「process of inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(20ページ目) - Weblio英語例文検索

To surely judge whether a seal member is good or not, by a simple work process, without affecting a structure equipped with the seal member, in the case of an inspection device suitably used to inspect whether a gasket or an O-ring is not left uninstalled.例文帳に追加

ガスケットやＯリングの組み付け忘れを検査するのに用いて好適の検査装置に関し、簡素な作業工程でシール部材をそなえた構造物に影響を与えることなく確実にシール部材の良否を判定することができるようにする。 - 特許庁

To provide a tape carrier wherein, even after a tape substrate provided with through-holes for indicating identification information is subjected to a plating process, the identification information can be recognized clearly and sure sampling work can be carried out in the predelivery inspection of the products.例文帳に追加

識別情報を示す貫通穴が形成されたテープ基材がめっき工程を通った後でも、識別情報がはっきりと認識できて、製品の出荷前検査にて確実な抜き取り作業ができるテープキャリアを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a lighting method to attain an excellent image picking-up condition in a bump inspection process, and surely determined the presence of a bump, in particular, by allowing excellent image processing.例文帳に追加

本発明は、バンプ検査工程において良好な撮像状態が得られる照明方法を提供し、良好な画像処理を可能にすることで、特にバンプの有無に関する判定を確実にできるバンプ検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an improve pattern matching inspection method and device therefor capable of detecting a wiring defect in a wiring pattern in a printed wiring board, LSI(Large Scale Integrated Circuit), and a photomask duplicate for them, and judging whether they are good or not in a manufacturing process of the printed wiring board.例文帳に追加

プリント基板やＬＳＩ（大規模集積回路）、そのためのフォトマスク複製物における配線パターンの配線欠陥を見つけ出して良、不良判断をプリント基板の製造過程において行なえる改良されたパターンマッチング検査方法及び検査装置を提供すること。 - 特許庁

The inspection method for inspecting the internal state of the optical material OM has a process for irradiating the optical material OM with diffused light from a light source 21, and inspecting the internal state of the optical material OM based on transmitted light transmitted through the optical material OM.例文帳に追加

本発明に係る光学材料ＯＭの内部状態を検査する検査方法は、光源２１からの拡散光を光学材料ＯＭに照射し、この光学材料ＯＭを透過した透過光に基づいて光学材料ＯＭの内部状態を検査する工程を有する。 - 特許庁

The method for manufacturing the optical element has a process for inspecting the internal state of the optical material OM which is a candidate body of the optical element by using the inspection method, and selecting the optical element from candidate bodies based on the fact that the internal state satisfies a prescribed standard.例文帳に追加

また、本発明に係る光学素子の製造方法は、この検査方法を用いて光学素子の候補体である光学材料ＯＭの内部状態を検査し、この内部状態が所定基準を満たすことに基づいて、候補体から光学素子を選別する工程を有する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit having confidential data such as key for cipher and personal information inside, capable of easily reading out the confidential data to the outside of the semiconductor integrated circuit while the confidence is kept in an inspection process for the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

暗号用の鍵や個人情報などの秘匿データを内部に持つ半導体集積回路に関して、半導体集積回路の検査工程などで秘匿性を維持しながら秘匿データを半導体集積回路外部に容易に読み出せる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device that prevents deterioration in RF characteristics such as high-frequency characteristics, can reduce the development period or the like of a high-frequency characteristic process, can easily perform inspection in the occurrence of a characteristic fail or the like, is manufactured at low costs, and can miniaturize the package.例文帳に追加

高周波特性等のＲＦ特性を劣化させず、高周波特性プロセスの開発時間等を節減することができ、特性不良が発生した際の検査等を容易に行うことができ、製造コストが低く、パッケージの小型化が可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide an earth metal fitting for a bimetallic raceways in which a boring process to the bimetallic raceways is made unnecessary, in which any possibility of damaging an electric wire and a cable in the bimetallic raceways is eliminated, and in which a complicated operation such as removal of the electric wire and the cable in the bimetallic raceways is made unnecessary even after a construction inspection.例文帳に追加

二種金属製線ぴへの穴あけ加工を不要にし、二種金属製線ぴ内の電線やケーブルを傷つけるおそれをなくし、施工検査後でも二種金属製線ぴ内の電線やケーブルの除去などの煩雑な作業を不要にした二種金属製線ぴ用アース金具を提供する。 - 特許庁

