「defect inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(16ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a mold release film preventing a foreign matter and a defect from getting difficult to be observed, when conducting visual inspection by a crossed Nicols method for defect inspection of a polarizing plate, and attaining high inspection precision.例文帳に追加

偏光板の欠陥検査である、クロスニコル法による目視検査を行った際に、異物や欠陥が見づらくなることがなく、高度な検査精度を実現することのできる離型フィルムを提供する。 - 特許庁

To provide an overlay mark for overlay inspection having a pattern capable of performing defect inspection with favorable accuracy not obtained in a prior art in a defect inspection apparatus in a manufacturing process of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスの製造過程の欠陥検査装置において従来にはない精度の良い欠陥検査を実現することできるパターンを有するオーバーレイ検査用のオーバーレイマークを提供する。 - 特許庁

To provide a mold release film preventing a foreign matter and a defect from getting difficult to be observed, when conducting visual inspection by a crossed Nichols method for defect inspection of a polarizing plate, and attaining high inspection precision.例文帳に追加

偏光板の欠陥検査である、クロスニコル法による目視検査を行った際に、異物や欠陥が見づらくならず、高度な検査精度を実現することのできる離型フィルムを提供する。 - 特許庁

At least either of a wafer parameter as a settable inspection information and a sensitivity parameter of a defect inspection device is generated from the design information of a semiconductor wafer, and incorporated into a recipe for defect inspection.例文帳に追加

半導体ウェーハの設計情報から、設定可能な検査情報であるウェーハパラメータと欠陥検査装置の感度パラメータとの少なくともいずれかを生成して欠陥検査のためのレシピに組み込む。 - 特許庁

To provide a defect inspection device that can efficiently detect an actual defect by removing a false defect due to unevenness caused by the growth of crystal grains or the like generating on the circuit pattern of a semiconductor integerated circuit, and to provide a defect inspection method.例文帳に追加

半導体集積回路の回路パターン上に発生する結晶粒成長等によって生じる凹凸による疑似欠陥を除去し、実欠陥を効率よく検出する欠陥検査装置、および、欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To precisely extract a defect in an inspection image without recognizing erroneously as the defect deformation of the inspection image caused by fluctuation of an imaging environment.例文帳に追加

撮像環境の変動による検査画像の変形を欠陥と誤認することなく検査画像における欠陥を精度よく抽出可能とした画像処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method of an image sensor in which defect inspection of the image sensor can be carried out with high precision, even when high sensitivity of the image sensor is advanced.例文帳に追加

撮像素子の高感度化が進んだ場合でも、撮像素子の欠陥検査を高精度で行うことが可能な撮像素子の欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

Moreover, inspection data by a plurality of inspection devices about one defect are allowed to be registered, and classification information of a defect which is an object for analysis is allowed to be arbitrarily selected.例文帳に追加

また、ひとつの欠陥について複数の検査装置による検査データを登録可能とし、解析対象である欠陥の分類情報を任意に選択可能とした。 - 特許庁

To provide a defect inspecting method for a photomask with an additional figure which has good inspection efficiency.例文帳に追加

検査効率の良い付加図形付きフォトマスクの欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a means capable of simplifying defect inspection of electrodes or the like.例文帳に追加

電極等の欠陥検査を簡略化することが可能な手段を提供する。 - 特許庁

DEFECT DETECTION OPTICAL SYSTEM, AND EFFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE USING IT例文帳に追加

欠陥検出光学系、これを用いる欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus capable of improving the overall throughput of production processes by facilitating the quality determination of substrates, and to provide a defect inspection method.例文帳に追加

基板の良否判定を容易にすることによって製造工程全体のスループットを向上させることができる欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To inspect a painted state of a surface by one image pickup simply and with high efficiency, in a painted surface defect inspection method and a painted surface defect inspection device.例文帳に追加

塗装表面欠陥検査方法及び塗装表面欠陥検査装置に関し、表面塗装状態の検査を１回の画像撮像により簡便に且つ高効率に行う。 - 特許庁

To reduce the overlook of a common defect in a die comparison system and a post-process due to double counting of the defect existing in a reference image after inspection and realize an efficient inspection.例文帳に追加

