「process of inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To speed up the transport and positioning of a work and to solve the problem to be solved in the inspection process of the work.例文帳に追加

ワークの移送、およびワークの位置決めを高速化し、ワークの検査工程での解決課題を解決する。 - 特許庁

To realize a nondestructive inspection method, capable of inspecting in a semiconductor manufacturing process before forming bonding pads and contributing cost cut, the production and reliability improvement of semiconductor devices.例文帳に追加

ボンディングパッド形成以前の半導体製造工程中で、検査可能な非破壊検査方法とする。 - 特許庁

LUBRICANT FILM-FORMING AGENT FOR PLASTIC WORKING OF METAL, METAL MATERIAL FOR PLASTIC WORKING OF METAL, AND ITS INSPECTION PROCESS例文帳に追加

金属塑性加工用潤滑皮膜形成剤、金属塑性加工用金属材料及びその検査方法 - 特許庁

To provide a carrier cup which can smoothly lift up and down an inspection object in the delivery process, and properly positioning the inspection object on a belt conveyor, and to provide a method of delivering the inspection object.例文帳に追加

被検査物をその搬送過程で円滑に昇降させ、しかもベルトコンベヤ上で被検査物を適正に位置決めできるキャリアカップ、及び被検査物の搬送方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for inspecting foreign object capable of easily obtaining inspection parameters needed for detecting foreign objects mixed in an inspection target and capable of efficiently performing the foreign object-inspection process.例文帳に追加

検査対象物中に混入した異物の検出に必要な検査パラメータを簡易に取得して、その異物検査処理を効率的に実行することのできる異物検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an overlay mark for overlay inspection having a pattern capable of performing defect inspection with favorable accuracy not obtained in a prior art in a defect inspection apparatus in a manufacturing process of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスの製造過程の欠陥検査装置において従来にはない精度の良い欠陥検査を実現することできるパターンを有するオーバーレイ検査用のオーバーレイマークを提供する。 - 特許庁

The matching process matches the position of the object to be inspected in the inspection image after the Gaussian filtering with the position of a standard inspection body in a standard image by checking the inspection image after the Gaussian filtration with the standard image.例文帳に追加

マッチング処理は、ガウスフィルタリング後の検査画像を基準画像と照合し、ガウスフィルタリング後の検査画像における被検査体の位置を基準画像における基準検査体の位置に位置合わせする。 - 特許庁

In a process for executing continuously the print inspection to a plurality of substrates, inspection execution control is performed, while it is determined whether an inspection object exists or not in each group on the basis of the execution data.例文帳に追加

複数の基板に対して印刷検査を連続実行する過程においては、実行用データに基づいて各グループについて検査対象か否かを判断しながら、検査実行制御を行う。 - 特許庁

This inspection method for executing electric characteristic inspection of the device by bringing an inspection probe 12A into electric contact with the inspection electrode P, has a contact process for bringing the inspection probe 12A into electric contact with the inspection electrode P by breaking an insulating coat O of the inspection electrode P by utilizing fritting phenomenon.例文帳に追加

本発明の検査方法は、検査用電極Ｐに検査用プローブ１２Ａを電気的に接触させてデバイスの電気的特性検査を行う検査方法において、フリッティング現象を利用して検査用電極Ｐの絶縁被膜Ｏを破って検査用プローブ１２Ａと検査用電極Ｐを電気的に接触させるコンタクト工程を有する。 - 特許庁

To provide an inspection device for detecting the flaw of a semiconductor and measuring the dimension of the flaw of the semiconductor as a technique for inspecting a wafer on the way of a semiconductor manufacturing process without applying damage to the inspection device by irradiation with an electron beam, and also to provide an inspection method of the semiconductor.例文帳に追加

半導体製造工程途中のウエハを検査する技術として、電子線照射によってデバイスにダメージを与えることなく、欠陥検出または寸法測定する検査装置および方法を提供する。 - 特許庁

As described above, the PL wavelength inspection of an active layer of each of wafers used for devices is performed by a non-destructive test before putting the wafers into the wafer process, and thus, the wafer having used for the inspection can be put into the wafer process.例文帳に追加

