「process of inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

In the inspection process of the image forming apparatus before shipping, a control unit acquires a variation of resistance detected by a bridge circuit.例文帳に追加

画像形成装置の出荷前の検査工程で、制御部が、ブリッジ回路から検出された抵抗の変化量を取得する。 - 特許庁

The inspection method of the semiconductor wafer includes a process of preparing the wafer with a chip region formed which will become a semiconductor chip, a first probe inspection to inspect the wafer by probing, a process of pressing an electrode of the wafer by a pressurization member having a flat plane, and a second probe inspection to inspect the wafer by probing.例文帳に追加

半導体ウェハの検査方法は、 半導体チップとなるチップ領域が形成されたウェハを準備する工程と、 前記ウェハをプロービングによって検査する第１プローブ検査と、 平坦面を有する加圧部材によって、前記ウェハの電極を押圧する工程と、 前記ウェハをプロービングによって検査する第２プローブ検査と、を含む。 - 特許庁

To provide a visual inspection device and a visual inspection method, capable of confirming the propriety of a production process of forming a pattern appearing on the surface of a semiconductor wafer or the like, at the same time as with the visual inspection of a defect appearing on a wafer surface.例文帳に追加

半導体ウエハなどの表面に現れるパターンを形成した製造プロセスが適切であるか否かを、このウエハ表面に現れる欠陥の外観検査と同時に確認することが可能な外観検査装置及び外観検査方法を提供する。 - 特許庁

To enhance the inspection efficiency and precision of a flaw by simply and readily detecting the flaws in the lower layer of the respective layers of a substrate, even when the flaws formed in the previous manufacturing process have been detected in the inspection of flaws in the respective layers of the substrate, in a flaw inspection system and a flaw inspection method.例文帳に追加

欠陥検査システムおよび方法において、基板の各レイヤーでの欠陥検査で、それより下層レイヤー、すなわち前の製造工程で形成された欠陥が検出される場合でも、下層レイヤーの欠陥を簡素かつ容易に除去し、欠陥検査の効率、精度を向上することができるようにする。 - 特許庁

The manufacture and inspection server 100 carries out a process to connect the input nonconformity data and its nonconformity causing process to each other, and the analysis server 120 accumulates the various quality information of the manufacture and inspection server 100.例文帳に追加

製造・検査サーバー１００は入力された不具合データとその不具合の発生工程とを結び付ける処理を行い、解析サーバー１２０は製造・検査サーバー１００の各種品質情報を蓄積する。 - 特許庁

A molding process for molding the glass lump 101, having the surface containing the curved surface, and an inspection process for inspecting the internal quality of the glass lump 101 by transmitting the inspection light through the glass lump 101 are provided.例文帳に追加

曲面を含む表面を有するガラス塊１０１を成形する成形工程と、ガラス塊１０１内に検査光を透過させてガラス塊１０１の内部品質を検査する検査工程とを有する。 - 特許庁

In the product inspection process S300, the optical property of the light diffusion plate molded by the product molding process is measured using the inspection device, and the optical property of the light diffusion plate is evaluated on the basis of the measurement result and the evaluation criterion.例文帳に追加

製品検査工程Ｓ３００では、製品成形工程により成形された光拡散板の光学特性を前記検査装置を用いて測定し、その測定結果および前記評価基準に基づいて、光拡散板の光学特性を評価する。 - 特許庁

In the manufacturing line of the part-mounting substrate, an inspection apparatus 1 is deployed for every manufacturing process, each inspection apparatus 1 installed communicably with each another via network lines 2.例文帳に追加

部品実装基板の製造ラインにおいて、工程毎に検査機１を配備するとともに、各検査機１をネットワーク回線２を介して相互に通信可能に設定する。 - 特許庁

The production line of the substrate for mounting components has a inspection device 1 deployed for each process and each inspection device 1 is connected with a server 2 through a network line 7.例文帳に追加

部品実装基板の製造ラインにおいて、工程毎に検査機１を配備するとともに、各検査機１をネットワーク回線７を介してサーバー２に接続する。 - 特許庁

The manufacturing method has an inspection process for determining the depth from the surface at which a constant carbon concentration is acquired by using the measuring method, and performing nondestructive inspection of the carburized member.例文帳に追加

