「defect inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(37ページ目) - Weblio英語例文検索

Therefore, ultrasonic sensors 21, 22 are arranged in the hole 12a for inspection, thus ultrasonically inspecting the defect D occurring at the seal welding section W11.例文帳に追加

このため、検査用穴１２ａに超音波センサ２１，２２を配置することにより、シール溶接部Ｗ１１に発生した欠陥Ｄを、超音波検査することができる。 - 特許庁

To provide a servo pattern inspecting device for magnetic tape, which is suitable for inspection of a defect of a magnetized pattern, recorded on a magnetic tape 1, which is thin and long along the length of the magnetic tape 1.例文帳に追加

磁気テープ１に記録された磁化パターンのうち、磁気テープ１の長手方向の細長い欠陥を検査するのに適した磁気テープのサーボパターン検査装置を得る。 - 特許庁

To provide a pattern-inspecting device for reducing unneeded inspection time caused by the pattern defect of design-side data due to the inconveniences of a design data development circuit.例文帳に追加

設計データ展開回路の不具合による設計側データのパターン欠陥に起因する無駄な検査時間を削減することが可能なパターン検査装置を提供する。 - 特許庁

Then, in an inspected image inspection circuit 44, an inspected image showing the pattern of the other die is compared with the reference image, and a defect candidate included in the inspected image is detected.例文帳に追加

続いて、被検査画像検査回路４４では、他のダイのパターンを示す被検査画像と基準画像とが比較され、被検査画像が有する欠陥候補が検出される。 - 特許庁

A nullifying period-setting circuit 22 signally connected to the output circuit 39 sets a period for nullifying the inspection after the detection of the defect presence and the subsequent restart of the weaving operation.例文帳に追加

出力回路３９に信号接続された無効化期間設定回路２２は、欠点有検出後の製織再開後の検反を無効化する期間を設定する。 - 特許庁

To provide a defect extraction method and a printed wiring board final appearance inspection device, supressing generation of false information due to fluctuation in manufacturing process for an object board to be inspected.例文帳に追加

被検査対象基板の製造工程のバラツキによる虚報の発生をおさえた欠陥抽出手法及びプリント配線板最終外観検査装置を提供すること。 - 特許庁

To protect an inspection coil system from a heating action caused by inspected steel to improve detection sensitivity as to a location and a laying length of a defect portion contained in an inspected material.例文帳に追加

検査コイルシステムを被検査鋼による加熱作用から保護し、被検査材料に含まれている欠陥個所の場所および延在長さに関する検出感度を改善する。 - 特許庁

To provide the inspection equipment that inspects a defect at the edge part of a semiconductor wafer or the like, wherein the scattered light from an edge part of an object being inspected can be detected with surety.例文帳に追加

半導体ウエハ等の縁部における欠陥を検査する検査装置に関し、被検査物の縁部からの散乱光を確実に検出する装置の提供。 - 特許庁

To provide a concrete defect inspection device for easily determining where a crack exists within the concrete and whether or not repair work is needed therefor.例文帳に追加

本発明の目的はコンクリート内部のクラック（亀裂）の存在位置と補修作業の要否を容易に判定することのできるコンクリートの欠陥検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To eliminate defects of a solder ball and a connection defect without requiring mounting facility with high precision and also eliminate man-hours for visual inspection and later adjustment.例文帳に追加

はんだボール及び接続不良による不具合をなくすと共に、高精度な実装設備を不要とし、かつ目視検査及び手直し作業にかかる労力を不要とする。 - 特許庁

In addition to inspection of breaking of a data line and a digital data driver output, it can be decided whether a spot defect is caused by using the inspecting circuit provided on the opposite side of the data line.例文帳に追加

データ線の反対側に設けられた検査回路を用いて、データ線の断線やデジタルドライバ出力の検査の他、点欠陥の有無も判定できるようになる。 - 特許庁

To inspect a circuit wiring while reducing influence of a defect caused in another circuit wiring in inspection of the circuit wiring connected to a short-circuit wiring.例文帳に追加

短絡配線に接続された回路配線の検査において、他の回路配線に生じている欠陥の影響をより低減して回路配線の検査をすること。 - 特許庁

To provide an inspection method capable of determining quality related to a dislocation defect of an SOI wafer before forming a semiconductor element on the SOI wafer.例文帳に追加

ＳＯＩウェーハに半導体素子を形成する前に当該ＳＯＩウェーハの転位欠陥に関する良否の判定を行うことが可能な検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus for defect inspection or the like for detecting various types of defects having different occurring variation in a light route with sufficient accuracy at the same time.例文帳に追加

