「process of inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a suitability determination method for organic antireflection film of a plastic lens for determining the suitability of the organic antireflection film before burning in a manufacturing process, including a regenerating process of the film of the plastic lens determined as being a defective good by visual inspection, and to provide a manufacturing method of the plastic lens.例文帳に追加

外観検査により不良品と判定されたプラスチックレンズの膜の再生工程を含む製造工程において、焼成前の有機反射防止膜の適否を判定するプラスチックレンズの有機反射防止膜の適否判定方法およびプラスチックレンズの製造方法を提供すること。 - 特許庁

The visual inspection method includes: a process for acquiring image data of a semiconductor chip; a process for binarizing the image data; a process for recognizing a reference line 17 provided in the semiconductor chip and a chipping end 23 from the binarized image data; and a process for measuring a distance from the reference line 17 to the chipping end 23.例文帳に追加

半導体チップの画像データを取得する工程と、前記画像データを二値化処理する工程と、前記二値化処理された画像データから、半導体チップに設けられた基準点１７およびチッピング端２３を認識する工程と、前記基準点１７からチッピング端２３までの距離を測定する工程と、を有する。 - 特許庁

A purchase support server 110 includes an information receiving part 301 for receiving sales plan information, acceptance inspection information and the like, a data sending part 302 for sending a settlement process request or the like, and a settlement requesting part 303 for performing a process about a settlement process, and performs a process about the basic purchase support of this embodiment.例文帳に追加

購買支援サーバ１１０には、売上予定情報や検収情報等を受信する情報受信部３０１、決済処理要求等を送信するデータ送信部３０２、決済処理についての処理を実行する決済要求部３０３を備え、本実施形態の基本的な購買支援に関する処理を実行する。 - 特許庁

In a method for analyzing time-series distribution information of defects within the surface of a wafer obtained in an identical inspection process of a manufacturing process of a thin film device for forming the thin film device by sequentially processing the wafer, the occurrence of abnormality in the manufacturing process is determined on the basis of a judgement of local variations in distribution of the defects within the wafer.例文帳に追加

基板を順次処理して薄膜デバイスを形成する薄膜デバイスの製造工程において同一の検査工程にて時系列に得られた欠陥の前記基板面内での分布情報を解析する方法において、前記欠陥の基板面内での分布の局所的な粗密変動を判定基準として前記製造工程において異常が発生したことを判定するようにした。 - 特許庁

To provide a defect inspection device realizing high resolution and an increase in an inspection speed in a technology for inspecting a pattern defect, foreign matter, residue, a step and the like on a wafer in a production process of a semiconductor by an electron beam.例文帳に追加

半導体装置の製造過程にあるウェハ上パターンの欠陥、異物、残渣および段差等を電子ビームにより検査する技術において、高分解能で、かつ検査速度の高速化を実現する欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

A connector 310 annexed to an inspecting jig 500 is connected to a connector 110 of a copying machine, under the condition set to an inspection process mode in an inspection step for the copying machine, and is brought into a condition to prohibit a rotation development unit 600 to be driven.例文帳に追加

複写機の検査段階で検査工程モードに設定された状態で、検査用治具５００に付随したコネクタ３１０を複写機のコネクタ１１０に接続し、回転現像ユニット６００の駆動を禁止した状態とする。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus and an inspection method for a bearing device for a wheel for detecting the insufficiency of rolling elements after an assembling process, preventing a defective product from being mounted to a vehicle, and ensuring the stability for running the vehicle.例文帳に追加

組立工程後において転動体不足を検出できて、不良品を車両に搭載することがなくなって、車両の走行安定性を確保できる車輪用軸受装置の検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection apparatus, whereby the boundary of parts can be surely detected, even when the parts are similar in optical characteristics by applying the method and the apparatus to, e.g. a manufacturing process for lithium ion secondary batteries.例文帳に追加

本発明は、検査方法及び検査装置に関し、例えばリチウムイオン二次電池の製造工程に適用して、部品の光学的な性質が似通っている場合でも、各部品の境界を確実に検出することができるようにする。 - 特許庁

