「defect inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(33ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a defect inspecting device that embodies high resolution and a fast inspection speed for a technique for inspecting a pattern on a wafer by using an electron beam.例文帳に追加

電子ビームを用いたウェハ上パターンを検査する技術において、高分解能で、かつ検査速度の高速化を実現する欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

On the other hand, measurement of line width, measurement of overlap and inspection of macro defect are carried out after the substrate is developed and heat-treated and before being returned back to an indexer ID.例文帳に追加

一方、線幅測定、重ね合わせ測定およびマクロ欠陥検査については現像後熱処理の後、インデクサＩＤに戻される前に行われる。 - 特許庁

Thus, even when there is irregularity of the gradation value between the inspection image data and the reference image data, it is possible to correctly judge the defects or defect candidates.例文帳に追加

検査画像内の各画素について、第１の相関関係と第２の相関関係を基にその画素が欠陥を構成しているか否かを判定する。 - 特許庁

The inspection device 1 precisely inspects the defect of the inspected object having tightly arranged patterns (including rotated patterns).例文帳に追加

本検査装置１は、密接配置された絵柄（回転移動した絵柄を含む）を有する検査対象の欠陥を、高精度で検査することが可能である。 - 特許庁

To provide a core wire inspection device of a cable terminal that can exactly inspect whether or not a defect of a strand exists in the core wire exposed to the cable terminal.例文帳に追加

電線端末部に露出させた芯線に素線の欠損があるかないかを確実に検査できる電線端末部の芯線検査装置を提供する。 - 特許庁

To achieve a defect inspection device which can obtain the same image shift amount in all cameras without enlarging the device even if a plurality of cameras are used.例文帳に追加

複数台のカメラを用いても装置が大型化せず、全てのカメラで同一の画像ずらし量を実現できる欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁

To provide a surface inspecting device in which scan images taken at different angles are obtained without degrading efficiency in inspecting an inspection target for increasing accuracy in defect determination.例文帳に追加

被検査体の検査効率を低下させることなく異なる角度の走査画像を取得し、欠陥判定の精度を高める表面検査装置を提供する。 - 特許庁

To acquire not only the position of a defective portion of an inspected body but a defect quantity thereof with high accuracy, as to a method of inspection using a guided wave.例文帳に追加

ガイド波を用いた検査方法において、検査体の欠損部分の位置だけでなく、その欠損量を高精度に得ることができるようにする。 - 特許庁

To provide a defect inspection method capable of relatively easily determining a threshold even when a new product type is added to a manufacturing line.例文帳に追加

製造ラインに新たな製品種別が追加された場合であっても、比較的容易にしきい値を決定することができる欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for defect inspection, capable of reliably detecting defects regardless of the kind of the defects, and to provide a method of manufacturing a pattern substrate.例文帳に追加

欠陥の種別によらず、確実に欠陥を検出する欠陥検査装置、欠陥検査方法、及びパターン基板の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a system capable of determining the defect distribution of an element quickly by an inspection method of a ferroelectric or a piezoelectric body.例文帳に追加

強誘電体または圧電体の検査方法で、短時間で素子の欠陥分布が判明することが可能なシステムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To implement a defect inspection by accurately discriminating bubble-caused projection defects and foreign-matter-caused projection defects from surface roughness on a substrate to be inspected.例文帳に追加

検査対象基板の気泡起因の突起欠陥と、異物起因の突起欠陥と、表面のうねり(ラフネス)を、正確に判別して、欠陥検査を行う。 - 特許庁

To provide a defect inspection device for inspecting an inspecting object under a plurality of lighting conditions while maintaining a high throughput and high sensitivity.例文帳に追加

高いスループット及び高感度を維持しながら、複数の照明条件により検査対象物の検査を行なうことが可能な欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁

The inspection unit blocks are all the same size and area, and their size is determined so it can be covered by performance of defect inspecting devices used in a manufacturing line of the device.例文帳に追加

また、検査単位ブロックは全て同じ寸法面積で、その大きさはデバイスの製造ラインで使用される欠陥検査装置の性能が及ぶ程度にされる。 - 特許庁

A surface defect detector 3 is provided on an inspection line and the surface defects of a cold-rolled steel sheet 1 are detected and input to a marking controller 5.例文帳に追加

検査ラインには表面欠陥検出器３が設けられ、冷延鋼板１の表面欠陥を検出してマーキング制御装置５に入力する。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus for a magnetic tape enabling higher accuracy judgment and assortment of stripes on the magnetic tape which are heretofore impossible with the conventional apparatus.例文帳に追加