また、前記測定方法を用いて、一定炭素濃度となる表面からの深さを求め、浸炭部材を非破壊検査する検査工程を有する製造方法とする。 - 特許庁

The disk supply section 4 supplies continuously each optical disk to a spindle at each inspection process and takes it up from the spindle after completion of inspection.例文帳に追加

ディスク供給部４は、各光ディスクについてそれぞれの検査工程に際して連続的にスピンドルに対して供給すると共に、検査完了後にスピンドルから引き上げる。 - 特許庁

To provide a procedure file generating device that can accurately records a procedure by a remote simulation controller 3 in the inspection process so as to accurately reproduce operations of an electronic device 4 being an inspection object.例文帳に追加

本発明は、検査過程のシミュレート用リモコン３による手順を正確に記録して検査対象である電子機器４の動作を正確に再現できるようにする。 - 特許庁

The defect of wiring, that is formed by damascene method, is extracted by the pattern defect comparison inspection and SEM inspection and is identified to be a defect, that is ascertained by a process trace in advance.例文帳に追加

ダマシン法で形成された配線の欠陥をパターン欠陥比較検査およびＳＥＭ検査で抽出し、予め工程トレースによって判明した欠陥と同定する。 - 特許庁

A management computer 21 of a receipt inspection support system 20 receiving a reexamination result from an examination payment organization terminal 30 performs a process for storing content inspection data.例文帳に追加

審査支払機関端末３０から再審査結果を受信したレセプト点検支援システム２０の管理コンピュータ２１は、内容点検データを蓄積する処理を行なう。 - 特許庁

A inspection information automatic composition server 17 makes printing process data, by executing automatic composition processing, by using the inspection information database 15 on the basis of the line unit template.例文帳に追加

検査情報自動組版サーバ１７は、行単位のテンプレートをもとに検査情報データベース１５を用いて自動組版処理を行い、印刷用の製版データを作成する。 - 特許庁

As a result of the inspection, the inspection results are fed back to the following bundle in its process so that the stamping time and stamping interval by the stamper 113 can be adjusted, when the print density is low.例文帳に追加

検査の結果、印字濃度がうすい場合、次の束に対する処理に検査結果をフィードバックし、スタンパ１１３による押印時間や押印間隔を調整する。 - 特許庁

As a result, the characteristics of the image to be inspected are reflected on the reference image to be used for comparison inspection so that the accurate inspection of the pattern can be realized, regardless of the materials of the pattern or the kind of a process for the object to be inspected.例文帳に追加

その結果、比較検査に用いる参照画像は被検査画像の特徴を反映しているため、検査対象物についてパターンの材料、プロセスの種類に関わらず、パターンの正確な検査が行える。 - 特許庁

To provide a tablet inspection apparatus and a PTP packaging machine for significantly improving the inspection accuracy, when inspecting the appearance of a tablet in a manufacturing process of a PTP sheet.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における錠剤の外観検査に際し、検査精度の飛躍的な向上を図ることのできる錠剤検査装置及びＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

To provide an optical inspection apparatus capable of identifying a defect of optical characteristics, removing foreign matters from a panel surface during an inspection process, and supplying power to a panel being inspected.例文帳に追加

光学特徴の欠陥を識別でき、かつ検査工程においてパネル表面の異物を除去でき、また検査中のパネルに電力が供給できる光学検査装置を提供すること。 - 特許庁

When the order of the inspection product Q is a divisor of the order (1) and the loop is repeated as many times as the safe variable (s), inspection success is outputted and the process is ended.例文帳に追加

検査積Ｑの位数が位数ｑの約数であり、且つ、安全変数ｓの回数だけループを繰り返していれば、検査合格の旨を出力して処理を終了する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and a PTP packing machine capable of enhancing inspection precision, in particular, for a pocket part side, to enhance visual appearance quality of a PTP sheet, in defect inspection in a manufacturing process for the PTP sheet.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における不良検査に際し、特にポケット部側の検査精度の向上を図ることで、ＰＴＰシートの外観品質の向上を図ることができる不良検査装置、及び、ＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

