Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
「process of inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(21ページ目) - Weblio英語例文検索
[go: Go Back, main page]

1153万例文収録!

「process of inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(21ページ目) - Weblio英語例文検索


小窓モード

プレミアム

ログイン
設定

設定

Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > process of inspectionに関連した英語例文

セーフサーチ:オン

不適切な検索結果を除外する

不適切な検索結果を除外しない

セーフサーチについて

process of inspectionの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1060



例文

A repetition processing means 24 checks whether or not the inspection pattern is included in the message trace to be inspected based on message repetition information inputted from the input device 1 or the information of the message correspondence confirming means 22 and the process correspondence confirming means 23, and outputs the result to a display device 4.例文帳に追加

繰り返し処理手段24は、入力装置1から入力されるメッセージ繰り返し情報や、メッセージ対応確認手段22、プロセス対応確認手段23の情報を元にして、検査対象メッセージトレースに検査パターンが含まれるかチェックし、その結果を表示装置4に出力する。 - 特許庁

In the scanning exposure method for scanning and exposing an image of a pattern formed in a reticle on a substrate via a projection optical system, the reticle pattern surface is measured in parallel with other inspection process which scans a reticle stage and a substrate stage in the same stage driving state as in exposure.例文帳に追加

レチクルに形成されたパターンの像を投影光学系を介して基板上に走査露光する走査露光方法において、レチクルステージ及び基板ステージを露光時と同じステージ駆動状態で走査させる他の検査工程と並行してレチクルパターン面測定を行うことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a defect inspection device wherein detection sensitivity and throughput are improved by optimizing shape of illumination when detecting a defect such as foreign matter generated in a production process for forming a pattern on a substrate to manufacture a target object, and to provide a method therefor.例文帳に追加

基板上にパターンを形成し対象物を製作して行く製造工程で発生する異物等の欠陥を検出する際に、照明の形状を最適化することにより、検出感度およびスループットを向上する欠陥検査装置およびその方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide an X-ray inspection device for inspecting a measuring object at various angles, while it is not only moved in the x, y and z axial directions but also rotated, in order to secure reliability of a product, after a component is mounted to a PCB (printed circuit board) and soldered in an electric electronic product manufacturing process.例文帳に追加

電気電子製品製造工程でのPCBに部品を装着した上、ハンダ付け作業後に製品の信頼性を確保するために、被測定物をx、y、z軸への移動だけでなく、回転して多様な角度での検査が可能なX線検査装置を提供する。 - 特許庁

例文

Further preferably, the inspection process is performed by supplying the signal through a position fixing connector 5 which is disposed in the back case section 2 in order to fix the position of the input terminal 9 in an electrically connectable state from the outside and is electrically connected to the input terminal 9.例文帳に追加

さらに好ましくは、検査工程は、入力端子9の位置を外部から電気的に接続可能な状態で固定するために裏ケース部2に設けられ、入力端子9に電気的に接続された位置固定用コネクタ5を介して信号を供給して行なう。 - 特許庁


例文

The inspection system includes a test signal source, a signal detection part, a signal process part, an analysis unit, and an integration circuit provided with a boundary scanning function and can be used for inspecting whether the pins of an inspecting object, e.g. integrated circuit are surely connected to the printed substrate assembly.例文帳に追加

本発明の検査システムは、テスト信号源、信号検出部、信号処理部、分析ユニット、およびバウンダリスキャン機能を有する集積回路を含み、たとえば集積回路のような被検体のピンが確実にプリント基板アセンブリに接続しているかどうかを検査するのに用いることができる。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor device capable of manufacturing a polycrystal silicon film improved in performance and quality by adjusting a laser power in a laser treatment process performing crystallization from an amorphous silicon film to a polycrystal silicon film to an optimum value, and to provide a semiconductor inspection apparatus.例文帳に追加

モルファスシリコン膜から多結晶シリコン膜へ結晶化を行うレーザ処理工程でのレーザパワーをより最適値に合わせて、性能品質の向上した多結晶シリコン膜を安定して製造することが可能な半導体装置の製造方法および半導体検査装置を提供する。 - 特許庁

