「process of inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

To perform an open loop test of a PLL circuit and a closed loop test including a lock-up time in the same inspection process.例文帳に追加

ＰＬＬ回路の開ループテストおよびロックアップタイムを含めた閉ループテストを同一の検査工程で実施できるようにすること。 - 特許庁

To manufacture a standard sample used in the calibration or inspection of a scanning probe microscope in a short time by a simple process.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の校正または点検に用いる標準試料を簡単な工程により短時間で製作する。 - 特許庁

Image data obtained by imaging the reproduced model defect by an imaging means of the inspection device are acquired in an image processing process.例文帳に追加

撮像工程において、再現されたモデル欠陥を検査装置の撮像手段によって撮像した撮像データを取得する。 - 特許庁

To immediately detect anomaly of an analog output signal when it occurs in an inspection process for IC components.例文帳に追加

ＩＣ部品の検査工程において、アナログ出力信号の異常が発生した際に、それを直ちに検出できるようにする。 - 特許庁

To provide a probe enabling reduction of manufacturing cost without complicating a probe manufacturing process; and to provide an inspection device.例文帳に追加

プローブの製造工程が複雑にならずに、製造コストを削減することができるプローブおよび検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of inspecting a wireless LAN module, which allows a stable inspection process to be executed without using an expensive shield box.例文帳に追加

高価なシールドボックスを用いずに安定した検査工程を実行できる無線ＬＡＮモジュールの検査方法を提供すること。 - 特許庁

Furthermore, by executing the imaging process after masking the regions other than an inspection region being an object to be inspected, the quality of the image can be improved.例文帳に追加

さらに、検査対象の検査範囲以外の領域をマスクして画像化することで画質の向上を図ることができる。 - 特許庁

To perform a rapid mask inspection for a stencil mask and the like used for the manufacturing process of a microelectronic circuit.例文帳に追加

超小型電子回路の製造プロセスに使用されるステンシルマスク等において素早くマスクの検査をすることを目的とする。 - 特許庁

The display manufacturing method includes an inspection process inspecting the presence or absence of faults in display loss in a liquid crystal display panel 20.例文帳に追加

本発明に係る製造方法は、液晶表示パネル２０の表示欠損不良の有無を検査する検査工程を含む。 - 特許庁

Therefore, the Food Safety and Inspection Service (FSIS) must continue to ensure a high level of integrity, security, and accuracy within the process.例文帳に追加

したがって、FSISは、このプロセスにおける統一性・安全性・正確性を今後も高いレベルで確保していかなければならない。 - 厚生労働省

To provide the inspection equipment and the inspection method of a shadow mask which make generating of dent by an air-gun or handling decrease, and make adhered foreign substance remarkably decrease, in the inspection process of the shadow mask for SST systems with a metal thin board of the comparatively thin thickness.例文帳に追加

金属薄板の厚みが比較的に薄いＳＳＴ方式用のシャドウマスクの検査工程においてエアーガンや取り扱いによるペコの発生を減少させ、また、付着した異物を著しく減少させるシャドウマスクの検査装置及び検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a print system in which print inspection process can be carried out under the conditions which differ depending on the image regions having different characteristics from others in the image data as the object of inspection.例文帳に追加

検版対象となった画像データにおいて異なる特徴を有する画像領域ごとに、異なる条件で検版処理を行うことができる印刷システムを提供する。 - 特許庁

The measuring stage is used in the inspection process of a factory manufacturing a semiconductor device in order to perform continuous inspection operation while maintaining the semiconductor device in a predetermined temperature region.例文帳に追加

半導体素子を製造する製造工場の検査工程で使用され、半導体素子を所定の温度域に維持した状態で連続的な検査動作を可能にした測定用ステージである。 - 特許庁

To provide an inspection method for an electronic equipment capable of recording operation condition information without depending on visual observation, even when a communication cable is not connected to the electronic equipment, in an inspection process for the electronic equipment.例文帳に追加

電子機器の検査工程において、電子機器に通信ケーブルを接続しなくとも、目視に依らず動作状態情報の記録が可能である電子機器の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a control method and its device for products after cutting process which can reduce works of operators and to improve inspection jobs when the products become suspense products by inspection.例文帳に追加

検査によって製品が保留品となったときの作業者の手間を軽減できて、検査の際の作業効率を向上できる切断加工後の製品の管理方法及びその装置を得る。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection apparatus for inspecting defective discharge of an ink solution due to a surplus discharge or an insufficient discharge, in an ink-jet process for manufacturing a color filter.例文帳に追加

