「process of inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

Facility identification information D1 for specifying a facility wherein production lots are processed in a plurality of processes, and characteristic inspection information D2 showing an inspection result of each the production lot obtained in a characteristic inspection process after completion of the process are associated and are set as a unit processing information U.例文帳に追加

各製造ロット毎に、複数の工程でそれぞれその製造ロットが処理を受けた設備を特定する設備識別情報Ｄ１と、それらの工程終了後の特性検査工程で得られたその製造ロットの検査結果を表す特性検査情報Ｄ２とを関連付けて単位加工情報Ｕとする。 - 特許庁

To provide a method for continuously manufacturing a liquid crystal element, for preventing reduction in the yield of an optical film and preventing decrease in the inspection accuracy of an optical inspection (for example, an inspection by reflected light and an inspection by transmitted light) in the process of laminating two or more sheet pieces of optical films on a liquid crystal panel.例文帳に追加

液晶パネルに２以上の光学フィルムのシート片を積層する場合において、光学フィルムの歩留まりを低下させず、かつ、光学的検査（例えば、反射光による検査、透過光による検査）の検査精度を低下させないようにした液晶表示素子の連続製造方法を提供する。 - 特許庁

To surely discriminate a defective product through inspection of an information carrier and to avoid an adverse effect of defective product transportation in an inspection method and an inspection system of an information carrier for performing product inspection in a manufacturing process of an information carrier such as an IC tag, an IC label, an IC card and a magnetic card.例文帳に追加

本発明は、ＩＣタグ、ＩＣラベル、ＩＣカード、磁気カード等の情報担体の製造工程における製品検査を行う情報担体の検査方法及び検査システムに関し、情報担体の検査による不良品を確実に判別させることができると共に、不良品搬送の悪影響を回避することを目的とする。 - 特許庁

To provide a pressure proof inspection pipe and a pressure proof inspection method for a pipeline including a meter unit, allowing easy and certain pressure proof inspection for the pipeline including the meter unit, simplifying an inspection process and a configuration of the pipeline including the meter unit, and having excellent economical efficiency.例文帳に追加

メータユニットを含む配管の耐圧検査を容易に、しかも、確実に行うことができ、メータユニットを含む配管の構成並びに検査工程を簡素化して、経済性にも優れた耐圧検査管及びメータユニットを含む配管の耐圧検査方法を提供する。 - 特許庁

On a lower face of the card connector 1, projections 22a, 33a, 85 capable of using as a measuring standard of coplanarity are provided in manufacturing methods, for instance, an assembling process, an inspection process and an adjusting process.例文帳に追加

カードコネクタ１の下面には、その製造過程の、例えば組み立て工程、検査工程および調整工程において、コプラナリティの測定基準として用いることが可能な２２ａ、３３ａ、８５の突起を設けて構成されている。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a plasma display panel that enables sure detection of barrier rib cracks, in an inspection process after the formation of the barrier rib.例文帳に追加

隔壁形成後の検査工程で確実に隔壁クラックが検出できるようにしたプラズマディスプレイパネルの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of determining an inspection position where redundancy is reduced while reliability is maintained according to characteristics of measurement data of inspection items for a device manufacturing process of manufacturing a plurality devices in substrate units.例文帳に追加

複数のデバイスを基板単位で製造するデバイス製造工程において、検査項目における計測データの特性に応じて、信頼性を維持しつつ冗長性を削減する検査位置を決定する方法の提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection device/method for displaying a feature amount so that determination of propriety of a manufacture result of a circuit pattern in inspection of a semiconductor manufacture process becomes easy.例文帳に追加

半導体製造プロセスの検査における回路パターンの製造結果の良否の判定が容易となるように、特徴量を表示することができる半導体検査装置、及び半導体検査方法を提供する。 - 特許庁