In the design and the manufacturing technology of a thin film device in which a film is formed and a CMP is effected under conditions depending on design information to manufacture through an inspection, a wafer after the CMP is measured in a film thickness in detail, and the design and process are altered based on actually measured film thickness data to optimize.例文帳に追加

設計情報に基づいた条件で成膜およびCMPを実施し、検査を経て製造される薄膜デバイスの設計、製造技術において、CMP後のウェハに対して詳細に膜厚を計測し、実測した膜厚データに基づいて設計及びプロセスを変更して最適化する。 - 特許庁

To provide a transparent laminated sheet which does not spoil the inspection property of a bonded surface to be protected, does not spoil adhesion and transparency to heating in a manufacturing process, and furthermore can fully follow even when there is irregularity on the surface.例文帳に追加

本発明は、貼り合せた被保護面の検査性を損なわず、かつ製造工程における加熱に対しても密着性および透明性が損なわれず、さらには表面に凹凸が有る場合にも十分に追従することができる透明積層シートを提供することを主目的とする。 - 特許庁

例文

The MHLW will instruct importers, if necessary, to confirm using genetic recombination technology in production process, because at the end of last year food additives produced with genetically-modified microorganism, for which safety inspection was not performed, were imported and sold.例文帳に追加

また、昨年末に安全性審査を経ていない遺伝子組換え微生物を利用して製造された食品添加物が輸入、販売された事案があったことから、製造工程における遺伝子組換え技術の利用について、必要に応じ輸入者に確認するよう指導する。 - 厚生労働省

例文

To provide a sheet substrate conveying apparatus applicable to not only a wet conveying apparatus such as a development device but also a dry conveying apparatus such as a process device and an inspection device by applying a sheet conveying unit capable of constructing a constitution for periodically and automatically cleaning a substrate contact member at low cost.例文帳に追加

基板接触部材を定期的に自動清掃可能な構成を安価に構築し得る枚葉搬送ユニットを適用することで、現像装置のようなウェット搬送設備だけでなく、プロセス装置、検査装置等のドライ搬送設備へも適用可能な枚葉基板搬送装置を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device which can suppress degradation of yield by forming marker for alignment without increasing an additional process, can provide alignment with high accuracy, can reduce a time required for inspection and, thereby, permits high visibility.例文帳に追加

新たな工程を増やすことなく位置合わせの為のマーカーを形成して歩留まりの低下を抑えると共に、精度の高い位置合わせおよび検査工程にかかる時間の短縮化を可能とすることにより視認性の高い液晶表示装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an abnormality detecting method capable of continuously producing a stable product by continuing a hose continuous production line without stopping the same to remove an abnormal part in an inspection/finishing process, and the discrimination/detection device for an abnormality detecting part.例文帳に追加

ホース連続生産ラインを停止させることなく継続させて検査,仕上げ工程において異常部分を除去することにより、安定した製品を連続して生産することが出来る異常検出方法及びその異常検出部の識別検出装置を提供する。 - 特許庁

A tablet inspection device 21 includes a lighting device 22 that irradiates a tablet housed in a pocket of a container film with light; a camera 23 that can image a tablet in a range irradiated with light; and an image processing device 24 that can process an image signal output from the camera 23.例文帳に追加

錠剤検査装置21は、容器フィルムのポケット部に収容された錠剤に対し光を照射可能な照明装置22と、照明された範囲内の錠剤を撮像可能なカメラ23と、カメラ23から出力される画像信号を処理する画像処理装置24とを備える。 - 特許庁

To provide a quality information system for specifying a cause speedily on the basis of a trouble event discovered in a selling store and the inspected result in the inspection process of a production plant, disclosing measure contents/dealing method to that cause and information on the trouble event to the selling store and speedily dealing with trouble.例文帳に追加

