etchを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 916件
Concretely the mask is changed from a specific structure characteristic for determining a specific parameter by a method of being in inverse proportion to the etch profile.例文帳に追加
具体的に説明すると、マスクは、均一が望ましいような特定のパラメータを決定する特定の構造体特性に対し、エッチプロファイルに反比例する方法でマスクを変化させる。 - 特許庁
To provide a chemical substance sensing technique based on a fiber grating and superior in flexibility, without requiring to etch the fiber cladding or to mechanically deform the fiber grating.例文帳に追加
ファイバ格子に基づくが、ファイバクラッディングをエッチングすること又はファイバ格子の形状を機械的に変形することを必要としない融通性に優れた化学物質感知技術を提供する。 - 特許庁
A silicon nitride oxide film 3a and a silicon nitride film 2 after the reduction process are used as a mask to etch the silicon substrate 1, thereby forming the trench on a principal surface of the silicon substrate 1.例文帳に追加
還元処理後のシリコン窒化酸化膜3aとシリコン窒化膜2とをマスクとしてシリコン基板1をエッチングすることにより、シリコン基板1の主表面にトレンチを形成する。 - 特許庁
An edge based image transfer process includes depositing an etch-masking medium, for example, a nitride on the sidewall of a mesa and removing the mesa so as to leave the sidewall structure.例文帳に追加
エッジ・ベースのイメージ転写プロセスは、メサの側壁上にエッチマスキング媒体を、例えば、窒化物を付着させることと、メサを除去させることを含み、それにより側壁構造が残される。 - 特許庁
To etch a polysilicon gate into which an element which does not generate a volatile compound, for example ytterbium (Yb), is implanted, during conventional reactive-ion etching.例文帳に追加
本発明は、従来の反応性イオンエッチングの間、揮発性の化合物を生成しない元素、例えばイットリビウム(Yb)が注入されたポリシリコンゲートをエッチングすることを目的とする。 - 特許庁
Features are etched into the etch layer through the sidewall layer, and have widths that are smaller than the widths of the spaces defined by the etched first mask.例文帳に追加
前記エッチレイヤ中に前記側壁レイヤを通して特徴がエッチングされ、前記特徴は前記エッチングされた第1のマスクによって定義される前記スペースの前記幅よりも小さい幅を有する。 - 特許庁
A plurality of antennas are formed on a substrate by using a sticky adhesive that is peeled off by heating and/or electromagnetic wave irradiation to etch metal foil stickily adhered to the substrate (2).例文帳に追加
(2)加熱および/または電磁波照射により剥離する粘接着剤を用いて基材に粘接着した金属箔をエッチングして前記基材上に複数のアンテナを形成する。 - 特許庁
Plasma is generated so as to etch the chrome thin film 22 as chlorine gas as reactive gas, oxygen gas, and saturated hydrocarbon gas are introduced into a vacuum atmosphere.例文帳に追加
本発明のエッチング方法では、反応ガスである塩素ガスと、酸素ガスと、飽和炭化水素ガスとを真空雰囲気に導入しながら、プラズマを発生させてクロム薄膜22をエッチングする。 - 特許庁
The wafer edge etching method is to etch a semiconductor wafer including a bottom electrode serving as a stage disposed below the semiconductor wafer for supporting the semiconductor wafer.例文帳に追加
半導体ウェーハ下に配列され、前記半導体ウェーハを支持するステージの役割を行うボトム電極を含む半導体ウェーハのエッジをエッチングするためのウェーハエッジエッチング方法である。 - 特許庁
Microwaves are guided from a waveguide 16 into the ion gun chamber 13 to ionize the mixture gas and to etch the crystalline substrate 11 for the required time found from the above calculation.例文帳に追加
そして、導波管16よりイオン銃室13内にマイクロ波を導入し上記混合ガスをイオン化して、結晶基板11を上記計算で求めた所要時間だけエッチングする。 - 特許庁
Alternatively, the chemical amplified negative resist pattern formed on the surface of the amorphous carbon film is peeled off, by using an alkali solution which will not substantially etch amorphous carbon.例文帳に追加
または、アモルファスカーボン膜表面に形成された化学増幅型ネガレジストパターンを、アモルファスカーボンを実質的にエッチングしないアルカリ溶液を用いて該化学増幅型ネガレジストパターンを剥離する。 - 特許庁
By using a liquid agent containing the stable hexavalent iron ion to etch a resin 12, an etched material 13 having excellent adhesion property equivalent to chromic acid etching can be obtained.例文帳に追加