In an inspectable circuit information output process 34, an inspection input circuit and an inspection output circuit are added to the connection relation information on the basis of the information 33 and inspectable integrated circuit information 23 is outputted.例文帳に追加

次に、検査可能回路情報出力工程３４において、ピン対応情報３３に基づいて、接続関係情報に検査入力回路及び検査出力回路を付加して、検査可能集積回路情報２３を出力する。 - 特許庁

When a defective part for an arbitrary substrate is reported from a visual inspection process 14, a mounting failure analysis device 22 acquires the image data on each process work state of the substrate from the image data management apparatus 21, and analyzes the cause of failure from the image of work state in a previous process starting from the image of the process where the defective part has occurred.例文帳に追加

実装不良解析装置２２は、外観検査工程１４から、任意の基板に対する不良箇所の通知を受けた場合、基板の各工程作業状態の画像データを画像データ管理装置２１から取得し、不良箇所の発生した工程の画像を起点としてその工程より前の工程の作業状態の画像から不良原因の解析を行う。 - 特許庁

To provide a maintenance method for heat-exchange plates of a plate-type heat exchanger, capable of reducing maintenance cost by having a flaw inspection process for pinpointing the damaged part of the defect, especially when a penetration detect generated by damage due to an inspection process using a leak tester is found.例文帳に追加

プレート式熱交換器の熱交換板のメンテナンス方法において、特に、リークテスターを用いた検査工程により損傷により生じた貫通欠陥部が発見された場合に、損傷箇所を特定するための探傷検査工程を行うことにより、メンテナンスコストを低減しうるプレート式熱交換器の熱交換板のメンテナンス方法を提供すること。 - 特許庁

To efficiently perform an inspection and analysis at a low cost by allowing the simultaneous inspection of two or more memories to be inspected by use of the mother board of one computer, and allowing the analysis and recording, in the occurrence of an error in the memory to be inspected, the process of the occurrence of the error.例文帳に追加

１台のコンピュータのマザーボードを使用して複数の被検査メモリを同時に検査できるようにすると共に、被検査メモリのエラーが発生した場合に該エラーがどのような過程で発生したのかを解析及び記録できるようにして、低コストかつ効率的に検査及び解析ができるようにする。 - 特許庁

The inspection method of lens characteristics includes a process impinging at least two beams of light propagating in different directions into the aforementioned lens, a process acquiring images of interference fringe formed from at least two beams of light outgoing from the aforementioned lens, and a process inspecting lens characteristics from the acquired images of interference fringe.例文帳に追加

本発明のレンズ特性検査方法は、異なる方向に進行する少なくとも２つの光を上記レンズに入射させる工程と、上記レンズを出射した少なくとも２つの光が形成する干渉縞像を捕捉する工程と、捕捉された干渉縞像からレンズの特性を検査する工程とを含むことを特徴とする。 - 特許庁

To provide an analysis support apparatus for a defective factor in production, for supporting quick identification of the defective factor in a claim brought after the shipment of a product or generated in an inspection process in a factory.例文帳に追加

製品出荷後に招来したクレームや工場内の検査工程で発生した不良要因の迅速な特定を支援する製造不良要因解析支援装置を提供する。 - 特許庁

A data communication terminal is not required to be provided for the purpose of executing the inspection process in the electronic equipment requiring no data communication terminal, and a cost of the electronic equipment is reduced thereby.例文帳に追加

さらに、データ通信用端子が不要である電子機器について、検査工程を行う目的でデータ通信用端子を設ける必要が無くなり、電子機器のコストダウンが図れる。 - 特許庁

In the process, the image processing section 22 generates a design image indicative of the substrate in accordance with the design information and cross-checks the design image with the image of the substrate as indicated by the inspection image information pp.例文帳に追加

その過程で画像処理部２２は、設計情報に基づいて基板を表す設計画像を生成し、検査用画像情報ｐｐにより表される基板画像との照合を行う。 - 特許庁

To provide an acoustic tester capable of sensing the contact state between an intake-exhaust valve of a valve train for a vehicle engine and a valve seat and simplifying the test process to enable quick inspection.例文帳に追加

