| 意味 | 例文 (999件) |
defect inspectionの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2367件
SEMICONDUCTOR WAFER INSPECTION METHOD AND DEFECT REVIEW APPARATUS例文帳に追加
半導体ウェハ検査方法及び欠陥レビュー装置 - 特許庁
MEASURING DEVICE, DEFECT INSPECTION DEVICE, AND MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
計測装置、欠陥検査装置及び計測方法 - 特許庁
INSPECTION METHOD OF SURFACE DEFECT OF TRANSPARENT RESIN FILM例文帳に追加
透明樹脂フィルムの表面欠陥の検査方法 - 特許庁
REFERENCE DATA GENERATION METHOD, PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE, PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD, AND REFERENCE DATA GENERATION PROGRAM例文帳に追加
参照データ生成方法、パターン欠陥検査装置、パターン欠陥検査方法、及び参照データ生成プログラム - 特許庁
To provide a defect inspection method and a defect inspection device for a honeycomb filter capable of an inspection in a short time.例文帳に追加
短時間での検査が可能な、ハニカムフィルタの欠陥を検査する方法、及び、ハニカムフィルタの欠陥の検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide an inspection device making correct defect inspection even when the inspection surface is tilted greatly.例文帳に追加
被検面の傾きが大きくても正しい欠陥検査を行える検査装置を提供する。 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD, ITS DEVICE, DEFECT ANALYSIS METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加
欠陥検査方法及びその装置並びに欠陥解析方法及びその装置 - 特許庁
METHOD OF DETECTING DISPLAY DEFECT IN LIQUID CRYSTAL PANEL, AND INSPECTION DEVICE FOR DISPLAY DEFECT THEREIN例文帳に追加
液晶パネルの表示欠陥検出方法及び表示欠陥検査装置 - 特許庁
The inspection part 3 specifics a defect becoming an inspection target from the defect on the inspection target surface 4a of a substrate 4 so that the inspection coverage related to the defect of the defect size becomes the target inspection coverage of the defect size at each defect size and outputs data related to the specified defect as the inspection result related to the whole of the inspection target surface 4a.例文帳に追加
検査部３は、欠陥サイズごとに、その欠陥サイズの欠陥についての検査カバレッジが、その欠陥サイズの目標検査カバレッジとなるように、基板４の検査対象面４ａ上の欠陥の中から検査対象となる欠陥を特定し、その特定された欠陥についての情報を、検査対象面４ａの全体についての検査結果として出力する。 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD, PROGRAM, AND COMPUTER STORAGE MEDIUM例文帳に追加
欠陥検査方法、プログラム及びコンピュータ記憶媒体 - 特許庁
OBJECT LENS, ELECTRON BEAM DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加
対物レンズ、電子線装置及び欠陥検査方法 - 特許庁
LAMINATION DEFECT INSPECTION METHOD OF SILICON CARBIDE SINGLE CRYSTAL例文帳に追加
炭化珪素単結晶の積層欠陥検査方法 - 特許庁
DATA MANAGEMENT DEVICE, INSPECTION SYSTEM AND DEFECT REVIEWING APPARATUS例文帳に追加
データ管理装置、検査システムおよび欠陥レビュー装置 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTION OF DEFECT ON SURFACE OF WORKPIECE例文帳に追加
ワークピース表面の欠陥検査装置及び方法 - 特許庁
To provide a defect inspection device and a defect inspection method, being capable of accurately inspecting a fine defect in a short time.例文帳に追加
微細な欠陥の検査を精度よく且つ短時間に行うことができる欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁
This defect inspection device is employed for inspecting the existence of a defect of an inspection object and inspecting a plurality of inspection objects continuously.例文帳に追加
検査対象物の欠陥の有無を検査すると共に複数の検査対象物を連続して検査する欠陥検査装置である。 - 特許庁
To provide a defect inspection device having unprecedented high accuracy, in a defect inspection device of a manufacturing process of a semiconductor device; and to provide a defect inspection (or evaluation) method.例文帳に追加
半導体デバイスの製造過程の欠陥検査装置において従来にはない精度の良い欠陥検査装置及び検査（或いは評価）方法を実現する。 - 特許庁
SURFACE DEFECT INSPECTING APPARATUS, SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING CIRCUIT BOARD USING THE INSPECTION METHOD例文帳に追加
表面欠点検査装置、表面欠点検査方法およびその検査方法を用いた回路基板の製造方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR SUPPORTING INSPECTION OF INTERNAL DEFECT IN CASTING例文帳に追加
鋳造品内部欠陥検査支援装置及び方法 - 特許庁
To provide a defect inspection analysis system and a defect inspection analysis method capable of improving the efficiency of a series of inspection analysis processes, including the defect inspection of a wafer at the manufacturing of a semiconductor device and a final defect analysis result of a target portion, and to provide a management computer that uses the defect inspection analysis method.例文帳に追加
半導体装置製造時のウエハの欠陥検査や注目部の最終的な欠陥解析結果を含む一連の検査解析工程を高効率化することができる欠陥検査解析システム、欠陥検査解析方法及びこれに用いる管理コンピュータを提供する。 - 特許庁
DEFECT INSPECTION DEVICE WITH CATADIOPTRIC OBJECTIVE LENS例文帳に追加
反射屈折型対物レンズを用いた欠陥検査装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE DEFECT INSPECTION METHOD AND SYSTEM THEREOF例文帳に追加
半導体デバイスの欠陥検査方法およびそのシステム - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE FOR MASK BLANK, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE USING THEM例文帳に追加
マスクブランクの欠陥検査方法及び欠陥検査装置、並びにそれらを用いた半導体装置の製造方法 - 特許庁
DISPLAY METHOD FOR DEFECT INSPECTION USING IMAGE PROCESSOR例文帳に追加
画像処理装置を用いた欠陥検査の表示方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION OF DEFECT OF MONOLITHIC CARRIER例文帳に追加
モノリス担体の欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND IMAGE SENSOR CALIBRATION METHOD例文帳に追加
パターン欠陥検査装置及びイメージセンサの校正方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
欠陥検査方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
To provide a defect inspection device capable of defect inspection even in the case of occurrence of multiple defects.例文帳に追加
多量の欠陥が発生した場合にも欠陥検査を行なうことができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD OF INSPECTING SURFACE OF SUBSTRATE例文帳に追加
欠陥検査装置及び基板表面の検査方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTION APPARATUS, DEFECT INSPECTION METHOD, PHOTOMASK MANUFACTURING METHOD, PATTERN TRANSFERRING METHOD AND SEMICONDUCTOR WAFER MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
欠陥検査装置及び方法、フォトマスクの製造方法、パターン転写方法、並びに半導体ウェハの製造方法 - 特許庁
No defect was found during the pre-flight inspection. 例文帳に追加
飛行前の検査では何の欠陥も見つからなかった。 - Weblio英語基本例文集
METHOD FOR SETTING ILLUMINATION ANGLE IN DEFECT INSPECTION INSTRUMENT例文帳に追加
欠陥検査装置における照明角度設定方法 - 特許庁
| 意味 | 例文 (999件) |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|