例文 (738件) |
"diffusion region"を含む例文一覧と使い方
該当件数 : 738件
Under a field separation film 14, a P type diffusion region 7 is discretely formed in the direction across the direction where a current flows in on-state.例文帳に追加
フィールド分離膜14の下に、オン状態において電流が流れる方向と交差する方向に沿って離散的にP型拡散領域7が形成されている。 - 特許庁
Between the contact regions 6 in the well resistance region 4, a P^+ diffusion region 14 is formed to adjust a resistive value and a temperature dependency of the resistive element.例文帳に追加
ウェル抵抗領域4内のコンタクト領域6の間に、この抵抗素子の抵抗値及び温度依存特性調整用のP^+拡散領域14が形成されている。 - 特許庁
Moreover, two memory elements adjoining each other in the same column also own jointly the diffusion region 1107 disposed in the area between the gate electrodes of the memory elements.例文帳に追加
更に、同一列で隣り合う2つのメモリ素子も、この2つのメモリ素子のゲート電極間の領域に配置された拡散領域1107を共有している。 - 特許庁
Therefore, the transfer characteristics and overflow characteristics of the signal charge are not heavily influenced even if locations, where each impurity diffusion region is formed, vary during manufacturing process.例文帳に追加
従って、製造工程において各不純物拡散領域の形成位置がばらついても、信号電荷の転送特性やオーバーフロー特性にはあまり影響しない。 - 特許庁
A flash EEPROM has such a structure where a well diffusion region is formed on a semiconductor substrate, and furthermore a low- concentration layer is formed on the surface of the well diffusion layer.例文帳に追加
フラッシュEEPROMの構造で、ウェル拡散領域が半導体基板に形成され更にこのウェル拡散領域表面に低濃度層が設けられる。 - 特許庁
The field drain portion is an insulator formed in the semiconductor substrate under the gate electrode so as to be interposed between the gate electrode and the drain diffusion region.例文帳に追加
フィールドドレイン部は、ゲート電極とドレイン拡散領域との間に介在するように、ゲート電極の下方の半導体基板中に形成された絶縁体である。 - 特許庁
To obtain a memory cell of SRAM comprising a well contact cell and a memory cell in which disturbance of periodicity is suppressed in the layout of pattern of a diffusion region or a polysilicon layer.例文帳に追加
ウェルコンタクトセルとメモリセルとを有するSRAMのメモリセルにおいて、拡散領域やポリシリコン層等のパターンのレイアウトの周期性が乱れるのを抑制する。 - 特許庁
To provide a CMOS image sensor and its manufacturing method, in which a shallow surface diffusion region is formed on the surface of a HAD region on an N-type photodiode.例文帳に追加
N型のフォトダイオード上にあるHAD領域の表面に浅い表面拡散領域が形成されているCMOSイメージセンサー及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
The third activation treatment is carried out under the condition that the impurity concentration distribution gradient of the P-N junction be steeper than that of the first impurity diffusion region.例文帳に追加
そのpn接合部における不純物濃度分布勾配が、第1の不純物拡散領域よりも急峻になる条件で第3の活性化処理を行う。 - 特許庁
In a CH1 side photothyristor and a CH2 side photothyristor, a shot key barrier diode 44 is formed between a p-gate diffusion region 33 and an n-type silicon substrate 31.例文帳に追加
CH1側のフォトサイリスタとCH2側のフォトサイリスタとにおいて、Pゲート拡散領域33とN型シリコン基板31との間にショットキーバリアダイオード44を形成している。 - 特許庁
Two diodes constituting a bridge rectification circuit are formed in each of two regions, and each diode is separated from surroundings by a p-type separation diffusion region.例文帳に追加
2つの領域には、ブリッジ整流回路を構成するダイオードが2つずつ形成されており、各ダイオードは、P型の分離拡散領域によって、周囲から分離されている。 - 特許庁
Thus, it is possible to reduced the influence of the code ion implantation on the low threshold transistor (a cell C under consideration) of a code ion implantation impurity diffusion region 3'.例文帳に追加
これにより、コードイオン注入によるコードイオン注入不純物拡散領域3’の低閾値トランジスタ(注目セルC)への影響を低減することが可能となる。 - 特許庁
To suppress the short channel effect in forming pocket regions on a semiconductor substrate without increasing the junction capacitance between a source-drain diffusion region and the semiconductor substrate.例文帳に追加
半導体基板にポケット領域を形成する場合に、ソース・ドレイン用拡散領域と半導体基板間の接合容量を増大させることなく、短チャネル効果を抑制する。 - 特許庁
The electrode wing line 117 is formed on the thermal oxidation film 107, and the other end side of the electrode wiring is electrically connected to the p-type impurity diffusion region 109.例文帳に追加
