例文 (999件) |
process of inspectionの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1060件
A limited pulse width is thereby determined from a record of a limited number of test patterns and an image processing, and the process load and expended hours relating to an inspection process are reduced more than ever before.例文帳に追加
これにより、限られた数のテストパターンの記録と画像処理から限界パルス幅を判定することが可能となり、検査工程に係る工程負荷や消費時間を従来よりも抑えることが出来る。 - 特許庁
The manufacturing method further includes: an aperture formation process for forming an aperture 36 in an area facing the terminal portion of the second substrate base material 32 before the lamination process; and an inspection process for inspecting lighting by supplying an inspection signal to each terminal portion exposed through the aperture 36 on the laminated substrate base material 34 before the division process.例文帳に追加
さらに、貼り合わせ工程の前に、第2基板母材32における端子部に対向する領域に、予め開口部36を形成する開口部形成工程と、分断工程の前に、貼合せ基板母材34において開口部36を介して露出している各端子部に、検査信号を供給して点灯検査を行う検査工程とを備える。 - 特許庁
The film thickness measurement of the bare wafer resist-coated in the coating treatment unit SC is performed in the inspection unit 11 after prebaking process.例文帳に追加
塗布処理ユニットSCにおいてレジスト塗布されたベアウエハはプリベーク処理後、検査ユニット11において膜厚測定が行われる。 - 特許庁
In an electronic control apparatus 40, a first constant "0X00" is written in a prescribed area of a memory 46 in the finished product inspection process.例文帳に追加
電子制御装置40は、完成品検査工程においてメモリ46の所定の領域に第1の定数“0X00”が書込まれる。 - 特許庁
To provide a shape inspection system in which changes in patterns during a developing process of a micropattern such as a semiconductor integrated circuit can be browsed.例文帳に追加
半導体集積回路等の微細パターンの開発工程におけるパターンの変遷を閲覧可能な形状検査システムを提供する。 - 特許庁
After a first aging process for executing first aging discharge to a PDP that is formed in advance for a first time length, the lit state of the PDP is measured in an inspection process.例文帳に追加
あらかじめ形成したPDPに第1エージング放電を第1時間長で実施させる第1エージング工程の後、検査工程でPDPの点灯状態を測定する。 - 特許庁
To constitute a mold release device so that the leakage inspection of a vessel can be carried out within a time for injection-molding a preform as one process in a molding process in injection drawing blow molding.例文帳に追加
容器の漏洩検査を射出延伸ブロー成形における成形工程の一工程として、プリフォームの射出成形時間内にて行るように離型装置を構成する。 - 特許庁
To reduce producing process time by optimizing inspection items in the producing process of an image formation device using a surface conductive type electron emission element.例文帳に追加
表面伝導型電子放出素子を用いた画像形成装置の作成プロセスにおける検査項目を最適化することにより作成プロセス時間の短縮化を計ることを目的とする。 - 特許庁
To enhance work efficiency by shortening the work time in a visual macro-inspection process and to prevent the outflow to a next process due to the overlooking of a substrate having a flaw.例文帳に追加
目視マクロ検査工程における作業時間の短縮による作業効率の向上と、欠陥が存在する基板の看過による次工程への流出防止を実現する。 - 特許庁
In addition, the inclination of the valve member 51 and the ink leakage can be visually determined through a first inspection hole 72, and therefore, defective products can be easily discovered in a manufacturing process and a shipping process.例文帳に追加
また、第1確認穴72から、弁部材51の傾斜又はインク漏れを目視で確認でき、製造過程及び出荷過程において不良品を容易に発見することができる。 - 特許庁
To precisely grasp a load on the environmental generated in a manufacturing stage including assembling process and inspection process in order to grasp the load on the environmental generated in the manufacturing stage of equipment.例文帳に追加
機器の製造段階で発生する環境負荷を把握するため、組立工程及び検査工程を含む、製造段階で発生する環境負荷を正確に把握すること。 - 特許庁
