「defect inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a defect inspection device for a PDP substrate and a defect inspection method capable of obtaining a precise defect location even if the defect inspection is carried out with the substrate in a state of thermal expansion, and capable of improving production efficiency.例文帳に追加

基板が熱膨張した状態で欠陥検査を行っても正確な欠陥位置を得ることができ、生産効率を向上させることができるＰＤＰ用基板の欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

The additional sector group covers a sector not determined to be a defect but supposed to have a latent defect in a defect detecting inspection.例文帳に追加

付加セクタ群は、欠陥検出検査では、欠陥と判断されないが欠陥が潜在していると予想されるセクタをカバーする。 - 特許庁

To provide a defect inspecting method which can correctly detect a defect even if a wafer surface as an object of defect inspection has color unevenness.例文帳に追加

欠陥検査を行うウエハ表面に色むらがあっても正しく欠陥を検出できる欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To improve inspection capability and production capability by reducing inspection time by a defect inspection apparatus.例文帳に追加

欠陥検査装置による検査時間を短縮し、検査能力の向上および生産能力の向上を実現する。 - 特許庁

STANDARD SILICON WAFER USED FOR INSPECTION MADE BY DEFECT INSPECTION DEVICE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND INSPECTION METHOD USING STANDARD SILICON WAFER例文帳に追加

欠陥検査装置検査用の標準シリコンウェーハ、その製造方法および標準シリコンウェーハを用いた検査方法 - 特許庁

To realize a defect inspection system enabling further efficient production management by sharing inspection result data by the whole production line, and easy recognition of the details of a defect detected by defect inspection.例文帳に追加

生産ライン全体で検査結果データを共有してより効率的な生産管理ができるとともに、欠陥検査で検出された欠陥の詳細を容易に認識できる欠陥検査システムを実現する。 - 特許庁

In a visual inspection step 32, a display part 8 displays a defect detected as a non-inspection area by a visual inspection operator in the automatic inspection.例文帳に追加

目視検査工程３２では、表示部８は、目視検査作業者に自動検査での非検査領域と検出された欠陥とを表示する。 - 特許庁

This defect inspection system for inspecting defects of an inspection object comprises a data generation means for generating inspection information for specifying an inspection and inspection result information containing defect information showing the details of the defect detected by inspection in a predetermined united format, and registering the generated inspection result information in a database.例文帳に追加

検査対象の欠陥を検査する欠陥検査システムにおいて、検査を特定する検査情報と、検査で検出した欠陥の詳細を示す欠陥情報を含む検査結果情報を所定の統一フォーマットで生成し、生成した検査結果情報をデータベースに登録するデータ生成手段とを有する。 - 特許庁

To provide a defect extraction device and a defect extraction method capable of improving the reliability of defect inspection, and reducing the data amount of inspection result.例文帳に追加

欠陥検査の信頼性を向上させることと、検査結果のデータ量を低減させることができる欠陥抽出装置及び欠陥抽出方法を提供すること。 - 特許庁

A defect generation date and time, the defect item, and an image data and an inspection result correlated with information thereof are stored, when inspection is carried out and when a defect is determined.例文帳に追加

検査を実行し、不良判定がなされた場合、不良発生日時、不良項目、さらにこれらの情報に関連付けて、画像データ、検査計測結果を記憶する。 - 特許庁

The scattered light from the defect in the inspection range 22 is weaker than the scattered light from the defect in the inspection range 23, so that only a further large defect can be detected.例文帳に追加

検査範囲２２の欠陥からの散乱光は検査範囲２３の欠陥からの散乱光よりも更に弱いから、より大きな欠陥のみが検出される。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and an inspection device determining quickly whether a defect on a disk is a circumferential flaw or an island defect.例文帳に追加

ディスク上の欠陥について円周疵か、島状欠陥かの判定を高速に処理することが可能な欠陥検査方法および検査装置を提供することにある。 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD, PATTERN DEFECT INSPECTING TEST PATTERN BOARD, PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE, PHOTO MASK MANUFACTURING METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING DISPLAY DEVICE SUBSTRATE例文帳に追加