To improve efficiency of condition setting, to shorten inspection time, and to improve reliability of an inspection, in a circuit pattern inspection device for inspecting, with an electron beam, a defect, foreign substance, residue, or the like of the same design pattern of a semiconductor device on a wafer in a manufacturing process of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の製造過程にあるウェハ上の半導体装置の同一設計パターンの欠陥，異物，残渣等を電子線により検査する回路パターン検査装置において、条件設定の効率、検査時間の短縮及び検査の信頼性を向上する。 - 特許庁

A system has a process for processing the wafer, a process for inspecting the processed wafer, a process for analyzing the wafer by using coordinate data, included in an inspection result obtained by inspection and a process for displaying information on an analysis result, obtained by analysis with the coordinate data contained in the inspection result made to correspond to identification of the wafer.例文帳に追加

本発明は、上記目的を達成するために、ウエハを処理する工程と、処理された該ウェハを検査する工程と、該検査して得た検査結果に含まれる座標データを用いて該ウェハを分析する工程と、該分析して得た分析結果の情報を前記検査結果に含まれる座標データに対応させて前記ウェハを識別する情報とともに表示する工程とを有するものである。 - 特許庁

A converting means 10 repeatedly perform at least one of a translation process and a rotating process for an inspection image by a fixed quantity within a specific range.例文帳に追加

変換手段１０は、検査画像に対して平行移動処理及び回転処理のうち少なくとも１つの処理を所定の範囲内で一定量毎に繰り返し実行する。 - 特許庁

In this device, values of a photometer in the reaction process are measured in order to verify an analysis inspection result, and an analysis measured result is verified from reaction process data.例文帳に追加

分析検査結果の検証を実現するために、反応過程における光度計の値を計測し、反応過程データから分析測定結果を検証するものである。 - 特許庁

Nonvolatile coating agent is covered on a tool used for an assembly process and an inspection process of such a pivot bearing unit for HDD swing arm.例文帳に追加

このようなＨＤＤスイングアーム用ピボット軸受ユニットの組み立て工程及び検査工程で使用される冶工具には、不揮発性のコーティング剤が被覆されている。 - 特許庁

In a marking process, an ink 2 for visualizing by receiving irradiation of light having a specific wavelength is applied onto an inspection object 1 discriminated to have a failure in the primary discrimination process.例文帳に追加

マーキング工程では、一次判別工程で不良と判別された検査対象物１に、特定波長の光の照射を受けて可視化するインク２を塗布する。 - 特許庁

The waveform detected in the detection process is compared with and analyzed against a waveform in a normal state to inspect an inside state of moisture absorption in an inspection process.例文帳に追加

そして、検出工程で検出された波形と、正常状態の波形とを比較して分析することによって、内部の吸湿状態を検査する検査工程を実施する。 - 特許庁

Heat treatment is applied to the repair welded part, and it is preferable that the inspection in the electromagnetic acoustical type ultrasonic flaw detection is continued from the process of build up welding to the process of heat treatment.例文帳に追加

また、補修溶接部には熱処理が施されるが、肉盛り溶接の工程からこの熱処理の工程まで、電磁超音波探傷法による検査を継続することが好ましい。 - 特許庁

To accurately detect foreign matters stuck on the surface of a lens or an image pickup device in an inspection process in the production process of an image pickup device incorporated with lens or a small camera module.例文帳に追加

レンズ一体型撮像素子や小型カメラモジュールの製造工程における検査工程において、レンズまたは撮像素子の表面に付着した異物を精度良く検出する。 - 特許庁

To facilitate the execution of an inspection process in a process for producing a liquid crystalt device and to prevent the useless consumption of ICs, polarizing plates, etc., for driving liquid crystals.例文帳に追加

液晶装置の製造方法における検査工程を容易に行えるようにすること及び液晶駆動用ＩＣや偏光板等といった要素が無駄に消費されるのを防止する。 - 特許庁

The electric inspection process S12 includes a coordinate detection process S13 for detecting a position coordinate of the unit region including the defect, when the defect of the unit region is detected.例文帳に追加