生じる光線経路の変化が異なる様々な種類の欠陥を一度に十分な精度で検出できる欠陥検査用画像処理装置等を実現する。 - 特許庁

To securely detect luminance unevenness characteristic of an object of inspection to be detected in automatic detection of a picture defect without erroneously detecting illumination unevenness.例文帳に追加

画面欠陥の自動検出において、照度ムラを誤検出することなく、検出しようとする検査対象に固有の輝度ムラを確実に検出可能にする。 - 特許庁

Further, the defect inspection device can calculate a plurality of threshold coefficients, and display the result recalculated using the respective threshold coefficients on the assist tool picture (GUI).例文帳に追加

また、複数個のしきい値係数の算出ができ、アシストツール画面(ＧＵＩ)上にそれぞれのしきい値係数で再算出した結果を表示させることができる。 - 特許庁

The presence of the defect is thereby determined directly based on the evaluation value, and the same type of product is inspected quickly without executing the precision inspection.例文帳に追加

これにより、評価値から欠陥の有無を直接判定することができ、精密検査を行うことなく、素早く次の同じ型の製造物を検査することができる。 - 特許庁

To provide a method for discriminating the presence or absence of defect in welding part which is convenient, allows quick and exact inspection and can be easily operated and a jig for discriminating welding part used therein.例文帳に追加

簡便で、しかも早く、正確に検査することができる操作容易な溶接部の欠陥の有無を判定する方法とそれに使用する溶接部判定治具を得ること。 - 特許庁

To provide a wire surface inspection device capable of detecting accurately a defect such as a flaw or dirt on the surface of a linearly extending wire rod (wire to be inspected).例文帳に追加

線状に伸びる線材（被検査線条）の表面の疵や汚れ等の欠陥を正確に検出することのできる線条表面検査装置を提供すること。 - 特許庁

Since the change print region have the high possibility that the contents desired to be actually transmitted are described, detailed inspection is severely performed to check for a defect in a printed image.例文帳に追加

変更印刷領域は、実際に伝達したい内容が記載されている可能性が高く、検査を厳しく行い、印刷画像に欠陥がないか細かく調べる。 - 特許庁

To provide an electron microscope endowed with functions of direct-image observation of a high throughput by defect inspection of a semiconductor wafer or the like and scanned image observation at a high resolution.例文帳に追加

半導体ウエハ等の欠陥検査による高スループットの直接写像観察と、高分解能での走査像観察機能を備えた電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The defect inspection apparatus 1 includes a coordinate table setting part 6 for setting a coordinate table 6a, which indicate the relation between the irradiating position of a laser light 5a and the order of irradiation.例文帳に追加

欠陥検査装置１は、レーザ光５ａの照射位置とその照射順序との関係を示す座標テーブル６ａを設定する座標テーブル設定部６を有する。 - 特許庁

To prevent a defect in temperature rising work of a refrigerator in the inspection, maintenance, regeneration of a cryopump, or the like by improving the strength of a displacer of the cryogenic refrigerator.例文帳に追加

極低温冷凍機のディスプレーサの強度を向上させ、点検やメンテナンス、又はクライオポンプ等の再生時における、冷凍機の昇温作業時の不具合を防止する。 - 特許庁

To provide a surface defect inspecting apparatus dispensing with the coordinates convertion in a detection system with respect to a rotationally symmetric object and capable of easily performing inspection.例文帳に追加

回転対称な対称物に対して検出系での座標変換を不要とし、検査を容易に行うことを可能とした表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method for solving a problem of requiring a high-rate data transfer means and a high-capacity memory or storage medium when using a configuration for simultaneously detecting images under multiple conditions and integrating them.例文帳に追加

複数条件の画像を同時に検出して統合する構成を用いた場合、高レートのデータ転送手段と大容量のメモリや記憶媒体が必要となる。 - 特許庁

Hereby, more detailed inspection can be made, by supplying only the FPD module D, where a defect is discovered by using the simplified inspecting signal with the analytical signal.例文帳に追加

これにより、簡易検査用信号を用いて欠陥が発見されたＦＰＤモジュールＤのみに解析用信号を供給してより詳細な検査を行うことができる。 - 特許庁

To provide an inspection support system, product manufacturing system and product manufacturing method, capable of suppressing a defect having a risk of occurrence at a shipment destination.例文帳に追加