販売店で発見された不具合事象と製造工場の検査工程での検査結果に基づいて迅速に原因を特定し、その原因に対して行った対策内容・処置方法およびに不具合事象に関する情報を販売店に開示し、対応が迅速にできる品質情報システムを提供すること。 - 特許庁

To easily display satisfactorily user-friendly images on a monitor screen without having to process the images by software etc. when images of objects to be inspected such as the mounting, soldering, etc. of surface-mounted substrates etc. to which electronic parts such as IC chips are mounted are enlarged and displayed on the monitor screen for inspection.例文帳に追加

ICチップ等の電子部品が実装された表面実装基板等の実装や半田付けなどの被検査対象の画像をモニター画面に拡大表示して検査するに際し、使い勝手の良好な画像を、ソフトウェアなどで画像処理を施すことなく簡便にモニター画面に表示できるようにする。 - 特許庁

In the fabrication process of a rewiring structure, electric connection of an element electrode 11bi for use in burn-in screening and a common interconnect line for use in burn-in screening is interrupted selectively only for a semiconductor chip 10b judged rejective in electrical characteristics inspection by using a negative photosensitive material.例文帳に追加

再配線構造の製造工程において、ネガ型の感光性材料を使用することにより、電気特性検査にて不良と判定された半導体チップ10bについてのみ、バーンインスクリーニングで使用するための素子電極11biとバーンインスクリーニングで使用する共通配線との電気的接続を選択的に遮断する。 - 特許庁

This defect inspection method of a gray tone part in a gray tone mask is characterized by including a process (a drawing 1 (3)) of applying gradating processing for flattening the signal when there is a periodic change as indicated in a drawing 1 (2) in the transmissivity signal obtained by scanning a gray tone part as indicated in a drawing 1 (1).例文帳に追加

グレートーンマスクにおけるグレートーン部の欠陥検査方法であって、図1(1)に示すようなグレートーン部を走査して得られる透過率信号に、図1(2)に示すような周期的な変動がある場合に、その信号を平坦化するためのぼかし処理を施す(図1(3))工程を含むことを特徴とする。 - 特許庁

In a process for manufacturing a product 1, this manufacture history information recording device of products converts manufacture history information generated in assembly, adjustment, measurement, and inspection processes into a two-dimensional code 3, and attaches or adheres the printed matter of the converted two-dimensional code 3 to the product 1.例文帳に追加

本発明の製品の製造履歴情報記録装置は、製品1を製造する過程において、組立、調整、測定、検査等の工程で発生した製造履歴情報を2次元コード3に変換し、この変換した2次元コード3を印刷したもの4を製品1に添付するまたは貼り付けるように構成したものである。 - 特許庁

In addition, in the abnormality determination, since a waveform coefficient Ki is calculated from the total value Pt of the amplitude values in one process of an inspection object and the subtotal value Ps and the waveform abnormality is detected by the waveform coefficient Ki, even if the ambient temperature is fluctuated, the waveform abnormality can be detected without being influenced thereby.例文帳に追加

さらに、異常判定を検査対象物の1工程中の振幅値の合計値Ptと前記小計値Psとから波形係数Kiを算出し、この波形係数Kiにより波形異常を検出しているため、周囲温度の変動があっても、その影響を受けることなく、波形異常を検出することができる。 - 特許庁

To provide a conveying truck having a function to convey objects in a short distance stably in a factory, wherein the objects are unpacked by a single operator for preparation of the next process for fabrication, and the fabricating operations including mounting of component parts upon converting into the horizontal attitude, their inspection, etc. are also performed.例文帳に追加

被運搬物を工場内で安定状態に近距離運搬する機能を有するほか、同被運搬物を次の製作工程の準備のために1人作業として包装を解いたり、水平姿勢に転換して部品の取り付けや検査などの製作作業も行える運搬台車を提供する。 - 特許庁

To provide a defect marking device applying marking to a defective portion detected by an inspection device of a lengthy sheet-like product carried in the longitudinal direction, only in one position without damaging the sheet-like product, so that removal or repair of the defective portion is easily performed in an after process.例文帳に追加

