「process of inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a plate inspection apparatus which generates control information for controlling a specified process in the print workflow on the basis of the result of plate inspection.例文帳に追加

検版結果に基づいて、印刷ワークフローにおける所定の処理を制御する際の制御情報を生成する検版装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device and an inspection method capable of performing a plurality of inspections continuously and accurately with a simple process and a simple constitution.例文帳に追加

簡単な工程及び構成で、複数の検査を連続して正確に行うことができる検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a semiconductor device or the like, its device, an inspection method and its device, capable of stabilizing a manufacturing process, and automatizing an inspection correction process.例文帳に追加

製造プロセスの安定化、検査修正工程の自動化を図ることができる半導体装置等の製造方法及びその装置並びに検査方法及びその装置に関する。 - 特許庁

The workpiece inspection system inspects an inspected workpiece, moving in a manufacturing process having an electronic circuit mainly with an inspection control section of an inspection device.例文帳に追加

本発明は、電子回路部を有する製造工程を移動する被検査対象ワークを、検査装置の検査制御部が主導権をとって検査するワーク検査システムに関する。 - 特許庁

To provide a high-resolution inspection apparatus and an inspection method capable of observing a wide observation area in a short time in a hot spot inspection required in a lithographic process.例文帳に追加

リソグラフィーの工程で必要とされるホットスポット検査において、広い観察面積を短時間で観察できる高解像度の検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection method and a device therefor with an inspection speed increased by performing conveyance and inspection of an object to be inspected in one process.例文帳に追加

被検査物の搬送と検査を１工程内で行うことを可能にして、検査速度の高速化を可能とした外観検査方法及びその装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide an inspection device of a glossy cylindrical surface capable of automatically inspecting the surface flaw of a product having the glossy cylindrical surface, increased in inspection precision and inspection speed and capable of performing inspection on the line of a mass-production process.例文帳に追加

光沢円筒面を有する製品の表面欠陥の自動的な検査が可能であり、検査精度及び検査速度が格段に高く、大量生産工程のオンライン上で行うことができる光沢円筒面検査装置の提供を目的とする。 - 特許庁

A standard product achievement process/standard inspection question 103 is associated with points of concern in a relevant organization process read by a relevant organization process information recording part 104 to prepare an auxiliary inspection question in the relevant organization process, and the auxiliary inspection question is recorded in a relevant organization process information correspondence recording part 105.例文帳に追加

標準製品実現プロセス・標準監査質問１０３と、当該組織プロセス情報記録部１０４に読み込まれた当該組織プロセスにおける留意事項とを関連付け、当該組織プロセスにおける予備監査質問を作成し、当該組織プロセス情報対応記録部１０５に記録する。 - 特許庁

An input information weighting part 23 makes the weight of each process constant from information, which is the input of a process of a model inspection technique, such as program information or modeling information to weight it by model inspection process units and generates a job based on the weighted process.例文帳に追加

入力情報重み付け部２３が、プログラム情報やモデル化情報といった、モデル検査方式のプロセスのインプットとなる情報から各プロセスの重みを定数化してモデル検査のプロセス単位で重み付けを行い、重み付けされたプロセスを基にジョブを生成する。 - 特許庁

This manufacturing method of this assembly includes an airtightness inspection process of a motor housing 25 of an electric power steering device 1.例文帳に追加

本組立体の製造方法は、電動パワーステアリング装置１のモータハウジング２５の気密検査工程を含む。 - 特許庁

To provide a defectiveness inspection device capable of drastically enhancing inspection precision in the detection and inspection of a pinhole in the PTP sheet manufacturing process, and to provide a PTP packing machine.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程におけるピンホールの検出検査に関し、検査精度の飛躍的な向上を図ることのできる不良検査装置、及び、ＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

To provide a parallel mounted inspection board for semiconductor memory element and inspection method capable of improving the reliability of a mounting inspection process for inspecting a semiconductor element in an actually operating environment.例文帳に追加