車両エンジン用バルブトレンの吸・排気バルブとバルブシートの間の接触状態を感知することができ、検査工程の単純化により迅速な点検が可能な音波検査機を提供する。 - 特許庁

To provide a process managing method with which dispersion of an increase amount of line width by a flow can be managed with high measurement precision and high throughput by using an optical inspection device.例文帳に追加

フローによる線幅の増加量のばらつきの管理を光学的検査装置を用いて高い測定精度、且つ高スループットに行うことができるプロセス管理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device measuring DC characteristics of a switching device in a resonant switch circuit in an inspection process of the semiconductor device including the circuit.例文帳に追加

共振型スイッチ回路を含む半導体装置の検査工程において、その回路内のスイッチング素子のＤＣ特性を測定することを可能とする半導体装置を提供することである。 - 特許庁

A worker inputs the inspection result of an assembly on this screen, and the input system clients 201-208 register the data on the screens in the database of the process monitoring server 300a.例文帳に追加

そして、作業者は、この画面上で被組立品の検査結果を入力し、入力系クライアント２０１〜２０８は、画面上のデータを工程監視サーバー３００ａのデータベースに登録する。 - 特許庁

In this system for optimizing the inspection process of the medical diagnosis, the data are displayed in the same method as the image screen where a display device of a central unit is locally arranged for the medical diagnostic systems.例文帳に追加

医療診断の検査プロセスを最適化するシステムにおいて、中央装置の表示装置を、医療診断装置のためにローカルに設けた画像スクリーンと同じ方法でデータを表示する。 - 特許庁

To provide a plant facility management/maintenance support system capable of precisely and efficiently issuing, collecting, and managing work tags during maintenance and inspection work, and quickly collecting the work log of an isolation process.例文帳に追加

保守点検作業において作業タグを的確に効率よく発行、回収管理し、隔離処理の作業記録を迅速に収集できるプラント設備管理保守支援システムを提供する。 - 特許庁

The pad layout can be obtained as capable of wire bonding easily, and narrowing the pitch between the probe contacting regions, in which the probe needle is planted in the inspection process of semiconductor chips.例文帳に追加

ワイヤボンディングが容易に行うことができ、半導体チップ検査工程におけるプローブ針立てが行われるプローブ接触領域の狭ピッチ化が可能なパッドレイアウトが得られる。 - 特許庁

The intelligent product transfer and conveyance system for a processing facility ensures the continuous flow of a plurality of good products from the inspection process to subsequent stations for subsequent individualized packaging.例文帳に追加

加工設備用のインテリジェント製品移送運搬システムは、複数の良質の製品を検査段階から引き続くステーションに連続的に流通させて個別的包装が行われるようにする。 - 特許庁

To dispense with skew adjustment of actuator which requires a producing process using a exclusive assembly jig and with troublesome inspection processes which obstructs operability of optical head device production and cost reduction.例文帳に追加

アクチュエータのスキュー調整は、専用の組立治具を用いた製造工程や煩雑な検査工程を必要とし、光学ヘッド装置生産の作業性及びコスト削減の障害となっている。 - 特許庁

To make "approximation" inspection operation efficient by making clear a priority level of a request quality item (specifications of an upstream process, i.e. a downstream process) connecting the upstream and downstream sides among respective processes of product development in an easy method.例文帳に追加

製品開発の各工程間において、上流と下流をつなぐ要求品質項目（上流工程の出力すなわち下流工程にとっての仕様）の優先順位を双方向に、かつ簡便な方法で明確にし、“すり合わせ”検討作業を効率化する。 - 特許庁

The positions of the appearance inferiority places output from the visual inspection devices are stored as the absolute coordinates in an SEM type review device and, even if a process is different, the automatic imaging of the absolute coordinates indicated by a user is executed to facilitate execution of the process trace.例文帳に追加

外観検査装置から出力される外観不良箇所の位置を、ＳＥＭ式レビュー装置内の絶対座標として記憶し、工程が異なっても、ユーザーが指示した絶対座標の自動撮像を実施することによって工程トレースが容易に実施可能となる。 - 特許庁