長さ方向に搬送される長尺のシート状製品の欠陥を検査装置により検出し、検出された欠陥部分にシート状製品に損傷を与えることなく、1か所のみにおいてマーキングを施し、後工程において容易に欠陥部分の除去又は補修をすることができる欠陥マーキング装置を提供する。 - 特許庁

In the quality control method of a product manufactured by at least one process, a multiple regression formula using measured values X_i acquired in processing processes A-D and inspection processes QC1 and QC2 as explanation variables as they are and using the characteristic value Y of the product as an objective variable is used.例文帳に追加

1以上の工程によって製造される製品の品質管理方法において、説明変数として処理工程A〜D及び検査工程QC1、QC2にて取得される測定値X_iをその値のまま使用し、目的変数として製品の特性値Yを使用した重回帰式を用いる。 - 特許庁

In the manufacturing method of a non-contact type IC card, whether each IC formed on a wafer operates normally or not, is inspected and specific data is written in a nonvolatile memory inside the IC whose result of inspection is normal after a semiconductor process of the wafer is completed when an IC chip for mounting on the IC card is manufactured.例文帳に追加

本発明の非接触式ICカードの製造方法は、ICカードに実装するためのICチップを製造するIC製造時に、ウェハの半導体プロセスを完了した後、ウェハに形成された各ICが正常に動作するか否かを検査し、検査結果が正常であるICの内部の不揮発性メモリに特定データを書き込むように構成したものである。 - 特許庁

To provide a defect detector suitable for detecting a defect, such as a void on the bonded interface of transparent substrates composed of a compound semiconductor, which are bonded directly, and a defect detection system capable of surely removing the defect portion in a chip appearance inspection after chip process completion and a defect detection method.例文帳に追加

直接接合により貼り合わされた化合物半導体からなる透明基板の貼り合わせ界面のボイド等の欠陥を検出するのに好適な欠陥検出装置、更にチッププロセス終了後のチップ外観検査において該不良部を確実に取り除くことができる欠陥検出システムおよび欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

When commodities arrive, the arrival information is written in the portable recording medium by an IC card issue machine 23, and this portable recording medium is attached to the corresponding commodity, and an instruction to the worker and a notice to the server are done by communicating with the server 21 in each process of decision of storage, decision of delivery and shipping inspection when carrying out the commodity with a truck.例文帳に追加

そして商品入荷時には携帯用記録媒体に入荷情報をICカード発行機23でライトしてその携帯用記録媒体を当該商品に貼付し、以後の入庫確定、出庫確定、トラック搬出時の出荷検品等の処理過程ではサーバ21との交信により作業員への指示や確認結果のサーバへの通知を行う。 - 特許庁

In a processing facility (10) comprising a plurality of processing stations for automatically conveying products in the various stages of production for controlled processing, an intelligent product transfer and conveyance system that enables the uninterrupted processing of only products determined as having passed a first inspection process at an upstream processing station.例文帳に追加

各々が制御された加工を行えるよう製品を種々の加工段階で自動的に運搬する複数の加工ステーションを有する加工設備(10)において、上流側の加工ステーションで第1の検査段階を合格したものと判定された製品だけを連続的に加工できるインテリジェント製品移送運搬システムが提供される。 - 特許庁

(2) The certification of the preceding paragraph shall be granted by evaluating whether or not the processing technology complies with the relevant Japanese Industrial Standards by testing a sample/samples of the mineral or industrial product processed with the processing technology pertaining to the application by the processor of the mineral or industrial product and also by evaluating whether or not the processing quality management system (i.e. the technical conditions for processing required for maintaining quality of the process including processing facilities, inspection facilities, inspection methods, quality management methods, etc.; the same shall apply hereinafter) complies with the criteria specified in the applicable ordinance of competent minister. 例文帳に追加