半導体素子を実際動作環境で検査する実装検査工程の信頼性が向上する半導体メモリ素子用の並列実装検査基板および検査方法を提供する。 - 特許庁

Further, at the time of the compression process, leak inspection is also carried out based on a vacuum degree of the cell laminated body 3.例文帳に追加

また、この圧縮工程の際、セル積層体３の真空度に基づいてリーク検査も実施する。 - 特許庁

To provide a program execution method and programming environment for an inspection device, allowing intelligible expression of a flow of processing in an inspection process and contents of inspection to an individual inspection target, and allowing easy execution and editing.例文帳に追加

検査工程の処理の流れと、個々の検査対象に対する検査の内容をわかりやすく表現し、容易に実行及び編集することが可能な検査装置のプログラム実行方式及びプログラミング環境を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of suppressing complication of processing in inspection, and improving inspection accuracy, while preventing a smear phenomenon, in defect inspection in a manufacturing process of a PTP sheet, and a PTP packaging machine.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における不良検査に際し、スミア現象を防止しつつ、検査に際しての処理の複雑化を抑制し、検査精度の向上を図ることのできる不良検査装置、及び、ＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

At the time of maintenance or inspection of the process unit 13, the movable base 5 and the movement mechanism 7-2 are moved in the Y-axis direction by the predetermined distance to secure a space for the maintenance or inspection in the lower part of the process unit 13.例文帳に追加

プロセスユニット１３の保守点検時に、可動ベース５と移動機構７−２をＹ軸方向に所定距離だけ移動して、プロセスユニット１３の下部に保守点検用の空間を確保する。 - 特許庁

From the process data and inspection data, the corrected value of the process data required to enable the unit 31 to properly perform deposition is found.例文帳に追加

これらプロセスデータおよび検査データからプロセス装置31で適正に成膜させるのに必要なプロセスデータの補正値を求める。 - 特許庁

To provide a plating inspection apparatus for performing a stable inspection by managing a trend of plating quality in a plating manufacturing process.例文帳に追加

めっき製造工程におけるめっき品質を傾向管理することによって、安定した検査を行うめっき検査装置を提供する。 - 特許庁

The receiver outputs signals synchronously with an inspection process step, and displays the positions of the containers based on a fixed inspection position.例文帳に追加

レシーバは検査手順のステップと同調して信号を発生し、固定検査位置に対する容器の位置を表示するようになっている。 - 特許庁

To shorten the time required for the inspection process of gas sensors, prior to factory shipment.例文帳に追加

工場出荷前におけるガスセンサの検査工程において、該検査工程の時間短縮を図る。 - 特許庁

To provide an electronic component inspection device capable of making inspecting process high precision and simplification.例文帳に追加

電子部品の検査作業を高精度且つ簡易化する電子部品検査装置を提供する。 - 特許庁

To discriminate a surface defect from an internal defect of the substrate efficiently in a one-time inspection process.例文帳に追加

基板の表面の欠陥と内部の欠陥とを、１回の検査工程で効率良く弁別する。 - 特許庁

Subsequently, a memory information is written on the memory cell of the flash ROM in a probe inspection process.例文帳に追加

続いて、プローブ検査工程においてフラッシュＲＯＭのメモリセルに記憶情報を書き込む。 - 特許庁

To prevent a liquid crystal panel P from being displaced or damaged in process of conveyance to an inspection part.例文帳に追加

検査部への搬送途中で液晶パネルＰがずれたり破損したりするのを防止する。 - 特許庁

Inspection items of an inspection process performed by each process of part receipt, production, shipping and market and items of quality inferior information generated in relation to the inspection are previously registered as a united code in a code master DB 17.例文帳に追加

部品受入、生産、出荷及び市場の各プロセス４０〜７０で行う検査工程の検査項目と、その検査に関連して発生する品質不良情報の項目とを統一したコードとしてコードマスターＤＢ１７に予め登録しておく。 - 特許庁

A method of manufacturing an optical flat plate member includes a product molding process S200 of molding a light diffusion plate and a product inspection process S300 of inspecting an optical property of the light diffusion plate molded by the product molding process using an inspection device including an inspection light source and an imaging device on the basis of an evaluation criterion obtained in advance.例文帳に追加