インクジェット方式のカラーフィルタ製造工程における、インク液の吐出過剰や吐出不足による吐出不良を検査する検査方法及び検査装置の提供である。 - 特許庁

In the final stage of a preparation of the APTT measuring reagent, i.e. an inspection process after the reagent is prepared, an inspection method for reflecting differences of measured values between the lots and/or between the vials is introduced.例文帳に追加

ＡＰＴＴ測定試薬調製の最終段階、つまり試薬製造後の検査工程において、ロット間及び／又はバイアル間における測定値の違いを反映しうる検査方法を導入することによる。 - 特許庁

To provide a probe block and a probe unit for inspection of a display panel, which are capable of effectively inspecting a display panel having micro electrodes arrayed with high density and capable of decreasing a pin miss in an inspection process.例文帳に追加

高密度に微細電極が配列されたディスプレーパネルを効果的に検査することができ、検査工程中のピンミスを減少させることができるディスプレー検査用プローブブロック及びプローブユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a visual appearance inspection device of a structure, wherein an inspection of blocked holes provided in a base film tape can be made at a speed to respond to a processing speed easily and automatically in the manufacturing process of a film carrier tape for a semiconductor IC.例文帳に追加

半導体ＩＣ用フィルムキャリアテープの製造工程において、ベースフィルムテープの閉塞孔の検査を加工スピードに対応した速度で、容易に、かつ自動で行える外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a semiconductor device that can prevent wafer breakage in a grinding process for the rear side of the semiconductor wafer after the inspection of the properties.例文帳に追加

特性検査後の半導体ウェーハ裏面研削工程でのウェーハ割れを防止できる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection jig capable of acquiring high dimension accuracy with the small number of components in a simple manufacturing process, and applicable to a versatile design article.例文帳に追加

少ない部品点数、簡単な製造工程で高い寸法精度が得られ、汎用の設計品に対応可能な検査用治具を提供する。 - 特許庁

To reduce time required for an inspection process of crystal, concerning a method of inspecting a crystal substrate.例文帳に追加

本発明は、結晶基板の検査方法に関するもので、結晶の検査工程に要する時間を短縮することを目的とするものである。 - 特許庁

To provide an inspection device accurately and easily inspecting a filter cigarette bundle in a process of cigarette pack production on the basis of image processing.例文帳に追加

シガレットパックの製造過程にて、フィルタシガレット束の検査を画像処理に基づき、正確且つ容易に行うことができる検査装置を提供する。 - 特許庁

(2) Notwithstanding the provisions of the preceding paragraph, a part of inspection for design or manufacturing process may not be performed for aircrafts listed in the following: 例文帳に追加

２　前項の規定にかかわらず、次に掲げる航空機については、設計又は製造過程について検査の一部を行わないことができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To attain simplification of an assembling process, while making the assembling of a wire harness possible, by making the continuity inspection work possible simultaneously on one assembling work bench.例文帳に追加

一つの組立作業台上でワイヤハーネスを組立可能とすると共に、導通検査も同時に行い組立工程の簡素化を図る。 - 特許庁

(1) The evaluation method of flow of a reactant gas in the fuel cell has a process of introducing an inspection gas from an inspection gas entrance 53 provided between an entrance 51 and an exit 52 of a normal reactant gas and a process of detecting a detection gas by a detection part 54 provided between the entrance and exit of the normal reactant gas.例文帳に追加

（１）正規の反応ガスの入口５１と出口５２との間に設けた検査ガス入口５３から検査ガスを導入する工程と、正規の反応ガスの入口と出口との間に設けた検出部５４にて検査ガスを検出する工程とを、有する燃料電池内の反応ガスの流動の評価方法。 - 特許庁

This method/device has an ozone cleaning process for decomposing the oily component or stain deposited on the inner face and the outer face of the inspected container 1 using a low concentration of ozone gas, and a leakage inspection process for inspecting the leakage of the inspected container using a high concentration of ozone gas after the ozone cleaning process.例文帳に追加

低濃度のオゾンガスを用いて被検容器１の内外面に付着する油分または汚れを分解するオゾンクリーニング工程と、オゾンクリーニング工程後に高濃度のオゾンガスを用いて被検容器の漏れを検査する漏れ検査工程とを有する。 - 特許庁