To provide a charged particle beam application inspection device and an inspection method capable of realizing a charge control technology having more excellent uniformity than hitherto, and having excellent inspection accuracy and length measurement accuracy, concerning the inspection method and the device using the charged particle beam for defect inspection at an optional part on an unfinished semiconductor wafer in a semiconductor device manufacturing process.例文帳に追加
半導体装置製造過程での未完成な半導体ウェハ上の任意の部分における欠陥検査のための、荷電粒子ビームを使用した検査方法および装置に関し、従来よりも均一性に優れた帯電制御技術を実現し、検査精度、測長精度に優れた荷電粒子線応用検査装置、検査方法を提供する。 - 特許庁
In a manufacturing process of a rear spoiler 10 obtained via a blow molding process of molding a hollow resin member 16 by pumping a thermoplastic resin material injecting a gas from a blow pin passing through the thermoplastic resin material, and via a perforating process of perforating the hollow resin member 16, an inspection process of determining the presence or absence of the foreign substance produced in the blow molding process or the perforating process is carried out.例文帳に追加
熱可塑性樹脂材料を貫通したブローピンから気体を注入して該樹脂材料を膨らませることで中空の樹脂部材16を成形するブロー成形工程および中空の樹脂部材16に孔をあける穿孔工程を経て得られるリアスポイラ10の製造過程では、ブロー成形工程または穿孔工程で生じた異物の有無を判定する検査工程が行われる。 - 特許庁
In the inspection process, it is easily and inexpensively understood that the depth of the non-through hole 21 is within an allowable range Tt if the transmission light exists only at the first inspection section and there is no transmission light at the second inspection section C2.例文帳に追加
そして、検査工程では、第一検査部C1にだけ透過光があって第二検査部C2には透過光がないことを確認すれば、非貫通孔21の深さが許容範囲Ttに収まっていることが容易かつ安価に分かる。 - 特許庁
A nondestructive inspection process of a butt welding part of the pipe to be performed after a welding process for welding the pipe which is attempted to be newly connected to the end of the already connected pipe by butting is performed while moving the facility ship forward.例文帳に追加
既に接続した管の端部に新たに接続しようとする管を突き合わせて溶接する溶接工程の後に行う、管の突き合わせ溶接部の非破壊検査工程を、敷設船を前進させながら行う。 - 特許庁
Two or more of inspection images are obtained by imaging at least two out of the top surface, the reverse surface and the bevels of the substrate in one or more of manufacturing process of a semiconductor device.例文帳に追加
半導体装置の1つ以上の製造工程において基板の表面、裏面、およびベベルのうち少なくとも2つを撮像することにより2枚以上の検査画像が得られる。 - 特許庁
To shorten the process of periodical inspection by purifying water in a reactor residual heart removal system and facilitating the work of water filling in a reactor pressure vessel.例文帳に追加
原子炉残留熱除去系内の水を浄化して原子炉圧力容器内への水張り作業を容易にし、定期検査の工程を短縮する。 - 特許庁
To provide a conveyor pallet which eliminates complexity when in signal connection at the time of aging, inspection, and adjustment in a process of manufacturing a display device.例文帳に追加
表示装置の製造工程におけるエージング及び検査・調整を行う際の信号接続の煩わしさを解消するコンベアパレットを提供する。 - 特許庁
To provide an improved scanning system and process capable of forming a clear and legible binary image requiring no visual inspection of image quality.例文帳に追加
視認画像品質検査の必要のない、明確で判読可能な二値画像を生成することができる改良型走査システム及びプロセスを提供する。 - 特許庁
For optimizing the inspection process in the medical diagnosis, data of a plurality of diagnostic systems G1, G2, G3 and G4 are transmitted in real time to a central computer system 31.例文帳に追加
医療診断における検査プロセスを最適化するために、複数の診断装置(G1,G2,G3,G4)のデータはリアルタイムに中央のコンピュータシステム(31)に伝送する。 - 特許庁
To prevent malfunction due to displacement and waste of material in an inspection device used in a manufacturing process of a laminated battery.例文帳に追加
