| 意味 | 例文 (999件) |
defect inspectionの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2367件
AUTOMATIC DEFECT INSPECTION APPARATUS FOR OPTICAL RECORDING MEDIUM例文帳に追加
光記録媒体の自動欠陥検査装置 - 特許庁
TEMPLATE INSPECTING METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加
テンプレート検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁
METHOD FOR DEFECT INSPECTION OF HOLLOW FIBER MEMBRANE MODULE例文帳に追加
中空糸膜モジュールの欠陥検査方法 - 特許庁
The defect inspection of the design pattern 3 and the defect inspection of the monitor pattern 5 are performed by using the defect inspection apparatus and after the defect of the monitor pattern 5 is confirmed to be detectable by the defect inspection apparatus, the defect of the design pattern 3 detected in the defect inspection is corrected.例文帳に追加
そして、欠陥検査装置を用いて設計パタン３の欠陥検査およびモニタパタン５の欠陥検査を行い、欠陥検査装置によってモニタパタン５の欠陥が検出可能であることを確認した後、欠陥検査において検出された設計パタン３の欠陥を修正する。 - 特許庁
To provide a defect inspection method capable of capturing surely a deformation defect, and discriminating easily the deformation defect and the other defect such as a foreign matter defect, and a defect inspection device.例文帳に追加
変形欠陥の捕捉が確実に行えるとともに、変形欠陥と異物欠陥など他の欠陥との判別が容易に行える欠陥検査方法および欠陥検査装置の提供。 - 特許庁
To provide a pattern defect inspection apparatus having stable inspection performance.例文帳に追加
検査性能が安定したパターン欠陥検査装置を実現すること。 - 特許庁
PREPREG DEFECT INSPECTION METHOD, INSPECTION SYSTEM, AND PREPREG MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
プリプレグ欠点検査方法、検査システム、およびプリプレグの製造方法 - 特許庁
ETCHING DEFECT INSPECTION METHOD OF PIEZOELECTRIC VIBRATING CHIP WAFER, AND INSPECTION SYSTEM例文帳に追加
圧電振動片ウェハのエッチング欠陥検査方法、及び検査システム - 特許庁
SURFACE DEFECT INSPECTION APPARATUS FOR CYLINDRICAL OBJECT例文帳に追加
円筒状物体の表面欠陥検査装置 - 特許庁
DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD AS WELL AS EXPOSURE DEVICE AND EXPOSURE METHOD USING THE SAME例文帳に追加
欠陥検査装置および欠陥検査方法、およびこれを用いた露光装置および露光方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD THEREOF例文帳に追加
半導体の欠陥検査装置及びその方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTION APPARATUS, DEFECT INSPECTION METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE SAME例文帳に追加
欠陥検査装置、欠陥検査方法並びにこれを用いた半導体デバイスの製造方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF ITS DEFECT INSPECTION例文帳に追加
半導体装置およびその欠陥検査方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD FOR MASK BLANK, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
マスクブランクの欠陥検査装置および欠陥検査方法、ならびに半導体装置の製造方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD FOR ANTIREFLECTION TRANSPARENT FILM例文帳に追加
反射防止透明フィルムの欠陥検査方法 - 特許庁
APPEARANCE DEFECT INSPECTION DEVICE OF ANTIREFLECTION FILM AND APPEARANCE DEFECT INSPECTION METHOD USING THE SAME例文帳に追加
反射防止フィルムの外観欠陥検査装置及びそれを用いた外観欠陥検査方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD AND PROGRAM OF IMAGE SENSOR例文帳に追加
撮像素子の欠陥検査方法及びプログラム - 特許庁
DARK FIELD DEFECT INSPECTION METHOD, DARK FIELD DEFECT INSPECTION DEVICE, ABERRATION ANALYSIS METHOD, AND ABERRATION ANALYZER例文帳に追加
暗視野欠陥検査方法、暗視野欠陥検査装置、収差解析方法及び収差解析装置 - 特許庁
To provide a laser scattering defect inspection technology capable of effectively performing defect inspection.例文帳に追加
欠陥検査を効率よく行うことのできるレーザー散乱式欠陥検査技術を提供する。 - 特許庁
DEFECT INSPECTION DEVICE AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加
不良検査装置及び荷電粒子線装置 - 特許庁
