「defect inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

To improve reliability for inspecting a defect by enabling a defect candidate to be verified easily by the visual inspection of an image or the like and the defect to be verified by all means.例文帳に追加

画像による目視検査での欠陥候補の確認をし易くし、欠陥の見逃しなどをなくして欠陥検査の信頼性を高める。 - 特許庁

This inspection data processor is displayed with a defect map 19 indicating a position of a defect on a film, and a defect histogram 21 indicating a distribution of the defects on the film.例文帳に追加

フィルム上の欠陥の位置を示す欠陥マップ１９やフィルム上の欠陥の分布を示す欠陥ヒストグラム２１が表示されている。 - 特許庁

To screen a readout reliability defect which is caused by a defect of insulation characteristics due to a defect at ferroelectric film formation time at the time of an initial inspection.例文帳に追加

強誘電体膜形成時の欠陥による絶縁特性不良で起こる読み出し信頼性不良を、初期検査時にスクリーニングする。 - 特許庁

From the stage position of a defect detected by a review device, a defect candidate close to that stage position is listed along with the defect information (defect type, defect image, defect size) provided by an inspection device, so that a defect for use in the fine alignment correction can be selected.例文帳に追加

レビュー装置が検出した欠陥のステージ位置から、そのステージ位置に近い欠陥候補を検査装置が提供する欠陥情報（欠陥種別，欠陥画像，欠陥サイズ）とともに一覧表示し、ファインアライメント補正に使用する欠陥を選択できるようにする。 - 特許庁

To provide a defect inspecting method by which necessary and sufficient defect inspection advantageous in time and cost is performed by performing the inspection while dividing a mask defect into an area where the influence of a mask defect on the operation is large and an area where the influence is small when inspection sensitivity is adjusted.例文帳に追加

検査感度調整の際にマスク欠陥がデバイスの動作への影響が大きな領域と小さな領域とに分離して検査を行うことにより時間的、コスト的に有利な必要十分な欠陥検査ができる欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

TEST PATTERN WAFER FOR DEFECT INSPECTING DEVICE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND EVALUATION METHOD OF DEFECT INSPECTION APPARATUS USING IT例文帳に追加

欠陥検査装置用テストパターンウエハ、その製造方法及びそれを用いた欠陥検査装置の評価方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING SURFACE DEFECT, AND STORAGE MEDIUM RECORDED WITH SURFACE DEFECT INSPECTION PROGRAM例文帳に追加

表面欠陥検査装置、表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査用プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

The surface of a defect substrate to be subjected to defect inspection is scanned by a light beam and is detected of its defects and their address coordinates.例文帳に追加

欠陥検査すべき基板の表面を光ビームで走査し、欠陥及びそのアドレス座標を検出する。 - 特許庁

A controlling part 14 generates defect information which identifies a defect on a substrate during inspection of a substrate installed.例文帳に追加

制御部１４は、搬入された基板の検査時に、基板上の欠陥を識別する欠陥情報を生成する。 - 特許庁

To provide a defect inspection technology capable of performing defect detection with high sensitivity at a high speed that uses an electron beam.例文帳に追加

電子線を用いた、高速かつ高感度に欠陥検出を可能にする欠陥検査技術を提供する。 - 特許庁

To detect a range in which defect is detected when minute defect is included in a flexible piezoelectric part making contact with electrode means for inspection.例文帳に追加

同軸状可撓性圧電体に欠陥が含まれる場合、分極前に欠陥の位置を特定できない。 - 特許庁

To detect surely a defect of an inspection object without depending on a defect shape of the inspection object, each different polishing line formed on each inspection object or the like.例文帳に追加

検査対象物における欠陥の形状や各検査対象物に形成されたそれぞれ異なる研磨筋等によらず、検査対象物の欠陥を確実に検出すること。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection device capable of more reliable surface defect inspection capable of imaging while securing sufficient brightness even the inspection object is curvilinear solid.例文帳に追加

