「process of inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(19ページ目) - Weblio英語例文検索

By specifying the sealing width, the period while the thickness of the liquid crystal layer after a heating process is stabilized can be reduced, and therefore, accurate inspection for the cell thickness can be fast performed to improve the productivity.例文帳に追加

このようにシール幅を規定することにより、加熱工程後の液晶層の厚みが安定するまでの時間を短縮することができるため、正確なセル厚検査を速やかに行うことができ、生産性が向上される。 - 特許庁

To provide an exposure pattern data inspection apparatus, method and program which when a printed circuit board is produced by a direct drawing system, enable exposure pattern data for use in the direct drawing process to be accurately inspected in a shorter period of time than before.例文帳に追加

プリント基板を直描方式により製造する場合において、直描工程で使用する露光パターンデータを従来よりも短時間で正確に検査することのできる露光パターンデータ検査装置、方法およびプログラムを提供すること。 - 特許庁

To prevent generation of pin holes in a vacuum heat insulation material pierced therein from the inside even when its outer wrapping material uses a thin innermost layer, thereby dispensing with a bag breakage inspection process and suppressing temporal gas intrusion due to permeation through the innermost layer.例文帳に追加

真空断熱材の外包材の最内層を薄くした場合にも、内部からの突き刺しピンホールの発生を防止でき、破袋検査工程を不要とし、さらに最内層を透過する経時的なガス侵入を抑制する。 - 特許庁

First, a measurement value obtained inaccurately from the parasitic components R1, R2 is compensated during a manufacturing process, such as an electrical final inspection in an electronic power circuit, regarding the current/temperature dependency or voltage dependency of the components.例文帳に追加

初めに、該寄生構成要素Ｒ１、Ｒ２から不正確に得られた測定値を、該構成要素の電流／温度依存性または電圧依存性に関して、製造工程（例えば、電子電力回路での電気系最終検査）中に補償する。 - 特許庁

To provide an automatic analyzer which can provide a user with a highly reliable inspection result by confirming during a progress of a reaction process that dispensation and agitation are actually properly carried out and then achieving proper dispensation and proper agitation.例文帳に追加

分注や攪拌が実際に適切になされたことを反応過程の進行中に確認し、適切な分注と適切な攪拌を実現して、ユーザーに信頼性の高い検査結果を提供することができる自動分析装置を提供する。 - 特許庁

As a result, it is made possible to make the polarization of the capacitor to be zero and thus it is made possible to prevent the imprint degradation even with respect to a high temperature treatment in the succeeding packaging process by performing such a polarization erasing processing after a probe inspection.例文帳に追加

これにより、分極を０にすることが可能となり、このような分極消去処理をプローブ検査後に実施することで、後のパッケージ工程における高温処理に対してもインプリント劣化を防止することが可能となる。 - 特許庁

To provide a method and a device for insulation testing, which make it possible to inspect all defect parts where sounding winging coils are abnormally close to laminate coarse (at intervals of <1 mm) through nondestructive inspection in a mass-production process.例文帳に追加

健全な巻線コイルがラミネートコアに異常接近（１ｍｍ以内）した状態にある欠陥部分を、非破壊検査により量産工程で全数検査を可能にした絶縁試験方法および装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a simple-structure, low-cost and excellent-operability inspection device for a sample and a method, suitable to inspect the sample such as a semiconductor element in a production process of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスの製造工程における半導体素子等の試料の検査を行うために好適な装置および方法であって、構造が簡単で廉価で操作性が良好な試料の検査装置および方法を提供する。 - 特許庁

Furthermore, the quarantine stations provide complete instructions for checking thatproduction, manufacturing and processing of imported foods are not illegal in exportingcountries and that raw materials, additives, manufacturing process, inspection data, and all otheraspects conform with the Law.例文帳に追加

また、輸入する食品等が輸出国において違法に生産、製造加工されたものではないこと、原材料、添加物、製造方法、検査データ等が法に適合していることについての確認を徹底するよう指導する。 - 厚生労働省