2 前項の認証は、鉱工業品の加工業者の申請に係る加工技術による加工をした鉱工業品のうち試験用のものについて製品試験を行うことにより日本工業規格に適合するかどうかを審査するとともに、その加工業者の申請に係る加工技術の加工品質管理体制(加工設備、検査設備、検査方法、品質管理方法その他品質保持に必要な技術的生産条件をいう。以下同じ。)が主務省令で定める基準に適合するかどうかを審査することにより行うものとする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The inspection method of the semiconductor integrated circuit includes: a stress test of applying a stress voltage to dummy wiring LD provided so as to run in parallel with signal wiring L3 and L4 inside the semiconductor integrated circuit; and a test process of determining the quality of the semiconductor integrated circuit by measuring a leakage current between the signal wiring L3 and L4 and the dummy wiring LD.例文帳に追加

本発明の半導体集積回路の検査方法では、半導体集積回路内の信号配線L3・L4に並走するように設けられたダミー配線LDにストレス電圧を印加するストレス試験と、信号配線L3・L4とダミー配線LDとの間のリーク電流を測定することにより半導体集積回路の良否を判定するテスト工程とを含む。 - 特許庁

The nonconforming products produced in an inspection process of industrial products are automatically sorted corresponding to nonconforming contents, price setting applying a discount rate to the preset price of the standard article is automated, and the product information of the nonconforming products is transferred and entered to a dedicated Web site 4 on the Internet 5 in real time, then the commercial transaction of the industrial products is performed.例文帳に追加

工業生産品の検査工程において発生する不適合品を、不適合内容に応じて自動的に分類し、予め設定された標準規格品の価格に対しての割引率を適用した価格設定も自動化し、不適合品の商品情報をリアルタイムにインターネット5上の専用のWebサイト4に転送、記載して工業製品の商取引を行う。 - 特許庁

When a program stored in a program storage memory 4 is executed, a CPU 6 performs a difference process for calculating a luminance difference by putting a previously registered instruction image over a picked-up image of an object of inspection obtained by a TV camera 1, and performs multiplication by previously registered values of weight (deviation data) by pixels of the instruction image of the object to recalculate a difference value.例文帳に追加

スタートしてプログラム格納用メモリ4に格納してあったプログラムが実行されるとCPU6は予め登録してある教示画像を、TVカメラ1で撮像した検査対象物の撮像画像に重ねて輝度差を計算する差分処理を行い、この差分処理に更に予め登録してある対象物の教示画像の各画素毎の重み(偏差データ)の値を乗じて差分値を再計算する。 - 特許庁

The CPAAOB will analyze the information obtained through the process mentioned inIII Information Requirementsas well as information otherwise collected. When, as a result of this analysis, the CPAAOB considers it necessary to conduct inspection to verify whether a Firm’s Audit and Attestation Services are conducted properly, and whether its operation control systems are well established or are functioning effectively, the CPAAOB will select the Firm for inspection. 例文帳に追加

審査会は、Ⅲにおいて徴収した情報及びその他の情報を分析した結果、外国監査法人等における監査証明業務に相当すると認められる業務が適切に行われているか、外国監査法人等における業務管理体制が適切に整備されているか、また、有効に機能しているか等について、検査により確認する必要があると認められる場合には、当該外国監査法人等を検査対象先として選定する。 - 金融庁

The quality management system for monitoring environment information of a clean room provided with a substrate manufacturing processing apparatus and suppressing occurrence of a defective substrate due to the environment includes an inspection result management DB, an apparatus data management DB, a result information analysis DB, a quality monitoring system and a process control system.例文帳に追加

基板の製造処理装置が設置されているクリーンルームの環境情報を監視して環境起因による不良基板の発生を抑制するための品質管理システムであって、 検査結果管理DBと、装置データ管理DBと、実績情報分析DBと、品質監視システムと、工程制御システムを備えたことを特徴とする品質管理システム。 - 特許庁

