「process of inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

To reduce cost of a product by performing inspection of the defect in a pixel in the process of manufacture, in a light emission device.例文帳に追加

発光装置において、画素における不良の検査を作製工程の途中で行うことで、製品の低コスト化を図る。 - 特許庁

To perform a highly accurate factor analysis of fault occurrence even in a production process where a sufficient number of sets of inspection data can not be obtained.例文帳に追加

検査データ数を十分に得られない生産工程の場合でも高精度な不良発生の要因分析を行う。 - 特許庁

To provide a testing process of a semiconductor device capable of confirming degradation of the semiconductor device after inspection.例文帳に追加

本発明は検査後の半導体装置の劣化を確認できる半導体装置の試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

Additional data which facilitate an understanding of process errors are obtained by the succeeding detailed inspection and analysis of the details of the sampling defects.例文帳に追加

続くサンプリング欠陥の詳細な検査及び解析によって、工程誤差の把握を容易にする付加的なデータが得られる。 - 特許庁

To provide a method for writing application software at the time of an inspection process of an electronic system without changing the constitution of production lines.例文帳に追加

生産ライン構成を変更することなく、電子システムの検査工程時にアプリケーションソフトを書き込む方法を提供すること。 - 特許庁

A pressing load is loaded onto the plurality of portions of the surface of a side opposite to the wafer side of a pressing component, when a plurality of probes provided in a thin film are pressed, using the pressing component in a probe inspection process and/or a burn-in inspection process.例文帳に追加

プローブ検査工程および／またはバーンイン検査工程において、押圧部材を用いて薄膜に設けられた複数のプローブをウェーハに押圧する時には押圧部材のウェーハ側とは反対側の面の複数の箇所に押圧荷重を負荷させる。 - 特許庁

To reduce the overlook of a common defect in a die comparison system and a post-process due to double counting of the defect existing in a reference image after inspection and realize an efficient inspection.例文帳に追加

ダイ比較方式の共通欠陥の見逃し、及び参照画像に存在する欠陥のダブルカウントによる検査後処理を軽減し、効率的な検査を実現する。 - 特許庁

After the inspection using one of the sockets, the other of the sockets is immediately connected by a switch for initiating the next inspection for the equipment, and the process continues.例文帳に追加

ソケットのうちの１つを介した検査が終了した後、スイッチは、他のソケットを即座に接続し、スイッチは、次の装置の検査は、それらの装置について始動して継続する。 - 特許庁

To realize defect inspection data processing by which the TAT reduction of a defect inspection process is possible and the precise defect coordinate data of a defect position can be obtained.例文帳に追加

欠陥検査工程のＴＡＴ短縮が可能で、また欠陥位置の高精度な欠陥座標データを得ることができる欠陥検査データ処理を可能とする。 - 特許庁

To provide a substrate inspecting method for detecting whether the defect of the substrate is a backside defect produced in the front stage of the inspection process or the backside defect produced during inspection.例文帳に追加

検査プロセスの前段階で生じた裏面欠陥なのか、もしくは検査時に生じた裏面欠陥なのかを検出することができる基板検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device and inspection method capable of inspecting whether or not ions are injected to a desired position in an ion injection process by use of a stencil mask.例文帳に追加

ステンシルマスクを用いたイオン注入工程においても、所望の位置にイオンが注入されたか否かを検査できる検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

The value of a photometer in a reaction process is measured in order to realize the inspection of an analytical inspection result and an analytical measurement result is inspected from the reaction process data due to the photometer and the state change of the operation state of the mechanism part or sub-system annexed to the reaction process.例文帳に追加

分析検査結果の検証を実現するために、反応過程における光度計の値を計測し、前記光度計による反応過程データと、前記反応過程に付随する機構部や或いはサブシステムの稼動状態の状態変化から分析測定結果を検証するものである。 - 特許庁

To provide a visual inspection system for a semiconductor capable of specifying the flaw having increased or disappeared before and after a predetermined process of a semiconductor manufacturing process; a visual inspection method; and a semiconductor manufacturing apparatus.例文帳に追加