To provide a clinical inspection information managing device for checking the presence or the absence of a target specimen in each process of a clinical inspection which is easier than conventionally, and to provide a clinical inspection information management system and a computer program.例文帳に追加

従来に比して簡便に臨床検査の各工程において対象となる検体の有無を確認することができる臨床検査情報管理装置、臨床検査情報管理システム、及びコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus capable of quickly detecting a defective region on the entire surface of a body to be inspected and reflecting the detection result on processes after the inspection process, and to provide an inspection method.例文帳に追加

本発明は、被検査体全面において短時間で不良領域を検出でき、かつ検出結果を検査工程以降の工程に反映することのできる検査装置及び検査方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspection device of a laminate, capable of detecting a defect of the laminate in a nondestructive/noncontact manner, regardless of the material of the laminate, and utilizable, for example, for deterioration diagnosis of for a solid oxide type fuel cell or process inspection at manufacturing.例文帳に追加

積層体の材質に左右されることなく、積層体の欠陥を非破壊・非接触で検出しることができ、例えば固体酸化物形燃料電池の劣化診断や、製造時の工程検査などに利用することができる積層体の欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

Communication is provided between the monitoring server and the cash processing machine, the cash processing machine performs an inspection process on the basis of an inspection command from the monitoring server, and an inspection result is sent to the monitoring server.例文帳に追加

監視サーバーと現金処理機との間で通信可能になっており、前記監視サーバーからの精査命令に基づいて前記現金処理機が精査処理を行い、精査結果を前記監視サーバーに送信する。 - 特許庁

This inspection method does not require a long time for inspection, can be conducted as a part of the manufacturing process of the electrode material can find out a wrong mixed composition ratio soon after a material mixing process to avoid the generation of a large amount of defectives.例文帳に追加

本検査方法では、検査に長時間を要せず、よって、電極材料の製造工程の一環として実施可能であるから、配合組成比の異常を材料配合工程の直後に素早く発見でき、不良品の大量発生を未然に回避できる。 - 特許庁

Furthermore, the database 1 holds a quality maintenance frequency, which is a minimum value necessary for maintaining the quality of a semiconductor device, correlating it with the inspection process, and the inspection frequency calculating device may be furthermore equipped with a judging unit 5 which selects the minimum values of the quality maintenance inspection frequency and the theoretical inspection frequency.例文帳に追加

工程データベース１は更に、半導体装置の品質保持に必要な検査頻度の最小値である品質保持検査頻度を、検査工程に対応付けて保持しており、品質保持検査頻度及び前記理論検査頻度の最小値を選択する判断部５を更に具備してもよい。 - 特許庁

The inspection system 10 determines the content of quality inspection for a device 20 to be inspected, on the basis of information on claims to the device 20 from the market (hereinafter referred to as market claim information) and information on inspection during production processes (hereinafter referred to as production process inspection information).例文帳に追加

この検査システム１０では、被検査機器２０に対する市場からのクレーム情報（以下、市場クレーム情報）と、生産工程における検査情報（以下、生産工程検査情報）とに基づき被検査機器２０に対して行う品質検査の内容を決定する。 - 特許庁

It is diagnosed in an inspection process that an off-specification product is caused by a manufacturing device or a process, and the above diagnosis is made by the use of inspection data on each process in the manufacturing lines of various kinds of semiconductor devices and the actual values of the manufacturing conditions under which the manufacturing device operates in the processes.例文帳に追加

本発明は、多品種の半導体デバイス製造ラインにおける各工程毎の検査データおよびその際の製造装置の製造条件の実績値を用いて、半導体デバイス製造の検査工程における規格外れ要因を、製造装置起因とプロセス起因に分離する診断処理を行う。 - 特許庁

To improve quality of a product to be shipped to a market by investigating/solving a cause of defects discovered after an inspection process and after shipment of the product and to promptly reflect the investigated/result on a manufacturing process and the inspection process in a manufacturing plant to improve the quality of the product.例文帳に追加

一般的に製造業者には、製品の品質を向上させるため、検査工程や製品出荷後に発見された不具合事象の原因を究明・解決し、製造工場内の製造工程や検査工程へ迅速に反映することにより、市場へ出荷する製品の品質をいっそう向上することが望まれている。 - 特許庁

