「defect inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an inspection method for a defect of a honeycomb filter that improves detection precision of the defect more.例文帳に追加

欠陥の検出精度をより向上できる、ハニカムフィルタの欠陥を検査する方法を提供すること。 - 特許庁

A defect detection part 25 extracts a defect on an inspection object by using the reduced image information.例文帳に追加

欠陥検出部25は、縮小画像情報を用いて検査対象物上の欠陥を抽出する。 - 特許庁

To perform mask defect inspection with high accuracy by quantitatively judging a stripe defect caused in a mask.例文帳に追加

マスクに発生するスジ状の欠陥を定量的に判断し、精度の高いマスク欠陥検査を行うこと。 - 特許庁

To improve a defect inspection in detection sensitivity for a minute defect while suppressing generation of pseudo defects.例文帳に追加

欠陥検査において、疑似欠陥の発生を抑制しつつ、微小欠陥の検出感度を向上する。 - 特許庁

To provide a three-dimensional defect inspection apparatus which is an automatic defect inspection apparatus of a color filter substrate and is capable of performing extremely efficient defect inspection of a defect on the color filter substrate by performing not only area size determination of a plane but also simultaneously performing defect determination in a height direction.例文帳に追加

本発明はカラーフィルタ基板の自動欠陥検査装置で、前記カラーフィルタ基板上の欠陥を平面の面積サイズ判定だけでなく、同時に高さ方向の欠陥判定を行うことで、極めて効率のよい欠陥検査が行える立体欠陥検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The defect inspection apparatus 1 comprises a boundary emphasis section 12 having the above functions, a defect detection section 13, and a defect count section 14.例文帳に追加

欠陥検査装置１は、上記機能を有する境界強調部１２、欠陥検出部１３及び欠陥計数部１４からなる。 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING MASK DEFECT, METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE, MASK DEFECT INSPECTION APPARATUS, AND METHOD AND PROGRAM FOR FORMING MAP OF INFLUENTIAL DEGREE OF DEFECT例文帳に追加

マスク欠陥検査方法、半導体装置の製造方法、マスク欠陥検査装置、欠陥影響度マップ作成方法およびプログラム - 特許庁

To provide an antireflection film defect inspection device facilitating a defect extraction even if it is a low-contrast defect of the antireflection film.例文帳に追加

反射防止フィルムの低コントラストの欠陥でも欠陥抽出を容易にする反射防止フィルム欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an integrated substrate inspection apparatus which is automated and carries out all of EBR/EEW inspection, pattern defect inspection, and reticle error inspection on a substrate.例文帳に追加

基板のEBR/EEW検査、パターンの欠陥検査及びレティクルエラー検査を全部実施することができる自動化された統合基板検査装置を提供する。 - 特許庁

To obtain an inspection method and an inspection apparatus for semiconductor devices, which require short inspection time, are highly reliable and readily constituted, without using a defect-inspection device.例文帳に追加

検査の所要時間が短く信頼性も高い、しかも欠陥検査装置を用いない簡易な構成の、半導体装置の検査方法及び検査装置を得る。 - 特許庁

To improve efficiency of visual inspection of a liquid crystal panel determined as a defective unit by automatic inspection, in a defect inspection system of the liquid crystal panel which includes automatic inspection.例文帳に追加

自動検査を含む液晶パネルの欠陥検査システムにおいて、自動検査で不良品と判定された液晶パネルの目視検査を効率化する。 - 特許庁

The inspection device has a first inspection mode in which a defect other than a step bunching is detected and a second inspection mode in which the step bunching is detected.例文帳に追加

ステップバンチング以外の欠陥を検出する第１検査モードとステップバンチングを検出する第２の検査モードを有する。 - 特許庁

To improve the inspection efficiency in defect inspection for front and rear faces of a substrate in a substrate inspection device.例文帳に追加