To specify a process of generating a defect, or to detect the defect, even in an area that is not formed with a repeeated pattern on a wafer surface, when detecting the defect appearing on the semiconductor wafer surface by visual inspection.例文帳に追加

外観検査により半導体ウエハの表面に現れる欠陥を検出する際に、欠陥を生じた工程を特定する、或いはウエハ表面に繰り返しパターンが成形されていない領域においても欠陥を検出する。 - 特許庁

Contaminations deposited on a wiring pattern are removed in-line in a carrier process from a feeding reel 1 to a take-up reel 5 of a semiconductor device tape carrier 2, which is subjected to automatic visual inspection.例文帳に追加

配線パターン上に付着している異物の除去操作を、半導体装置用テープキャリア２の自動外観検査がなされる送出しリール１から巻取りリール５までの搬送過程中においてインラインで行うことを特徴としている。 - 特許庁

A printer 11 images a substrate mark 2m and each land 3 provided on a substrate 2 by means of a land imaging camera 25, creates the actual measurement position data of each land 3 with reference to the position of the substrate mark 2m, and transmits that data to a print inspection machine 12 on the downstream process side.例文帳に追加

印刷機１１は、ランド撮像カメラ２５により、基板２上に設けられた基板マーク２ｍ及び各ランド３を撮像し、基板マーク２ｍの位置を基準とした各ランド３の実測位置データを作成して、そのデータを下流工程側の印刷検査機１２に送信する。 - 特許庁

In the manufacturing process of thin film devices, the apparatus extracts the candidates of manufacturing equipment in which a trouble has occurred, by evaluating the relationship between data obtained in relation to product inspection for a product, and data indicating the state of manufacturing equipment, for effectively extracting equipment in which a trouble has occurred.例文帳に追加

薄膜デバイスの製造工程において、問題の発生した装置を効率よく抽出する製品について製品検査に関連して得られるデータと、製造装置について状態を示すデータとの関連性を評価することにより、問題が発生した製造装置の候補を抽出する。 - 特許庁

To provide a method and device for keeping a normal operation by preventing the residence of a powdery body or granular body of a carrying matter within a carrying conduit or transfer device, and smoothing a drying process without performing the periodic inspection and internal cleaning of the conduit or device.例文帳に追加

搬送管路や移送装置内部での被乾燥物の粉状体や粒状体の滞留を防止し、定期的に点検して内部を清掃することなく、乾燥工程を円滑にし、正常な運転の維持するための方法及びその装置を提供することにある。 - 特許庁

Then a P value is calculated for each combination of a process ID and a device ID to be contrasted and compared by applying merge data of inspection data on a product and device history data of a manufacturing device to a predetermined significant difference examination method, and a new P value is calculated based upon the P value and P-value correction factor.例文帳に追加

次に、製品の検査データと製造装置の装置履歴データのマージデータを所定の有意差検定法に適用して工程ＩＤおよび対比較される装置ＩＤの組合せ毎にＰ値を算出し、このＰ値とＰ値補正ファクタに基づいて新たなＰ値を算出する。 - 特許庁

In the inspection method for surface defect, the surface image of a metal band 1 which is conveyed on a production line containing a hot rolling process is photographed by an optical system 20, and a defect which exists on the surface of the metal band 1 is detected on the basis of the photographed surface image.例文帳に追加

本発明は、熱間圧延工程を含む製造ライン上を搬送される金属帯１の表面画像を光学系２０で撮影して、この撮影した表面画像に基づいて金属帯の表面に存在する欠陥を検出する表面欠陥検出方法に適用される。 - 特許庁

To provide a method capable of reducing occurrence of burr caused by a gap of a metal generated in a pad at dicing, and executing probe inspection via a process controlling monitor without problems.例文帳に追加