本発明は、出荷先で発生するおそれがある不良を抑制することができる検査支援システム、製品の製造システムおよび製品の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for inspecting defects that are suitable for defect inspection of a relatively large sample imposed with strict tolerance in the height direction.例文帳に追加

比較的大きな試料であって高さ方向に厳格な公差が課せられる試料の欠陥検査に好適な欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a reflective mask capable of preventing deterioration of defect detection sensitivity in mask pattern inspection while reducing an influence of a flare in exposure.例文帳に追加

露光時のフレアの影響を低減しつつ、マスクパターン検査の際に欠陥検出感度の低下を防止できる反射型マスクおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

In the defect inspection method, the surface of a wafer 7 is photographed by a differential interference microscope, and the number of defects observed on the surface is counted by image processing.例文帳に追加

ウェーハ７の表面を微分干渉顕微鏡で撮影し、画像処理によって表面に観察される欠陥の個数を計数する欠陥検査方法である。 - 特許庁

A temperature measuring instrument 19 measures the temperature on a surface of the inspected object in time sequence and outputs measurement data to a data recording means 13 of a defect inspection controlling apparatus 10.例文帳に追加

温度計測器１９は、被検査体の表面温度を時系列で計測し、計測データを欠陥検査制御装置１０のデータ記録手段１３に出力する。 - 特許庁

Only a defect image part is extracted by a difference processing of an absorption current image of inspection wiring and a reference wiring pattern image, and it is overlapped with an SEM image.例文帳に追加

検査配線の吸収電流像と、基準配線パターン像との差分処理で欠陥像部分のみを抽出し、さらにこれをＳＥＭ像に重畳する。 - 特許庁

To provide a system and method for inspecting and editing a film carrier tape for mounting electronic components capable of continuously and efficiently performing an inner lead inspection step, a defect punch step, and an edit step and reducing the number of workers.例文帳に追加

インナーリード検査工程、不良パンチ工程、編集工程を、連続的にしかも効率良く行うことが可能で、作業員の人数も低減する。 - 特許庁

To provide an inspection device and method which inspects precisely and quickly a defect in an image display panel for displaying images in two or more of different directions.例文帳に追加

異なる２つ以上の方向に画像を表示する画像表示パネルの欠陥を高精度、かつ、高速に検出する検査方法、および、検査装置を実現する。 - 特許庁

This silicon wafer inspection is to inspect the defect that is an aggregate of micro-defects like a colony and the whole defective size is more 0.5 μm or more.例文帳に追加

シリコンウエーハを検査するにあたり、微小欠陥がコロニー状に集合しかつ全体の欠陥サイズが０．５μｍ以上である欠陥を検査することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device having a little degradation of resolution even in image shifting beyond ±75 μm and a defect inspection device having a CAD navigation function interlocking with image shifting function, in a defect inspection device combining a plurality of probes measuring electrical property of samples including minute circuit wiring patterns with a charged particle ray device.例文帳に追加

微細な回路配線パターンを含む試料の電気特性を測定する複数のプローブと荷電粒子線装置とを組み合わせた不良検査装置において、±７５μｍ以上のイメージシフトでも分解能の劣化の少ない荷電粒子線装置と、イメージシフト機能に連動したＣＡＤナビゲーション機能を有する不良検査装置の提供する。 - 特許庁

When performing detection/automatic classification of a defect of the inspection object 1 having a repeated pattern such as a liquid crystal display device or a semiconductor wafer, the repeated pattern is divided beforehand into a plurality domains, and databases 71, 72, 73 for automatic classification differentiated by a domain on the repeated pattern to which a defect portion detected from an inspection image belongs are created.例文帳に追加

液晶表示装置や半導体ウェハ等の繰り返しパターンを持つ検査対象物１の欠陥を検出・自動分類する際、繰り返しパターンを予め複数の領域に分割し、被検査画像から検出された欠陥部位が上記繰り返しパターンのどの領域に属するによって異なった自動分類用データベース７１，７２，７３を作成しておく。 - 特許庁

In inspection of the bare silicon type semiconductor wafer, the semiconductor wafer is evaluated by classifying a projecting defect from a recessed defect by using a laser surface inspection device equipped with one low-angle incident system and two light receiving systems, to thereby enable to evaluate the semiconductor wafer by classifying accurately the adhering particles from the COP on the bare silicon type semiconductor wafer.例文帳に追加