To provide a thin film transistor array substrate or the like which enables a resistor having a resistance value necessary for inspection of the array substrate to be formed in a simple process without adding new resistance materials and is free from a problem caused by cutting processing of the resistor.例文帳に追加

アレイ基板の検査を実施する上で必要な抵抗値を有する抵抗体を、新たな抵抗材料を追加すること無く、簡単なプロセスにより形成でき、抵抗体における切断処理により問題が生じることの無い薄膜トランジスタアレイ基板等を提供する。 - 特許庁

To provide an information sharing method among processing systems and a system therefor capable of sharing yield inspection information between relevant enterprises for feedback in order to effectively improve the quality of a product processed(manufactured) in a previous process and a technology associated with a computer program.例文帳に追加

前工程で処理（製造）された製品の品質を効果的に向上させるために、歩留まり検査の情報を関係企業間で共有することで、フィードバックできる複数の処理系間の情報共有方法及びそのシステム、並びにコンピュータプログラムに関する技術を提供する点にある。 - 特許庁

To lower the manufacture cost of an electrode substrate for a liquid crystal device, which is used for a p-Si type TFT-LCD by performing high- precision OS inspection, without causing increase in the area of a row electrode driving circuit or the facility investment amount and decreasing defective substrates moving into cell process.例文帳に追加

ｐ−Ｓｉ型ＴＦＴ−ＬＣＤに用いられる表示装置用電極基板において、行電極駆動回路の面積増や設備投資額の増加を招くことなしに高精度なＯＳ検査を可能とし、不良基板のセル工程への流れ込みを低減して、製造コストを削減する。 - 特許庁

The history information is not only utilized for analyzing defective goods in the market, but also referred in the inspection process, thereby enabling the potential failures and signs of abnormality to be discovered even in the case of a deck unit 2 apparently operating normally, and preventing any defective good from arriving on the market.例文帳に追加

履歴情報を、市場での不具合品の解析に利用するだけでなく、検査時に参照することによって、見かけ上正常に動いているデッキユニット２でも潜在的な故障や異常の兆候を発見できるようにして、不良品の市場流出を防止する。 - 特許庁

At S103, the device judges whether time has passed beyond the prescribed time or not after the right of radiogram interpretation is acquired, the process proceeds to S102 when time has passed beyond the prescribed time, cancels the right of radiogram interpretation to the diagnostician, and indicates on the inspection list so as to allow other diagnostician to acquire the right.例文帳に追加

Ｓ１０３において、読影権を取得してから所定時間以上経過しているか否かを判断し、所定時間以上経過していればＳ１０２に進み、該当の診断医に対する読影権を取り消し、他の診断医が読影権を得られるように検査リストに表示する。 - 特許庁

The change of the thickness in the length direction of the molding (waving etc.), which has been difficult to find in a conventional sampling inspection can be inspected in real time during production so that a defective and troubles in a production process to cause the defective can be find at once.例文帳に追加

そのため、従来の抜き取り検査では見出すことが困難であった、成型品の長さ方向の厚さの変化（波打ち等）を製造中にリアルタイムで検査することができ、不良品やその原因となる製造工程上の不具合を直ちに知ることが可能となる。 - 特許庁

The manufacturing condition data collecting device and the inspection result data collecting device supervise the file server at regular time intervals, and when ensuring the presence of a file, process the contents of the text file into a database storage format for storage in the database server, enabling the data consulting device to consult the data as necessary.例文帳に追加

製造条件データ収集装置と検査結果データ収集装置はファイルサーバを一定時間周期で監視し、ファイルの存在を確認するとテキストファイルの内容をデータベース記憶形式に加工しデータベースサーバに蓄積しデータ参照装置は任意にデータを参照できる。 - 特許庁

To provide an effective product inspection method and a device capable of filling a content of liquids into a container, and then immediately transferring to a process for inspecting a defect on the container or the content, by removing positively bubbles or water drops existing in the container.例文帳に追加

容器内に存在しうる気泡や水滴を積極的に除去することによって、容器に液体類内容物を充填した後、直ちに容器やその内容物の欠陥を検査する工程に移行することができる効率のよい製品検査方法及び装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for inspecting foreign materials on a wafer, wherein foreign materials on a wafer can be inspected during a cleaning process to shorten the time required for manufacturing the wafer and the process of cleaning can be surely checked and no foreign material will adhere to the wafer between cleaning and foreign inspection.例文帳に追加