ダイシングの際に発生するパッド部分の金属のめくれ上がりによるバリを低減することができるとともに、プロセスコントロールモニタを通じてのプローブ検査を問題なく実行することができる半導体ウエハおよび半導体チップの製造方法および半導体ウエハプローブ検査方法を提供する。 - 特許庁

An acquisition apparatus 27 acquires a final adjustment value of a series of adjustments of the adjustment values s, z and adjustment values in a changing process up to the final adjustment value from the adjustment values s, z outputted at the inspection terminal 17, and transmits them to a storage device 29.例文帳に追加

取得装置２７は、検査用端子１７に出力されている調整値ｓ，ｚから、これらの調整値ｓ，ｚの一連の調整における最終調整値及びこの最終調整値に至るまでの変化の過程にある調整値を取得し、蓄積装置２９に送る。 - 特許庁

In the lighting inspection process 17 of carrying out this aging, while heating the light-emitting tube in the heating furnace so that the surface lowest temperature of the light-emitting tube becomes more than 180°C, the light-emitting tube is detained in the heating furnace for a required period of time according to the surface lowest temperature.例文帳に追加

このエージングをする点灯検査工程１７で、発光管の表面最低温度が１８０℃を超える温度となるように発光管を加熱炉で加熱しながら、表面最低温度に応じて定められた所要時間の間発光管を加熱炉に滞在させる。 - 特許庁

Succeedingly, the average evaluation scores related to the films on a predetermined number of substrates before the substrate concerned by an average evaluation score acquiring part 214 and the separation degree showing the ratio of the evaluation score of the film on the substrate is calculated with respect to the average evaluation score by a process inspection part 215.例文帳に追加

続いて、平均評価点取得部２１４により当該基板以前の所定数の基板上の膜に係る平均評価点が求められ、工程検査部２１５により当該平均評価点に対する当該基板上の膜の評価点の割合を示す乖離度が求められる。 - 特許庁

To provide an optical pickup device, capable of preventing a shipment of an abnormal product by detecting a terminal misalignment at an inspection process and also capable of preventing damages to a circuit to which the pattern terminals are connected, even if there is terminal misalignment, and to provide an information processor that has the optical pickup device mounted thereon.例文帳に追加

検査工程で端子ずれを検知して異常品の出荷を防止することができ、また端子ずれがあってもパターン端子が接続される回路の破損を防止することができる光ピックアップ装置、およびそれを搭載する情報処理装置を提供する。 - 特許庁

In the third inspection process, the solid-state imaging device is inspected per predetermined range set in advance, and the number of peculiar pixels within each range is counted, and at the same time, the sum of brightness data of the individual peculiar pixels within each range is calculated as a defect level.例文帳に追加

第３検査工程では、予め設定されている所定範囲ごとに固体撮像素子の検査が行われ、この所定範囲内の特異画素の個数が計数されると同時に、この所定範囲内の各特異画素の輝度データの合計値が欠陥レベルとして算出される。 - 特許庁

A hole 21 is opened near the base end 7a of the cage 7 so as to visually confirm the outer peripheral surface of a connecting end part 3 of a male pipe 2 positioned inside a bead hook part 6 in the connecting state, whereby the inspection time for a pipe joint 1 in a manufacturing process can be reduced.例文帳に追加

また、孔２１はケージ７の基端７ａの近傍から開口し、連結状態でビードフック部６の内側に位置するオス管２の接続端部３の外周面を目視可能とするものであるため、製造工程における管継手１の検品時間が短縮する。 - 特許庁

A longitudinally long U-shaped groove 22' for housing both a water supply hose 25 and a drain hose 26 is arranged in a rear part of a bottom plate 20, and either hose can be taken out of the bottom plate 20 only by pulling out the hose backward from the groove 22' to reduce a work cost of an assembling/inspection process.例文帳に追加

底板２０の後部に、給水ホース２５と排水ホース２６の双方が入る前後方向に長いＵ字形の溝２２'を設けたので、いずれのホースも溝２２'から後方に引き出すだけで底板２０から取り出せ、組立・検査工程の作業コストを低減できる。 - 特許庁

