each element level of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の各素子レベルでのトグル回数を平準化するバーンインテストパターンを生成する平準化工程を含む半導体集積回路の検査方法の提供。 - 特許庁

The automatic inspection of a specified region can be carried out by acquiring the image, giving a real time image process thereto, and sequentially repeating the operation of storing the position and the brightness of the defective portion.例文帳に追加

この画像を取得し、リアルタイム画像処理を施し、不良部の位置と明るさを記憶する動作を順次繰り返すことにより、指定領域の自動検査を実施できる。 - 特許庁

To reduce the defective read rate of a trimming parameter in an inspection process in a nonvolatile memory requiring trimming of word line voltage and read reference voltage at the time of read operation.例文帳に追加

読出し動作時にワード線電圧や読出し参照電圧のトリミングが必要である不揮発性メモリにおいて、検査工程におけるトリミングパラメータの読出し不良率を低減する。 - 特許庁

Based on an image (inspection image data 102) obtained by imaging a substrate under inspection, the generating part 201 performs outline smoothing process for a pad pattern to be inspected and generates inspection mask data 103 by finding a logical sum of reference mask data 101 generated by the generating part 200.例文帳に追加

検査マスク生成部２０１が検査対象基板を撮像した画像（検査画像データ１０２）に基づいて、検査すべきパッドパターンに対して輪郭平滑化処理を行い、基準マスク生成部２００により生成された基準マスクデータ１０１との論理和をとって、検査マスクデータ１０３を生成する。 - 特許庁

To provide an electrical testing method for printed-wiring boards capable of providing an effect that resistance values which a 4-terminal inspection originally has are measured in an electrical testing process, ensuring high inspection efficiency, and performing a stable inspection at an inexpensive cost.例文帳に追加

電気検査工程において４端子検査が元々有する抵抗値を高精度で測定するという効果を発揮すると同時に、高い検査効率を確保し、安定した検査を安価で行うことができるプリント配線板の電気検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

There includes a discharge process of making the liquid droplets 32 discharge onto a discharging surface 24 after the liquid droplet 32 are discharged from a nozzle 64, pass in the air stream 36 in a direction crossing to a discharge direction, and are flied, and an inspection process of inspecting the shape of the discharged liquid droplets 32, in the method for inspection of the discharged liquid droplets.例文帳に追加

吐出液滴検査方法にかかわり、ノズル６４から液滴３２を吐出し、吐出する方向と交差する方向に流動する気流３６を通過して液滴３２を飛行させた後に液滴３２を着弾面２４に着弾させる吐出工程と、着弾した液滴３２の形状を検査する検査工程と、を有する。 - 特許庁

When the inspection result satisfies the predetermined judgment conditions, the observation process of a new observation object is determined based on a change destination information table, and the determined observation process is instructed through an LAN 40 to an observation device 20 so as to be changed to the observation process of the observation object.例文帳に追加

検査結果が予め定める判定条件を満たしているとき、変更先情報テーブルに基づいて新たな観測対象の観測工程を決定し、決定した観測工程を観測対象の観測工程に変更するようにＬＡＮ４０を介して観測装置２０に指示する。 - 特許庁

The method comprises (1) a process for obtaining inspected image information of an inspection objective area S by scanning the area S on a substrate 20 using electron beam, and (2) a process for analyzing a status of the area S according to inspection image information and reference image information for comparison.例文帳に追加

この方法は、（１）電子ビームにより基板２０上の検査対象領域Ｓを走査して、検査対象領域Ｓの検査画像情報を取得する工程と、（２）検査画像情報と基準となる比較画像情報とに基づいて、検査対象領域Ｓの状態を解析する工程と、を備える。 - 特許庁

To provide a polyester film allowing a worker to detect a defect, foreign matter or the like with high precision in a visual inspection by a crossed Nicol method which is one of inspection methods for polarizing plate and favorably usable as a mold releasing film hardly scratched in a manufacturing process for the mold releasing film and a process by use of the mold releasing film.例文帳に追加

偏光板の検査方法の一つであるクロスニコル法による目視検査において、欠点や異物等の検出を高精度で実施することができ、離型フィルムの製造工程内や離型フィルムが使用される工程内でキズの入りにくい離型フィルム用として好適なポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁

The production pathway navigation system is configured to calculate the percentage of defect-free product for every manufacturing history and model based on manufacturing history information transmitted from a manufacturing process management device and inspection history information transmitted from the inspection process management device, and determines the optimal production pathway from the calculated percentage of defect-free product.例文帳に追加

この生産経路ナビゲートシステムは、まず、製造工程管理装置から送信された製造履歴情報と、検査工程管理装置から送信された検査履歴情報とに基づいて、製造履歴、機種毎に直行率を算出し、算出した直行率から最適な生産経路を決定しておく。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of an electrophotographic photoreceptor including an inspection process capable of reducing mistakes upon the discrimination of a good quality product or a defective product even if the level of image quality is raised to print image quality.例文帳に追加

印刷画質まで画像品質をレベルアップした場合であっても、良品又は不良品の判定ミスを減らすことが可能な検査工程を含む電子写真感光体の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sealed battery preventing the slippage of a valve body from an opening part of a sealing plate, and detecting the slippage of the valve body in an inspection process even if the valve plate is slipped from the opening part of the sealing plate.例文帳に追加