When drying by vacuum heating is carried out after forming a pattern 3 of the organic layer of the organic EL element by using a non-vacuum process, the defect inspection of the pattern is carried out by using optical means 19 and 11.例文帳に追加

非真空プロセスを用いて有機ＥＬ素子の有機層のパターン３を形成した後の真空加熱乾燥を行う際に、光学的手段１９、１１を用いてパターンの欠陥検査を行うこと。 - 特許庁

To rationalize an inspection process for display devices capable of regulating the phase of a clock signal inputted to a panel on the outside in such a manner that the delay amount of sampling pulses is compensated based on a feedback pulse.例文帳に追加

フィードバックパルスに基づき、サンプリングパルスの遅延量を補償する様に、パネルに入力するクロック信号の位相を外部で調整可能とした表示装置の検査工程を合理化する。 - 特許庁

(2) The certificate of working shall be based on inspection of the manufacturing process in the industrial establishment where the invention is being worked and on proof that the object of the invention is effectively being marketed.例文帳に追加

(2) 当該実施証明書は，発明を実施している産業施設で製造方法を検閲し，かつ，発明の対象が効果的に販売されている証拠に基づくものでなければならない。 - 特許庁

To provide a mold capable of discovering the generation of defectiveness in a cylindrical part such as a communication hole, a bottomed hole or the like and capable of abolishing an inspection process after molding and a molded article manufacturing method.例文帳に追加

連通孔や有底孔等の筒状部における不良の発生を早期に発見でき、成形後における検査工程を廃止できる成形金型及び成形品製造方法を得る。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of suitably and rapidly detecting a defect even when the manufacturing process is varied or the periodicity of images of an area to be inspected on a sample is low.例文帳に追加

製造プロセスが変動しても、また、試料から検査対象領域を撮像した撮像画像に周期性が少なくても、良好かつ迅速に欠陥検出できる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for detecting the sensor chip position of a magnetic sensor capable of precisely detecting the position of a sensor chip in a short time and performing a total inspection in mass production process, and suitable for mass production.例文帳に追加

短時間でセンサチップの位置を正確に検出できると共に、量産工程において全数の検出ができる量産に適した磁気センサのセンサチップ位置検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a characteristic impedance inspection device for determining the degree of appropriateness of manufacturing process conditions by extracting a parameter characterizing a waveform from the measured waveform of characteristic impedance.例文帳に追加

特性インピーダンスの測定波形から、その波形を特徴付けるパラメータを抽出することにより、製造プロセス条件の適性度を判定できる特性インピーダンス検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a sealing structure for a circuit board case capable of preventing the fraudulent modification of a board sealed in the circuit board case, being quickly openable at an inspection, facilitating a recycling process after use, and reducing the recycling process cost.例文帳に追加

回路基板ケースに封入された基板の不正な改造を防止できると共に検査時には速やかに開放できるのみならず、使用後のリサイクル処理が容易でリサイクル処理コストの低減も図ることができる回路基板ケースの封止構造を得る。 - 特許庁

To eliminate a leak flow inspection for confirming a clearance of products by securely satisfying a design request of a clearance of fitting parts regulated on the basis of a fluid leak between members in a member working process or a member assembling process.例文帳に追加

部材間からの流体漏れ量に基づきクリアランスが規定される嵌合部品のクリアランスの設計要求を、嵌合部品を製造する際の、部材の加工工程または組立工程において確実に満たし、製品のクリアランスを確認するための、漏れ流量検査を不要とする。 - 特許庁

To provide the high luminance polishing method of high productivity, which reduces a process for removing printing burrs and reduces an operation, such as inversion in a high luminance plane polishing process being one of the processes in the manufacturing of an inspection wafer for evaluating the quality characteristic of semiconductor crystal.例文帳に追加

半導体結晶の品質特性を評価するための検査用ウェーハ等の作製における一プロセスである高輝度平面研削工程において、従来のような印字バリを取る工程を削減し、反転などの操作を低減した生産性の高い高輝度研削法の提供。 - 特許庁