ダイ比較方式の共通欠陥の見逃し、及び参照画像に存在する欠陥のダブルカウントによる検査後処理を軽減し、効率的な検査を実現する。 - 特許庁

ANALYSIS DEVICE, PROGRAM, DEFECT INSPECTION DEVICE, REVIEW DEVICE, ANALYSIS SYSTEM, AND ANALYSIS METHOD例文帳に追加

解析装置、プログラム、欠陥検査装置、レビュー装置、解析システム及び解析方法 - 特許庁

To provide a tool defect inspection method and a tool defect inspection device for viewing the whole blade surface with fixed brightness, and inspecting efficiently and accurately.例文帳に追加

一定の明るさで刃面全体を見ることができ、効率良く正確に検査することができる工具欠陥検査方法と工具欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

Next, an inspection is carried out for a streak image defect near the correspondence position (S26).例文帳に追加

そして、その対応位置付近について、筋状の画像欠陥を検査する（Ｓ２６）。 - 特許庁

To provide a novel surface defect inspection device and surface defect inspection method for accurately and almost simultaneously detecting small rugged defects and pattern-like defects.例文帳に追加

小さな凹凸欠陥や模様状欠陥を精度良くかつほぼ同時に検出することができる新規な表面欠陥検査装置および表面欠陥検査方法の提供。 - 特許庁

To provide a device and method for defect inspection, capable of ensuring the size of an image block processable by a PE (Processor Element) used in image processing in defect inspection.例文帳に追加

欠陥検査の画像処理に用いるＰＥの処理可能な画像ブロックのサイズを確保することができる欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

Furthermore, since the inspection device includes a function of collating the inspection results for both samples, the relation between a defect and the cause of the defect can be analyzed easily.例文帳に追加

更に、双方の試料に対する検査結果を照合する機能を備えることにより、欠陥と欠陥が生じる原因との関係を容易に解析できるようにする。 - 特許庁

To provide a high-accuracy inspection method and inspection apparatus capable of easily determining a threshold value of brightness of a pixel to be extracted as a defect and detecting a true defect.例文帳に追加

欠陥として抽出する画素の明るさの閾値を決めることを容易にして、真の欠陥を検出できる精度の高い検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁

SURFACE INSPECTION APPARATUS, DEFECT DETECTING METHOD USING THE SAME, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

表面検査装置、それを用いた欠陥検出方法、プログラム及び記録媒体 - 特許庁

SOLDER DEFECT INSPECTION APPARATUS, IMAGING APPARATUS FOR INSPECTING SOLDERING, AND METHOD FOR DETERMINING QUALITY OF SOLDERING例文帳に追加

ハンダ欠陥検査装置、ハンダ検査用撮像装置、およびハンダ良否判別方法 - 特許庁

To provide a surface inspection device and a surface inspection method, capable of detecting highly precisely an appearance defect, even relative to the appearance defect having low detection precision in a circular slit.例文帳に追加

円形スリットでは検出精度が悪い外観不良に対しても、高精度に外観不良を検出できる表面検査装置および表面検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system for cleaning, inspection, and defect history management of a stud bolt hole capable of performing cleaning, visual inspection, and defect history management of the bolt hole in a lump.例文帳に追加

ボルト穴の洗浄と目視検査と損傷履歴の管理とを一括して行うことができるスタッドボルト穴の洗浄、検査及び損傷履歴管理システムを提供する。 - 特許庁

To provide a work defect detection system by which a defect determination is performed accurately even when setting mistake of inspection software to an inspection apparatus occurs.例文帳に追加

この発明は、検査装置への検査ソフトのセットミスが起きた場合でも正確に不良判定を行うことができるワーク不良検出システムを提供することを課題とする。 - 特許庁

TITANIUM ALLOY BILLET HAVING EXCELLENT DEFECT DETECTABILITY IN ULTRASONIC CRACK INSPECTION TEST例文帳に追加

超音波探傷試験における欠陥検出能力に優れたチタン合金ビレット - 特許庁

To provide a surface defect inspection method which enables accurate detection of surface defects in information recording media which can cause errors, and to provide a surface defect inspection apparatus.例文帳に追加

エラーとなり得る情報記録媒体の表面の欠陥を精度良く検出可能な表面欠陥検査方法および表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

The position coordinate of a defect in a substrate for calibration is referred to as an absolute coordinate while the position coordinate of a defect in the substrate for calibration detected by the inspection device is referred to as an inspection coordinate.例文帳に追加

校正用基板の欠陥の位置座標を絶対座標と呼び、検査装置によって検出した校正用基板の欠陥の位置座標を検査座標と呼ぶ。 - 特許庁

The generation state of a defect is statistically judged and the inspection region is restricted corresponding to a case getting out of an estimated distribution system to perform the inspection of a defect.例文帳に追加