The inspection method for the surface state of the elastic roller includes a process for adjusting load so that penetrated amounts of an inspection roller in the axial direction of the elastic body roller are made equal to each other.例文帳に追加

弾性体ローラの軸方向で検査ローラの侵入量が等しくなるように荷重を調整する工程を含むことを特徴とする弾性体ローラの表面状態の検査方法 - 特許庁

In the inspection process of a liquid crystal device having such a constitution, a plurality of inspection terminals for supplying a prescribed driving signal to each wiring is brought into contact with the second part of each wiring.例文帳に追加

かかる構成を有する液晶装置の検査工程においては、各配線に所定の駆動信号を供給するための複数の検査用端子を、当該各配線の第２の部分に接触させる。 - 特許庁

To provide a data management system and a method of manufacturing a display device which improve the production efficiency in a display device production process having a cutting process, and reduce the burden of an inspection process.例文帳に追加

切断工程を有する表示デバイス製造工程における生産効率を高めるとともに検査工程の負荷を軽減するようなデータ管理システム及び表示デバイスの製造方法を提供するものである。 - 特許庁

To reduce the weight of a liquid contact type probe device and facility costs, and to efficiently carry out an inspection process.例文帳に追加

液体接触式プローブ装置を軽量化し、設備コストを削減し、検査工程を効率的に行うことを可能とする。 - 特許庁

To provide a thin film transistor substrate capable of removing an additional process necessary for cutting the wire for inspection.例文帳に追加

検査用配線切断のために必要な付加工程を除去することができる薄膜トランジスタ基板を提供する。 - 特許庁

To provide a thin film transistor substrate capable of eliminating an additional process necessary for cutting off the wiring for inspection.例文帳に追加

検査用配線切断のために必要な付加工程を除去することができる薄膜トランジスタ基板を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor chip with which appearance visual inspection after a completion of a wire bonding process is facilitated, using a simple configuration.例文帳に追加

簡単な構成でワイヤボンディング工程終了後の外観目視検査を容易にした半導体チップを提供する。 - 特許庁

To provide a schedule determination apparatus determining an inspection schedule so as to allow the minimum number of equipment to be always secured to perform a certain process.例文帳に追加

ある工程を実施するために最低限の数の機材を常時確保できるように点検スケジュールを決定する。 - 特許庁

To provide an automatic printing system, which allows to promote the full automatization of a total line including an inspection process.例文帳に追加

全ラインにわたって検査工程を含めて全自動化を推し進めることを可能にした自動印刷システムを提供する。 - 特許庁

An exciting method used during the NMR inspection includes a process of exposing a body (92) to an orientation magnetic field (BO).例文帳に追加

ＮＭＲ検査の間で使用するための励起方法は、身体（９２）を方向設定磁場（Ｂ０）にさらすことを含む。 - 特許庁

To simplify a troublesome inspection process and prevent a motor bearing member from playing and being detached in the thrust direction of the motor.例文帳に追加

煩雑な検査工程を簡略化しつつ、モータ軸受部材がモータスラスト方向に浮いたり、抜けることを防止する。 - 特許庁

An open-short inspection and a repair treatment of an electrode pattern after the electrode pre-calcining process can be done without any problem.例文帳に追加

電極仮焼成工程後の電極パターンに対してオープンショート検査およびリペア処理を問題なく実施できる。 - 特許庁

To provide an inspection method of sheetlike product (original fabric of a polarization plate) capable of easily performing process for detecting or specifying defective position.例文帳に追加

欠陥位置の検出や特定をする処理を簡単に行うことができるシート状製品（偏光板原反）の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device, which has an inspection process capable of accurately specifying the position of a chip to be inspected on a wafer.例文帳に追加

ウェーハ上の検査対象チップの位置を正確に特定可能な検査工程を有する、半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method of a sheet-like product (original fabric of a polarization plate) capable of easily performing a process for detecting or specifying a defective position.例文帳に追加

欠陥位置の検出や特定をする処理を簡単に行うことができるシート状製品（偏光板原反）の検査方法を提供する。 - 特許庁