半導体製造工程の所定の工程の前後で増加又は消失した欠陥を特定することが可能な半導体外観検査装置、外観検査方法及び半導体製造装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for inspecting leakage of a process tube by which leakage inspection can be conducted quickly and at high accuracy even if a large process tube is prepared and highly reliable inspection result can be obtained.例文帳に追加

大型のプロセスチューブであっても、リーク検査を短時間で速やかにかつ高精度に行うことができ、またその検査結果の信頼性も高いプロセスチューブのリーク検査方法を提供する。 - 特許庁

To remove rejectable products with high accuracy in a visual inspection process and to lessen the load in a microscopic inspection process following to connection work of a display panel, a TAB substrate and a flexible substrate.例文帳に追加

表示パネル，ＴＡＢ基板，フレキシブル基板の接続作業後の検査において、目視検査工程で高精度に不良品を排除することができ、顕微鏡検査工程での負荷を軽減する。 - 特許庁

In a second inspection process following the first inspection process, the liquid crystal panel is illuminated from the rear for a prescribed period just after turning off the application of the source signal and the gate signal to inspect lighting (steps #20 to #30).例文帳に追加

第２検査工程では、第１検査工程に続いて、ソース信号及びゲート信号の印加をオフした直後から所定期間、液晶パネルを背面から照明して検査を行う（ステップ＃２０〜＃３０）。 - 特許庁

This shortens the standby time of the inspection part 21 when conducting the needle polishing process to improve the throughput of the test.例文帳に追加

これにより針研処理を行うときの検査部２１の待機時間を短縮して、テストのスループットを向上させる。 - 特許庁

To prevent deterioration of quality by improving inspection accuracy concerning existence of cracks generated in a manufacturing process.例文帳に追加

製造過程において生じ得るクラックの有無について検査精度の向上を図ることで、品質の低下を防止する。 - 特許庁

In addition, this inspection process is useful in simple and rapid detection of Staphylococcus aureus of low sensitivity to glycopeptide.例文帳に追加

さらにこの検査法は、グリコペプチド低感受性の黄色ブドウ球菌の簡易的、迅速検出に有用な検査法である。 - 特許庁

To facilitate alignment at the time of mounting a semiconductor chip on a lead frame, and confirmation of the mounting position in the inspection process.例文帳に追加

リードフレームに半導体チップを載置するときの位置合わせ、および検査工程における載置位置の確認を容易にする。 - 特許庁

To provide a visual inspection method which rationalizes and simplifies a setup process before a defect of an anti-reflection film is observed and a cleanup process after the observation, and to provide a visual inspection device which enables visual inspection of the total length of the anti-reflection film to be manufactured at a time.例文帳に追加

反射防止フィルムの欠陥を観察するに至るまでの段取り工程及び観察後の後始末工程を合理化・簡略化する外観検査方法を提供し、同時に製造した反射防止フィルム全長の外観検査が可能な外観検査装置を提供することを目的とした - 特許庁

To provide a superposing deviation inspection apparatus, marks for inspecting superposing deviations and overlap deviation inspection method, which enable automatic inspection of the presence of a superposing deviation in a shorter time between a lower layer pattern and a resist pattern, in a lithographic process during the production process of semiconductors.例文帳に追加

半導体の製造工程中のリソグラフィ工程において、下層パターンとレジストパターンとの重ね合わせずれの有無を短時間でかつ自動的に検査することができる重ね合わせずれ検査装置、重ね合わせずれ検査用マークおよび重ね合わせずれ検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for inspection of a packaged state of electronic components, capable of avoiding a problem wherein congested indentation is regarded as a mixture of foreign matters in an automatic inspection process, and to provide a method of manufacturing electronic equipment.例文帳に追加