ウェーハの異物検査を、その洗浄工程において行なえるようにして、ウェーハの製造に要する時間を短縮することができるとともに、洗浄の進み具合を確実に把握することができ、洗浄と異物検査との間にウェーハに異物が付着することがないウェーハ上の異物検査方法および装置を提供すること。 - 特許庁

In the cured coating film forming method for curing the coating film formed after predetermined coating is applied to an article to be coated, two or more cured coating film forming processes 203 and 209 for curing the coating film are provided, and at least one process of the cured coating film forming processes 203 and 209 is provided after a coating quality inspection process 208.例文帳に追加

被塗装物に所定の塗料を塗布した後に、塗膜を硬化させる硬化塗膜形成方法であって、塗膜を硬化させるための硬化塗膜形成工程２０３・２０９を、二工程以上設け、前記硬化塗膜形成工程２０３・２０９のうち、少なくとも一工程は、塗装品質検査工程２０８後に設けられる。 - 特許庁

To provide an evaluation method of a semiconductor substrate capable of evaluating even a thin semiconductor substrate and a substrate which is not subjected to surface treatment, and capable of evaluating a large number of semiconductor substrates for solar cells in a short time which can be used for in-line inspection during a manufacturing process of the solar cells or the like.例文帳に追加

厚さが薄い半導体基板や表面処理を施していない基板についても評価を行うことができ、大量の太陽電池用半導体基板を短時間で評価することが可能であって、しかも太陽電池等の製造工程におけるインライン検査として利用可能な、半導体基板の評価方法を提供する。 - 特許庁

Inasmuch as the New Inspection Approach originally envisioned a phase where progress was made in all fronts of deregulation, including liberalization in interest rates, in the scope of business, and in market entry and exit, it was intended to establish a regime of ex-post checking in place of advance guidance, as well as process checking focused on the internal control system (governance) based on self-responsibility of a financial institution. 例文帳に追加

もとより、新検査方式は、金利自由化、業務自由化、そして参入・退出の自由化といった規制緩和がすべて進展した局面を想定し、なればこそ、事前指導に替わる事後チェック、そして金融機関の自己責任に基づく内部管理態勢（ガバナンス）に焦点を合わせたプロセス・チェックを目指していたのである。 - 金融庁

To provide a carrier tape capable of reducing the electrostatic breakdown of an integrated circuit element caused by the discharge of an electrified charge or the like, and conducting performance test on the integrated circuit element such as conducting input/output inspection of signals by contacting a probe pin with an input terminal or output terminal or the like in the manufacturing process of the tape carrier package.例文帳に追加

テープキャリアパッケージの製造工程の過程において、帯電された電荷の放電等により集積回路素子が静電破壊するのを低減するとともに、入力端子または出力端子にプローブピンを当てて信号の入出力検査を行う等の集積回路素子の性能試験を行うことができるキャリアテープを提供すること。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a plasma display panel, capable of easily and quickly inspecting a calcination state of a partition in a formation process for a partition of the plasma display panel and attaining calcination of the partition at the optimum calcination temperature by applying feedback to the calcination temperature on the basis of determination information obtained by this inspection.例文帳に追加

プラズマディスプレイパネルの隔壁の形成工程において、その焼成状態を簡易かつ迅速に検査し、この検査で得られた判定情報に基づき、焼成温度にフィードバックをかけることで、最適な焼成温度での隔壁の焼成を実現することが可能なプラズマディスプレイパネルの製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a cover of a capacitive sensor and the capacitive sensor allowing rapid progress of an injection work process of injecting liquid regarding washing of ion exchange resin and a discharging work process of discharging the liquid and reducing the inspection costs by preventing deposition of impurities in the work of washing the resin, in the cover for the capacitive sensor and the capacitive sensor for use in the detection of liquid including resin.例文帳に追加

樹脂を含有する液体を検知するために用いられる静電容量式センサのカバー及び、静電容量式センサであって、樹脂を洗浄する作業において不純物の付着を防止することにより、イオン交換樹脂の洗浄にかかる液体を注入する注入作業工程及び、液体を排出する排出作業工程の迅速な進行を図ることができると共に、点検コストの低減を図ることができる静電容量式センサのカバー及び、静電容量式センサを提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and cantilever management method suitable for automatic inspection process capable of automatically replace with a new probe or inducing a user to replace a probe when the tip of the probe has worn while surely monitoring the tip condition of the probe in real time and in a short time.例文帳に追加