従来装置では不可能であった磁気テープ上のスジのより精度の高い判定と仕分けが可能な磁気テープ欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

OPTICAL INSPECTION DEVICE HAVING LENS UNIT WITH AT LEAST A PAIR OF BEAM PATHS INSIDE, AND METHOD OF DETECTING SURFACE DEFECT OF SUBSTRATE USING SAME例文帳に追加

内部に少なくとも一対のビーム経路を有するレンズユニットを具備する光学的検査装置及びこれを用いて基板の表面欠陥を検出する方法 - 特許庁

Then, the defect inspection apparatus is composed so that defects in the part to be inspected are inspected, based on the result of addition and computation by the signal processing means.例文帳に追加

そして、その欠陥検査装置を、前記信号処理手段による加算演算の結果を基に前記被検査箇所の欠陥検査を行うように構成する。 - 特許庁

To provide a display panel in which the leakage between a correction wiring and a data signal line due to step defect, in a lighting inspection step, can be detected surely.例文帳に追加

工程不良による修正配線とデータ信号線との間でのリークを点灯検査段階で確実に検出することのできる表示パネルを実現する。 - 特許庁

Not only the feature variable data but also image data are added as defect data by the inspection apparatus, and the image data can be, for exampled, searched for by an external result confirmation apparatus.例文帳に追加

検査装置で欠陥データとして特徴量データのみならず、画像データを付加し、外部の結果確認装置で画像データの検索等を可能とする。 - 特許庁

The automated defect inspection system 10 has been invented and is used to inspect patterned wafers, whole wafers, broken wafers, partial wafers, waffle packs, MCMs, etc.例文帳に追加

自動化欠陥検査システム（１０）が発明され、これはパターン化されたウェハ、全ウェハ、破損ウェハ、部分ウェハ、ワッフルパック、ＭＣＭなどを検査するために使用される。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of detecting defects where the light intensity felt by the image of inspected object is not much difference from that of a normal section.例文帳に追加

被検査物体像が感じる光強度が正常部とあまり変わらない欠陥を検出することが可能な欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus capable of detecting a focusing position of an oblique detection system and a position of illumination with high accuracy, and setting the position of illumination with high accuracy.例文帳に追加

斜方検出系の合焦位置と照明の位置とを高精度に検出し、照明の位置を高精度に設定可能な欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device capable of rapidly detecting problems by transmitting defect information such as the number of occurred defects in an easily understood manner.例文帳に追加

欠陥の発生数などの欠陥情報を分かり易く伝えることで、問題点の検知を迅速に行うことができる外観検査装置を提供する。 - 特許庁

This automated defect inspection system has been invented and is used to inspect patterned wafers, whole wafers, broken wafers, partial wafers, waffle packs, MCMs, and the like.例文帳に追加

自動化欠陥検査システムが発明され、これはパターン化されたウェハ、全ウェハ、破損ウェハ、部分ウェハ、ワッフルパック、ＭＣＭなどを検査するために使用される。 - 特許庁

To determine a binarization threshold, coping with a brightness fluctuation in various magnetic particle flaw inspection images, reduce misdetections, and attain a high defect detection rate.例文帳に追加

様々な磁粉探傷画像の輝度変動に対応可能な２値化のしきい値の決定して、誤検出を少なくすると共に高い欠陥検出率を実現する。 - 特許庁

The defect inspection device inputs the illuminance distribution of the light detected by the detection optical system, and calculates the thresholds by pixels of the detection optical system based upon the input data.例文帳に追加

検出光学系で検出された光の照度分布を取り込み、取り込んだデータを基に、検出光学系の画素毎にしきい値を算出する。 - 特許庁

The apparatus also includes a defect inspection unit 100 which detects a defective place formed on the board before the board is loaded on the stage 220.例文帳に追加

また、前記基板が前記ステージ２２０にローディングされる前に、前記基板に形成された欠陥の位置を検出する欠陥検査部１００をさらに含む。 - 特許庁

To appropriately calibrate a non-destructive inspection apparatus by fully ensuring a reflection strength of defect echoes FE from a hole bottom surface 33 in a flat-bottomed hole 31.例文帳に追加

平底穴３１の穴底面３３からの欠陥エコーＦＥの反射強度を十分に確保して、非破壊検査装置を適切にキャリブレーションすること。 - 特許庁

To cope with detection/classification of a defect on different patterns photographed at different places of an inspection object, and to improve accuracy of an automatic classification result.例文帳に追加