パターン欠陥検査方法、パターン欠陥検査用テストパターン基板、及びパターン欠陥検査装置、並びにフォトマスクの製造方法、及び表示デバイス用基板の製造方法 - 特許庁

To provide a substrate inspecting method for detecting whether the defect of the substrate is a backside defect produced in the front stage of the inspection process or the backside defect produced during inspection.例文帳に追加

検査プロセスの前段階で生じた裏面欠陥なのか、もしくは検査時に生じた裏面欠陥なのかを検出することができる基板検査方法を提供する。 - 特許庁

The defect of wiring, that is formed by damascene method, is extracted by the pattern defect comparison inspection and SEM inspection and is identified to be a defect, that is ascertained by a process trace in advance.例文帳に追加

ダマシン法で形成された配線の欠陥をパターン欠陥比較検査およびＳＥＭ検査で抽出し、予め工程トレースによって判明した欠陥と同定する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspection apparatus for automatically adjusting a focus when a specimen is imaged, and determining whether a defect exists from obtained images.例文帳に追加

被検体を撮影する際に自動的に焦点を合せ、得られた画像から欠陥の有無を判断する欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

Also, defect inspection is carried out at a linear recording density equal to or lower than 1/(2 to 4) of a defect size impossible to be error-corrected at the magnetic disk device, and a defect size targeted for acceptance/rejection determination in defect inspection.例文帳に追加

また、磁気ディスク装置でエラー訂正不可能な欠陥サイズであって且つ欠陥検査で合否判定の対象とする欠陥サイズの１／（２〜４）以下の線記録密度で欠陥検査を行うこと。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus capable of quickly, surely, and automatically carrying out defect inspection.例文帳に追加

不良品の検査を、自動で、迅速且つ確実に行うことができる検査装置を提供する。 - 特許庁

METHOD OF DETERMINING SPECIFIC DEFECT BY INSPECTION MACHINE, AND METHOD OF DETERMINING ROLLER BACK FACE SOIL BY INSPECTION MACHINE例文帳に追加

検査機による特定欠陥判定方法及び検査機によるコロ裏面汚れ判定方法 - 特許庁

To detect highly accurately a defect of an inspection object, and to shorten an inspection time.例文帳に追加

点検対象の不具合を高い精度で検出するとともに、点検時間の短縮を図る。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE BEFORE CRIMPING WIRE, INSPECTION METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF WIRE WITH TERMINAL例文帳に追加

電線圧着前の不具合検査装置、検査方法、および端子付き電線の製造方法 - 特許庁

SIGNAL PROCESSOR, IMAGE PROCESSOR, AND SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

信号処理装置、画像処理装置及び表面欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE OF DEFECT INSPECTION FOR CCD SOLID-STATE IMAGING ELEMENT例文帳に追加

ＣＣＤ型固体撮像素子の欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

PHOTOVOLTAIC DEVICE INSPECTION APPARATUS AND METHOD OF DETERMINING DEFECT IN PHOTOVOLTAIC DEVICE例文帳に追加

太陽電池の検査装置及び太陽電池の欠陥判定方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION SYSTEM, DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING DISPLAY DEVICE例文帳に追加

欠陥検査システム、表示装置および表示装置の製造方法 - 特許庁

SYNCHRONIZING SIGNAL SHAPING CIRCUIT, IMAGE PROCESSOR AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

同期信号整形回路、画像処理装置及び欠陥検査装置 - 特許庁

SURFACE INSPECTION DEVICE OF STEEL STRIP, AND DETECTING METHOD OF SURFACE DEFECT例文帳に追加

鋼帯の表面検査装置及び表面欠陥の検出方法 - 特許庁

DEFECT POSITION INSPECTION DECISION METHOD OF WEB-LIKE RAW MATERIAL, AND ITS DEVICE例文帳に追加

ウエブ状素材の不良位置検査確定方法およびその装置 - 特許庁

To provide a high-throughput and high-sensitivity defect inspection apparatus.例文帳に追加

高スループットかつ高感度の欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁

SEM-TYPE DEFECT-REVIEWING DEVICE AND METHOD AND INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

ＳＥＭ式欠陥レビュー装置およびその方法並びに検査システム - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DEFORMATION DEFECT INSPECTION OF HOOP例文帳に追加