また、この安定した六価鉄イオンを含有する液剤を用いて樹脂12にエッチングを行うことにより、クロム酸エッチングと同等の密着性の優れたエッチング材13を得ることができる。 - 特許庁
To provide an aluminum material for electrolytic capacitor electrodes, which can surely increase a surface area and gives higher capacitance, by generating high-density deep etch pits uniformly.例文帳に追加
深いエッチングピットを高密度かつ均一に発生させて確実に拡面率を高め、静電容量のさらなる増大を図ることができる電解コンデンサ電極用アルミニウム材を提供する。 - 特許庁
This method for processing the quartz surface is to cut out a quartz wafer from a quartz block, grind the surface of the quartz wafer, wash the quartz wafer with the acid and then etch the surface of the quartz wafer.例文帳に追加
水晶ブロックから水晶ウェハを切り出し、前記水晶ウェハの表面を研磨し、前記水晶ウェハを酸により洗浄し、前記水晶ウェハの表面をエッチングする。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing a semiconductor device, in which manufacturing process can be simplified by employing TaC as a material for a mask used to etch SiC.例文帳に追加
TaCをSiCのエッチングを行なうためのマスクの素材として採用可能とすることにより、製造工程を簡略化することが可能な半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
Moreover, when starting CMP or etch back in a state where a conductive film is vapor deposited on the whole surface after the contacts 25 are formed, the contacts 25 are etched to the heights of mask layers.例文帳に追加
また、ビットライン用コンタクトを形成し、全面に導電膜を蒸着した状態でCMPまたはエッチバックを進行する時にマスク層の高さまでビットライン用コンタクトを蝕刻する。 - 特許庁
To provide a method to form silicon dioxide films that have an extremely low wet etch rate in HF solution using a thermal CVD process, ALD process or cyclic CVD process.例文帳に追加
熱CVDプロセス、ALDプロセス又はサイクリックCVDプロセスを用いてHF溶液中で極めて低いウェットエッチ速度を有する二酸化ケイ素膜を形成するための方法を提供する。 - 特許庁
In the method for evaluating the Ni contamination in the silicon wafer, the silicon wafer is cleaved, the cleaved silicon wafer is heat-treated, selection etching is made to the cleaved surface of the silicon wafer for forming a shallow etch pit (shallow pit), and the Ni contamination in the silicon wafer is evaluated by observing the shallow etch pit formed on the cleaved surface.例文帳に追加
シリコンウエーハのNi汚染を評価する方法であって、前記シリコンウエーハを劈開し、該劈開したシリコンウエーハに熱処理を行った後、シリコンウエーハの劈開面に選択エッチングを行って浅いエッチピット(シャローピット)を形成し、該劈開面に形成された浅いエッチピットを観察することによってシリコンウエーハのNi汚染を評価することを特徴とするシリコンウエーハのNi汚染の評価方法。 - 特許庁
The manufacturing method includes: a first step to etch a bulk substrate so as to form at least one floating body pattern; a second step to etch a bulk area beneath the floating body pattern so as to divide the bulk substrate into a substrate area and a floating body area; and a third step to fill an area between the floating body area and the substrate area with an insulating material.例文帳に追加
バルク基板をエッチングして少なくとも一つのフローティングボディーパターンを形成する第1工程と、フローティングボディーパターン下部のバルク領域をエッチングして、バルク基板を基板領域とフローティングボディー領域とに分離する第2工程と、フローティングボディー領域と基板領域との間を絶縁物質で満たす第3工程と、を含む半導体基板の製造方法。 - 特許庁
The apparatus includes: a print roller device of a roll shape around which a blanket is wound; a spray device located around the print roller device for spraying an etch resist solution to the blanket; and a print plate of an engraved shape where a groove of a desired thin film shape and a projected part except the groove are formed, and the etch resist solution has a surfactant inclusive of an ethylene oxide fluorinated polymer material.例文帳に追加
本発明によるブランケットが巻回されたロール状の印刷ローラ装置と、前記印刷ローラ装置の周辺に位置し、前記ブランケットにエッチングレジスト溶液を噴射する噴射装置と、所望の薄膜状の溝と、前記溝を除いた突出部が形成された凹版印刷版とを備え、前記エッチングレジスト溶液は、エチレンオキサイドフルオリネートポリマー系物質を含む界面活性剤と、を含む。 - 特許庁