To manufacture a magnetic disk medium with few defects by detecting original defects without detecting a groove of a magnetic film and a pattern of unevenness or the like as a defect in an error inspection process of a step for manufacturing the discrete track magnetic disk medium or a bit patterned magnetic disk medium.例文帳に追加

ディスクリートトラック磁気ディスク媒体またはビットパターンド磁気ディスク媒体の製造段階のエラー検査工程において、磁性膜の溝、凹凸などのパターンを欠陥として検出することなく本来の欠陥を検出し、欠陥の少ない磁気ディスク媒体を製造する。 - 特許庁

To automatically divide an exposure mask into regions without requiring manual work of a worker by extracting and classifying a characteristic part of the mask pattern in the process of inspecting pattern defects in the exposure mask, and to improve inspection efficiency and its reliability or the like.例文帳に追加

露光用マスクにおけるパターン欠陥を検査するのにあたり、マスクパターンの特徴部分を抽出分類することで、作業者の手作業を要することなく自動的にその露光用マスク上を領域分割し得るようにし、これにより検査効率やその信頼性の向上等が図れるようにする。 - 特許庁

Also, a high speed defect inspection can be performed by configuring the system of these image processing parts with a task control part for performing the partition of an image and the task generation so as to perform the defect determination process in parallel or sequentially in accordance to the task.例文帳に追加

また、これらの画像処理部のシステム構成を、画像の分割，タスクの生成を行うタスク管理部とからなり、タスクに応じて並列もしくは時系列に欠陥判定処理を行う構成とすることにより，高速な欠陥検査を行えるようにした。 - 特許庁

To provide a means for judging whether inspection is properly performed by utilizing the measured value in a reaction process and to prevent the oversight of an item showing abnormal reaction even during tests performed several thousand times-tens of thousands times per day.例文帳に追加

本発明は反応過程における測定値を利用して、検査が適切に行われたか否かを判定する手段を提供し、１日に数千から数万テストが計測される中においても異常反応をしめす項目の見落しを防止することを目的とする。 - 特許庁

To rapidly detect printing defects such as doubled image and thin spot and also a printing defect due to the abnormal balance of ink and water and an unstable factor in a platemaking process during the quality inspection and control of printed matter and thus prevent wasteful printing from being carried out.例文帳に追加

印刷物の品質を検査あるいは管理する際に、ダブリやスラーといった印刷不良、インキ・水バランス異常による印刷不良、さらに版作成工程の不安定要因に起因する印刷不良を速やかに検知し、無駄な印刷を防ぐことを目的とする。 - 特許庁

Position correction as a stage whose processing time is short and outward shape inspection are combined as a stage process group, and two stages are performed for the semiconductor device S at one stop position of the conveying mechanism 1 to decrease stop positions of the conveying mechanism 1.例文帳に追加

処理時間の短い工程である位置補正と外観検査を工程処理群として組み合わせて構成し、搬送機構１の一つの停止位置において、半導体素子Ｓに２つの工程を施すことによって、搬送機構１の停止位置を減らす。 - 特許庁

In another surface flaw inspection method of the metal rod material, the longitudinal direction position and a peripheral direction position of the surface flaws 14 detected by the leakage flux flaw detection test are displayed by the lamp, in the process for inspecting the surface flaws 14.例文帳に追加

本発明にかかる金属製棒材の他の表面疵検査方法では、表面疵１４の検査をする工程において、漏洩磁束探傷試験によって検知された表面疵１４の長手方向位置及び周方向位置がランプで表示される。 - 特許庁

In inspection process, a self- traveling type imaging device 3 is set on the upstream side, and the reverse side of the laser receiving plate 33 is imaged by the television camera head part 32 while advancing the self-traveling type imaging device 3 to read the position of the light image 61 on the mesh coordinate 35.例文帳に追加