電気検査工程Ｓ１２には、単位領域の欠陥が検出された場合に、欠陥を含む単位領域の位置座標を検出する座標検出工程Ｓ１３が含まれる。 - 特許庁

This cooling storage using the combustible refrigerant for the cooling cycle is manufactured by a leakage inspection process 2 applying a gas pressure of 1 MPa or more to the inside and inspecting the leakage of the cooling cycle, a refrigerant sealing process 3 sealing the combustible refrigerant after finishing the leakage inspection process 2, and a sealing process 4 sealing a pipe after the refrigerant sealing process 3.例文帳に追加

冷凍サイクルに可燃性冷媒を用いる冷却貯蔵庫を、内部に１ＭＰa以上の気体で圧力をかけて前記冷凍サイクルの漏れを検査する漏れ検査工程２と、前記漏れ検査工程２終了後、前記可燃性冷媒を封入する冷媒封入工程３と、前記冷媒封入工程３後、配管を封止する封止工程４とにより製造する。 - 特許庁

To provide a semiconductor package with which alignment of a semiconductor element chip is easily done in a die bonding process, inspection for rotation and dislocation of the semiconductor element chip is easy in an inspection process, and a flow-out failure of die bonding paste is prevented.例文帳に追加

ダイボンディング工程において半導体素子チップのアライメントを行い易く、検査工程での半導体素子チップの回転や位置ズレなどの検査が容易となり、また、ダイボンディングペーストの流れ出しの不具合を防止することができる半導体パッケージを提供する。 - 特許庁

To provide a slide thermostat assembling method by which working efficiency of an inserting process of a C-type snap ring for the slide thermostat is improved, the inserting work can safely be done and further inspection accuracy can be improved by improving efficiency of an inspection process.例文帳に追加

スライドサーモスタットのＣ形止め輪の挿入工程の作業能率の向上を図るとともに安全な作業を行うことができ、しかも検査工程における効率を向上して検査の精度をアップすることができるスライドサーモスタットの組立方法を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic liquid penetrant inspection method of a steel plate capable of preventing liquid drop of wash water or penetrant, heightening efficiency of a drying process, and preventing clogging of a developer nozzle.例文帳に追加

洗浄水や浸透液の液ダレ防止、乾燥工程の効率化、現像液ノズルの詰まり防止を達成した鋼板の自動浸透探傷検査方法を提供する。 - 特許庁

According to this system (surface mounter Z3, solder printer Z2 and mounting line L), information (information about substrate inspection before printing) about inspection of a substrate P which has been executed before printing is utilized in a printing process and a mounting process.例文帳に追加

本発明（表面実装機Ｚ３、半田印刷装置Ｚ２、実装ラインＬ）によれば、印刷前に実施した基板Ｐの検査情報（印刷前基板検査情報）を印刷過程、実装過程において活用することとした。 - 特許庁

The maintenance method for the heat exchange plates of the plate-type heat exchanger includesan inspection process by using a leak tester for inspecting the existence of a penetration defect generated by damage in the heat exchange plates of the plate-type heat exchanger by using the leak tester; and the flaw inspection process for pinpointing the penetration defect, when the penetration defect is found by the inspection process using the leak tester.例文帳に追加

リークテスターを使用してプレート式熱交換器の熱交換板に損傷により生じた貫通欠陥部の有無を検査するリークテスター検査工程と、上記リークテスター検査工程により貫通欠陥部が発見された場合に、貫通欠陥部を特定する探傷検査工程とを有することを特徴とするプレート式熱交換器の熱交換板のメンテナンス方法。 - 特許庁

To provide a defect inspection device of a high resolution realizing the increase of inspection speed in a technology of inspecting defects of patterns, foreign matters, remnants, steps or the like on a wafer in the course of manufacturing process by electron beams.例文帳に追加

半導体装置の製造過程にあるウェハ上パターンの欠陥、異物、残渣および段差等を電子ビームにより検査する技術において、高分解能で、かつ検査速度の高速化を実現する欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