Another method is the one of filling a small recess such as a narrow and deep trench and a small-diameter and deep hole with a copper CVD using a catalyst, and the one of forming a very thin film on an uppermost flat portion so that elimination is performed in preparation for a subsequent step by a dry or wet etch-back or high-temperature plasma etch-back step.例文帳に追加
ここに提示された他の方法は、狭くて深いトレンチと小径で深いホールのような小さな陥没部を触媒を使用した銅CVDで充填する方法であり、湿式または乾式エッチバックまたは高温プラズマエッチバック工程により後続工程段階に備えて除去されるように扁平な最上部の表面に非常に薄い薄膜を形成する方法である。 - 特許庁
The method of controlling dimensions of structures formed on the substrate using the etching process includes a step 204 of measuring pre-etching dimensions of the respective elements of a patterned etching mask, a step 206 of adjusting the process recipe of the etching process using the results of the pre-etch measurements, and a step 208 of adjusting the process recipe of the etching process, using the patterned etch mask.例文帳に追加
エッチングプロセスを用いて基板上に形成された構造物の寸法を制御する方法がパターン化されたエッチングマスクのそれぞれの素子のエッチング前の寸法を測定するステップ204、前記エッチング前の測定結果を用いてエッチングプロセスのプロセスレシピを調整するステップ206及びパターン化されたエッチングマスクを用いてエッチングプロセスを行い、プロセスレシピを調整するステップ208を有する。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a color filter of high quality with a printing method using a deep-etch plate without generating color irregularity in forming a black matrix or in forming a pattern of transparent coloring pixels.例文帳に追加
ブラックマトリクスの形成又は透明着色画素のパターン形成について平凹版を用いた印刷法により色むらが生じないように高品質なカラーフィルタを形成できる、カラーフィルタの製造方法。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a film transistor in which an etch stop material remains in a source/drain isolation etching process, and which solves a problem of deterioration of source/drain interface characteristics, and decreases the required number of optical masks.例文帳に追加
ソース/ドレーン分離エッチングプロセスでエッチストップ材質が残留し、ソース/ドレーンインターフェース特性が悪くなる問題を解消し、必要な光マスク数を減少するフィルムトランジスタ製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a heater holding superior temperature uniformity on a wafer, while minimizing the possibility of deterioration and breakdown during operation, and exhibiting superior etch-resistance during the lifetime extended in operation.例文帳に追加
操作中の劣化や分解の危険を最小にし、操作において延長された寿命中に優れた耐腐食性を示しつつ、ウェーハ上で良好な温度均一性を保持するヒータを提供する。 - 特許庁
Then the resist pattern 43 is used as a mask to etch the substrate 41 as shown in (d), and the resist film pattern 43 is peeled from the substrate 41 as shown in (e) to obtain a pattern 41a with two surface levels.例文帳に追加
(d)に示すように、レジスト膜パターン43をマスクとして基板41をエッチングし、(e)に示すように、基板41からレジスト膜パターン43を剥離すると2段形状のパターン41aを得る。 - 特許庁
To provide a semiconductor manufacturing apparatus, such as an etching semiconductor apparatus operable to etch a silicon nitride film, which enables a longer service life of phosphoric acid solution by preventing the reduction in the moisture density, and keeping a boiling power for a longer time.例文帳に追加
水分濃度低下を防ぎ、沸騰力を長く持続させたリン酸水のライフ長期化が可能なシリコン窒化膜をエッチングするエッチング半導体装置などの半導体製造装置を提供する。 - 特許庁
By heating and controlling the temperature of the quartz dome 2A at a high temperature, sticking of a deposit preventing release of oxygen from a wall surface is prevented, and the deposit on the bottom of a hole causing etch-stop is removed with oxygen.例文帳に追加
石英ドーム2Aの温度を高温に加熱制御することで、壁面からの酸素の放出を妨げるデポ物の付着を妨げ、エッチストップを発生させるホール底のデポ物を酸素により除去する。 - 特許庁
A side etch is formed on the channel stopper layer 150 to thereby expose the peripheral part of the poly-Si layer 107 from the channel stopper layer 150, and use this region as contact with an n+Si layer.例文帳に追加