To provide a testing means for sealing performance of a sealed container having a rubber-plugged opening, capable of facilitating rapid testing, and of being favorably employed for process inspection performed in a manufacturing process of a sealed vial, bottle or the like, for chemicals filling.例文帳に追加

容器の開口部をゴム栓で閉塞してなる密封容器の密封性の試験手段であって、迅速かつ容易に試験を行うことができ、薬液充填用密封バイアル、密封ボトル等の製造工程で行う工程検査に好適に採用することができる試験手段を提供する。 - 特許庁

To provide a board for inspecting semiconductor devices at a lower cost, which enables stable and highly reliable inspection by restricting generation of noises, even at a high operation frequency in the inspection of electrical characteristics which is one process in the production of semiconductor devices.例文帳に追加

本発明が解決しようとする課題は、半導体装置製造工程の一工程である電気的特性検査において、高い動作周波数での検査でも、ノイズの発生を抑制し、安定して信頼性の高い検査が行なえる半導体装置検査用基板を安価に提供することである。 - 特許庁

The method for inspecting the gas-permeable hollow fiber membrane module includes a process for measuring change of the pressure of the introduced inspection gas after introducing the inspection gas into the gas-permeable hollow fiber membrane module 14, to inspect the presence or absence of the leakage in the gas-permeable hollow fiber membrane.例文帳に追加

また、本発明のガス透過性中空糸膜モジュールのリーク検査方法は、ガス透過性中空糸膜モジュール１４に検査用ガスを導入させた後、導入させた検査用ガスの圧力の変化を測定する工程を有し、ガス透過性中空糸膜のリークの有無を検査する。 - 特許庁

To provide a conveyance device capable of conveying quickly a disk product in an inspection process for inspecting successively the appearance quality of the disk product, and an inspection device capable of inspecting accurately and quickly the disk product by applying the conveyance device.例文帳に追加

円板製品の外観上の品質を順次検査する検査工程において当該円板製品を迅速に搬送することができる搬送装置を提供し、さらに、その搬送装置を適用して当該円板製品の検査を精度よくかつ迅速に行うことができる検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a printing solder inspection apparatus capable of grouping a plurality of soldered parts, reversibly recognizing the relation between allowable values and process indices on shape values of the group, and reflecting this in the following first inspection when the allowable values have altered.例文帳に追加

複数はんだ箇所をグループ化し、そのグループにおける形状値を軸に許容値と工程指数との関係を可逆的に認識可能にし、許容値の変更があったときは次の１枚目の検査から反映することができる印刷はんだ検査装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a leakage inspection tool which easily performs a liquid leakage inspection on a container in which a pipe-shaped component for allowing the inside of the container body and the outside to communicate with each other is mounted to the container body with high workability at least either of during the manufacturing process or after the manufacture of the container.例文帳に追加

容器本体に該容器本体の内部と外部とを連通させるパイプ状部品が取り付けられた容器での流体の漏れ検査を、容器の製造過程および製造後の少なくとも一方で高い作業性の下に行い易い漏れ検査用具を得ること。 - 特許庁

This vehicle inspection device installed in a vehicle during an examination process has a current position detection part 104 which detects a current position of the vehicle, the cooling fan 110 installed in the vehicle inspection device, and a control part 108 which controls the number of revolutions of the cooling fan based on the detected current position.例文帳に追加

試験工程で車両に設置する車両検査装置であって、車両の現在位置を検出する現在位置検出部104と、車両検査装置内に設けられた冷却ファン110と、検出された現在位置に基づいて冷却ファンの回転数を制御する制御部108とを有する。 - 特許庁

When a photographing process of a subject to be examined is carried out and a photographed image of the subject is obtained based on information on an inspection request received from outside by way of a means for communications 122, a means for discrimination 116 discriminates whether or not a photographing parameter included in the information on such inspection request is adequate.例文帳に追加

通信手段１２２を介して外部から受信した検査依頼情報に基づいて、被写体の撮影処理を実行し、当該被写体の撮影画像を取得する際に、判別手段１１６は、検査依頼情報に含まれる撮影パラメータが適切であるか否かを判別する。 - 特許庁