METHOD FOR DETECTING CONCRETE DEFECT DURING PLACING AND INSPECTION DEVICE OF THE DEFECT例文帳に追加
打設中のコンクリート欠陥検出方法及び該欠陥の検査装置 - 特許庁
To provide a defect inspection device capable of outputting the inspection result of the defect related to the whole of an inspection target surface even if there are many defects, and a defect inspection method.例文帳に追加
欠陥が多くても検査対象面の全体についての欠陥の検査結果を出力可能な欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide an image defect inspection device, and a defect inspection classification and image defect inspection method, capable of detecting a defect under the optimum defect detecting condition, even when a noise level included in an inspection image depends greatly on the inspection image.例文帳に追加
検査画像に含まれるノイズレベルの検査画像に対する依存性が大きい場合にも、最適な欠陥検出条件で欠陥を検出可能な画像欠陥検査装置、欠陥検査分類、及び画像欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD FOR MAGNETIC TAPE AND APPARATUS FOR THE SAME例文帳に追加
磁気テープ欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁
SYSTEM FOR INSPECTING SAMPLE FOR DEFECT AND INSPECTION METHOD例文帳に追加
試料の欠陥検査システム、および検査方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD THEREOF例文帳に追加
半導体欠陥検査装置ならびにその方法 - 特許庁
THROUGH HOLE WALL SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE OF PRINTED BOARD例文帳に追加
プリント基板のスルーホール壁面欠陥検査装置 - 特許庁
MONITORING DEVICE FOR PERFORMANCE OF SURFACE-DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加
表面欠陥検査装置の性能監視装置 - 特許庁
PROGRAM FOR EXTRACTING CANDIDATE FOR DEFECT SOURCE AND INSPECTION SYSTEM例文帳に追加
欠陥源候補抽出プログラムと検査システム - 特許庁
DEFECT INSPECTION DEVICE FOR COLOR FILTER AND DETECT INSPECTION METHOD FOR COLOR FILTER例文帳に追加
カラーフィルターの欠陥検査装置およびカラーフィルターの欠陥検査方法 - 特許庁
To decide accurate defect inspection parameters which are not influenced by the knowledge, etc., of a defect inspection unit, by reducing the occupying time of a defect inspection device.例文帳に追加
欠陥検査装置の占有時間を減少し、欠陥検査者の知識等に左右されることのない正確な欠陥検査パラメータを決定する。 - 特許庁
SOLID-STATE IMAGE PICKUP DEVICE, PIXEL DEFECT INSPECTION DEVICE AND PIXEL DEFECT CORRECTION METHOD例文帳に追加
固体撮像装置、画素欠陥検査装置および画素欠陥補正方法 - 特許庁
To evaluate defect detection sensitivity in inspection of a defect of a mask pattern.例文帳に追加
マスクパターンの欠陥検査における欠陥検出感度の評価を行う。 - 特許庁
MASK FOR INSPECTION OF DEFECT DETECTION SENSITIVITY AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT DETECTION SENSITIVITY例文帳に追加
欠陥検出感度検査用マスク及び欠陥検出感度検査方法 - 特許庁
COATING DEFECT INSPECTING METHOD, AND COATING DEVICE HAVING COATING DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加
塗工欠陥検査法と、塗工欠陥検査装置を備えた塗工装置 - 特許庁
In this semiconductor inspection method, a pattern image 24 and a defect image 28 by a defect (1) are composed to make a defect inspection image 29 (ST103).例文帳に追加
パターン画像２４と欠陥（１）による欠陥画像２８が合成され、欠陥検査画像２９が作製される（ＳＴ１０３）。 - 特許庁
ILLUMINATION OPTICAL MECHANISM APPARATUS AND DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加
照明光学機構装置、および、欠陥検査装置 - 特許庁
TRANSPARENT FILM INSPECTION DEVICE AND DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加
透明フィルム検査装置及び欠陥検出方法 - 特許庁
INSPECTION METHOD FOR DEFECT OF HONEYCOMB FILTER, INSPECTION DEVICE FOR DEFECT OF HONEYCOMB FILTER, AND MANUFACTURING METHOD FOR HONEYCOMB FILTER例文帳に追加
ハニカムフィルタの欠陥の検査方法、ハニカムフィルタの欠陥の検査装置、及び、ハニカムフィルタの製造方法 - 特許庁
| 意味 | 例文 (999件) |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|