このように、デバイス形成に用いるウェハの活性層のＰＬ波長検査をウェハプロセス投入前に非破壊検査により行うことにより、検査で用いたウェハをウェハプロセスに投入することができる。 - 特許庁

The pseudo bonding inspection process includes a pair selection process for selecting combination of two substrates to be bonded, and a relative position calculation process for calculating a bonding position of the substrates to be bonded.例文帳に追加

擬似貼り合せ検査工程は、貼り合せる２枚の基板の組合せを選定するペア選定工程と、２枚の基板の貼り合せ位置を計算する相対位置計算工程とを含む。 - 特許庁

To simplify a line and reduce the cost of device by performing a residual pressure inspection process and a additional tightening process by one device of which the device parts are commonly owned.例文帳に追加

残圧検査工程と増し締め工程とを、装置部品を共有化した１つの装置で実施し、ラインの簡素化および装置コストの低減を図る。 - 特許庁

One part or each of the whole parts of a plurality of substrates of one set to be performed by the same content process is fed to one inspection part selected from the four inspection parts of the inspection unit 30, whereby not less than one sheet to less than the total number of the plurality of substrates of one set are fed to each of the four inspection parts.例文帳に追加

同一内容の処理を行うべき１組の複数の基板の一部または全部のそれぞれを検査ユニット３０の４つの検査部のうちから選択された１つの検査部に搬送することにより、４つの検査部のそれぞれには１組の複数の基板のうちの１枚以上全数未満が搬送される。 - 特許庁

41. If there is any disagreement as to the rating results following the completion of the on-site inspection, the financial institution being inspected may, pursuant to the Inspection Appeal Process, bring it to the attention of the Director-General of the Inspection Bureau and request a review. 例文帳に追加

41．被検査金融機関は、立入検査終了後、評定結果について意見相違がある場合は、意見申出制度に則り、その旨を検査局長に申し出て審理を求めることができるものとする。 - 金融庁

Since only the wafer whose curvature amounts before inspection fulfill a certain criterion can proceed to perform inspection, it is possible to prevent damage of the wafer due to falling of the wafer just before inspection or due to interference with the inspection apparatus side in the inspection process in which the edge gripping system is adopted.例文帳に追加

検査前の反り量が一定の条件を満たすウェーハのみを検査に進めることができるため、エッジクリップ方式を採用する検査工程において、検査直前のウェーハの落下や検査装置側との干渉によるウェーハの損傷を防止することが可能になる。 - 特許庁

To provide a manufacturing process and an inspection method of an electronic device having a strip connection conductor.例文帳に追加

帯状の接続導体を有する電子装置の製造方法およびその検査方法を提供する。 - 特許庁

A mask image is produced on the basis of each inspection target object itself during actual flaw inspecting process.例文帳に追加

マスク画像を，実際の欠陥検査処理の中で各検査対象物そのものに基づいて生成する。 - 特許庁

To provide an improved method for protecting an electronic device of a tire from damaging, during a tire inspection process.例文帳に追加

タイヤ検査過程の間、損傷からタイヤ電子装置を保護するための改良した方法を提供する。 - 特許庁

STRUCTURE INSPECTION METHOD, PATTERN FORMING METHOD, PROCESS CONDITION DETERMINING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

構造検査方法、パターン形成方法、プロセス条件決定方法、及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

To efficiently carry out a display inspection during manufacturing process of a liquid crystal display device.例文帳に追加

液晶表示装置の製造工程において表示検査を効率よく行うことができるようにする。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR SUBSTRATE AND INSPECTION METHOD OF ELECTRIC CIRCUIT FABRICATING PROCESS AND METHOD FOR FABRICATING ELECTRIC CIRCUIT例文帳に追加

半導体基板および電気回路製造プロセスの検査方法並びに電気回路装置の製造方法 - 特許庁

Repairing, remodeling and performance inspection are implemented in each production process of a product 2 comprising a storage medium 3.例文帳に追加

記憶媒体３を備える製品２の各生産工程では、修理や改造や性能検査が行われる。 - 特許庁

To shorten the periodical inspection process of a refrigerating machine for a cooling water system for ventilation and air conditioning.例文帳に追加