被検査物が曲面体であっても十分な明るさをもった撮影画像が確保でき、より信頼性の高い表面欠陥検査が可能となる表面欠陥検査装置を提供する - 特許庁

To check the related state of a macro-defect part and a micro-defect part by superposing a macro-inspection image and a micro-inspection image one upon another and to enhance the inspection efficiency of a glass substrate.例文帳に追加

マクロ検査画像とミクロ検査結果とを重ね合わせてマクロ欠陥部分とミクロ欠陥部分との関連状況をチェックでき、ガラス基板に対する検査効率を向上すること。 - 特許庁

Then, the defect inspection device is enabled to recalculate an inspection result in response to change in a threshold coefficient from the inspection result data, display it on an assist tool picture (GUI), and observe a detection defect.例文帳に追加

次に、検査結果データから、しきい値係数の変更による検査結果の再計算を可能とし、アシストツール画面(ＧＵＩ)上に表示させ、検出欠陥の観察も可能とする。 - 特許庁

Then image data of an inspection image obtained by a pattern defect inspecting device with inspection wavelength is compared and contrasted with the data for phase shift mask correspondence inspection to detect a pattern defect.例文帳に追加

続いて、検査波長でのパターン欠陥検査装置により得た検査画像の画像データと位相シフトマスク対応検査用データとを比較対照してパターン欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device constituted so as to be capable of achieving the drastic enhancement of inspection precision at the time of inspection of defect in a PTP sheet manufacturing process, and a PTP packaging machine.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における不良を検査するに際し、検査精度の飛躍的な向上を図ることのできる不良検査装置、及び、ＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

The image feature amount is calculated from an inspection image of a semiconductor wafer, pattern region division is performed, and the inspection method and sensitivity (defect inspection threshold) preset for each pattern region are changed, thereby performing the defect inspection.例文帳に追加

半導体ウェハの検査画像から画像特徴量を算出し、パターン領域分割を行い，予めパターン領域毎に設定した検査方式及び感度（欠陥検出閾値）を切り替えて欠陥検出を行う。 - 特許庁

This condition is maintained at automatic defect classification time, after circuit pattern inspection.例文帳に追加

この状態は回路パターン検査後の自動欠陥分類時に維持される。 - 特許庁

INSPECTION METHOD OF FORGED RING-SHAPED MATERIAL SURFACE DEFECT USING EDDY CURRENT例文帳に追加

渦電流を用いた鍛造リング状素材の表面欠陥の検査方法 - 特許庁

DEFECT LIMIT SPECIMEN TOOL FOR VISUAL INSPECTION OF EYEGLASS LENS, AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

眼鏡レンズ外観検査用欠陥限度見本具およびその製造方法 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of simply inspecting the defect such as a crack or the like of a solar cell on a definite decision level, and a flaw inspection method of the solar cell.例文帳に追加

太陽電池のクラック等の欠陥の検査を一定の判定レベルで簡単に行うことができる検査装置と方法を提供する。 - 特許庁

LIGHTING METHOD AND DEVICE THEREFOR, AND DEFECT INSPECTION DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

照明方法およびその装置ならびにこれを用いた欠陥検査装置 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus and a defect inspection method for enlarging the take-in range of light scattered due to minute defects and enhancing signal intensity.例文帳に追加

微細な欠陥から散乱した光の取込範囲を拡大し信号強度を高める欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

The mask pattern are macroprojected on the wafer 9 and the macroprojected pattern on the wafer 9 are subjected to the defect inspection, by which the defect inspection of the mask is performed.例文帳に追加

ウエハ９上にマスクパターンを拡大投影し、ウエハ９上の拡大投影パターンを欠陥検査することによりマスクの欠陥検査を行う。 - 特許庁

This condition is maintained, when an automatic defect classification is performed after the circuit pattern inspection.例文帳に追加

この状態は回路パターン検査後の自動欠陥分類時に維持される。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTION OF HONEYCOMB STRUCTURE DEFECT例文帳に追加