A test lot P is selected from a batch A which finished a process 2, an epitaxial growth process and the test lot P is subjected to a process 3 to a final inspection process precedent to other lots of the batch A, and a finished product of a semiconductor laser device is manufactured.例文帳に追加

エピタキシャル成長工程である工程２を終えたバッチＡから、先行ロットＰを選択し、この先行ロットＰを、バッチＡの他のロットに先行して工程３から最終検査工程までを進ませて、半導体レーザ装置の完成品を製作する。 - 特許庁

A change instruction part 15 judges whether or not an inspection result shown by inspection information stored in an inspection information storage part 12 satisfies predetermined judgment conditions for judging the necessity of the change of an observation process which should be selected as an observation object.例文帳に追加

変更指示部１５は、検査情報記憶部１２によって記憶される検査情報が示す検査結果が、観測対象にすべき観測工程の変更要否を判定するための予め定める判定条件を満たしているか否かを判定する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor device including an inspection process which relaxes the limitations of probe contact in probe inspection so that each chips of the semiconductor devices being in a state as a wafer can be suitably functionalized and integrated and can obtain an efficient inspection.例文帳に追加

ウェハ状態の半導体装置の各チップの高機能化、高集積化に適合できるように、プローブ検査時の針立ての制約を緩和し、かつ効率的な検査を実現できる検査工程を含む半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a release film in which detection of defects, foreign substances, or the like is carried out with high accuracy in a visual inspection by a cross-Nicol method, one of the inspection methods of a polarizing plate, and which is not easily scratched in the production process of the release film or the process in which the release film is used.例文帳に追加

偏光板の検査方法の一つであるクロスニコル法による目視検査において、欠点や異物等の検出を高精度で実施することができ、離型フィルムの製造工程内や離型フィルムが使用される工程内でキズの入りにくい離型フィルムを提供する。 - 特許庁

The method of evaluating gray hair to an inspection object has: a specific process for specifying the measured part of the inspection object; and an alignment process for obtaining a group of arrayed hair by aligning a group of hair existing a specified part to be measured through a hair fixing member.例文帳に追加

検査対象に対する白髪の評価方法であって：前記検査対象の測定部位を特定する特定工程；及び毛髪固定部材を介して、前記の特定された測定部位に存在する毛髪群を整列して配列毛髪群を得る整列工程；を有することを特徴としている。 - 特許庁

To solve the problem in which, when a series of processes for image inspection is executed and image inspection and a process for displaying a result image after image inspection are simultaneously and plurally performed, since processing performance of an information processing apparatus is insufficient, although a load is reduced by decimating the result images of image inspection, a result image necessary for an operator is also decimated.例文帳に追加

画像検査を行う一連の処理を実行し、画像検査と画像検査後の結果画像を表示する処理を同時に複数おこなった場合、情報処理装置の処理能力が足りず、画像検査の結果画像を間引いて負荷の軽減をするが、作業者に必要な結果画像までも間引かれてしまう。 - 特許庁

To provide a process cartridge, with which the efficiency of an inspection process when a solvent is used in fixing means between components in the assembling process of the process cartridge is significantly improved and sure infiltration (jointed) of the solvent between the components can be easily inspected.例文帳に追加

プロセスカートリッジの組立て工程において、部品間の固定手段に溶剤を用いた際の検査工程の効率を大幅に向上させ、部品間の間に確実に溶剤が浸透している（接合されている）ことを容易に検査可能なプロセスカートリッジを提供すること。 - 特許庁

To provide a work process management device capable of preventing failure in work process such as inspection/adjustment of a product and data writing and unconformity in a history of a work result.例文帳に追加

製品の検査・調整・データの書き込みなどの作業工程の飛ばしや、作業結果の履歴の不整合などを防止することによって、作業効率を高める作業工程管理装置を提供すること。 - 特許庁

At the time of performing gap inspection on a multi-electrode spark plug, the location of the tip of a ground electrode W2 is measured in advance as a reference part location prior to an image pickup process.例文帳に追加