To provide a plywood inspection apparatus identifying an adhesion failure of a plywood and a cavity in the plywood in inspecting the plywood for a defect (cavity), detecting a difference between the cavity and a node, coping with a defective cavitated plywood in a subsequent process, from on that signal, thereby lowering an incidence of defective goods.例文帳に追加

合板の欠陥(空洞)を検査するにあたり、合板の接着不良と合板の空洞とを識別して検査することが可能で、また、空洞と節との相違も検出することができ、その信号から後工程で空洞のある欠陥合板に対処することが可能で不良商品の発生率も低下させることのできる合板検査装置を提供する。 - 特許庁

The optimum correction information is calculated (step S402) based on an electric characteristic result of an IC chip in the packaged IC chip just before delivery determined as a defective in an inspection process (step S401), and the calculated correction information is written in a nonvolatile memory for correction inside the IC chip to correct the electric characteristic of the IC chip (step S403).例文帳に追加

検査工程(ステップS401)において不良品と判定された出荷直前のパッケージ化されたICチップに対し、その電気特性結果から最適な補正情報を算出し(ステップS402)、算出した補正情報をICチップ内の補正用の不揮発メモリに書き込んで半導体チップの電気特性を補正する(ステップS403)。 - 特許庁

To provide a characteristic impedance inspection apparatus for a circuit wiring board that inspects characteristic impedance while winding off reel formed products, has a function for discriminating the quality of the products, for grasping manufactured conditions thereof, or for providing the feedback of information to adjust manufacturing conditions to an abnormal manufacturing process and individually associates relations between the products and the results.例文帳に追加

リール形態の製品を巻出しながら、特性インピーダンスを検査し、製品の良否判別機能、製品の出来具合を把握する機能或いは製造条件を調整する情報を異常な製造工程へフィードバックする機能を持ち、製品と検査結果を1:1で対応付けることの出来る回路配線基板の特性インピーダンス検査装置を提供すること。 - 特許庁

In the method for manufacturing the rubber stopper for medicine/medical goods, in which the rubber stopper is produced through processes of mixing and kneading, molding, cleaning, drying and final inspection in this order, the molding process and the processes after it are performed under the atmosphere stepwisely raised level of air cleanliness.例文帳に追加

配合・混練工程、成形工程、洗浄工程、乾燥工程、及び最終検査工程をこの順に経て医薬・医療品用ゴム栓を製造する方法において、成形工程以降の工程を空気清浄度が段階的に高レベルとなる工程雰囲気下に実施することを特徴とする高度に清浄な医薬・医療品用ゴム栓を製造する方法。 - 特許庁

The semiconductor inspection apparatus includes a MOS transistor manufactured in the same process as that of a MOS transistor of a semiconductor device, inspects whether the semiconductor device has been manufactured normally or abnormally by sensing the leak current flowing through the MOS transistor, and generates a normal or abnormal signal as a result.例文帳に追加

本発明による半導体検査装置は、半導体装置のMOSトランジスタと同一の工程で製造されたMOSトランジスタを含み、前記MOSトランジスタに流れる漏洩電流を感知して前記半導体装置が正常、または非正常に製造されたか否かを検査し、結果の結果として、正常または非正常信号を発生する。 - 特許庁

In an inspection/adjustment process in a factory, an image range information acquiring means 30 identifies an image range corresponding to a read object R in a pickup image and an image range corresponding to the section of a main body case, and stores the corresponding relation of each image range and a pixel data signal to be output by an image sensor 16 in a memory 29.例文帳に追加

工場での検査・調整工程において、画像範囲情報取得手段30は、撮像画像において読取対象Rに対応した画像範囲と本体ケースの部分に対応した画像範囲とを識別し、各画像範囲とイメージセンサ16が出力する画素データ信号との対応関係をメモリ29に記憶する。 - 特許庁

From the perspective of ensuring the fairness of the rating process, ensuring the independence of credit rating agencies and avoiding conflicts of interest, Article 66-35(ii) of the FIEA prohibits credit rating agencies and their officers and employees from engaging in acts of providing or making available for inspection a credit rating in cases where they have provided advice to a rating stakeholder on a matter that could be expected to have a material influence on the said credit rating related to the said rating stakeholder. 例文帳に追加