本発明は、換気空調冷却水系冷凍機の定期工程を短縮させることを目的とする。 - 特許庁

Then, the inspection result or judgement is transferred to a device for a downstream process of the paste applicator apparatus by communication.例文帳に追加

そして、これら検査結果や判定結果はペースト塗布機の下流工程の装置に通信で送られる。 - 特許庁

The manufacturing condition of the equipment provided in the process before an inspection process is automatically controlled on the basis of the inspection data of the optical disk after lamination and the fluctuations in the quality of the optical disk caused by an external cause is automatically corrected.例文帳に追加

さらに、かつ貼り合わせ後の光ディスクの検査データを元に、検査工程より前の工程に備わる設備の製造条件を自動的にコントロールし、外的要因による光ディスクの品質変動を自動補正させた。 - 特許庁

An inspection method for diagnosing cerebral infarction of an animal, an inspection method for diagnosing a type of cerebral infarction and an inspection method for predicting prognosis of cerebral infarction include the process of measuring the protein amount of Hemopexin protein in a blood sample extracted from the inspection animal.例文帳に追加

被検動物より採取された血液試料中のHemopexin蛋白質の蛋白質量を測定する工程を含む、該動物における脳梗塞の診断のための検査方法、脳梗塞の病型診断のための検査方法、および脳梗塞の予後の予測のための検査方法。 - 特許庁

To provide an inspection device of transparent substrates capable of efficiently inspecting transparent substrates including such as glass substrates and transparent resin substrates, an inspection method of transparent substrates, and a manufacturing method of glass substrates having an inspection process to inspect glass substrates by the inspection method of transparent substrates.例文帳に追加

ガラス基板や透明な樹脂基板等を含む透明基板の検査を効率化できる透明基板の検査装置、透明基板の検査方法、及び前記透明基板の検査方法でガラス基板を検査する検査工程を有するガラス基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

Since the test program suitable for the inspection of each semiconductor device is selected on the basis of the manufacture process information J1 and the electrical inspection is executed, the efficiency of the electrical inspection is improved, the inspection time is shortened and the burdens of the correction and alteration, etc., of the test program are reduced.例文帳に追加

製造プロセス情報Ｊ１に基づいて各半導体装置の検査に好適なテストプログラムが選定され、電気的検査が実行されるので、電気的検査の効率が高められて検査時間が短縮され、テストプログラムの修正、改定等の負担が軽減される。 - 特許庁

To provide a visual inspection device and a PTP packaging machine capable of carrying out transmission type inspection and reflection type inspection at the substantially same position, capable of saving a space, capable of reducing a manufacturing cost and capable of enhancing inspection efficiency, when inspecting an appearance defect in a manufacturing process of a PTP sheet.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における外観不良を検査するに際し、透過式検査及び反射式検査を略同一位置において実施でき、省スペース化、製造コストの低減及び検査効率の向上を図ることのできる外観検査装置、及び、ＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

In the same way, a process correspondence confirming means 23 confirms the correspondence of the process of the message trace to be verified and the process of the inspection pattern based on the information inputted by the input device 1.例文帳に追加

同様にプロセス対応確認手段２３は、入力装置１から入力される情報を元にして検査対象メッセージトレースのプロセスと検査パターンのプロセスの対応の確認を行なう。 - 特許庁

The width of the dividing groove 5_nc is set smaller than the diameter of an inspection probe 7_n so as to prevent the inspection probe 7_n electrically connected to the inspection pad 5_n from entering the dividing groove 5_nc when an inspection process is carried out.例文帳に追加

また、分割溝５_ｎｃの幅は、検査時に検査用パッド５_ｎに電気的に接続される検査用プローブ７_ｎが分割溝５_ｎｃの間に入り込まないように、検査用プローブ７_ｎの直径よりも小さくなるように構成されている。 - 特許庁

To provide a flow inspection method requiring no air purging process and a shorter period for inspection and allowing highly accurate measurement of a flow rate, and its device.例文帳に追加