積層電池の製造過程に用いられる検査装置において、位置ズレによる不具合を防止することができるとともに、材料の浪費を防止する。 - 特許庁
To provide an aging device, an array substrate, and a process for reliability inspection of an array substrate capable of easily and more surely sorting out a panel having a poor reliability.例文帳に追加
容易に信頼性不良パネルをより確実に選別できるエージング装置、アレイ基板、及びアレイ基板の信頼性検査工程を提供する。 - 特許庁
High-voltage is applied to the battery power generation element 6 via the bypass terminal 1 without applying voltage to the PTC element 25 at a process of an inspection of insulation.例文帳に追加
絶縁検査の工程では、PTC素子25に電圧を印加することなく、バイパス端子1を介して電池発電要素6に高電圧を印加する。 - 特許庁
(ii) For the standard listed in Article 2, paragraph (3), item (ii): The inspection of the production process of the agricultural and forestry product in accordance with MAFF Ordinance 例文帳に追加
二 第二条第三項第二号に掲げる基準 農林水産省令で定めるところにより行う当該農林物資の生産行程についての検査 - 日本法令外国語訳データベースシステム
(iii) For the standard listed in Article 2, paragraph (3), item (iii): The inspection of the distribution process of the agricultural and forestry product in accordance with MAFF Ordinance 例文帳に追加
三 第二条第三項第三号に掲げる基準 農林水産省令で定めるところにより行う当該農林物資の流通行程についての検査 - 日本法令外国語訳データベースシステム
(b) In particular, it shall be thoroughly confirmed that there are no differences between the parties in regards to the awareness of facts found in the process of on-the-spot inspection. 例文帳に追加
ロ.特に、立入の過程で把握した事実関係については、その内容に両者の間で認識の相違がないことの確認を十分行う。 - 金融庁
Since the process of determining the print state can be known, an error can be specified easily at the time of maintenance or inspection.例文帳に追加
これにより、どのような過程で印刷状態が決定されたかを知ることができるため、保守点検等の際にエラーの特定を容易に行えるようになる。 - 特許庁
In the defect detection method, a captured image creating process S1 of an inspection region captures an image of a to-be-inspected object and creates a captured image.例文帳に追加
本発明の欠陥検出方法において、検査領域の撮像画像作成工程S1は、検査対象物を撮像し、撮像画像を作成する。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a semiconductor device which inhibits an increase of the number of power sources for inspection, makes it possible to supply a power source current over an amount of supply of a power source current of a single power source for inspection, and includes an inspection process that can efficiently, certainly inspect the semiconductor device; and provide a semiconductor device.例文帳に追加
検査用電源数の増大を抑制するとともに、単一の検査用電源の電源電流供給量を越える電源電流の供給を可能とし、半導体装置を効率的かつ確実に検査することができる検査工程を含む半導体装置の製造方法および半導体装置を提供する。 - 特許庁
Finally, the inspection map is collated with each piece of data by performing a collation process 40, data coincident with the inspection map is searched among pieces of the data, the working area of the surface of the substrate is defined by the working area layout coincident with the inspection map, and the use classification of the substrates are confirmed and the substrates are sorted 46.例文帳に追加
最後に、照合プロセス40を行って検査マップとそれぞれデータとを照合し、データの中から検査マップに一致したデータを探し出し、また検査マップに一致した作用面積レイアウトにより基板表面の作用面積を定義し、進んで基板の使用類別を確認して分類46する。 - 特許庁
To make an inspection device detect defects with higher sensitivity without preparing a plurality of electron sources, where the inspection device detects the defects in circuit patterns for a semiconductor device on a wafer during a manufacturing process of the semiconductor device by using potential contrast.例文帳に追加
半導体装置の製造過程にあるウェハ上の半導体装置の回路パターンの欠陥を電位コントラストにより検出する装置において、電子源を複数備えることなく高感度に検出可能とする。 - 特許庁