To provide a reflection type mask blank and a reflection type mask for EUV exposure, and a method of manufacturing the same enabling defect inspection without removing a hard mask layer in a process inspection after the etching of an absorbing material layer and also enabling easier defect repair without any complicated process even if a black defect is found in the process inspection.例文帳に追加

本発明は、吸収体層のエッチング後の工程検査で、ハードマスク層を除去することなく欠陥検査することを可能にし、さらに、この工程検査で黒欠陥が見つかった場合でも、複雑な工程を要することなく、容易に欠陥修正が可能なＥＵＶ露光用の反射型マスクブランクス、反射型マスク、およびその製造方法を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

In inspection process, a reflectance of the table reflection light 8 is adjusted in a range of 30-70%, and a reflectance of the foreign substance reflection light 9 is adjusted in a range of not more than 10%.例文帳に追加

この検査工程において、台反射光８の反射率を３０〜７０％に調整し、異物反射光９の反射率を１０％以下に調整する。 - 特許庁

To obtain a method and device for inspecting a pattern for operating accurate inspection of a pattern, regardless of the materials of a pattern or the kind of a process for an object to be inspected.例文帳に追加

検査対象物についてパターンの材料、プロセスの種類に関わらず、パターンの正確な検査が行えるパターン検査方法およびパターン検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection apparatus capable of relatively simply masking a part of an imaging region during an inspection of appearance defectiveness in a PTP sheet manufacturing process and capable of suppressing a smear phenomenon, and to provide a PTP sheet manufacturing apparatus.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における外観不良の検査に際し、撮像領域の一部を比較的簡単にマスクすることができ、スミア現象を抑制可能な外観検査装置、及び、ＰＴＰシートの製造装置を提供する。 - 特許庁

To provide a flaw inspection device capable of rapidly and accurately inspecting what process of a plurality of sample manufacturing processes a flaw or stain is caused in without relying on the discretion of a worker, and a flaw inspection method.例文帳に追加

基板を製造する複数の工程の内どの工程に起因するキズあるいは汚れであるか、作業者の裁量に任せずに、迅速かつ正確な検査が可能な欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

The determination step is to determine characteristic defects, caused in manufacturing process carried out in units of a plurality of semiconductor devices, among the characteristic defects of the semiconductor devices based upon a result of the re-inspection in the second wafer inspection step.例文帳に追加

判定工程は、第２ウエハ検査工程による再検査の結果に基づいて、半導体装置の特性不良のうち、複数個の半導体装置単位で行われる製造処理において生じる特性不良を判定する。 - 特許庁

This device comprises a first voice synthesis output means 24 for calling attention so that a passenger inside the elevator car 13 does not influence the inspection during inspection of an elevator door and a second voice synthesis output means 25 for notifying the passenger of the inspection in process during the inspection that may cause vibration to the elevator car 13.例文帳に追加

エレベータドアの点検動作時に乗りかご１３内の乗客が点検に影響を及ぼさないように注意を促す第１の音声合成出力手段２４と、乗りかご１３に振動が発生する点検動作時に乗客に点検中である旨を報知する第２の音声合成出力手段２５とを備えた。 - 特許庁

To propose a method and apparatus for determining the accuracy of a process for determining whether the accuracy of determination, set initially in a processing of inspection in an inspection apparatus for determining the quality of test objects based on the inspection measured values obtained by using the inspection apparatus with respect to the test objects, is maintained.例文帳に追加

検査対象物について検査装置を用いて得た検査計量値を基に検査対象物の良否を判定する検査装置において、検査を行っている過程で初期に設定された判定制度が維持されているかどうかを判定する判定処理の精度判定方法及び判定処理精度判定装置を提案する。 - 特許庁

The inspection method comprises a first process B for performing many kinds of qualitative analyses for specifying the type of agricultural chemical residing in the object to be inspected; and a second process C for performing the qualitative analysis of the amount of residue in the agricultural chemical only for the specified type of agricultural chemical after the first process B.例文帳に追加

検査対象物に残留する農薬の種類を特定する多種類の定性分析を行って、残留する農薬の種類を特定する第１工程Ｂと、その後、その特定された種類の農薬のみについて農薬残留量を定量分析する第２工程Ｃとを、有する。 - 特許庁