調査工程においては、上流側に自走式撮像装置３を設置し、自走式撮像装置３を前進させながら、テレビカメラヘッド部３２によりレーザ受光板３３の裏面を撮像し、メッシュ座標３５上の光像６１位置を読み取る。 - 特許庁

In a processing cartridge whose toner seal is automatically opened by drive force exerted from a main body, a side cover which covers the gear of a path along which drive is transmitted to a toner seal opening means is provided with a hole in which an idler gear can be fitted in the last of the assembly (inspection) process.例文帳に追加

本体からの駆動力によりトナーシールが自動開封されるプロセスカートリッジにおいて、トナーシール開封手段への駆動伝達経路のギアを覆っているサイドカバーに、組立て（検査）工程の最後にアイドラギアを組込み可能な穴が空けられている。 - 特許庁

Furthermore, when deemed necessary and appropriate in light of the public interest or investor protection, including in cases where a firm has made fraudulent or inappropriate attestation, inspection of the firm may be conducted without going through process 1. 例文帳に追加

なお、公益又は投資者保護のため必要かつ適当であると認められる場合、たとえば、外国監査法人等による虚偽又は不当の証明に関する情報がある場合には、１．の手続きを経ずに、外国監査法人等に対する検査を実施することができる。 - 金融庁

When a detection frame below the detection determination threshold appears (step S156) at a stage for finding a vector evaluated value by scanning an inspection frame within a retrieval range in a reference frame, subsequent retrieval is not performed and the inspection frame is regarded as the start point of the moving vector for the macroblock (step S162) to shorten the process time.例文帳に追加

そして、参照フレーム内で検索範囲内に検査枠をスキャンしてベクトル評価値を求める段階で、この検出確定しきい値以下となる検出枠が出現すれば（ステップＳ１５６）、それ以降の検索を行うことなく、この検査枠をそのマクロブロックに対する動きベクトルの起点とする（ステップＳ１６２）ことで、処理時間の短縮を図っている。 - 特許庁

When balls such as solder balls are mounted on substrates 400 to be mounted, a cutting process of cutting a multiple patterning substrate 500 patterned with the plurality of substrates 400 to divide into the respective substrates 400 and electric inspection on the respective substrates 400 are performed in predetermined order, and balls are mounted only on substrates 400 determined as conforming articles through the electric inspection.例文帳に追加

搭載対象の基板４００に半田ボール等の球状体を搭載する際に、基板４００が複数面付けされた多面付け基板５００を切断して各基板４００に分割する切断処理、および各基板４００に対する電気的検査を所定の順序で実行し、電気的検査において良品と判別された基板４００にのみ球状体を搭載する。 - 特許庁

In an inspection process, the control section 51 detects an electric characteristic value of the thermistor element 109 in such the state that the workpiece 3 is mounted on the flow pipe 21, determines whether or not the temperature characteristic of the thermistor element 109 is normal by comparing above detection result with reference data being previously set so as to correspond to the inspection temperature, and outputs this determination result.例文帳に追加

そして、制御部５１は、検査処理にて、流通管２１に取り付けられたワーク３におけるサーミスタ素子１０９の電気的特性値を検出し、この検出結果と検査温度に対応して予め設定された参照データとを比較することによりサーミスタ素子１０９の温度特性が正常であるか否かを判定し、この判定結果を出力する。 - 特許庁

In the method for monitoring the defective of a roll-shaped workpiece for specifying a defective position based on the quality information acquired by an in-line inspection machine or the like in the production process of the roll-shaped workpiece, and the defective position can be utilized in the next process even when the workpiece passes through again the same process.例文帳に追加

ロール状加工品の生産工程において、インラインの検査機等で取得した品質情報に基づいて、その品質不良位置を特定し、次工程でその品質不良位置を活用することを可能にするロール状加工品の品質不良部監視方法において、一度通った工程を再度通る場合でも次工程でその品質不良位置を活用することを可能にすることを特徴とする重複工程を通る品質不良部監視方法である。 - 特許庁