An information collecting portion 305 fetches status data and inspection results on substrates under its jurisdiction from manufacturing equipment 1 and inspection equipment 2 in each process at intervals of a predetermined period of time and rewrites databases 302 and 303.例文帳に追加
情報収集処理部305は、各工程の製造装置1および検査装置2から、所定の時間毎に、管轄する基板の基板状況データおよび検査結果を取り込んで、データベース302,303を書き換える。 - 特許庁
To supply feeding speeds and regenerative signal output level values of respective frames stored in a storage means to a reproducing output inspection of magnetic information in a camera manufacturing process and to simplify the reproducing output inspection.例文帳に追加
記憶手段に記憶した各駒の給送速度と再生信号出力レベル値を、カメラの製造工程における磁気情報の再生出力検査に供せるようにし、再生出力検査の簡略化を図る。 - 特許庁
To enable the total inspection of thermocouples to be carried out automatically and effectively without the need for any inspection-use heat source, by utilizing welding heat generated in a welding process of an automatic assembling line.例文帳に追加
検査用の熱源を要することなく、自動組立ラインの溶接工程の溶接熱を利用してサーモカップルの検査を全数について自動的に効率良く行うことができるサーモカップルの検査方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a method capable of simultaneously performing the inspection of protective film thickness in an inspection process for electromagnetic conversion characteristic without any optical measurement, for a magnetic recording medium having a protective film on a magnetic recording layer.例文帳に追加
磁気記録層上に保護膜を有する磁気記録媒体について、光学的測定を行うことなく電磁変換特性検査工程の中で保護膜厚検査も同時に行うことが可能となる方法を提供する。 - 特許庁
(2) If there is any disagreement regarding the rating results following completion of the on-site inspection, the inspected financial institution may, pursuant to the opinion submission process, file a statement to that effect with the Director-General of the Inspection Bureau and request a review. 例文帳に追加
(2)被検査金融機関は、立入検査終了後、評定結果について認識の相違がある場合は、意見申出制度に則り、その旨を検査局長に申し出て審理を求めることができるものとする。 - 金融庁
A pressing tool consisting of a constant load spring 11 utilizing the rewinding force of a winding take-like leaf spring, a rubber roller 12 and a grip 14 to be gripped by an operator is used as the pressing tool 1 for inspection in this inspection process step.例文帳に追加
この検査工程において、検査用押圧具1として、巻きテープ状の板バネの巻き戻し力を利用する定荷重バネ11と、ゴムローラー12と、作業員がつかむためのグリップ部14とからなるものを用いる。 - 特許庁
To connect an inspection process and a taping packing process and to realize the reduction of a lead time, the simplification of equipment and space saving by solving the problem of dielectric absorption the dielectric of a stacked capacitor without heat treatment.例文帳に追加
熱処理を行うことなく積層コンデンサの誘電体が持つ誘電吸収の問題を解決し、検査工程とテーピング包装工程とを連結可能にするとともに、リードタイムの短縮と設備の簡素化、省スペース化を図る。 - 特許庁
The recorded information of the IC tag 4 and 9 after the inspection process of every element article 2 used for the machine element commodity 1 and the inspection information after the completion of the machine element commodity 1 is recorded so as to be associated with the manufacture number in a database 10.例文帳に追加
データベース10に製造番号と対応して、機械要素商品1に用いられた各要素品2の検査工程後のICタグ4,9の記録情報、および機械要素商品1の完成後の検査情報を記録する。 - 特許庁
An inspection program is described by a flow chart wherein the flow of the processing in the inspection process is described and a table format program wherein the inspection contents are described, the execution of the inspection program is advanced according to the flow chart, and the table format program described inside a step wherein the table format program is described is executed at the time of arrival at the step.例文帳に追加