自動検査工程において密集圧痕を異物の混入とみなしてしまう問題を回避し得る電子部品の実装状態検査装置及び電子機器の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an analytical inspection device capable of reducing the possibility of generating contamination between inspections of samples, and free from the requirement of securing a proper alignment of an illumination source and/or a detecting optics with the sample under inspection, during an inspection process.例文帳に追加

試料の検査と検査の間に汚染が生じる可能性が低く、照明源及び／又は検出用オプティクスの被検下にある試料との適正なアライメントを保証することが、検査プロセス中に要求されない分析検査デバイスを提供する。 - 特許庁

This inspection device writes inspection executing information in a FLASH ROM 17 in a process of manufacturing and inspecting an electronic control device 15 with built-in FLASH ROM 17, and confirms an inspection executing state of a pre-process by reading out the information in the FLASH ROM 17 in a post-process thereafter.例文帳に追加

検査装置は、ＦＬＡＳＨ ＲＯＭ１７内蔵の電子制御装置１５を製造し検査する工程で検査実施情報をＦＬＡＳＨ ＲＯＭ１７内に書き込んで、この後の後工程でそのＦＬＡＳＨ ＲＯＭ１７内の情報を読み出すことにより前工程の検査実施状況を確認する。 - 特許庁

To provide a method for controlling quality of a manufacturing process of a photoelectric conversion device, capable of integrating control of a manufacturing process of the photoelectric conversion device and control of inspection results thereof.例文帳に追加

光電変換装置の製造工程の管理、検査結果の管理を統一して行うことを可能とする、光電変換装置製造工程の品質管理方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A production line database 110 storing panel information having panel ID information, inspection information and assembled state information is provided for a lighting inspection system 100 which executes a process of lighting inspection of PDP 1.例文帳に追加

ＰＤＰ１の点灯検査工程を実施する点灯検査システム１００に、パネルＩＤ情報と、検査情報と、組立状態情報と、を有するパネル情報が格納された生産ラインデータベース１１０を設けた。 - 特許庁

To provide a new automatic inspection device and a new automatic inspection method for measuring and evaluating automatically eccentricity in a contractedly formed part of a glass tube end part, and for allowing on-line product inspection in a production process.例文帳に追加

ガラス管端部の絞り成形部の偏心を自動計測し、評価することができ、製造工程でオンライン製品検査が可能な新しい自動検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

Then, spoken voice input from the microphone 7a is subjected to voice identification process and inspection result data are input to PDA2 and are stored as inspection results of the identified inspection facility.例文帳に追加

そして、マイク７ａから入力された発話音声が音声認識処理されて検査結果データがＰＤＡ２に入力され、特定された検査設備に対する検査結果として記録される。 - 特許庁

This manufacturing method has a thin film forming process of forming a lamination film constituting the thin film magnetic head on a substrate, and an inspection process of measuring the size of a predetermined portion of the lamination film.例文帳に追加

薄膜磁気ヘッドを構成する積層膜を基板上に形成する膜形成工程と、積層膜の予め定めた箇所についての寸法を計測する検査工程とを有する。 - 特許庁

To provide a tablet inspection device and a PTP packing machine capable of significantly improving an inspection accuracy when inspecting chipping and the like of a tablet in a production process of a PTP sheet.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における錠剤の欠け等の検査に際し、検査精度の飛躍的な向上を図ることのできる錠剤検査装置及びＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

To provide a mask for inspection of an exposure apparatus, with which the state of an optical system in an exposure apparatus can be measured, and to provide a method for manufacturing a mask for inspection of an exposure apparatus with an efficient manufacturing process.例文帳に追加

露光装置の光学系の状態を測定可能な露光装置検査用マスク、及び製造プロセスを効率化させた露光装置検査用マスクの製造方法を提供する。 - 特許庁

Then, in the reassembling process, a shutter speed inspection is executed as the actuation inspection of lens and shutter units, so that the function of the driving system of the film unit with the lens is inspected altother.例文帳に追加

また、再組立工程において、レンズ・シャッタユニットの作動検査としてのシャッタ速度検査を行うことによって、レンズ付きフィルムユニットの駆動系の機能を一括して検査する。 - 特許庁

