「defect inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a defect inspection device and a defect inspection method capable of enlarging a taking range of light scattered from a fine defect, and heightening signal intensity.例文帳に追加

微細な欠陥から散乱した光の取込範囲を拡大し信号強度を高める欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus and defect inspection method capable of detecting the defect on the back surface side of a mask blank for a stencil mask with high accuracy.例文帳に追加

ステンシルマスク用マスクブランクスの裏面側の欠陥を精度良く検出することができる欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect inspection method for automatically discriminating between the shape of an inspected part and a defect as to defect inspection using a radiation image.例文帳に追加

放射線画像を用いた欠陥検査において、被検査部位の形状と欠陥を自動的に区別することのできる欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

A secondary defect detection part 37 executes secondary defect detection processing for detecting a defect on the inspection object by using image data of the inspection object.例文帳に追加

２次欠陥検出部３７は、検査対象物の画像データを用いて検査対象物上の欠陥を検出する２次欠陥検出処理を実行する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device, a specimen for an electronic device, and a defect inspection method, capable of inexpensively and easily inspecting a defect in a short time.例文帳に追加

欠陥の検査を安価、短時間、及び容易に行うことができる欠陥検査装置、電子装置用試験体、及び欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

To classify a defect detected by a SEM type appearance inspection into an electric defect (VC defect: Voltage Contrast) inside an inspection object and a surface defect.例文帳に追加

ＳＥＭ式外観検査において，検出した欠陥を、検査対象内部の電気的欠陥（ＶＣ欠陥：Ｖｏｌｔａｇｅ Ｃｏｎｔｒａｓｔ）と表面欠陥とに分類する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method, and a defect inspection device for inspecting a place detected as a pseudo-defect of a transmissivity signal without detecting the place as the pseudo-defect.例文帳に追加

透過率信号の疑似欠陥として検出されてしまう箇所を疑似欠陥として検出することなく検査することが可能な欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspection device of a sealed honeycomb structure, capable of specifying the position of a cell having a defect and of readily grasping the defect size.例文帳に追加

欠陥のあるセルの位置を特定するとともに、欠陥の大きさを容易に把握することが可能な目封止ハニカム構造体の欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To realize an electron beam defect inspection device enabling the inspection of flaw at a high speed with high resolving power.例文帳に追加

高速且つ高分解能での検査が可能な電子ビーム欠陥検査装置を実現。 - 特許庁

To provide an inspection method for surface defects of a sheet-like material, in which the inspection accuracy of the surface defect is high.例文帳に追加

検査精度が高いシート状材料の表面欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

INSPECTION METHOD AND APPARATUS FOR MASK DEFECT, AND METHOD FOR CREATING REFERENCE FOR MASK INSPECTION例文帳に追加

マスク欠陥検査方法、マスク欠陥検査装置、並びにマスク検査基準作成方法 - 特許庁

To link a defect inspection process with a dimension inspection process of a blade for automization.例文帳に追加

ブレードの欠陥検査工程と寸法検査工程とを連動させて自動化を図る。 - 特許庁

All the image data are transferred to a inspection PC to execute defect inspection by the PC.例文帳に追加

画像データを全て検査用ＰＣに転送し、検査用ＰＣで欠陥検査を実行する。 - 特許庁

To provide an optical defect inspection device capable of improving defect coordinate accuracy and reducing detection defect coordinate errors.例文帳に追加

欠陥座標精度を向上し、検出欠陥座標誤差を低減可能な光学式欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁

CRIMPING DEFECT DETERMINATION DATA FORMING METHOD FOR TERMINAL CRIMPING DEFECT DETECTION DEVICE, AND CRIMPING DEFECT DETERMINATION DATA INSPECTION METHOD例文帳に追加

端子圧着不良検出装置の圧着不良判定データ作成方法および圧着不良判定データ検査方法 - 特許庁

A defect inspection part 6 inspects extracted defects and generates inspection results for each of inspection conditions.例文帳に追加

欠陥検査部6は、抽出された欠陥に対して検査を行い、検査条件毎の検査結果を生成する。 - 特許庁

To provide a substrate inspection device allowing a detailed defect review inspection to be performed while inhibiting increase in time required for complete inspection.例文帳に追加

検査完了までに要する時間の増加を抑制しつつ詳細な欠陥レビュー検査を可能にする。 - 特許庁

This makes it possible to adjust the criteria of the defect inspection performed by the defect inspection device 14, 24 in accordance with the criteria of defect inspection to be performed by the inspection device 30 later, so that the defect inspection can be more preferably performed and the yield of the optical films can be improved.例文帳に追加

これにより、後に検査装置３０により行われる欠点検査の基準に合わせて、欠点検査装置１４，２４により行われる欠点検査の基準を調整することができるので、欠点検査をより好適に行うことができ、光学フィルムの歩留りを向上することができる。 - 特許庁

It is a defect data analysis method to analyze the defect distribution status based on defect position coordinates detected by an inspection device to classify into any one of the distribution characteristics categories among iterations defect, high density defect, line distribution defect, ring/massive distribution defect, and random defect.例文帳に追加

検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD MAINLY CONCERNED WITH UNEVENNESS OF SHEET-LIKE TRANSPARENT BODY例文帳に追加

シート状透明体の凹凸を主とした欠陥検査方法 - 特許庁

PHASE SHIFT RETICLE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND INSPECTION METHOD FOR DEFECT THEREIN例文帳に追加