電極配線117は、熱酸化膜107上に形成されており、その他端側の部分がp型不純物拡散領域109に電気的に接続されている。 - 特許庁
A MOS transistor is equipped with an n^+-source region 7, an n^+-drain region 8, and a gate electrode 6, and a p-type diffusion region 14 of an n-channel stopper is arranged around the MOS transistor.例文帳に追加
N+ソース領域7、N+ドレイン領域8、ゲート電極6を備えたMOSトランジスタ周辺にNチャネルストッパのP型拡散領域14が配置される。 - 特許庁
A contact plug 40, which is electrically connected to an impurity diffusion region between sidewalls of two adjacent memory cells 1, is provided by penetrating an interlayer insulation film 18.例文帳に追加
隣り合う2つのメモリセル1のサイドウォール間の不純物拡散領域に電気的接続されるコンタクトプラグ40が、層間絶縁膜18を貫通して設けられている。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a semiconductor device capable of stabilizing an electrical resistance between a capacitor and dopant diffusion region of a transistor low and decreasing the number of processes.例文帳に追加
キャパシタとトランジスタの不純物拡散領域との間の電気抵抗を低く安定化し得て、工程数を削減し得る半導体装置の製造方法の提供。 - 特許庁
The semiconductor device 20 has an internal circuit 1 including an NMOS transistor 31, and an electrostatic protection circuit including a protection element 41 having a p-type well diffusion region 11 and a pair of n-type regions 12a and 12b opposed to each other at a predetermined mutual interval in the p-type well diffusion region 11.例文帳に追加
この半導体装置20は、NMOSトランジスタ31を含む内部回路1と、p型ウェル拡散領域11と、そのp型ウェル拡散領域11内において互いに所定の間隔を隔てて対向する一対のn型領域12aおよび12bとを有する保護素子41を含む静電気保護回路2とを備えている。 - 特許庁
To provide a high-voltage transistor whose source/drain diffusion region can become a double diffusion drain junction structure, without forming a space oxide film by using a silicon nitride film as a protection film at impurity implantation, and for which the source/drain diffusion region of a more stabilized double diffusion structure can be formed by a one-time pattern process and an ion implantation process.例文帳に追加
高電圧用トランジスタの製造方法においてシリコン窒化膜を不純物注入時に防護膜とすることによってスペース酸化膜を形成しなくてもソース/ドレイン拡散領域を二重拡散ドレインジャンクション構造とし一度のパターン工程及びイオン注入工程により安定した二重拡散構造のソース/ドレイン拡散領域を形成する。 - 特許庁
To provide an epitaxial substrate for an electronic device that can improve crystallinity of a group III nitride semiconductor grown above an aluminum diffusion region by providing the aluminum diffusion region in a predetermined region of a silicon substrate and setting surface roughness within a proper range and a method of manufacturing the same, and an epitaxial substrate for a group III nitride electronic device.例文帳に追加
シリコン基板の所定領域にアルミニウム拡散領域を設け、表面粗さを適正範囲に設定することにより、その上方に成長されるIII族窒化物半導体の結晶性を向上させることができる電子デバイス用エピタキシャル基板およびその製造方法ならびにIII族窒化物電子デバイス用エピタキシャル基板を提供する。 - 特許庁
With an MOS type capacitor employed as a variable capacity element, a second conductive type diffusion region 15 is provided which covers a first conductive type high-concentration diffusion region 3 constituting a substrate electrode except for the vicinity of the end of a gate insulating film 5, so that a variable resistor is formed within the substrate electrode to enhance the capacitor change coefficient.例文帳に追加
可変容量素子をMOS型コンデンサとし、基板電極を構成する第1導電形の高濃度拡散領域3の周囲のうち、ゲート絶縁膜5の端付近以外を被う第2導電形の拡散領域15を設けることにより、基板電極内に可変抵抗部分を形成して、容量変化率を助長する。 - 特許庁
Further, a P^-- diffusion region 52 having a concentration lower than that of the P^- body region 41, and the P diffusion regions 51 is formed to be in contact with the end of the gate trench 21 in the longitudinal direction thereof.例文帳に追加
また,ゲートトレンチ21の長手方向の端部と接し,P^- ボディ領域41およびP拡散領域51よりも低濃度のP^--拡散領域52が形成されている。 - 特許庁
To provide a solid-state imaging device in which color mixture is prevented by utilizing arrangement of a capacitor region separately provided from a floating diffusion region, and to provide a camera using the solid-state imaging device.例文帳に追加