A process of inputting the inspection signal to a circuit block and initiating process operation and a process of outputting an output result from the circuit block to an output result obtaining part 60, are executed.例文帳に追加

これにより、回路ブロックに検査信号を入力してその処理動作を開始させる処理や、回路ブロックの出力結果を出力結果取得部６０に出力する処理が実行される。 - 特許庁

The discoloration inspection apparatus comprises an illuminating means 1 for applying white light to a workpiece 7, an image pickup means 2 consisting of a color television, a determining process part 3 consisting of a computer, an output part 4 consisting of a CRT outputting the result of an inspection process, and the like.例文帳に追加

ワーク７に白色光を照射する照明手段１、カラーテレビからなる撮像手段２、コンピュータからなる判定処理部３、検査処理結果を出力するＣＲＴなどからなる出力部４などから変色検査装置を構成する。 - 特許庁

To improve the process rate (test speed) of wafer inspection.例文帳に追加

ウエハー検査の工程速度（検査スピード）を向上させることのできるウエハー表面照射装置及び方法の提供 - 特許庁

In the system for visually inspecting liquid crystal substrates, visual inspection is performed after a film deposition process in the manufacture of liquid crystal substrates 5.例文帳に追加

液晶基板５の製造における製膜工程後の目視検査を行う液晶基板検査装置である。 - 特許庁

By mounting the lenses 4 on the glass substrate 2, positioning of the block is made easy and the inspection process can be simplified.例文帳に追加

このレンズ４をガラス基板２に設けたことにより、位置合わせを容易にし、検査工程を簡略化できる。 - 特許庁

Performing defect inspection with the TFT substrate that is set in the temperature condition when it is actually operating in the array inspection in the array process allows defects, which are usually detected in and after the cell process, to be detected in the early stages of the array process.例文帳に追加

アレイ工程でのアレイ検査において、ＴＦＴ基板を実際に駆動したときの温度状態として欠陥検査を行うことによって、通常、セル工程以降で検出される欠陥をアレイ工程の早い段階で検出する。 - 特許庁

Quality information showing the result of the inspection process is associated with processed information which is a manufacturing parameter for each manufacturing process, so as to make tied data (S2).例文帳に追加

検査工程の検査結果を表す品質情報と各製造工程毎の製造パラメータである加工情報とを関連付けて紐付けデータとする（Ｓ２）。 - 特許庁

A scanner 2 is disposed between an inspection process 1 and an assembly process 3, and imaging data on a surface of a wafer (W) obtained by the scanner 2 is supplied to a data processor 4.例文帳に追加

検査工程１と組立て工程３の間にスキャナ２を配置し、スキャナ２で得たウェハ（Ｗ）表面の画像データをデータ処理装置４に供給する。 - 特許庁

NG surface information obtained in the defect inspection process of a magnetic disk substrate is drawn onto the magnetic disk substrate to be discriminated in a subsequent film-forming process.例文帳に追加

磁気ディスク基板の欠陥検査工程で得られたＮＧ面情報を磁気ディスク基板に描画して後の成膜工程で判別できるようにする。 - 特許庁

To at least ease complications of the configuration of a communication apparatus resulting from preparation of a plurality of TTIs, signal processing, and product inspection process.例文帳に追加

複数のTTIを用意することに起因する通信装置の構成、信号処理及び製品検査工程の複雑化を少なくとも緩和すること。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of an organic EL device of COG (Chip On Glass) type capable of shortening the time required for a leak current inspection process.例文帳に追加

リーク電流検査工程にかかる時間を短縮することが可能なＣＯＧ型の有機ＥＬ装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To detect a defect in a groove part as a part of a manufacturing process by executing the inspection of the defect in the groove part at the stage of a film.例文帳に追加

溝部の欠陥検査をフィルムの段階で実行することにより、製造工程の一環として上記欠陥の検出を行う。 - 特許庁