検査対象物の異なる場所で撮影した違うパターン上の欠陥の検出・分類に対応し、なおかつ自動分類結果の精度を向上させる。 - 特許庁

Accordingly, defect inspection can be performed in the state where a pattern of a polycrystal is not reflected on the image and a density image can be acquired only from a defective spot.例文帳に追加

このことにより、多結晶体の模様が画像に映ることがないようにし、欠陥個所のみ濃淡のある画像を得ることにより欠陥検査を行う。 - 特許庁

To aim at improvement of image recognition when a defect of a pin mounted on a base is detected by an image processing so as to enhance accuracy and efficiency of pin inspection.例文帳に追加

画像処理によって、口金に取り付けられたピンの不良を検出する場合の画像認識性向上を図り、ピンの検査の精度、効率を高める。 - 特許庁

To provide a mask inspection method and an apparatus therefor in which a defect can be detected stably even in a region where surface roughness varies.例文帳に追加

表面ラフネス（roughness）が変化している領域においても、安定して欠陥を検出することができるマスク検査方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of replenishing the learning pattern of a neural network and capable of enhancing the recognition ratio to non-learned data.例文帳に追加

ニューラルネットワークの学習用パターンの不足を補い、また、未学習データに対する認識率を高めることができる欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁

In this defect inspection method, while moving a wafer, illumination having each different illuminance is irradiated to each measuring domain on the wafer (S1), and each measuring domain is imaged (S2).例文帳に追加

ウェハを移動させながら、ウェハの各測定領域に対して異なる照度の照明を照らし（ステップＳ１）、各測定領域を撮像する（ステップＳ２）。 - 特許庁

To support the execution of sure inspection of all parts to be inspected without omission, and without missing a defect unnoticeable by only observation from the front.例文帳に追加

全ての要検査部位を脱落なく、かつ正面からの観察だけでは分からない不良をも見逃すことなく、確実な検査を行えるように支援すること。 - 特許庁

To evaluate a defect signal from data in flaw detection tests directly and easily, and to reduce inspection time without being affected by noise generated in lift-off.例文帳に追加

探傷試験時のデータから直接簡便に欠陥信号を評価し、リフトオフ時に生ずるノイズに影響されず、かつ、検査時間の短縮を実現する。 - 特許庁

One method for binning defects includes binning defects into groups based on defect characteristics and the sets of inspection data in which the defects were detected.例文帳に追加

欠陥をビン分類する一方法は、欠陥の特性、及び、これらの欠陥が検出された検査データの組に基づいて、これらの欠陥をグループにビン分類する。 - 特許庁

To provide a mask blank inspection device and method capable of inspecting accurately and simply existence and the kind of a defect of a reflective mask blank.例文帳に追加

反射型マスクブランクの欠陥の存在および種類を正確かつ簡便に検査することができるマスクブランク検査装置および方法を提供する。 - 特許庁

Then, in a third inspection step, the relative positions (X181, Y181) within the pixels of the critical defect 181 and an effective range 2 is examined.例文帳に追加

次いで、第３検査工程において、致命欠陥１８１の画素内相対位置（Ｘ１８１，Ｙ１８１）および有効範囲Ｚを光学検査により調べる。 - 特許庁

To provide a technique for detecting a critical defect quickly by executing an efficient inspection to each group of patterns on a substrate.例文帳に追加

基板上のそれぞれのパターン群に対し効率的な検査を実施し、致命性のある欠陥を短時間で検出することができる技術を提供する。 - 特許庁

To provide an electrooptical device wherein existence of point defect or the like can be easily determined by full lighting inspection before cutting short circuit lines.例文帳に追加

短絡配線を切断する前に全点灯検査により点欠陥等の有無を容易に判断できるようにした電気光学装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method of a rolling device component capable of accurately inspecting whether a defect exists inside the rolling device component such as a raceway ring.例文帳に追加

軌道輪等の転動装置部品の内部に欠陥が存在するか否かを精度よく検査することのできる転動装置部品の検査方法を提供する。 - 特許庁

To efficiently implement an appearance inspection for a transfer mold formed from a translucent material such as glass, etc., without degrading a detection rate of defect locations.例文帳に追加

ガラス等の光を透過する素材で作成された転写用型の外観検査を、不具合箇所の検出率を低下させることなく、効率よく行う。 - 特許庁

To eliminate human judgment mistake by automating judgment on the existence/absence of necessity of replacing parts and the existence/absence of a defect in maintenance and inspection for an oxygen concentrator.例文帳に追加

酸素濃縮器の保守点検における部品交換の必要の有無，不具合の有無等の判断を自動化し，人間の判断ミスをなくす。 - 特許庁