光拡散板を成形する製品成形工程Ｓ２００と、製品成形工程により成形された光拡散板の光学特性を予め取得した評価基準に基づいて、検査用光源および撮像装置を備える検査装置を用いて検査する製品検査工程Ｓ３００とを備えている。 - 特許庁

This method of detecting stain flaw; includes a process of performing filtration processing for emphasizing the stain flaw of an inspection image and a process for detecting the presence of the stain flaw or evaluating the degree of stain flaw, on the basis of the inspection image subjected to filtration processing.例文帳に追加

検査画像のシミ欠陥の強調のためのフィルタ処理を行う工程と、前記フィルタ処理された検査画像に基づいてシミ欠陥の有無を検出し又はシミ欠陥の程度を評価する工程とを備える。 - 特許庁

To provide a compressor inspection device capable of simply inspecting the inspection process of a rotary compressor, and determining a high quality workpiece with high reliability.例文帳に追加

ロータリ圧縮機の検査工程を単純に検査でき、しかも信頼性の高く、高品質ワークを判別できる圧縮機検査装置を得ることを目的とする。 - 特許庁

An inspection area detection signal showing a plurality of inspection areas to be inspected is formed in the moving process of the bonded state detection sensor 3.例文帳に追加

貼付状態検出用センサ３が移動する過程において検査実施すべき複数の検査エリアを示す検査エリア検出信号を生成する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection apparatus capable of being easily and manually operated at the site of a manufacturing process and efficiently performing ultrasonic flaw detection inspection.例文帳に追加

製造工程の現場で簡単に手動操作でき、超音波探傷検査を効率的行なうことができる超音波検査装置を提供する。 - 特許庁

The sensor is provided with a transmission unit for transmitting a signal to a receiver disposed outside the process apparatus during inspection of the inside of the process apparatus.例文帳に追加

センサは、プロセス装置の内部の検査をしている間、プロセス装置の外部に配置される受信機に信号を送信する送信機を備える。 - 特許庁

In a reporting process, when discriminated that the inspection object 1 has a failure in the primary discrimination process, the discrimination result is reported before discriminating existence of a failure in the secondary discrimination process relative to the inspection object 1.例文帳に追加

報知工程では、一次判別工程で検査対象物１が不良と判別された場合に、この検査対象物１が二次判別工程で不良の有無の判別がされる前に、前記判別結果を報知する。 - 特許庁

When an abnormality process inspection timing comes by IG OFF of an own vehicle (S130:Yes), a control part in the on-vehicle device executes an abnormality inspection process on a corresponding abnormality process (S140) to inspect whether the abnormality process is properly operating.例文帳に追加

車載装置の制御部は、自車両のＩＧ ＯＦＦにより異常処理検査タイミングが到来すると（Ｓ１３０：Ｙｅｓ）、対応する異常処理についての異常処理検査を実行し（Ｓ１４０）、該異常処理が正常に動作するかを検査する。 - 特許庁

In a plurality of inspection processes for semiconductor devices, positions at which the contactors make contact with the bump electrodes in each inspection process are kept from overlapping with those in another inspection process as far as possible, thereby making it possible to lower and stabilize contact resistance with the bump electrodes in inspection.例文帳に追加

半導体装置の複数ある検査工程において、各検査工程でバンプ電極に接触する位置を他の検査工程とできる限り重ならないようにすることにより、検査時のバンプ電極との接触抵抗を低くし、安定化させることができる。 - 特許庁

To provide an inspection device of a glossy plane extremely enhanced in the inspection precision and inspection speed of the surface flaw of a product having the glossy plane, capable of automatically inspecting the surface flaw and enabling the on-line inspection of a mass production process.例文帳に追加

光沢平面を有する製品の表面欠陥の検査精度及び検査速度が格段に高く、かつ表面欠陥の自動的な検査が可能で、大量生産工程のオンライン上で検査可能な光沢平面検査装置の提供を目的とする。 - 特許庁

