「defect inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(15ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a defect inspection method capable of inspecting a defect by setting a size determination region having defect detection sensitivity corresponding to the size of a defect part automatically according to the pattern density.例文帳に追加

パターンの密度に応じて自動的に欠陥部分のサイズに応じた欠陥検出感度を有するサイズ判定領域を設定して欠陥検査できる欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an inspection method which enables the inspection of a defect such as a microcrack existing inside a piezoelectric element with high precision.例文帳に追加

圧電素子に内在するマイクロクラック等の欠陥を高精度に検出できる検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an inspection device and an inspection method capable of inspecting a defect at high speed with high sensitivity.例文帳に追加

高速かつ高感度で欠陥検査を行うことができる検査装置、及び検査方法を提供すること。 - 特許庁

To accurately detect an irregularity defect on an inspection surface of an inspection object by an inexpensive and simple device constitution.例文帳に追加

低コストかつ単純な装置構成で検査対象の被検査面の凹凸欠陥を精度よく検出する。 - 特許庁

To reduce the movement of visual point when a visual inspector refers to the inspection information of a surface defect inspection device.例文帳に追加

目視検査員が表面欠陥検査装置の検査情報を参照する場合に視点の移動を少なくする。 - 特許庁

STANDARD SAMPLE FOR CALIBRATING DEFECT INSPECTION APPARATUS FOR FLAT PANEL DISPLAY, AND CALIBRATION METHOD OF DEFECTIVE INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

フラットパネルディスプレイの欠陥検査装置を校正するための標準試料および欠陥検査装置の校正方法 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection method and a semiconductor inspection system that can improve resolution precision associated with a defect etc.例文帳に追加

欠陥等の分類精度を向上し得る半導体検査方法及び半導体検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide design driven inspection/metrology methods and apparatus in semiconductor wafer defect inspection or measurement.例文帳に追加

半導体ウエーハ欠陥検査又は測定における設計主導型の検査/測定方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of suppressing a defect data amount to be managed without impeding acquisition of a defect generation state on a substrate to be inspected.例文帳に追加

被検査基板における欠陥発生状況の把握を妨げることなく、管理すべき欠陥データ量を抑制できる欠陥検査装置の提供。 - 特許庁

A primary defect detection part 36 executes primary defect detection processing for detecting existence of a large defect larger than the prescribed size on an inspection object.例文帳に追加

１次欠陥検出部３６は、検査対象物上の所定サイズ以上の大欠陥の有無を検出する１次欠陥検出処理を実行する。 - 特許庁

Defect information including at least information on each defect position is acquired by detecting each defect on the substrate with the use of an inspection device (S302).例文帳に追加

検査装置によって基板上の欠陥をそれぞれ検出して、各欠陥の位置を表す情報を少なくとも含む欠陥情報を取得する（Ｓ３０２）。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and an image display method capable of performing optimum color display corresponding to the purpose of the defect device, defect characteristics, or the like.例文帳に追加

欠陥検査の目的や欠陥の特性等に応じて、最適なカラー表示を行うことができる欠陥検査装置及び画像表示方法を提供する。 - 特許庁

An image processing section 24 determines whether a defect exists, whose size allows to make a defect decision by visual inspection, based on information representing the size of the defect.例文帳に追加

画像処理部２４は、欠陥の大きさを示す情報に基づいて、目視によって欠陥の判断が可能な大きさの欠陥があるかどうかを判断する。 - 特許庁

To provide an inspection method of an active matrix substrate capable of inspecting point defect, line defect, or brightness defect at the stage of the active matrix substrate.例文帳に追加

アクティブマトリクス基板の段階で、点欠陥、線欠陥または輝度不良を検査することができるアクティブマトリクス基板の検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of detecting a defect independently, and calculating a characteristic quantity of the detected defect, and an image processing device therefor.例文帳に追加

単独で欠陥を検出し検出した欠陥の特徴量を算出することができる欠陥検査装置及びその画像処理装置を提供する。 - 特許庁

To make it possible to enhance the detection accuracy of a line defect and to enhance the identification accuracy of the point defect and the line defect in inspection of a TFT array.例文帳に追加

ＴＦＴアレイの検査において、線欠陥の検出精度を高めることができ、また、点欠陥と線欠陥の識別精度を高めること。 - 特許庁

Distribution state of defects is analyzed based on a defect position coordinate detected by an inspection equipment and classified into one distribution feature category of repetitive defect, aggregated defect, linear distribution defect, annular block distribution defect or random defect.例文帳に追加

検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspection device for a metal component, capable of detecting a defect existing in a surface and an inside of the metal component, without using a fluid such as water.例文帳に追加

水等の液体を用いること無く、金属部品の表面及び内部に存在する欠陥を検査することが可能な金属部品の欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspection apparatus capable of improving visibility of a small signal defect within a pattern and preventing information in the whole review area from being lost wherever possible.例文帳に追加

パターン中の信号の小さい欠陥の視認性を向上する一方で、レビュー領域全体の情報を可能な限り失わない欠陥検査方法および欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

A defect identification determining part 21 obtains the times of defect detection by determining whether the defects detected by defect inspection devices arranged in a plurality of inspection processes are the same defects or not.例文帳に追加

欠陥同一判定部２１は、複数の検査工程に配置された欠陥検査装置によって検出された欠陥が同一欠陥であるか否かを判定して欠陥検出回数を求める。 - 特許庁

To provide a substrate defect inspection method and a substrate defect inspection system that can grasp accurately how a defect occurred in a certain process affects the subsequent processes.例文帳に追加

ある工程で発生した欠陥が後の工程にどの程度影響を与えているかを正確に把握することができる基板の欠陥検査方法および基板の欠陥検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device of an inspection object for stabilizing coordinate accuracy of foreign matter or defect detected on the inspection object.例文帳に追加