封口板の開口部から弁板がズレることを防止でき、万一封口板の開口部から弁板がズレた場合には、検査工程で弁体のズレを検出できる密閉型電池を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a plasma display panel of a high productivity in which an inspection process of color mixture at coating of a phosphor paste is simplified by using an injection coating method.例文帳に追加

本発明は、インクジェット塗布方法を用いて、蛍光体ペースト塗布時の混色の検査工程を簡素化して生産性の高いプラズマディスプレイパネルの製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an alignment method for simplifying a process of detecting a height of a plurality of probes, highly accurately detecting it in a short time and improving reliability of an inspection.例文帳に追加

複数のプローブの高さを検出する工程を簡素化して短時間で且つ高精度に検出することができると共に、検査の信頼性を高めることができるアライメント方法を提供する。 - 特許庁

To reduce possibility of occurrence of an oil leakage defective product, to eliminate a need for strict inspection, and to conduct downsizing of a joint and simplification of a manufacturing process.例文帳に追加

自動車用制動油圧管継手について、油漏れの欠陥品が生じる可能性が少なく、厳格な検査が不要であること、および、コンパクト化、製造工程の簡易化を図ることを目的としている。 - 特許庁

To detect erroneous insertion of an oil seal in an inspection process when the oil seal exists to be erroneously inserted in the power cylinder of a power steering device in the state of nonblocking of the port to a control valve.例文帳に追加

動力舵取装置のパワーシリンダ１１内に、コントロールバルブへのポート１７を塞がない状態で誤挿入されたオイルシール２０が存在する場合、これを検査工程にて検出することができない。 - 特許庁

To provide an organic EL panel allowing the position of an abnormal lighting dot to be easily identified in a lighting inspection process of the organic EL panel, and thereby capable of remarkably contributing to the analysis of the abnormal lighting.例文帳に追加

有機ＥＬパネルの点灯検査工程において、点灯異常のドットの位置を容易に特定し、点灯異常の解析に大きく貢献することが可能な有機ＥＬパネルを提供する。 - 特許庁

Faults of the electrode pattern and their locations are grasped by conducting appearance inspection immediately after formation of the electrode on a glass substrate, correction of the electrode is conducted standing on information obtained with the appearance inspection, then following formation process of each composing layer is executed, followed by a non-contact continuity test is performed as the final inspection before shipment.例文帳に追加

ガラス基板上に電極を形成した直後に外観検査を実施して電極パターンの欠陥及びその位置を把握し、その外観検査で得た情報を基にして電極の修正を実施し、それ以降の各構成層の形成工程を経た後に、出荷前の最終検査として非接触による電極の導通検査を行う。 - 特許庁

The imaging inspection device for inspecting the object in the moving article, which comprises the conveyer for conveying the article, having the object passing through the inspection place in the inspection device along the moving route; the frame construction; the plurality of imaging inspection device, arranged in the frame structure; and process analysis assembly.例文帳に追加

移動している物品内にある対象物を検査するための撮像検査装置であって、この撮像検査装置は、対象物を有する物品を前記撮像検査装置内の検査場所を通して移動経路に沿って運搬するためのコンベヤと、枠組構造体と、前記枠組に配置された複数の撮像検査器と、処理分析組立体とを有したこと。 - 特許庁

The manufacturing process of a stacked semiconductor device comprises a chip inspection step (step S2) for inspecting the quality of a semiconductor chip stacked on a substrate, and performs a wire fixing step (step S4) only of an article judged that all semiconductor chips are good (Y in step S3) in the chip inspection step.例文帳に追加

基板に積層された半導体チップの良否を検査するチップ検査工程（ステップＳ２）を備え、このチップ検査工程において全ての半導体チップが良と判定された良品のみに（ステップＳ３のＹ）、ワイヤ取付工程（ステップＳ４）を行なうようにした。 - 特許庁

In this process, a defect is detected by comparing a basic inspection image obtained from the basic pattern formed in the basic pattern region of the mask for inspection of pattern defect detection sensitivity with a defect reference image produced by image processing based on the design data of the defect pattern.例文帳に追加

この際、パターン欠陥検出感度検査用マスクの基本パターン領域に形成された基本パターンから取得した基本検査画像と、欠陥パターンの設計データを基に画像処理により生成した欠陥参照画像とを、比較して欠陥を検出する。 - 特許庁

Two components are connected by a fittingly insertion system of the insertion slot and the projected stripe, conditions of the connection can be thereby clearly realized, the inspection can be performed whether or not the connection coincides with the inspection standard, and it is effective to increase the safety of a process.例文帳に追加

本発明は挿入溝と凸条の嵌挿方式により二つの部品を接続し、これにより接続の状況を目視方式で明らかに知ることができ、検査標準に符合するか否かを検査でき、工程の安全を高めるのに有効である。 - 特許庁

To provide a convenient lighting device capable of shifting to a normal mode right after completing inspection without being restrained by an inspection time in an inspection mode for easily performing operation confirmation in a manufacturing process and at an installing site and selecting an operation mode fit to an intention of a user without carelessly shifting to the inspection mode during a normal operation and raising a sense of security of the user.例文帳に追加

製造工程や設置現場で動作確認を容易に実施するための点検モードにおいて、点検時間に制約されることなく、また、点検完了次第直ちに通常モードへ移行できるとともに、通常の使用中には不用意に点検モードへ移行せず使用者の意志に即した動作モードを選択することができ、使用者の安心感を高め、使い勝手の良い照明装置を提供する。 - 特許庁