基板検査装置において、基板の表面および裏面の欠陥検査の検査効率を向上することができるようにする。 - 特許庁

When a defect is observed during the defect inspection, defect information such as a position, a size and a shape of the defect is recorded, and a data such as the number of the defects is displayed.例文帳に追加

欠陥検査中に欠陥を発見した場合、その欠陥の位置や大きさ、形状などの欠陥情報を記録し欠陥数などのデータを表示する。 - 特許庁

To provide an inspection method and inspection device of defect and foreign matter for flat panel display device capable of separately performing the defect inspection and foreign matter inspection of an FPD itself such as LCD and improving the precision of the quality inspection of FPD.例文帳に追加

ＬＣＤなどＦＰＤ自体の欠陥検査と異物検査を区別して行うことができ、ＦＰＤの品位検査の精度を向上できる平面表示装置の欠陥・異物検査方法およびその検査装置を提供すること。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND METHOD OF MANUFACTURING OPTICAL FILM USING IT例文帳に追加

欠点検査方法およびそれを用いた光学フィルムの製造方法 - 特許庁

To provide an inspection method for detecting a wiring disconnection or defect and a connection defect in conduction aging image inspection of a liquid crystal module.例文帳に追加

液晶モジュール通電エージング画像検査において配線断線不具合、接続不具合を検出する構成の検査方法を提供する。 - 特許庁

A defect part 13 and a defect part 14 in the inspection object are detected by the binarization threshold value based on the image data obtained by imaging the inspection object.例文帳に追加

検査対象を撮像した画像データから二値化しきい値によって上記検査対象の欠陥部分１３・１４を検出する。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION APPARATUS AND DEVICE MANUFACTURING METHOD USING IT例文帳に追加

欠陥検査装置及び欠陥検査装置を用いたデバイス製造方法 - 特許庁

To update efficiently an inspection recipe, when inspecting a defect of a substrate.例文帳に追加

基板の欠陥を検査する際に、検査レシピを効率よく更新する。 - 特許庁

DEFECT CORRELATION DEVICE, SUBSTRATE INSPECTION SYSTEM, AND METHOD OF CORRELATING DEFECTS例文帳に追加

欠陥関連付け装置、基板検査システム、および欠陥関連付け方法 - 特許庁

To correctly and efficiently perform defect inspection of a halftone type reticle.例文帳に追加

ハーフトーン型のレチクルの欠陥検査を正確に、かつ、効率よく行う。 - 特許庁

To provide a system for concurrent inkjet printing and defect inspection.例文帳に追加

同時型インクジェット印刷及び欠陥検査ためのシステムを提供する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR CONCURRENT INKJET PRINTING AND DEFECT INSPECTION例文帳に追加

同時型インクジェット印刷及び欠陥検査のための方法及び装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS FOR MAGNETIC DISK, AND MAGNETIC DISK DRIVE例文帳に追加

磁気ディスクの欠陥検査方法、その装置及び磁気ディスク・ドライブ装置 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of acquiring precisely an image of an inspection object, and capable of obtaining sufficient defect detection precision.例文帳に追加

検査対象の画像を高精度で取得することができ、十分な欠陥検出精度を得ることが可能な欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To achieve an inspection correction device for efficiently performing various processing even when defect inspection or a defect correction object substrate is large-sized.例文帳に追加

欠陥検査又は欠陥修正される基板が大型化しても、各種処理を効率よく行うことができる検査修正装置を実現する。 - 特許庁

To efficiently perform highly accurate defect inspection for an inspecting substrate.例文帳に追加