検査プログラムを、検査工程の処理の流れを記述するフローチャートと、検査内容を記述する表形式プログラムにより記述し、検査プログラムの実行はフローチャートに従って進め、表形式プログラムが記述されているステップに到達した時点でそのステップの内部に記述されている表形式プログラムを実行する。 - 特許庁
To provide a tablet inspecting device for inspecting inclusion of different tablets in a PTP sheet manufacturing process which can improve inspection efficiency and inspection accuracy dramatically, and to provide a PTP packaging machine.例文帳に追加
PTPシートの製造過程における異種錠の混入検査に関し、検査効率及び検査精度の飛躍的な向上を図ることのできる錠剤検査装置及びPTP包装機を提供する。 - 特許庁
The fabric inspection machine enables the front surface A and the back surface B of the textile T to be simultaneously visually observed by one inspector to rationalize the process thereof and to reduce the cost by remodeling a fabric inspection machine.例文帳に追加
検反機を改造する事により、一人の検査員で反物Tの表面Aと裏面Bを同時に目視可能にし工程の合理化と経費の削減を可能にする検反機である。 - 特許庁
When the motor with a reduction gear is mounted on the mounting surface of the counterpart, the airtight inspection aperture is closed by that mounting surface and thereby a dedicated closing member or process for closing the airtight inspection aperture can be eliminated.例文帳に追加
減速装置付きモータを相手側の取付面に取り付けると、気密検査口は当該取付面によって閉塞されるので、気密検査口を塞ぐ専用の閉塞部材や工程は省略できる。 - 特許庁
To set such driving conditions as to make amounts of a liquid material arranged appropriate without the inspection process after drawing by predicting in advance unevenness of arrangement of the liquid material.例文帳に追加
液状体の配置ムラを事前に予測することにより、描画後の検査工程を経ることなく、液状体の配置量が適正となる駆動条件を設定する。 - 特許庁
To provide a foreign material inspecting device and a foreign material inspection method, capable of inspecting the existence of foreign materials in an assembly line of solid-state imaging element and optical components, and preventing an assembly with foreign material mixed from being delivered in a post-process.例文帳に追加
固体撮像素子と光学部品の組み立てラインで異物の有無を検査可能であると共に、異物が混入した組み立て品を後工程に送らない。 - 特許庁
To provide a power supply inspection circuit capable of individually changing a process depending on the life of an article, relating to a plurality of circuits constituting a power supply circuit.例文帳に追加
電源回路を構成する複数の回路に対して、その製品寿命に応じて個別に処理を変更することが可能な電源検査回路を提供する。 - 特許庁
An inspection for verifying whether all the data of data storage areas 2 maintains the state of the presence of electric charge is added on the purchasing (purchasers') side (process S60).例文帳に追加
そして、購入(者)側においてデータ格納領域2の全てのデータが電荷有り状態を維持しているか否かの確認検査を追加させる(工程S60)。 - 特許庁
To provide an apparatus for detecting defects of optical fiber, which corrects the positional misalignment of the optical fiber and can surely detect the internal defects of the optical fiber in an inspection process.例文帳に追加
光ファイバの位置ズレを修正し、検査工程で光ファイバの内部欠陥を確実に検出することが可能な光ファイバの欠陥検出装置を提供する - 特許庁
To prevent an operator from being held between a battery and a body due to the operation of a reach lever in error in the process of maintenance and inspection of the battery drawn by the operator.例文帳に追加
オペレータがバッテリを引出して、保守点検をしている最中に、リーチレバーを誤って動かしてバッテリと車体の間にオペレータが挟まれる事故を防止する。 - 特許庁
To provide inspection equipment for paper cup that discriminates between paper cups of a normal type and paper cups of a different type and ejects the paper cups of the different type from a manufacturing process, and a method thereof.例文帳に追加
正規品種の紙カップと異品種の紙カップとを区別し、異品種の紙カップを製造工程から排出可能にする検査装置およびその方法を提供する。 - 特許庁
例文 (999件) |
※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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