To achieve the improvement in the throughput of a manufacturing process step and inspecting process step for a phase shift mask and the lower cost thereof by making inspection and quality control of high accuracy possible while simplifying the inspecting process step and manufacturing process step for performance to give rise to a phase difference in the phase shift mask.例文帳に追加

位相シフトマスクにおける位相差を生じさせる性能の検査工程や製造工程を簡易なものとしながらも高精度な検査や品質管理を可能とすることで、位相シフトマスクの製造工程や検査工程のスループットの向上および低コスト化を達成する。 - 特許庁

To provide a laminated chip package having a structure that facilitates an inspection process for contact resistance and enables the inspection process to be efficiently carried out, to provide a semiconductor substrate for manufacturing the laminated chip package, and to provide a method of manufacturing the laminated chip package.例文帳に追加

接触抵抗の検査工程を簡略化し、検査工程を効率的に行える構造を備えた積層チップパッケージおよびその積層チップパッケージを製造するための半導体基板並びに積層チップパッケージの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a tablet inspection apparatus and a PTP packaging machine for suppressing an enlargement of the apparatus and a degradation in the inspection efficiency, and drastically improving the inspection accuracy when an abnormality in an appearance of a tablet is inspected in the process for manufacturing a PTP sheet.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における錠剤の外観異常を検査するに際し、装置の大型化や検査効率の低下を抑制しつつ、検査精度の飛躍的な向上を図ることのできる錠剤検査装置及びＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

An inspecting apparatus is so designed that it can be easily installed without being accompanied with the remodeling of a process controller itself so that both an inspection within a periodic inspection of an operating plant and inspection and maintenance at the minimum costs during the operation halt period of an inactive plant or a plant with a low operating rate are made compatible.例文帳に追加

プロセス制御装置自体の改造を伴わずに簡単に点検装置を設置することができるようにして、稼働プラントの定期点検内での点検と、休止ないし低稼働率プラントの停止期間中の最少限度の費用による点検保守とを両立するようにした。 - 特許庁

The detection technique of pixel uneveness defects detects pixel uneveness defects (a detection process ST300 for uneven pixels) from images acquired in an inspection image acquiring process ST100, and by a quantitative evaluation, based on the detected result in the detecting process of pixel uneveness, discrimination of pixel uneveness defects is conducted (a discrimination process ST400 of defects) in the images.例文帳に追加

検査画像取得工程ＳＴ１００で取得した画像から画素ムラを検出して（画素ムラ検出工程ＳＴ３００）、画素ムラ検出工程で検出された結果に基づいた定量的な評価により、画像に画素ムラ欠陥があることの判別を行う（欠陥判別工程ＳＴ４００）。 - 特許庁

To quickly and smoothly carry out inspection of the rightness of mounted parts or rightness of part mounting positions for a game board, the mounting of parts to which is finished in the part mounting process of a game board assembly line continuously following the process and carry out such inspection without omission, with accuracy and without causing irregularity in the result.例文帳に追加

遊技盤組立ラインの部品取付工程において部品取付が済んだ遊技盤につき、同工程に連続して迅速、円滑に取付部品の正誤や部品取付位置の正誤を検査でき、またそれらの検査を、漏れなく、かつ正確に、更に結果のばらつきを生じさせることなく行う。 - 特許庁

The sensitivity inspection method of a chemical substance has a process (a) for mixing a fluorescent cysteine derivative with a sensitive substance and a process (b) for judging the presence of the bonded substance by instrumental analysis.例文帳に追加

ａ）蛍光システイン誘導体と感作性物質とを混合させる工程；及び、（ｂ）結合物の有無を機器分析により判定する工程を有する化学物質の感作性検定方法。 - 特許庁

To fairly and properly calculate an assessed price by using an IC card by implementing an authentication process and a process for calculating the assessed price and storing a history of repairs and a record of periodic inspection and maintenance.例文帳に追加

ＩＣカード用いて、認証処理や査定評価額算出処理および修理履歴や定期点検整備記録内容の保存・蓄積を行うことにより、公正且つ適正に査定価格を算出する。 - 特許庁

To securely and briefly vent air of an ink cartridge used in a process for indicating a bad mark in a chip region which is determined as defect in an electrical characteristic inspection process after completion of a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウエハ完成後の電気特性検査工程で不良と判定されたチップ領域にバッドマークを表示する工程で使用するインクカートリッジのエア抜きを短時間で確実に行う。 - 特許庁