フローティングディフュージョン領域と別に設けたコンデンサ領域の配置を活用して混色を防ぐことができる固体撮像装置及びその固体撮像装置を用いたカメラを提供する。 - 特許庁
In the first impurity diffusion region 33, a band gap is expanded by impurity diffusion to suppress heat generation by light absorption and to prevent the deterioration caused from the side of the ridge 20.例文帳に追加
第1不純物拡散領域33では、不純物拡散によりバンドギャップが拡大し、光吸収による発熱が抑えられ、リッジ部20の側面からの劣化が抑制される。 - 特許庁
Display light output from a projection optical system 11 is image-formed at a diffusion region 13a of a screen 13, and is reflected and magnified by a concave mirror 15 to be projected onto a windshield 21.例文帳に追加
投射光学系11から出力された表示光は、スクリーン13の拡散領域13aにて結像し、凹面鏡15で反射拡大され、ウインドシールド21に投射される。 - 特許庁
That is, when a signal charge is transferred from the impurity diffusion region for electric charge storage to the charge detection part, a potential barrier is not generated between both thereof and complete transfer is realized.例文帳に追加
即ち、電荷蓄積用不純物拡散領域から電荷検出部に信号電荷を転送するときに、両者の間に電位の障壁は生じず、完全転送を実現できる。 - 特許庁
To easily form a correction pattern effective for preventing the deformation of a gate size occurring in the level difference portion consisting of a boundary between the diffusion region and element separation region of a transistor(TR).例文帳に追加
トランジスタの拡散領域と素子分離領域との境界からなる段差部分に起因したゲート寸法の変形を防止する有効な補正パターンを簡便に生成できるようにする。 - 特許庁
To provide a semiconductor device suppressed with the decline in the impurity density of a diffusion region due to various heat treatments near the interface between an element isolation region and an element formation region.例文帳に追加
素子分離領域と素子形成領域の界面近傍において、各種熱処理による拡散領域の不純物濃度の低下を抑制する半導体装置を提供する。 - 特許庁
The first N well 9 or a predetermined region contacted with the base region 10 is formed so as to be located from the immediately below an emitter impurities diffusion region 15, for example, to a right side region.例文帳に追加
第1Nウェル9は、ベース領域10に接する所定の領域であって、例えばエミッタ不純物拡散領域15の直下から右側領域にくるように形成する。 - 特許庁
To suppress electrical breakdown voltage deterioration at the contact part of a gate electrode and a diffusion region, without separately adding processes for removing an insulating film on the gate electrode.例文帳に追加
別途ゲート電極上の絶縁膜を除去するための工程を追加することなしに、ゲート電極と拡散領域のコンタクト部の電気的な耐圧劣化を抑制することを課題とする。 - 特許庁
A p-type body 5 is formed on one side of a drift region 11 contained in an n-type semiconductor substrate 1, and an n^+-type source diffusion region 7S is formed on the body 5.例文帳に追加
N型半導体基板1が含むドリフト領域11の一方の側方にはP型ボディ部5を形成し、ボディ部5上にはN^+型ソース拡散領域7Sを形成する。 - 特許庁
Since the P-type semiconductor diffusion region 160 is provided, no potential barrier is provided on the way from the surface of silicon substrate 110 to the P-type well region 120.例文帳に追加
このP型半導体拡散領域160を設けたことにより、シリコン基板110の表面からP型ウエル領域120に至る間の中途位置でポテンシャルバリアをもたないものとなる。 - 特許庁
The anti-diffusion region 22 is provided to have a thickness not smaller than a diffusion distance of the P type impurity from the collector region 11 toward the buffer region 12 in an element formation process.例文帳に追加
拡散防止領域22は、素子形成プロセスにおいてコレクタ領域11からバッファ領域12側へP型不純物が拡散する距離以上の厚みで設けられている。 - 特許庁
And the p-type epitaxial layer PEpi2 is connected to the ground via the p-type epitaxial layer PEpi1, the p-well PW, a p+ diffusion region PD5, a via V11 and wiring W11.例文帳に追加
そして、P型エピタキシャル層PEpi2を、P型エピタキシャル層PEpi1、PウエルPW、p^+拡散領域PD5、ビアV11及び配線W11を介して接地端子に接続する。 - 特許庁
N+ type diffusion regions 6a-6d as well as P- type diffusion region 5a and the like are formed on the surface and its vicinity of an N- type epitaxial layer 2 on a p-type silicon substrate 1.例文帳に追加
p型シリコン基板1上のN−型エピタキシャル層2の表面およびその近傍にN+型拡散領域6a〜6dおよびP型拡散領域5a等が形成されている。 - 特許庁
The antifuse structure includes a bit line formed in a first diffusion region inside a substrate, an insulating layer formed on the bit line, and a word line formed on the insulating layer.例文帳に追加