金商法第66条の35第2号においては、格付プロセスの公正性確保、信用格付業者の独立性確保・利益相反回避の観点から、信用格付業者及びその役職員が、格付関係者に対し当該格付関係者に係る信用格付に重要な影響を及ぼすべき事項に関して助言を行った場合において、当該信用格付を提供し、閲覧に供する行為を行うことが禁止されている。 - 金融庁

Since the quality of the milled rice (a raw sample) is previously inspected before it is heated, a heating condition is set and the milled rice is heated from an inspection result (quality information), the milled rice is prevented from being damaged owing to the chap and the expansion by the heating process, and the residual sugar can be colored.例文帳に追加

加熱する前の精米(元試料)の品位を予め検査し、この検査結果(品位情報)に基づいて加熱条件を設定して加熱を行うので、加熱作用によって精米に亀裂が生じたり精米が膨張したりするなどの損傷を生じることなく、残留糠部分を変色させることができる。 - 特許庁

Since the disk is irradiated by an inspection beam 44, and a reflection beam reflected from the patterns is received, and respective component disks 2, 3 are confirmed by a pattern recognition means, whether or not respective component disks of the sticking disk are correct is confirmed easily, and fully automatizing this confirmation process is also easy.例文帳に追加

ディスクに検査光を照射し、該パターンから反射される反射光を受光し、パターン認識手段で各構成ディスクを確認することができるから、貼合わせディスクの各構成ディスクが正しいものであるかどうかを容易かつ迅速に確認することができ、また、この確認を全自動化することも容易である。 - 特許庁

To provide a surface protective film for a transparent conductive film which facilitates a visual inspection without hurting the back of the surface protective film during a process and can improve work properties by omitting work for re-sticking the surface protective film and the transparent conductive film using the surface protective film.例文帳に追加

工程中において表面保護フィルムの背面に傷がつくことなく外観検査が容易になり、また表面保護フィルムを貼りかえる手間が省けて著しく作業性を向上させることができる透明導電性フィルム用表面保護フィルム、及びこれを用いた透明導電性フィルムを提供する。 - 特許庁

Further, the suction nozzle 11a disengages the electronic component S and ascends, when its suction is broken, and passes over the electronic component S held by the contact 2 in course of the characteristic inspection, by intermittently conveying another holding mechanism 11 by using a conveying mechanism 12, the holding mechanism 11 having been intermittently conveyed to a second process transaction device.例文帳に追加

また、吸着ノズル11aは、吸着破壊することで電子部品Sを開放し上昇し、搬送機構12により他の工程処理装置に間欠搬送していた別の保持機構11が間欠搬送されることで、この電気特性検査中の接触子2により保持された電子部品Sの上を通過する。 - 特許庁

To provide a process for multi-item multiple sample inspection by preparing a matrix substrate to which biological specimens of different properties and different origins are bonded and spotting oligonucleotides having different sequences, proteins and medicines on the array, in order to inspect multiple samples simultaneously on the multi-items.例文帳に追加

多検体について同時に多項目検査することを目的とし、異なる性質、起源を持つ生物試料の結合したマトリクス基板を作製し、さらにそれぞれのマトリクス上に、異なる配列のオリゴヌクレオチド、蛋白質、薬剤をアレイ上にスポッテイングすることにより多検体を同時に多項目検査する方法を提供すること。 - 特許庁

Notwithstanding the above, when the CPAAOB deems it necessary and appropriate to inspect a Firm in light of public interests or investor protection (for instance, when the CPAAOB comes to notice that a Firm has allegedly made fraudulent or inappropriate attestation), the CPAAOB may conduct inspection on the Firm without going through the process described inIII Information Requirement”. 例文帳に追加