This semiconductor element 101 is equipped with a nonvolatile storage element 102 for holding writably and readably manufacture data in each manufacturing process of the semiconductor element, inspection data at the probe inspection time, and inspection data at the shipping inspection time.例文帳に追加

半導体素子の製造工程ごとの製造データ、プローブ検査時の検査データおよび出荷検査時の検査データを書き込み読み出し可能に保持する不揮発性記憶素子１０２を半導体素子１０１に備える。 - 特許庁

In a board inspection method, various information generated in an inspection process is stored in inspection results database 21 of a management server 2 together with good/failure determination results, and an image used in an automatic visual inspection is stored in an image database 22.例文帳に追加

管理サーバ２の検査結果データベース２１には、良／不良の判定結果とともに検査の過程で生じた各種情報が蓄積され、画像データベース２２には、自動外観検査に使用された画像が蓄積される。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection device easily and quickly operated by hand in the field or on the site of a manufacturing process and efficiently and accurately carrying out an ultrasonic inspection of an inspection object, and to provide an ultrasonic probe device and an ultrasonic inspection method.例文帳に追加

フィールドや製造工程の現場で簡単かつ手軽に手動操作でき、検査対象物の超音波検査を効率的よく正確に実施できる超音波検査装置、超音波プローブ装置、超音波検査方法を提供する。 - 特許庁

The flaw detection method has the flaw emphasis processing process for performing flaw emphasis processing with respect to the picked up image of the inspection target and the flaw detection process for detecting the flaw of the inspection target on the basis of the respective pixels obtained in the flaw emphasis processing process.例文帳に追加

欠陥検出方法は、被検査物の撮像画像に対して欠陥強調処理を行う欠陥強調処理工程と、その工程で得られた各画素の欠陥強調値に基づいて欠陥を検出する欠陥検出工程を有する。 - 特許庁

The transparent sheet 10 is disposed on an inspection plate 2 processed by at least one of a mat process and a lusterless process so as to face the inspection plate 2 at a predetermined interval.例文帳に追加

マット加工および艶消し加工の少なくともいずれか１つの加工が施された検査板２に対して、所定の間隔をあけて対向するように透明シート１０を配置する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a plasma display panel that includes an inspection process, which can feedback quickly the inspection result of a phosphor layer to a coating process of a phosphor material, and can determine the type of defects, and also, which is low in facility cost and running cost, and an inspection method and an inspection device for phosphor layer.例文帳に追加

蛍光体層の検査結果を速やかに蛍光体材料の被着工程にフィードバックできると共に、設備コスト及びランニングコストが低く、欠陥の種類の判別が可能な検査工程を有するプラズマディスプレイパネルの製造方法、並びに蛍光体層の検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

To facilitate specification of a trouble caused by an inspection equipment or process by performing defect distribution state analysis based on defect data detected by the inspection equipment in the production process of a semiconductor substrate.例文帳に追加

半導体基板の製造工程において、検査装置によって検出された欠陥データに基づいて欠陥分布状態解析を行い、装置あるいはプロセス起因の不良原因の特定を容易にする。 - 特許庁

To provide a surface inspection method and surface inspection device capable of improving the accuracy for detecting a defect such as unevenness existing in a surface of an inspecting object without complicating the inspection process and the constitution of the inspection device.例文帳に追加

検査工程および検査装置の構成を複雑化させることなく、検査対象物の表面に存在する凹凸などの欠陥を検出する精度を向上させることができる表面検査方法および表面検査装置を提供する - 特許庁

To provide an inspection device for a three-dimensional image display device which can facilitate the display quality inspection of a three-dimensional image in its manufacturing process.例文帳に追加

製造過程での三次元画像の表示品位検査を容易化することができる三次元画像表示装置の検査装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR VISUAL INSPECTION OF ELECTRONIC COMPONENTS AND RECORDING MEDIUM WITH PROGRAM FOR ENABLING COMPUTER TO PERFORM VISUAL INSPECTION PROCESS RECORDED THEREIN例文帳に追加

電子部品の外観検査方法、外観検査装置及び外観検査処理をコンピュータに実現させるためのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