探針の先端状態をリアルタイム、短時間で確実にモニタでき、使用中の探針の先端が磨耗等したときに、自動的に新しい探針に交換しまたはユーザに交換を促すことができる自動検査工程に適した走査型プローブ顕微鏡およびカンチレバー管理方法を提供する。 - 特許庁

This work process management device for managing work processes such as inspection/regulation of a product and data writing has a means for urging start of the work after the lapse of a time, by which it can be determined that the product is left in a work device without performing work on the product set in the work device.例文帳に追加

製品の検査・調整・データの書き込みなどの作業工程を管理する作業工程管理装置において、作業装置にセットされた製品に対する作業が実行されないまま、製品が作業装置で放置されていると判断し得る時間が経過すると、作業の開始を催促する手段を装備する。 - 特許庁

This laminography inspection system is equipped with a radioactive source, a plurality of linear image detectors to demarcate an image plane, a fixed table to dispose the test object at a fixed position between the radioactive source and the image detector, and a computer device to process a plurality of the images of the test object which are acquired from the image detectors.例文帳に追加

断層撮影検査システムが、放射線源、影像平面を画定する複数の線形影像検出器、放射線源と影像検出器の間の固定された位置に試験物体を配置する固定式テーブル、および影像検出器から獲得された試験物体の複数の影像を処理するコンピュータ装置を備える。 - 特許庁

Data stored in each memory part facilitate calculation of in what process the abnormality is generated, to improve efficiency of analysis by performing processing for embedding the additional information in the image data stored by each memory, when abnormality is generated, performing print output of an image, and abnormality is confirmed by visual inspection.例文帳に追加

各メモリ部に保存されたデータは、異常発生時にメモリごとに保存した画像データに付加情報を埋込む処理を行って、画像のプリント出力を行い、目視で異常の確認をすることで、どの工程で生じた異常であるかを割り出すことを容易にし、解析の効率の向上を図る。 - 特許庁

This image file processing method is provided with a display process (S14) for displaying information regarding a location of a folder in which a specified image file is stored when the desired image file is instructed from a list display of a plurality of image files processed by alteration inspection processing (S11).例文帳に追加

改変検査処理により処理された複数の画像ファイルの一覧表示から所望とする画像ファイルが指示された場合（Ｓ１１）、指定された画像ファイルが格納されているフォルダの場所に関する情報を表示させる表示工程（Ｓ１４）を備えることを特徴とする画像ファイル処理方法を提供する。 - 特許庁

In the process of loading a cart with commodities, the bar code displayed on the commodity is scanned by the fixed scanner 72 to read the commodity code, and the read commodity code and the shipping information are checked to perform shipping inspection for the commodity loaded in the cart.例文帳に追加

固定スキャナ７２によって商品をカゴ車に積み込む過程で商品に表示されているバーコードをスキャンして商品コードを読み取り、読み取った商品コードと出荷情報とを照合することによって、カゴ車に積み込まれた商品の出荷検品を行う。 - 特許庁

In a sizing process, deformation processing is applied to a steel pipe electro-resistance-welded having a circular section in a direction wherein a fine defect in the weld is enlarged by sizing rolls for the deformation processing, and ultrasonic flaw inspection of the weld is performed in this state.例文帳に追加

サイジング工程の中で、電縫溶接された断面が円形の鋼管を、変形加工用のサイジングロールにより溶接部の微少な欠陥が拡大する方向に変形加工を施し、この状態で溶接部の超音波探傷検査を行うようにした。 - 特許庁

A differential image formation part 23 forms differential information between read image data taken in this time from an image read part 27, and read image data of the precedent one page stored in a precedent one page read image storage part 211, and sends the information to the image inspection process part 24.例文帳に追加

差分画像生成部２３では、画像読取部２７から今回取り込まれた読取画像データと、１頁前読取画像記憶部２１０に記憶されている１頁前の読取画像データとの差分情報を生成して画像検査処理部２４に送出する。 - 特許庁

