「defect inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

DEFECT INSPECTION MANAGEMENT SYSTEM AND DEFECT INSPECTION SYSTEM AND APPARATUS OF ELECTRONIC CIRCUIT PATTERN例文帳に追加

電子回路パターンの欠陥検査管理システム，電子回路パターンの欠陥検査システム及び装置 - 特許庁

FOREIGN SUBSTANCE DEFECT INSPECTION METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

異物欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

SUBSTRATE DEFECT INSPECTION METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

基板欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁

DISPLAY PANEL DEFECT INSPECTION SYSTEM AND METHOD例文帳に追加

ディスプレイパネル欠陥検査システム及び方法 - 特許庁

UNEVENNESS DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE OF PATTERN例文帳に追加

パターンのムラ欠陥検査方法及び装置 - 特許庁

METHOD FOR DETERMINING CORRELATION VALUE OF OBJECT TO BE INSPECTED, DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEFECT INSPECTION APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

被検査対象相関値決定方法、欠陥検査方法とその欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

表面欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD THEREOF例文帳に追加

表面欠陥検査装置及びその方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION OF DEFECT例文帳に追加

欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT INSPECTION METHOD, OPTICAL SCANNING DEVICE, AND PRODUCTION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

欠陥検査装置、欠陥検査方法、光学式走査装置、半導体デバイス製造方法 - 特許庁

NON-UNIFORMITY DEFECT INSPECTION MASK, APPARATUS AND METHOD FOR NON-UNIFORMITY DEFECT INSPECTION, AND METHOD FOR MANUFACTURING PHOTOMASK例文帳に追加

ムラ欠陥検査マスク、ムラ欠陥検査装置及び方法、並びにフォトマスクの製造方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD OF POWER SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

パワー半導体装置の欠陥検査方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DEFECT INSPECTION例文帳に追加

欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR DEFECT INSPECTION例文帳に追加

欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR DEFECT INSPECTION例文帳に追加

欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE OF PHOTOMASK, DEFECT INSPECTION METHOD OF PHOTOMASK, AND MANUFACTURING METHOD OF PHOTOMASK例文帳に追加

フォトマスクの欠陥検査装置、フォトマスクの欠陥検査方法及びフォトマスクの製造方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD OF PHOTOMASK, AND PHOTOMASK例文帳に追加

フォトマスクの欠陥検査方法及びフォトマスク - 特許庁

CRYSTAL DEFECT INSPECTION METHOD AND CRYSTAL DEFECT INSPECTION APPARATUS OF SILICON CARBIDE SINGLE CRYSTAL例文帳に追加

炭化珪素単結晶の結晶欠陥検査方法および結晶欠陥検査装置 - 特許庁

CRYSTAL DEFECT INSPECTION METHOD AND CRYSTAL DEFECT INSPECTION APPARATUS OF SILICON CARBIDE SINGLE-CRYSTAL WAFER例文帳に追加

炭化珪素単結晶ウェハの結晶欠陥検査方法および結晶欠陥検査装置 - 特許庁

INTERFACE DEFECT INSPECTION METHOD OF COATING MEMBER例文帳に追加

コーティング部材の界面欠陥検査方法 - 特許庁

CHARACTERISTIC EXTRACTION METHOD OF IMAGE, TOOL DEFECT INSPECTION METHOD, AND TOOL DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

画像の特徴抽出方法並びに工具欠陥検査方法と工具欠陥検査装置 - 特許庁

To provide a mask defect inspection method, and a mask defect inspection device used therefor.例文帳に追加

マスク欠陥検査方法及びこれに使用されるマスク欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

SURFACE DISTORTION DEFECT INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

表面歪み欠陥検査装置、検査方法及びコンピュータプログラム - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD FOR SHEET MATERIAL, AND INSPECTION TOOL USED THEREFOR例文帳に追加

シート材の欠陥検査方法、及びそれに用いる検査用治具 - 特許庁

The defect inspection device 1 includes a setting part 2 and an inspection part 3.例文帳に追加

欠陥検査装置１は、設定部２と検査部３を含む。 - 特許庁

The defect inspection system is constituted of a DF defect inspection device 1 having a spatial filter section 12, and a defect inspection correction device 2.例文帳に追加

空間フィルタ部１２を有するＤＦ欠陥検査装置１及び欠陥検査補正装置２を含み欠陥検査システムが構成される。 - 特許庁

To automate defect inspection in an apparatus for defect inspection of an exposure mask and to realize high accuracy and high-speed defect inspection.例文帳に追加

露光用マスクの欠陥検査において、欠陥検査を装置内で自動化し、欠陥検査の高精度化並びに高速化を可能にする。 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF IMAGING ELEMENT, AND DEFECT INSPECTION SUPPORTING PROGRAM例文帳に追加

撮像素子の欠陥検査方法及び欠陥検査支援プログラム - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT DETECTING DEVICE FOR ELECTROLUMINESCENT ELEMENT例文帳に追加

エレクトロルミネッセンス素子の欠陥検査方法及び欠陥検出装置 - 特許庁

OPTICAL DEVICE DEFECT INSPECTION METHOD AND OPTICAL DEVICE DEFECT INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

光学デバイス欠陥検査方法及び光学デバイス欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD FOR METALLIC CAP, REGULATION METHOD FOR INSPECTION THEREOF, AND DEFECT INSPECTION METHOD FOR METALLIC CAP例文帳に追加

金属製キャップの不良検査方法、この検査のための調整方法、および金属製キャップの不良検査装置 - 特許庁

To provide a defect inspection device, a defect inspection system and a defect inspection method that use defect data for analysis without lowering the number of samples of a defect with a high killer rate.例文帳に追加

キラー率が高い欠陥のサンプリング数を低下させずに欠陥データを解析に用いることが可能な欠陥検査装置、欠陥検査システム及び欠陥データ処理方法を提供する。 - 特許庁

DISK SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

ディスク表面欠陥検査方法及び装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

パターンの欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION SYSTEM, METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

表面欠陥検査システム、方法及びプログラム - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD FOR PATTERN AND ITS DEVICE例文帳に追加

パターンの欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁

PHOTO LITHOGRAPHY PROCESS DEVICE AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

フォトリソプロセス装置および欠陥検査方法 - 特許庁

INSPECTION DEVICE AND METHOD OF PATTERN DEFECT例文帳に追加

パターン欠陥の検査装置及び検査方法 - 特許庁

INSPECTION METHOD FOR HOLE DEFECT OF ORIENTED FILM例文帳に追加

配向フィルムの穴明き欠陥の検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD ON SUBSTRATE FOR DISPLAY DEVICE例文帳に追加

表示装置用基板の欠陥検査方法 - 特許庁

To provide a defect inspection device and a defect inspection method with which a defect inspection is possible in all areas of a semiconductor wafer to eliminate an area where the defect inspection is impossible.例文帳に追加

半導体ウェハの全ての領域で欠陥検査が可能であり、欠陥検査が不可能な領域をなくすことができる欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION APPARATUS AND METHOD FOR LENTICULAR SHEET例文帳に追加

レンチキュラシートの欠陥検査装置及び方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

欠陥検査方法及びデバイス製造方法 - 特許庁