基板内に第1拡散領域で形成されたビットラインと、ビットライン上に形成された絶縁層と、絶縁層上に形成されたワードラインと、を備えるアンチヒューズ構造体である。 - 特許庁
Both masks are defined based on a region (a diffusion region, for example) in a different layer of the integrated circuit layout than the structure (the gate, for example) being created with the phase shifting process.例文帳に追加
これらのマスクはともに、集積回路レイアウトの、位相シフト処理で作成している構造(例えばゲート)とは異なる層中の領域(例えば拡散領域)に基づいて区画される。 - 特許庁
The pn junction is formed on the interface between a low-density n-type impurity layer 3 and a p-type diffusion region 5 nearby the top main surface of an n-type semiconductor substrate 2 of the semiconductor device 1.例文帳に追加
半導体装置1のn型半導体基板2の上主面近傍で、低濃度n型不純物層3とp型拡散領域5との界面でpn接合が形成されている。 - 特許庁
In a CO converter 810, there are provided a gas diffusion region 812 into which a reformed gas flows and a CO conversion reaction region 813 filled with a CO conversion catalyst in communication with each other.例文帳に追加
CO変成器810の内部に、改質ガスが流入するガス拡散領域812およびCO変成触媒を充填するCO変成反応領域813をそれぞれ連通して設ける。 - 特許庁
The present invention includes a planar avalanche photodiode, having a first n-type semiconductor layer defining a planar contact area and a second n-type semiconductor layer having a p-type diffusion region.例文帳に追加
本発明は、プレーナ接触領域を定める第1のn型半導体層とp型拡散領域を有する第2のn型半導体層とを有するプレーナ・アバランシェ・フォトダイオードを備える。 - 特許庁
The height of the element isolation insulation film 4 at the location of a drain contact diffusion region 15' is set higher than that of the element isolation insulation film 4 at the locations of the memory transistors MC.例文帳に追加
ドレインコンタクト拡散領域15’の位置における素子分離絶縁膜4の高さは、メモリトランジスタMCの位置における素子分離絶縁膜4の高さよりも高くされている。 - 特許庁
To form a memory cell region and a high concentration impurity diffusion region of a high-voltage transistor at the same time by ion implantation so that the high-voltage transistor side is shallower.例文帳に追加
メモリセル領域と高電圧トランジスタとの高濃度不純物拡散領域を同時にイオン注入で形成し、且つ高電圧トランジスタ側の方が浅くなるように形成する。 - 特許庁
The drift diffusion region 10 has a substrate inner region 11, and a surface region 12 which contains first conductive type impurities at a higher concentration than the substrate inner region 11.例文帳に追加
また、ドリフト拡散領域10は、基板内部領域11と、基板内部領域11よりも高濃度の第1導電型不純物を含む表面領域12とを有している。 - 特許庁
A P^+ diffusion layer 8 is formed outside the source region and the P^+ diffusion region detaches the source region from the oxidized film for element isolation by the previously predetermined distance.例文帳に追加
例えば、ソース領域の外側にP^+拡散層8を形成して、このP^+拡散層によって予め規定された距離だけソース領域を素子分離用酸化膜から離間する。 - 特許庁
To provide a semiconductor device which uses basic cells that are capable of changing the parallel connections of transistors in number without changing an impurity diffusion region and a gate electrode in layout.例文帳に追加
不純物拡散領域及びゲート電極のレイアウトを変更することなくトランジスタの並列接続数を変更することが可能なベーシックセルを用いた半導体装置を提供する。 - 特許庁
In a plan view, the gate electrode 110 has a configuration formed in a comb-like structure having comb teeth covering the second conduction type impurity diffusion region of the drift region 172.例文帳に追加
ゲート電極110は、平面視で、ドリフト領域172の第2導電型の不純物拡散領域上を覆う櫛歯を有する櫛形構造に形成された構成を有する。 - 特許庁
At four corner parts of the n-type semiconductor layer region 130, a p type impurity diffusion region 170 is formed so that at least a part of it is in contact with the dielectric separation film 120.例文帳に追加
n−型半導体層領域130の四隅部には誘電体分離膜120に少なくともその一部が接するようにp型不純物拡散領域170が形成される。 - 特許庁
The lateral double-diffused MOS transistor has a first conductivity type drift region 2 provided on a second conductivity type semiconductor substrate 1, and a body diffusion region 3 formed on the surface thereof.例文帳に追加
第2導電型の半導体基板1上に設けられた第1導電型のドリフト領域2と、その表面に形成された第2導電型のボディ拡散領域3を備える。 - 特許庁
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