フープ材の変形不良検査装置および変形不良検出方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD, AND VISUAL INSPECTION DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

欠陥検出方法およびその方法を用いた視覚検査装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR UNIFORMITY DEFECT INSPECTION AND METHOD FOR MANUFACTURING PHOTOMASK例文帳に追加

ムラ欠陥検査方法及び装置、並びにフォトマスクの製造方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION APPARATUS AND METHOD, AND METHOD FOR MANUFACTURING PHOTOMASK例文帳に追加

ムラ欠陥検査装置及び方法、並びにフォトマスクの製造方法 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus capable of acquiring a desired image with high precision and carrying out a precise defect inspection.例文帳に追加

所望の画像を高精度で取得することができ、高精度の欠陥検査を行うことが可能な欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR PATTERN DEFECT INSPECTION AND COMPUTER-READABLE STORAGE MEDIUM WITH RECORDED PATTERN DEFECT INSPECTION PROGRAM例文帳に追加

パターン欠陥検査方法及びパターン欠陥検査システム並びにパターン欠陥検査プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus, a defect inspection method, a program, and a recording medium, in which an area having no artificial detect can be surely inspected and increase of loads and reduction of inspection accuracy caused by an artificial defect can be prevented by utilizing inspection results in automatic inspection.例文帳に追加

疑似欠陥が存在しない領域の検査を確実に行い、自動検査での検査結果を利用して、疑似欠陥による負荷の増大と検査精度低下を防ぐことができる欠陥検査装置、欠陥検査方法、プログラムおよび記録媒体を提供する。 - 特許庁

The non-reviewed defect is supplied with the defect class having the identical definition, by using a defect data set which relates to defects of an inspection apparatus at a defect detection event, and the defect class of the reviewed defect given by an ADC of a review system.例文帳に追加

欠陥検出時の検査装置の欠陥に関する欠陥データとレビュー済み欠陥のレビュー装置のADCで与えられた欠陥クラスを用いて，レビューしていない欠陥に対して同じ定義の欠陥クラスを付与する。 - 特許庁

To provide a reticle defect inspection device and a reticle defect inspection method, which suppresses damages on a reticle by irradiation with inspection light when a reticle is inspected in a still state.例文帳に追加

レチクルを静止させた状態での検査の際の、検査光照射によるレチクルの損傷を抑制するレチクル欠陥検査装置およびレチクル検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a pattern inspection method capable of performing defect inspection simply, quickly and surely, even when performing the defect inspection of a pattern of a sample having a large region.例文帳に追加

大領域の試料のパターンの欠陥検査を行う場合であっても、簡便、迅速、確実に欠陥検査を行うことができるパターン検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and a defect inspection method capable of improving accuracy and efficiency of detect inspection on the surface of a work having gloss.例文帳に追加

光沢を有するワークの表面における欠陥検査の精度と効率とを向上させることが可能な欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection apparatus for a cylindrical inspection target, which can inspect a defect generated on the surface of the cylindrical inspection target by a simple configuration.例文帳に追加

簡単な構成で円筒形被検査体の表面に発生する欠陥を検査できる円筒形被検査体の表面欠陥検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To obtain a method and an apparatus for the inspection of a defect wherein the defect of a specimen can be detected in a short time.例文帳に追加

被検査物の欠陥を短時間で検出できる欠陥検査方法及びその装置を得る。 - 特許庁

The defect map 19 and the defect histogram 21 are displayed, based on the extracted inspection data.例文帳に追加

この抽出された検査データを基にした欠陥マップ１９や欠陥ヒストグラム２１が表示される。 - 特許庁

After an inspection is performed, the controlling part 14 compares defect information generated during inspection with defect information generated during inspection of un underlying layer of the substrate so that the underlying layer generates target defect information which identifies a defect occurred on the uppermost layer except an overlapping defect which overlaps the defect.例文帳に追加

検査が行われた後、制御部１４は、その検査時に生成された欠陥情報と、基板の下層レイヤーの検査時に生成された欠陥情報とを比較し、前記下層レイヤーが欠陥と重複する重複欠陥を除いて前記最上層レイヤー上に発生した欠陥を識別する注目欠陥情報を生成する。 - 特許庁