ハニカム構造体欠陥検査装置、及びハニカム構造体欠陥検査方法 - 特許庁

To efficiently obtain image of a wafer suitable for a defect inspection.例文帳に追加

欠陥検査に適したウェーハの画像を効率よく取得できるようにする。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS THEREFOR, AND PRETREATMENT METHOD FOR EXPOSURE MASK例文帳に追加

欠陥検査方法及びその装置、並びに露光用マスクの前処理方法 - 特許庁

In the stage S5, defect inspection is performed for inspecting whether defects or the like are present or not.例文帳に追加

工程Ｓ５で、欠陥などの有無を検査する欠陥検査を行なう。 - 特許庁

OPTICAL SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

光学式表面欠陥検査装置及び光学式表面欠陥検査方法 - 特許庁

MAPPING PROJECTION TYPE ELECTRON BEAM DEVICE AND DEFECT INSPECTION SYSTEM USING THE SAME例文帳に追加

写像投影型の電子線装置及び該装置を用いた欠陥検査システム - 特許庁

Inspection data is received, and both the single-class and multi-class classifiers are applied to the inspection data to assign the defect to one of the defect classes.例文帳に追加

検査データが受信され、欠陥を欠陥部類のうちの１つに割り当てるために、単一部類及び多重部類分類子の両方が適用される。 - 特許庁

To provide a standard sample for calibrating a defect inspection apparatus for a flat panel display with a high reproducibility and to provide a calibration method for the defect inspection apparatus.例文帳に追加

フラットパネルディスプレイの欠陥検査装置を再現性よく校正することのできる標準試料および欠陥検査装置の校正方法を提供すること。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DEFECT INSPECTION OF PHOTOMASK AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

フォトマスクの欠陥検査方法、フォトマスクの欠陥検査装置及び記録媒体 - 特許庁

To provide a surface inspection device of generating hardly a pseudo-defect, even when detecting a defect based on a difference between hues of a reference image and an inspection image.例文帳に追加

ファレンス画像と検査画像の色相の差に基づいて欠陥を検出する場合においても、擬似欠陥の発生しにくい表面検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface inspection device for inspecting defect distribution on a wafer which can measure the thickness and the flatness of the wafer simultaneously with defect inspection.例文帳に追加

ウェーハ上の欠陥分布を検査する表面検査装置において、欠陥検査と同時進行でウェーハの厚さとフラットネスを測定できるようにする。 - 特許庁

To provide an EL display device capable of simply performing a defect inspection or the like.例文帳に追加

欠陥検査などが簡単にできるＥＬ表示装置を提供する。 - 特許庁

QUALITY INSPECTION METHOD AND DEVICE FOR MICRO SURFACE DEFECT IN MAGNETIC METAL ZONE例文帳に追加

磁性金属帯の微小表面欠陥の品質検査方法及び装置 - 特許庁

METHOD, PROGRAM, AND EQUIPMENT FOR MASK DEFECT INSPECTION例文帳に追加

マスク欠陥検査方法、マスク欠陥検査プログラムおよびマスク欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT EXTRACTION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE INSPECTION SYSTEM, AND EXTRACTION METHOD THEREOF例文帳に追加

欠陥抽出走査電子顕微鏡検査装置及びその抽出方法 - 特許庁

To provide an automatic defect inspection device that sets a detection condition at starting-up of a plurality of automatic defect inspection devices and periodically corrects the detection condition.例文帳に追加

複数の自動欠陥検査装置の立ち上げ時の検出条件の設定と、定期的に検出条件を校正する自動欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

IMAGE INPUT METHOD, IMAGE INPUT DEVICE AND SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

画像入力方法、画像入力装置及び表面欠陥検査装置 - 特許庁

To provide a pattern defect inspection apparatus and an inspection method having enhanced pixel resolution and high defect detection performance, by excluding the noise due to radiation.例文帳に追加

画素分解能を高め、また、放射線によるノイズを排除することで、欠陥検出能力の高いパターン欠陥検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

UV LASER LIGHT GENERATOR, DEVICE FOR INSPECTION OF DEFECT AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

紫外レーザ光発生装置並びに欠陥検査装置およびその方法 - 特許庁