Broad partitioning lines 15, 16,... are formed between each other's lands of 11, 12,... by silk-screen printing for the land group 10 for chip parts so that the solder bridge or the like can be easily found by the visual inspection when the solder bridge or the like is caused on the board partitioning lines 15, 16,... in a soldering process.例文帳に追加

前記チップ部品用ランド群１０に対しては、各ランド部１１、１２……の間に、シルク印刷により巾の広い仕切ライン１５、１６……を形成し、はんだ付け工程で、はんだブリッジ等が生じた時に容易に目視で判断できるようにする。 - 特許庁

To provide a method and system for manufacturing a semiconductor device, wherein resist size and shape variances caused by exposure process variation are reduced without performing inspection operation in advance in exposure processing for manufacture of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスの製造の露光処理において、事前の点検作業を行うことなく露光プロセス変動によって発生するレジスト寸法および形状ばらつきを低減することができる半導体デバイスの製造方法およびその製造システムを提供する。 - 特許庁

The law had required checkups on the safety of buildings during the design process, to which the amendment toughened building certification and inspection requirements to prevent structural calculation frauds, after false sheets were found in November 2005.例文帳に追加

建築基準法は、設計段階での建築物の安全性を審査することを求めているが、今回の建築基準法の改正は、2005年11月に発覚した構造計算書偽装問題の再発を防止するため、建築確認・検査を厳格化したものであった。 - 経済産業省

This automatically detects the abnormality triggered by an input of inline inspection information, and downloads and analyzes the required information from the upper data base 105, which allows an operator not to select an analysis objective, and the defective process/device can be easily specified.例文帳に追加

このように、インライン検査情報の入力をきっかけとして自動的に異常検知し、上位データベース１０５から必要な情報をダウンロードして解析するので、オペレータが解析対象を選択する必要がなく、容易に問題工程・装置の特定が可能になる。 - 特許庁

Article 36-2-2 (1) A General Gas Utility shall not use Gas Facilities to be installed or modified according to a construction plan for which notification was given pursuant to paragraph 1 or paragraph 2 of the preceding Article (in the case where an order has been issued with respect to the construction plan for Gas Facilities pursuant to paragraph 5 of the said Article, but notification has not yet been given pursuant to paragraph 1 or paragraph 2 of the said Article, such facilities shall be excluded), which are specified by an Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry, unless and until the General Gas Utility conducts a self-inspection of the facilities and then undergoes and passes an inspection conducted by a person registered by the Minister of Economy, Trade and Industry pursuant to the provision of an Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry to confirm that the results of the self-inspection conform to the items of the next paragraph (including an inspection of the construction process as ordered under paragraph 6 of the said Article); provided, however, that this shall not apply to the cases specified by an Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry. 例文帳に追加

第三十六条の二の二　一般ガス事業者は、前条第一項又は第二項の規定による届出をして設置又は変更の工事をするガス工作物（その工事の計画について、同条第五項の規定による命令があつた場合において同条第一項又は第二項の規定による届出をしていないものを除く。）であつて、経済産業省令で定めるものの工事について自主検査を行い、その結果が次項各号に適合していることについて経済産業省令で定めるところにより経済産業大臣の登録を受けた者が行う検査（同条第六項の規定によりその工事の工程における検査を受けるべきことを命ぜられた場合には、その検査を含む。）を受け、これに合格した後でなければ、これを使用してはならない。ただし、経済産業省令で定める場合は、この限りでない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a method for manufacturing a halftone phase shift mask by which a residual light shielding layer film on a translucent phase shift pattern in an effective region can be detected in an inspection process by decreasing the reflectance of the surface of the light shielding pattern on the translucent phase shift pattern in the effective region than the reflectance of the surface of the light shielding pattern in the peripheral part.例文帳に追加

有効領域の半透明位相シフトパターン上の遮光パターン表面の反射率を外周部の遮光パターン表面の反射率より低くすることにより、検査工程での有効領域の半透明位相シフトパターン上の遮光層膜残りの検出を可能にしたハーフトーン型位相シフトマスクの製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method and device for diagnosing the existence of cracks which can be used to be incorporated in a tile inspection device of a mass production manufacturing process by providing a quantitative, accurate and economical method and device for diagnosing the existence of the cracks of a ceramic, plastic or metal product for instance, a tile by an acoustic signal generated by a blow.例文帳に追加