Thus, the cost of adapter die exchange required every time the semiconductor package type changes by removing the adapter used inside the socket or by modifying into a free-size adapter type, or the exchange time of the socket of an interface board is saved and efficiency of a semiconductor package inspection process is improved.例文帳に追加

これにより、ソケット内部で使用するアダプタを除去したり、あるいはフリーサイズアダプタ型に改造したりして、半導体パッケージ形態が変化する度に必ず行わねばならなかったアダプタ金型交替コスト、インターフェースボードのソケット交替時間などを節約して半導体パッケージ検査工程の効率を向上させる。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device, which is suitable for mass- production management and has high reliability and stable yield by improving dense distribution of holes and controllability to a hole diameter and by realizing easy inspection process for a buried plug height, using a scanning electron microscope as for the height of the buried plug in formation of a wiring contact part of a dual-damascene wiring.例文帳に追加

デュアルダマシン配線の配線コンタクト部の形成における埋め込みプラグの高さについて、ホールの疎密分布およびホール径に対する制御性を改善し、走査型電子顕微鏡を用いた埋め込みプラグ高さの検査工程を容易にし、量産管理に適した信頼性の高い歩留の安定した半導体装置を得る。 - 特許庁

To perform appropriate inspection of rotational characteristics by rotating a rotary member including a rotator stably with a constant r.p.m. while reducing contamination of atmosphere and the occurrence of flaw or contamination of the rotator in the process for assembling/inspecting a motor before a rotary drive section is constituted between the stator and rotator constituting the motor.例文帳に追加

モータを構成する固定体と回転体との間に回転駆動部が構成される前のモータの組立・検査工程において、雰囲気の汚れ、回転体の傷及びコンタミネーションの発生を低減しつつ、回転体を含む回転部材を一定回転数で安定的に回転させて適切な回転特性の検査をする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device that secures the high reliability even when a relatively large probe scar is formed on a surface of an electrode pad in an electric inspection of a semiconductor substrate which is carried out as a pre-stage in a manufacturing process of a W-CSP, and to provide a method of manufacturing the same.例文帳に追加

Ｗ−ＣＳＰの製造工程の前段階として行われる半導体基板の電気検査において電極パッド表面に比較的大きなプローブ痕が形成された場合でも高い信頼性を確保することができる半導体装置および半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

The method of manufacturing the optical disk for inspection comprising forming the projecting part on the reflecting surface on the data reproducing surface side by a process step of adding the deformation thereto by irradiating the optical disk with the laser for processing from the printing surface side formed on the rear surface side of the data reproducing surface as the post processing after the molding of the optical disk.例文帳に追加

また、光ディスクの成形後の後加工として、当該光ディスクにおけるデータ再生面の裏面側に形成される印刷面側から、加工用レーザを照射して変形を加える工程により、データ再生面側の反射面に凸部を形成する検査用光ディスクの製造方法。 - 特許庁

When a software management terminal 8 reads the information of the RFID 2 in an adjustment and inspection process, a necessary TMP or a shipping OS is automatically selected from the software management terminal 8 and installed in an information processing apparatus 3 through a network.例文帳に追加

調整、検査工程においてソフトウェア管理端末８はＲＦＩＤ２の情報を読み取ることで、ソフトウェア管理端末８から必要なＴＭＰや出荷ＯＳを自動選択し、ネットワークを介して情報処理装置３へインストールする。 - 特許庁

In the airtightness inspection process, the connector 29 and an end part 41c of the coated electric wires 41 are sealed by a cover 46, and a terminal metal fitting 31 as a terminal for the shielded wire 42 which is separated from the connector 29 is arranged outside the cover 46.例文帳に追加

気密検査工程では、コネクタ２９および被覆電線４１の端部４１ｃをカバー４６で密閉するとともに、コネクタ２９から離脱された状態のシールド線４２の端子としての端子金具３１を、カバー４６の外に配置する。 - 特許庁