欠陥の発生状況を統計的に判断し、予想される分布形式から外れた場合に応じて検査領域を制限して、欠陥の検査を行う。 - 特許庁

To provide a photoelectric conversion element capable of accelerating processing and changing a resolution without increasing costs, and a defect inspection device and a defect inspection method using it.例文帳に追加

コストを増加させずに処理の高速化と解像度の変更が可能な光電変換素子と、それを用いた欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To eliminate an influence of a pseudo-defect generated by an error in a pattern inspection condition to enhance the sensitivity of pattern inspection.例文帳に追加

パターン検査条件の誤差により発生する疑似欠陥の影響を排除してパターン検査の感度を高めること。 - 特許庁

To provide an inspection device which can well perform inspection of a defect in an emission state regardless of types of line heads.例文帳に追加

ラインヘッドの種類によらず良好に発光状態の欠陥検査を行うことが可能な検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection apparatus for detecting a defect in a honeycomb structure.例文帳に追加

本発明の目的は、ハニカム構造体の欠陥を検出できる検査方法及び検査装置を提供することである。 - 特許庁

To remarkably enhance inspection efficiency by detecting a pixel defect by an electric inspection at a substrate state.例文帳に追加

画素欠陥を基板状態での電気的な検査によって検出可能にして、検査効率を著しく向上させる。 - 特許庁

The setting part 2 sets target inspection coverage showing inspection coverage becoming a target at each predetermined defect size.例文帳に追加

設定部２は、予め定められた欠陥サイズごとに、目標となる検査カバレッジを示す目標検査カバレッジを設定する。 - 特許庁

In a minute defect inspection process, an inspection bias voltage is applied between the anode electrode 11 and the insulation breakdown detecting electrode 31.例文帳に追加

そして，微小欠陥の検査では，アノード電極１１と破壊検出電極３１との間に検査バイアスを印加する。 - 特許庁

The first defect detection for detecting the first true device defect, and the second defect detection for detecting the second true device defect and a pseudo defect together are performed by using inspection signals having each different signal pattern.例文帳に追加

異なる信号パターンの検査信号を用いることで、第１の真のデバイス欠陥を検出する第１の欠陥検出と、第２の真のデバイス欠陥と擬似欠陥とを合わせて検出する第２の欠陥検出とを行う。 - 特許庁

To provide an inspection method of a liquid crystal display device capable of surely reproducing an operation defect and having improved inspection accuracy and inspection efficiency.例文帳に追加

確実に動作不良を再現させることができ、検査精度および検査効率の向上した液晶表示装置の検査方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a pipe end face inspection device and a pipe end face inspection method capable of detecting accurately a defect of the end face of a pipe which is an inspection object.例文帳に追加

検査対象の管の端面における欠陥を精度良く検出することが可能な管端面検査装置及び管端面検査方法を提供する。 - 特許庁

An image processing section 140 carries out the EBR/EEW inspection on the substrate based on the first image, and carries out the pattern defect inspection and the reticle error inspection based on the second image.例文帳に追加

イメージ処理部１４０は第１イメージから基板のEBR/EEW検査を実施し、第２イメージからパターンの欠陥検査及びレティクルエラー検査を実施する。 - 特許庁

Consequently, when defect inspection of each pixel is performed based upon capacity value data of the pixel during the inspection, the inspection precision can be improved.例文帳に追加

これにより、検査時に、各画素の欠陥検査を各画素における容量値データなどから検出する場合に、検査精度を向上させることを可能とする。 - 特許庁

To provide a transparent body inspection apparatus, transparent body inspection method, and transparent body inspection system for clearly inspecting a defect of a transparent body.例文帳に追加

透明体の不良について、より明瞭に検査できる透明体検査装置、透明体検査方法、および透明体検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method capable of simply/easily determining effectiveness of the inspection by reducing man-hours such as preparation for the inspection as much as possible.例文帳に追加

検査準備等の工数を極力減らして、検査の有効性を簡単かつ容易に判断することのできる欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

The patterns of the test mask are transferred onto a wafer; the certified defect dimension of each kind of defects is determined; and the detection sensitivity of the defect inspection apparatus, with respect to a semitransparent defect, is controlled by using the test mask in the defect inspecting apparatus.例文帳に追加

テストマスクをウェハーへ転写し、各種欠陥の保証欠陥寸法と決定し、欠陥検査装置にて、テストマスクにより半透明欠陥に対する欠陥検査装置の検出感度調整する。 - 特許庁