位相シフトレチクルとその製造方法とその欠陥検査方法 - 特許庁

MEDIUM DEFECT INSPECTION METHOD AND UNRECORDED AREA RETRIEVAL METHOD例文帳に追加

媒体の欠陥検査方法、及び未記録領域検索方法 - 特許庁

METHOD OF INSPECTING QUALITY DEFECT OF LINEAR CONTROL VALVE, AND INSPECTION DEVICE例文帳に追加

リニア制御弁の品質不良の検査方法、及び、検査装置 - 特許庁

To carry out a mask defect inspection in a short period of time with high accuracy.例文帳に追加

短時間で精度の高いマスク欠陥検査を行うこと。 - 特許庁

SUBSTRATE SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

基板表面欠陥検査方法，基板表面欠陥検査装置 - 特許庁

SYSTEM FOR CLEANING, INSPECTION, AND DEFECT HISTORY MANAGEMENT OF STUD BOLT HOLE例文帳に追加

スタッドボルト穴の洗浄、検査及び損傷履歴管理システム - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD BY PHOTO LUMINESCENCE OF SOLAR BATTERY例文帳に追加

太陽電池のフォトルミネセンスによる欠陥検査装置及び方法 - 特許庁

To enhance the detection sensitivity of a defect in TFT array inspection.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ検査において欠陥の検出感度を高める。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, MARKING DEVICE AND DEFECT INSPECTION APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

半導体装置とそのマーク形成装置，その欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING DEFECT DATA, INSPECTION EQUIPMENT AND REVIEW SYSTEM例文帳に追加

欠陥データ解析方法および検査装置並びにレビューシステム - 特許庁

To predict the defect which may be induced by washing after inspection.例文帳に追加

検査後の洗浄により生ずるであろう欠陥を予測する。 - 特許庁

MIRROR ELECTRON MICROSCOPE, AND PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE USING IT例文帳に追加

ミラー電子顕微鏡及びそれを用いたパターン欠陥検査装置 - 特許庁

A wafer, test object, is inspected by a wafer defect inspection part 11, and coordinate value data S11 are outputted from the wafer defect inspection part 11.例文帳に追加

検査の対象となるウエハがウエハ欠陥検査部11で検査され、該ウエハ欠陥検査部11から座標値データS11 が出力される。 - 特許庁

METHOD OF ADJUSTING DEFECT INSPECTION DEVICE, EVALUATING METHOD OF ADJUSTING STATE OF DEFECT INSPECTION DEVICE, AND SETTING METHOD OF AZIMUTHAL ANGLE OF PATTERN例文帳に追加

欠陥検査装置の調整方法、欠陥検査装置の調整状態の評価方法、及びパターンの方位角の設定方法 - 特許庁

To provide a defect inspecting apparatus capable of setting proper sensitivity rank for each proper inspection region and performing defect inspection.例文帳に追加

適切な検査領域毎に適切な感度ランクを設定して欠陥検査を行うことができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To easily set the inspection conditions in a defect inspection apparatus for inspecting defect in patterns of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスのパターンの欠陥を検査する欠陥検査装置において、検査条件の設定を容易に行えるようにする。 - 特許庁

To improve the performance of defect inspection by subjecting the patterns transferred onto a substrate, such as a wafer, to the defect inspection of the mask patterns.例文帳に追加

マスクパターンの欠陥検査を、ウエハ等の基板上に転写したパターンに対して行い、欠陥検出性能を向上させる。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE OF ORGANIC ELECTROLUMINESCENT ELEMENT, ORGANIC ELECTROLUMINESCENT ELEMENT, AND DEFECT INSPECTION METHOD OF ORGANIC ELECTROLUMINESCENT ELEMENT例文帳に追加

有機エレクトロルミネッセンス素子欠陥検査装置および有機エレクトロルミネッセンス素子および有機エレクトロルミネッセンス素子欠陥検査方法 - 特許庁

To provide a defect inspection device, capable of implementing defect inspection with correct, high accuracy, and less loss in the signal intensity.例文帳に追加

信号強度のロスが少なく、正確で精度の高い欠陥検査を行うことができる欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for defect inspection capable of inspecting accurately existence of a defect such as a bright point in an inspection object.例文帳に追加

検査対象における輝点等の欠陥の有無を精度良く検査することができる欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

The scattered light from the defect in the inspection range 14 is strong, so that even a fine defect can be detected.例文帳に追加

検査範囲１４の欠陥からの散乱光は強いから、微細な欠陥でも検出される。 - 特許庁

To provide a pixel defect inspection method of a light emitting device precisely inspecting a defect of pixel.例文帳に追加

精度よく画素の欠陥を検査できる発光装置の画素欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

The defect detection sensitivity of the inspection apparatus for a pattern defect is inspected by the above detection result.例文帳に追加

そして、その検出結果から、パターン欠陥検査装置の欠陥検出感度を検査する。 - 特許庁

A defect present on the element formation surface is detected by the defect inspection device (S4).例文帳に追加

前記欠陥検査装置により前記素子形成面に存在する欠陥を検出する（Ｓ４）。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND ITS SYSTEM, AND DEFECTIVE AREA DETECTION METHOD FOR AUTOMATIC DEFECT CLASSIFICATION例文帳に追加

欠陥検査方法とその装置、及び欠陥の自動分類のための欠陥位置検出方法 - 特許庁