被検査基板に対し精度の高い欠陥検査を効率よく行なう。 - 特許庁

AUTOMATIC DEFECT RECOGNITION METHOD FOR TEST PIECE USING X-RAY INSPECTION UNIT例文帳に追加

Ｘ線検査ユニットを用いたテストピースの自動欠陥認証方法 - 特許庁

METHOD FOR ESTIMATION AND INSPECTION OF REMAINING DEFECT ON HEAVY PLATE PRODUCT例文帳に追加

厚板製品での疵残留予測方法及び残留疵検査方法 - 特許庁

To provide a highly sensitive and high-throughput defect inspection apparatus in defect inspection of a sample in which a pattern is formed such as a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェハなどのパターンが形成された試料の欠陥検査において、高感度かつ高スループットの欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a simple defect inspection device and a defect inspection method for performing defect inspection on a substrate by using diffraction beams generated from a repetitive pattern of further fine intervals without shortening the wavelengths of illumination beams.例文帳に追加

照明光の波長を短くしなくても、さらに微細なピッチの繰り返しパターンから発生する回折光を利用して、基板の欠陥検査を行える簡易な欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

Based on the corrected inspection data, a defect on the reticle is detected.例文帳に追加

補正後の検査データに基づいて、レチクル上の欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus and a defect inspection method which can surely detect defects in an edge of a semiconductor wafer substrate.例文帳に追加

半導体ウェハ基板のエッジ部の欠陥を確実に検出することができる欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

PRISM ARRAY IMPROVED FOR ELECTRON BEAM INSPECTION AND SCRUTINY OF DEFECT例文帳に追加

電子ビーム検査および欠陥の精査のための改善されたプリズムアレイ - 特許庁

DEFECT EXTRACTION METHOD AND PRINTED WIRING BOARD FINAL APPEARANCE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

欠陥抽出手法及びプリント配線板最終外観検査装置 - 特許庁

To perform the defect inspection of a magnetic disk efficiently with high reliability.例文帳に追加

高信頼性において効率的に磁気ディスクの欠陥検査を行う。 - 特許庁

To provide a defect inspection device, a defect information acquisition device and a defect inspection method, capable of optimizing further an acquisition amount of a scattered light signal regarding the defect by improving a detection accuracy of the defect to be as the detection object.例文帳に追加

検出対象とする欠陥の検出精度を向上させ、当該欠陥に関する散乱光信号の取得量をより適正化することができる欠陥検査装置、欠陥情報取得装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

After first defect inspection processing (step S11) for inspecting whether there is a defect on a wafer or not is performed, a defective chip is determined by the defect detected by the first defect inspection processing (steps S12, S13).例文帳に追加

ウェハ上に欠陥があるか否かを検査する第１の欠陥検査処理（ステップＳ１１）を実行した後、その第１の欠陥検査処理にて検出された欠陥により、不良チップを判定する（ステップＳ１２，Ｓ１３）。 - 特許庁

To provide a defect detection method and a defect detection device improving sensitivity of defect detection of an inspection object, even when a bright defect and a dark defect are mixed together.例文帳に追加

明欠陥と暗欠陥とが混在する場合にも被検査物の欠陥検出の感度を向上することができる欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a defect inspection method for a semiconductor device capable of efficiently setting an inspection region.例文帳に追加

効率的に検査領域を設定することが可能な半導体装置の欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

Defect inspection is carried out for picked-up images of three surfaces according previously set inspection standards.例文帳に追加

撮像された３つの面の像を予め設定された検査の基準に基いて欠陥検査をする。 - 特許庁

NONDESTRUCTIVE INSPECTION METHOD AND NONDESTRUCTIVE INSPECTION APPARATUS OF BACK DEFECT AND MATERIAL CHARACTERISTICS BY ELECTROMAGNETIC METHOD例文帳に追加

電磁気的手法による裏面欠陥および材料特性の非破壊検査方法とそのための装置 - 特許庁

FOR DEVICE, DEFECT INSPECTION DEVICE USING THE SAME, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR USING THE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

ＦＯＰ装置、それを用いた欠陥検査装置、及び該検査装置を用いた半導体製造方法 - 特許庁

The inspection condition of the inspection device is set, by using the estimation image 124 and defect data 123A.例文帳に追加

推定画像１２４および欠陥データ１２３Ａを用いて検査装置の検査条件を設定する。 - 特許庁