多極スパークプラグのギャップ検査を行う際に、接地電極Ｗ2の先端位置を、撮影工程に先立って基準部位置として予め測定する。 - 特許庁

The mass production line of the semiconductor manufacturing process is constituted so that a foreign matter inspection device is downsized and is set on an input port and an output port of processors of semiconductor manufacturing line or a conveyance system between the processors.例文帳に追加

また、半導体製造工程の量産ラインにおいて、大量の不良を未然に防ぎ、歩留りを維持することを可能にする。 - 特許庁

To provide a chair-shaped massager simplified in the attachment of a lift means and capable of simply performing the inspection of an operation confirming process.例文帳に追加

昇降手段の取り付けが簡単であり、動作確認工程の検査も簡単に行うことができる椅子式マッサージ機を提供することにある。 - 特許庁

To accurately perform correspondence of the positional data of sub-PCB to ID, by performing the ID reading of a radio tag chip in a visual inspection process.例文帳に追加

外観検査工程において無線タグチップのＩＤ読み取りを行うことによりサブＰＣＢの位置情報とＩＤとの対応付けを正確に行う。 - 特許庁

To simplify the entire process in a fuel cell from inspection of hydrogen leakage up to detection of hydrogen leakage and identification/repair of a leakage position where the hydrogen leakage occurs.例文帳に追加

燃料電池における水素漏れの点検から、水素漏れの検出、水素漏れを起こしたリーク箇所の特定・修理までの工程全体を、簡素化する。 - 特許庁

We issued a notice of the inspection after the Tokyo Metropolitan Assembly decided to increase the bank’s capital in the process of deciding its budget and the payment of funds for the capital increase became all but certain. 例文帳に追加

議会において予算決定の過程で増資を決め、その増資の払込みが確実になるという段階で（検査の）予告を出したわけでございます。 - 金融庁

Accordingly, work efficiency of electrical characteristic inspection of the semiconductor package is improved, and as a result, productivity of a semiconductor package manufacturing process is improved.例文帳に追加

従って、半導体パッケージの電気的特性検査の作業効率が向上し、その結果、半導体パッケージ製造工程の生産性が向上する。 - 特許庁

In a secondary discrimination process, light having a specific wavelength is irradiated toward the inspection object 1, while conveying the inspection object 1 passing through the primary discrimination process, and existence of a failure is discriminated again relative to the inspection object 1 on which the ink 2 is visualized by receiving irradiation of the light having the specific wavelength.例文帳に追加

二次判別工程では、一次判別工程を経た検査対象物１を搬送しながらこの検査対象物１へ向けて特定波長の光を照射するとともに、特定波長の光を照射を受けて上記インク２が可視化している検査対象物１について、不良の有無を再度判別する。 - 特許庁

The inspection result every process of the building and a required treatment according to the inspection result are written in an inspection sheet every portion by a construction-side client machine 120, transmitted to a common file server 130 on the network 140 and stored therein.例文帳に追加

施工側クライアントマシン１２０によって、検査シートに建築物の工程毎の検査結果と該検査結果に応じた所要の処置とを部位毎に記入し、ネットワーク１４０上の共有ファイルサーバ１３０に送信して保存する。 - 特許庁

Inspection conditions of one liquid crystal display panel 10 are set during the time when another liquid crystal display panel 10 is inspected, so that the time required in the inspection process of the liquid crystal display panel 10 is shortened.例文帳に追加

1個の液晶表示パネル１０が検査されている間に他の液晶表示パネル１０の検査条件がセットされるので、液晶表示パネル１０の検査工程時間が短縮される。 - 特許庁

The inspection device 1 generates and outputs a plurality of monochromatic L shaped patterns provided by each of printing process coloring materials by being regularly adjacent with each other and the patterns are stored in a memory as an image position shift inspection file.例文帳に追加

検査装置１は、印刷プロセス色材毎用意される単色Ｌ字パターンを隣接させ規則性をもって複数生成出力し、これを画像位置ずれ検査ファイルとしてメモリに格納する。 - 特許庁