エア抜き工程が不要で検査に要する期間が短く、かつ流量の計測精度の高い流量検査方法および流量検査装置を提供する。 - 特許庁

The process data obtained when the processing unit 31 performs deposition and inspection data obtained when an inspection device 41 inspects the film formed by means of the unit 31 for its state are acquired.例文帳に追加

プロセス装置31で成膜を実施したプロセスデータ、およびプロセス装置31で実施された成膜の状態を検査装置41で検査した検査データを取得する。 - 特許庁

To realize a treatment device before wafer inspection capable of improving analysis precision further by devising a drying means used in a treatment process before inspection.例文帳に追加

検査前処理工程で行われる乾燥手段を工夫して、分析精度を更に向上できるようにしたウエハ検査前処理装置を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection device and a semiconductor inspection method for accurately estimating the characteristics of defects generated in a semiconductor manufacturing process.例文帳に追加

半導体製造工程で発生した欠陥の特性を正確に推定することのできる半導体検査装置および半導体検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a wafer inspection machine and method, which can eliminate the loss time between processes, by integrating individual process required for inspection of wafers.例文帳に追加

ウェハー検査に必要な個別工程を統合することで工程間のロスタイムを解消することができるウェハー検査装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of discriminating surface foreign matter, back foreign matter, inside foreign matter and a defective pixel with less inspection process time than hitherto.例文帳に追加

従来よりも少ない検査タクトで、表面異物と裏面異物と内部異物と不良画素とを識別することが可能な検査装置を実現する。 - 特許庁

To improve the efficiency of comprehensive operation by continuously inspecting workpieces which have reached an inspection means without interrupting an inspection process.例文帳に追加

検査手段に到達したワークに対し、検査工程を中断することなく連続的に検査を行なって、全体としての作業効率の向上を図る。 - 特許庁

Thus, the false defects can be accurately determined, the false defects detected in an inspection process are reduced, and hence the accuracy and efficiency of the inspection are improved.例文帳に追加

これにより、擬似欠陥が精度良く判別され、検査過程で検出される擬似欠陥が低減されて、検査の高精度化及び効率化が図られる。 - 特許庁

To provide a fluid-tight inspection device having fluid-tight evaluation due to exhaust and fluid leakage inspection of piping in a fluid filling process after piping repair.例文帳に追加

配管補修後の充液過程における配管の排気及び漏液検査による液密性の評価が可能な液密性検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a polishing apparatus, a washing apparatus and method, and a wafer saving program by which a wafer surface is prevented from oxidation and property change in respective processes of a polishing process, a carrying process after this, a washing process, a drying process, an inspection process, and a housing process of a wafer.例文帳に追加

ウェーハの研磨加工工程、その後の搬送工程、洗浄工程、乾燥工程、検査工程、収納工程等の各工程において、ウェーハ表面の酸化や改質を防止することが可能な研磨装置、洗浄装置、洗浄方法並びにウェーハ退避プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of an organic EL display device in which judgement of propriety of repair at an inspection stage of a defective pixel can be made by a simple structure and a working loss at the repair process is reduced, its inspection device, and inspection method.例文帳に追加

簡易的な構成により欠陥画素の検査段階でリペアの可否判定を可能とし、リペア工程での作業ロスを低減した有機ＥＬ表示装置の製造方法、その検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

An inspection method for diagnosing cerebral infarction of an animal and an inspection method for diagnosing a type of cerebral infarction include the process of measuring the protein amount of Desmoglein-2 protein in a blood sample extracted from the inspection animal.例文帳に追加

被検動物より採取された血液試料中のDesmoglein-2蛋白質の蛋白質量を測定する工程を含む、該動物における脳梗塞の診断のための検査方法、および脳梗塞の病型診断のための検査方法。 - 特許庁

An inspection method for diagnosing cerebral infarction of an animal and an inspection method for diagnosing a type of cerebral infarction include the process of measuring the protein amount of Bcl-XL protein in a blood sample extracted from the inspection animal.例文帳に追加

被検動物より採取された血液試料中のBcl-XL蛋白質の蛋白質量を測定する工程を含む、該動物における脳梗塞の診断のための検査方法、および脳梗塞の病型診断のための検査方法。 - 特許庁