本発明の目的は、被検査物上に検出される異物や欠陥の座標精度を安定化させる被検査物の検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device and a visual inspection method for finding a cold shut defect of an impeller and allowing inspection to be performed in a short time.例文帳に追加

羽根車の湯境欠陥を発見でき、短時間に検査を行う事が可能な外観検査方法及び外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and its apparatus for speedily and easily determining conditions capable of highly sensitive inspection from among a plurality of inspection conditions.例文帳に追加

複数ある検査条件の中から高感度に検査可能な条件を早く簡単に求める欠陥検査方法とその装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection condition selection apparatus for a color display device capable of selecting an inspection condition capable of detecting a defect in lighting inspection.例文帳に追加

点灯検査において、欠陥が検出可能な検査条件を選出できるカラー表示デバイスの検査条件選出装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM OF PATTERN DEFECT INSPECTION BY USING ELECTRON BEAM INSPECTION DEVICE AND MIRROR ELECTRON PROJECTION TYPE OR MULTIPLE BEAM TYPE ELECTRON BEAM INSPECTION DEVICE例文帳に追加

電子線検査装置を用いたパターン欠陥検査方法及びそのシステム、並びに写像投影型又はマルチビーム型電子線検査装置 - 特許庁

To detect a defect to be inspected in a short inspection time.例文帳に追加

短い検査時間で検査対象の欠陥を検出することを課題とする。 - 特許庁

ILLUMINATION OPTICAL SYSTEM, PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE USING IT AND OPTICAL FIBER例文帳に追加

照明光学系及びこれを用いたパターン欠陥検査装置及び光ファイバー - 特許庁

REVIEWING APPARATUS, INSPECTION REGION SET-UP SUPPORT SYSTEM, AND METHOD FOR OBTAINING DEFECT IMAGE例文帳に追加

レビュー装置，検査領域設定支援システム、および、欠陥の画像得方法 - 特許庁

SPACE COORDINATE VALUE MEASURING METHOD, ITS MEASURING DEVICE AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

空間座標値測定方法及びその測定装置並びに欠陥検査装置 - 特許庁

To evaluate a performance of an internal defect inspection device by magnetic leakage flux flaw detection.例文帳に追加

漏洩磁束探傷による内部欠陥検査装置の性能を評価する。 - 特許庁

EQUIPMENT, SYSTEM, METHOD, AND PROGRAM FOR DEFECT INSPECTION例文帳に追加

欠陥検査装置、欠陥検査システム、欠陥検査方法および欠陥検査プログラム - 特許庁

GLASS PLATE DEFECT INSPECTION APPARATUS AND MANUFACTURING METHOD OF GLASS PLATE FOR FLAT PANEL DISPLAY例文帳に追加

板ガラス欠陥検査装置及びフラットパネルディスプレイ用板ガラスの製造方法 - 特許庁

REFLECTION IMAGE FORMING ELECTRON MICROSCOPE AND PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE USING IT例文帳に追加

反射結像型電子顕微鏡及びそれを用いたパターン欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION OF SURFACE DEFECT OF SHEET-LIKE MATERIAL例文帳に追加

シート状材料の表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD AND ALGORITHM FOR ELONGATED DEFECT IN EDDY CURRENT INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

渦電流検査システムにおける長手方向欠陥のための方法及びアルゴリズム - 特許庁

To improve an operation rate of an inspection device by setting an inspection condition, in a state where an actual inspection object does not exist, in defect inspection that uses a substrate with a pattern as the inspection object.例文帳に追加

パターン付基板を検査対象とした欠陥検査において，実際の検査対象物物が存在しない状態で、検査条件を設定することにより、検査装置の稼働率を向上させる。 - 特許庁

To realize a defect inspection device by which a vertical or horizontal defect of fine line width such as a CD error can be detected.例文帳に追加

ＣＤエラーのような微細線幅の縦長又は横長の欠陥を検出できる欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁

To provide a pattern inspection device which eliminates an erroneous detection of false defect macroscopically, and enables high defect detection accuracy microscopically.例文帳に追加

マクロには擬似欠陥の誤検出がなく、ミクロには欠陥検出精度が高いパターン検査装置を提供する。 - 特許庁

To realize an inspection device capable of individually detecting a step bunching and a defect other than the step bunching such as a lattice defect.例文帳に追加

格子欠陥等のステップバンチング以外の欠陥とステップバンチングとを個別に検出できる検査装置を実現する。 - 特許庁

METHOD OF INSPECTING DEFECT IN CIRCUIT BOARD FOR FLAT PANEL DISPLAY, METHOD OF MANUFACTURING THIS CIRCUIT BOARD AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

フラットパネルディスプレイ用パネル回路基板の欠陥検査方法、当該パネル回路基板の製造方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus by which a defect can be inspected with high throughput even when a charged particle beam is used.例文帳に追加

荷電粒子線ビームを用いた場合でも高スループットで欠陥の検査が可能な欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD OF ELECTROLUMINESCENT DISPLAY, DEFECT CORRECTION METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING ELECTROLUMINESCENT DISPLAY例文帳に追加

エレクトロルミネッセンス表示装置の欠陥検査方法及び欠陥修正方法及びエレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法 - 特許庁

To efficiently suppress a false defect and to carry out reticle inspection where a defect is detected with high detection sensitivity.例文帳に追加

本発明は、効率良く擬似欠陥を抑制し、高い検出感度で欠陥検出可能なレチクル検査を実現する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of efficiently classifying a defect with high precision without taking labor.例文帳に追加

欠陥を分類するのに手間を掛けずに効率良く高精度に欠陥分類できる欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