打撃によって発生する音響信号によるセラミックあるいはプラスチックまたは金属製品、例えば瓦のひび割れの有無を診断する定量的かつ的確に、経済的な方法および装置を提供し、量産製造プロセスの瓦検査装置に組み込で使用することもできる瓦のひび割れの有無を診断する方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a resin coated glass container excellent in adhesion of labels and further a frosted resin coated glass container excellent in recognizability of contents during an inspection process after bottling by uniformly fully hydrophilizing a surface of the glass container coated with a resin for improving wettability without requiring large-scale processing facilities.例文帳に追加

大掛かりな加工設備を必要とせず、樹脂コーティングを施したガラス容器表面を均一に十分親水化してぬれ性を改善し、ラベル接着性に優れた樹脂コーティングガラス容器、さらには、びん詰め後の検査工程での中身の視認性に優れたフロスト調（つや消し）樹脂コーティングガラス容器を製造する方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A resistor 21 able to be trimmed as a termination resistor connected to one terminal of a coupler coupling line is placed on the uppermost dielectric layer 11 and variably adjusting the resistance of the resistor 21 can match the impedance at the switch side even on the occurrence of the deviated lamination of a module substrate while detecting a monitor level in an inspection process after the manufacturing.例文帳に追加

最上層の誘電体層１１に、カプラの結合線路の一端に接続される終端抵抗としてのトリマブル抵抗器２１を配置し、製造後の検査行程においてモニタレベルを検知しながら、その抵抗値を可変調整することでモジュール基板の積層ずれに対しても、スイッチ側におけるインピーダンスのマッチングが図かれる。 - 特許庁

The work time is reduced and the possibility of error is reduced comparing with the present man power work and passive inspection, the maintenance of all processes and safety and dynamic state of the article to be maintained existing in a transportation process can be effectively monitored, a consumer can know the maintenance status of the article, and the satisfaction to customer's overall maintenance service is raised.例文帳に追加

現行の人力作業と受動検査に比べ、作業時間を節減しエラーの可能性を低下させ、全行程メンテナンス及び運送プロセスにあるメンテナンスすべき品の安全と動態を効果的にモニタ可能で、消費者は商品のメンテナンス状況を知ることができ、顧客の全体的メンテナンスサービスに対する満足度を向上させる。 - 特許庁

A printer 11 images a substrate mark 2m and each land 3 provided on a substrate 2 by means of a land imaging camera 25, creates the actual measurement position data of each land 3 with reference to the position of the substrate mark 2m based on the imaging results, and then transmits the actual measurement position data of each land 3 thus created to a mounting inspection machine 14 on the downstream process side.例文帳に追加

印刷機１１は、ランド撮像カメラ２５により、基板２上に設けられた基板マーク２ｍ及び各ランド３を撮像した後、その撮像結果に基づいて、基板マーク２ｍの位置を基準とした各ランド３の実測位置データを作成し、その作成した各ランド３の実測位置データを下流工程側の装着検査機１４に送信する。 - 特許庁

2 “Internal audits” refer to the process of review of the appropriateness and effectiveness of the internal control system of divisions (including risk management divisions. The same shall apply hereinafter.) and sales branches, etc. (including sales branches and overseas offices. The same shall apply hereinafter.) (hereinafter referred to as the audited divisions, etc.) by a division in charge of internal audits (inspection division, operational audit division, etc.) that is independent from the audited divisions, etc. 例文帳に追加

2「内部監査」とは、内部監査を受ける各業務部門の本部部門（リスク管理部門を含む。以下同じ。）及び営業店等（営業店及び海外拠点を含む。以下同じ。）（以下「被監査部門等」という。）から独立した内部監査部門（検査部、業務監査部等）が、被監査部門等における内部管理態勢の適切性、有効性を検証するプロセスである。 - 金融庁

To provide a hot plate unit for a semiconductor producing/increasing system in which a conductor circuit can be formed, as set, on a semiconductor wafer in the production/inspection process of the semiconductor by heating an object e.g. a resin film for forming resist, applied to the semiconductor wafer uniformly.例文帳に追加

半導体製造・検査工程において、半導体ウエハに塗布されたレジスト形成用の樹脂膜等の被加熱物を均一に加熱することにより、半導体ウエハ上に設定通りの導体回路を形成することが可能である半導体製造・検査装置用ホットプレートユニットを提供すること。 - 特許庁