チャネルストッパ層150にサイドエッチを形成することによって、poly−Si層107の周辺部をチャネルストッパ層150から露出させ、この領域をn+Si層とのコンタクトに用いる。 - 特許庁
In addition, since the sidewall nitride film is formed on the sidewall of the bit line 6 without requiring an etch-back process, the nitride film having a constant film thickness can be formed on the sidewall of the bit line 6 as compared with the SAC structure.例文帳に追加
また、エッチバックを必要とせずに、ビット線6の側壁に窒化膜を形成するため、 SAC構造に比べて、ビット線6の側壁に一定の膜厚を有する窒化膜を容易に形成できる。 - 特許庁
To provide an aqueous composition which is used to remove bulk photoresists, post-etch and post-ash residues, residues from Al back-end-process interconnection structures, and contaminants; and a method for using the composition.例文帳に追加
本発明はバルクフォトレジスト、ポストエッチ及びポストアッシュ残渣、Alバックエンド工程相互接続構造からの残渣、並びに混入物を除去するための水系配合物及びそれを使用する方法に関する。 - 特許庁
To provide a semiconductor device manufacturing method wherein an object film formed on a substrate such as a silicon wafer is patterned into a specified shape by using a masking material high in etch resistance.例文帳に追加
高いエッチング耐性を持ったマスク材を用い、シリコンウェハーなどの基板上に形成した被加工膜を所定の形状にパターニングすることが可能となる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method for etching an oxide film which can suitably etch the oxide film on a substrate with a high selectivity ratio and can make vertical via holes in the oxide film.例文帳に追加
基板上の酸化膜を高い選択比で良好にエッチングすることができ、酸化膜に垂直形状のビアホールを形成することができる酸化膜のエッチング方法を提供することを課題とする。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a semiconductor device which can suppress missing of a TiN film in an etch-back step after deposition of a tungsten film when a tungsten plug is buried into a connection hole.例文帳に追加
接続孔内にタングステンプラグを埋め込む際、タングステン膜を堆積した後のエッチバック工程でTiN膜が抜けてしまうことを抑制できる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
An etch pit density at the front surface of the semiconductor substrate 1 existing in the region A just under the pad electrode 2 in vertical is 0 or 3×10^4 /cm^2 or more but 6×10^4 /cm^2 or less.例文帳に追加
パッド電極2の垂直真下の領域Aに存在する半導体基板1の表面のエッチピット密度が0または3×10^4/cm^2以上6×10^4/cm^2以下である。 - 特許庁
To provide a fine processing treatment agent and a method for a fine processing treatment using the agent capable of effecting a fine processing treatment on a film stack of a tungsten film and a silicon oxide film through controlling an etch rate.例文帳に追加
タングステン膜及びシリコン酸化膜の積層膜に対して、エッチレートを制御して微細加工処理をすることが可能な微細加工処理剤、及びそれを用いた微細加工処理方法を提供する。 - 特許庁
To provide an optical coupling apparatus that forms an etch structure complex having a total reflection surface/an anti-reflection surface within a substrate to improve coupling efficiency with incident light and responsivity of an optical sensing element.例文帳に追加
基板の内部に全反射/無反射面を備えるエッチング構造複合体を形成して入射光との結合効率および光検出素子の感度を向上させた光結合装置を提供する。 - 特許庁
The method includes: a step of etching the surface of the ZnO-based compound crystal using hydrofluoric acid (HF); and a detecting step of detecting etch pits formed on the surface of the ZnO-based compound crystal.例文帳に追加
フッ化水素酸(HF)を用いてZnO系化合物結晶の表面をエッチングする工程と、ZnO系化合物結晶の表面に形成されるエッチピットを検出する検出工程を有する。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a semiconductor device, which can reduce variation of a side etch amount by suppressing variation of quality of a Cu film of an under-bump metal, and to provide a device for manufacturing the same.例文帳に追加