なお、公益又は投資者保護のため必要かつ適当であると認められる場合、たとえば、外国監査法人等による虚偽又は不当の証明に関する情報がある場合には、Ⅲの手続きを経ずに、当該外国監査法人等を検査対象先として選定することができるものとする。 - 金融庁

To provide a new system for manufacturing a eye lens that can manage the eye lens, individually in stages of a plurality of processes and inspection from an intermediate process state to a product, permit standard values of respective eye lenses to be confirmed and so on, and can significantly improve the operating efficiency.例文帳に追加

コンタクトレンズ等の眼用レンズを製造するに際して、中間加工状態から製品に至るまでの複数の加工や検査の工程で各眼用レンズを個別に管理することが出来ると共に、各眼用レンズの規格値の確認等を容易に行うことが出来て作業効率を飛躍的に向上することの出来る、新規な眼用レンズ製造システムを提供することを、目的とする。 - 特許庁

To shorten a voltage application process and reduce manufacturing costs by applying voltage to the whole liquid crystal display panel area for multiple panels and performing inspection of display defects, polymerization of monomers in the liquid crystal components, and alignment control of the liquid crystal before a multiple panel substrate where the liquid crystal display panel areas for multiple panels are arranged is cut to be divided into individual liquid crystal display panels.例文帳に追加

液晶表示パネル領域が多数枚配置された多面取り基板を切断して個々の液晶表示パネルに分割する前に、多数枚分の液晶表示パネル領域の全てに電圧を印加して、表示欠陥の検査や液晶成分中のモノマーの重合および液晶の配向制御を行なうことで、電圧印加工程を短縮し製造コストの低減を図る。 - 特許庁

To reduce a load of developing and managing message definition data for control to control computers having different operating systems in a control system for controlling a semiconductor inspection process of a semiconductor-inspecting apparatus, and lessen user's development and management burden by uniforming forms of messages output to an input/output apparatus.例文帳に追加

本発明は、上記課題を解決するため、半導体検査装置の半導体検査処理を制御する制御システムにおいて、それぞれ異なるオペレーティングシステムを持つ制御用コンピュータに対する制御用メッセージ定義データの開発および管理の負担を減らすとともに、入出力装置に出力されるメッセージの形式を統一して、ユーザの開発及び管理負担を軽減することを目的とする。 - 特許庁

例文

The FSA will watch closely how the investigation proceeds and, having already issued a business improvement order against the Incubator Bank of Japan, we are also hoping to scrupulously follow up on the implementation status and effectiveness of its business improvement plan. On the subject of his involvement in Financial Inspection Manuals formulation that you mentioned, it is true that he participated in the deliberations on the development of our Financial Inspection Manuals and Financial Revitalization Program. That said, he was just "one of the team," so to speak, and our inspection manuals and the likes of them are products of the participation of and discussions by a large number of well-informed people from various quarters, and not only Mr. Kimura, against the backdrop of economic conditions and financial conditions that existed at the time. My understanding is that they were developed in a proper process, drawing on a broad range of views provided by all members. 例文帳に追加

当庁としては、捜査の進捗を見守るとともに、当庁の行政処分を受けた日本振興銀行における業務改善計画の実施状況とその実効性について、今さっき申し上げましたようにしっかりフォローアップしていきたいと思っておりまして、今さっき金融マニュアル策定に従事したのではないかということでございますが、まさに金融検査マニュアルや金融再生プログラム等の策定に関する検討に同氏が参加していたのは事実でございますが、この「ワン・オブ・ゼム」でございまして、検査マニュアル等については、当時の経済情勢、金融情勢を背景に木村氏のみならず、各界から多数の有識者が参加し、議論をしておられますので、メンバー全体の意見を幅広く参考にした上で適正な手続において策定したものであるというふうに私は承知いたしております。 - 金融庁




  
Copyright © Ministry of Health, Labour and Welfare, All Right reserved.
  
Copyright(C) 2025 金融庁 All Rights Reserved.
  
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
  
日本法令外国語訳データベースシステム
※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する
英→日 日→英
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

©2025 GRAS Group, Inc.RSS