ベアシリコン半導体ウエーハの検査において、１つの低角度入射系と、２つの受光系とを備えたレーザー表面検査装置を用い、凸状欠陥と凹状欠陥を分類して半導体ウエーハを評価することにより、ベアシリコン半導体ウエーハの付着パーティクルとＣＯＰを正確に分類して半導体ウエーハを評価することができる。 - 特許庁

Each TFT identifier 101 is imparted to a mother TFT substrate 3 before casting of a mother TFT substrate manufacturing step 610 to perform processing and defect inspection 611 and each CF identifier 102 is imparted to a mother CF (color filter) substrate 4 before casting of a mother CF substrate manufacturing step 620 to perform processing and defect inspection 621.例文帳に追加

ＴＦＴ識別子１０１をマザーＴＦＴ基板製造工程６１０の投入前のマザーＴＦＴ基板３に付与して各処理及び欠陥検査６１１を行い、ＣＦ識別子１０２をマザーＣＦ（カラーフィルター）基板製造工程６２０の投入前のマザーＣＦ基板４に付与して各処理及び欠陥検査６２１を行う。 - 特許庁

To provide an internal defect inspection device capable of inspecting an internal defect in the depth inside a tunnel lining and easily connecting images, which are obtained by inspecting divided inspection parts of the tunnel lining, together into a final expansion plan in a short time.例文帳に追加

本発明は、トンネル覆工内の深い内部欠陥の検査が可能であり、トンネル覆工の検査部を分割して検査することにより得られたそれぞれの画像を結合して最終的な展開図にする際に、短時間で容易に画像を結合することが可能なトンネル覆工の内部欠陥検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A color image of a region on which the inspection of floating defect of the component electrode 20 is necessary, among the inspection regions determined by every soldering parts in which red, green and blue colors are distributed in the color image, is converted into a grayscale image, and the presence or absence of the floating defect is discriminated by extracting an edge from the image after the conversion.例文帳に追加

カラー画像中で赤、緑、青の各色彩が分布するはんだ付け部位毎に設定された検査領域のうち、部品電極２０の浮き不良の検査が必要な領域を対象に、領域内のカラー画像を濃淡画像に変換し、変換後の画像からエッジを抽出することによって、浮き不良の有無を判別する。 - 特許庁

To provide a drive method and a driving device for a solid-state image pickup element that can enhance accuracy of defect inspection and function evaluation of received pixels by storing signal charges and providing an output at inspection or the like and can prevent read of the signal charges or inspection from being disabled.例文帳に追加

検査時などに信号電荷の蓄積およびその出力を行って受光画素の欠陥検査や機能評価の精度を向上することができると共に、信号電荷の読み出しや検査を行うことができなくなることを解消することができる固体撮像素子の駆動方法および駆動装置を提供する。 - 特許庁

The concentration value in the camera coordinates for inspection acquired in the inspection is transformed into a corresponding coordinates for the inspection corresponding to the each pixel position of the flat panel display, based on the correspondence table 41, and an estimated image corresponding to a luminescent brightness of the flat panel display is formed based on the neighboring concentration distribution to inspect the defect.例文帳に追加

検査時に取得した検査用カメラ座標での濃度値を対応表４１に基づいてフラットパネルディスプレイの各画素位置に対応した検査用対応座標に変換し、近傍濃度分布によりフラットパネルディスプレイの発光輝度に対応する推定画像を形成して欠陥検査を行う。 - 特許庁

To provide a front plate with a peeling film capable of nondestructive defect inspection of a front plate which is used as a component of a display and equipped with at least a substrate, an electrode, and a display material displaying image according to whether a voltage is applied or not or the direction of an applied voltage and to provide its inspection method and its inspection device.例文帳に追加

ディスプレイの部品として用いられ、少なくとも基板と、電極と、電圧の印加の有無又印加されたは電圧の方向により画像を表示する表示材料とを具備する前面板の欠陥検査を非破壊で行うことが可能な剥離フィルム付き前面板、及びその検査方法、検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection method and an ultrasonic inspection device allowing three-dimensional inspection data and three-dimensional shape data to be positioned on a display screen and allowing a defect echo and a shape echo to be quickly identified even when no information on the relative positions of a sensor and an object to be inspected is provided.例文帳に追加

センサと検査対象の相対位置に関する情報が無い場合においても、３次元探傷データと３次元形状データの表示位置合わせを可能にし、欠陥エコーと形状エコーの識別を迅速にできるようにした超音波探傷方法および超音波探傷装置を提供することにある。 - 特許庁