アンダーバンプメタルのCuの膜質のバラツキを抑制してサイドエッチ量のバラツキを低減する半導体装置の製造方法及び半導体製造装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
Next, a first resist layer 27 opening on the fuse layer 18T is used as a mask to etch the second passivation film 26 to a midpoint in the thickness direction of a third insulating film on the fuse layer 18T.例文帳に追加
次に、ヒューズ層18T上で開口する第1のレジスト層27をマスクとして、ヒューズ層18T上で第2のパッシベーション膜26から第3の絶縁膜の厚さ方向の途中までをエッチングする。 - 特許庁
Simultaneously with beam illumination of a work piece, a deposition or etch precursor gas is co-injected or premixed with a purification compound and (optionally) a carrier gas prior to injection into a process chamber.例文帳に追加
加工物にビームを照射すると同時に、付着前駆体ガスまたはエッチング前駆体ガスを、純化化合物およびキャリヤ・ガス(任意選択)とともに、または、予め混合してから、処理室内へ噴射する。 - 特許庁
Then resist is subjected to an etch-back process on the entire surface under conditions of reducing a gap between adjacent lenses so as to transfer the resist pattern to the base lens material to form a lens array 22A having reduced gaps.例文帳に追加
この後、隣接するレンズの間隔を縮小させる条件で全面エッチバック処理を行い、レジストパターンを下地のレンズ材に転写し、ギャップを縮小したレンズアレイ22Aを形成する。 - 特許庁
Then, after setting the support substrate 20 on a stage 60, the stage 60 is turned while applying an etchant 55 onto the ground second face 10b of the semiconductor wafer 10 to spin-etch the semiconductor wafer 10.例文帳に追加
次に、支持基板20をステージ60に取り付けた後、研削された半導体ウエハ10の第2の面10bにエッチング液55を塗布しつつステージ60を回転させることで、スピンエッチングを行う。 - 特許庁
To provide a reactive ion etching device capable of facilitating etching in microfabrication on a width of 0.3 μm or smaller without causing etch stop by using magnetic neutral loop discharge.例文帳に追加
本発明の課題は、0.3μm幅以下の微細加工においてエッチストップを発生させることなくエッチングできる磁気中性線放電を利用した反応性イオンエッチング装置を提供することにある。 - 特許庁
At that time, on the surface of an exposure part 4 of the convex part 2 exposed from the resist 5, the gas molecules 6 are dissociated by the radiated propagation lights through a heat insulation process, so as to etch the exposure part 4.例文帳に追加
このとき、凸部2のレジスト5からの露出部4の表面において、照射した伝搬光によりガス分子4を断熱過程を経て解離させることによって露出部4がエッチングされる。 - 特許庁
The device 1 for etching the semiconductor wafer, which supplies an etchant to a surface of the wafer to etch the surface, includes a reaction operation device 20 which operates etching reaction by positions on the wafer surface.例文帳に追加
ウェーハ表面にエッチング液を供給してエッチングを行なう半導体ウェーハのエッチング装置1において、エッチング反応をウェーハ表面の位置ごとに操作する反応操作装置20を備える。 - 特許庁
To provide an etching solution which is free from the time change of turbidity, has excellent storage stability, has no etching fatigue in etching, and has excellent etching precision and just etch time properties compared with the conventional chromium etching solution.例文帳に追加
従来のクロムエッチング液よりも、液濁りの経時変化がなく、保存安定性に優れ、かつ、エッチング時に、エッチング疲労がなく、エッチング精度およびジャストエッチタイム性が優れたエッチング液の提供。 - 特許庁
The discharge head section 12 and the XY table 14 are so controlled by a controller 40 that the etchant may be discharged and applied to the desired part of the processed member to etch that part.例文帳に追加
吐出ヘッド部12とXYテーブル14とは、制御装置40によって制御され、被処理部材の所望位置にエッチング液を吐出して塗布し、その部分をエッチングできるようになっている。 - 特許庁
After the flattening operation, the etching stopper film remaining on the silicon oxide film is used as a mask to etch the silicon oxide film, and using this silicon oxide film and the gate electrode as masks, ion is implanted into the silicon layer.例文帳に追加
平坦化後、シリコン酸化膜上に残ったエッチングストッパ膜をマスクとして、シリコン酸化膜のエッチングを行い、このシリコン酸化膜、及び、ゲート電極をマスクとして、シリコン層にイオン注入を行う。 - 特許庁
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