| 意味 | 例文 (999件) |
defect inspectionの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2367件
INSPECTION METHOD AND INSPECTION DEVICE OF LINE WIDTH AND DEFECT例文帳に追加
線幅や欠陥の検査方法及び検査装置 - 特許庁
SURFACE DEFECT INSPECTION APPARATUS FOR CYLINDRICAL INSPECTION TARGET例文帳に追加
円筒形被検査体の表面欠陥検査装置 - 特許庁
ANTIREFLECTION FILM DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加
反射防止フィルム欠陥検査装置 - 特許庁
DEFECT INSPECTION APPARATUS OF PHASE SHIFT MASK例文帳に追加
位相シフトマスクの欠陥検査装置 - 特許庁
DEFECT INSPECTION DEVICE OF SOLAR CELL AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF SOLAR CELL例文帳に追加
太陽電池の欠陥検査装置及びその方法 - 特許庁
SIMULATED DEFECT WAFER AND METHOD FOR FORMING DEFECT INSPECTION RECIPE例文帳に追加
模擬欠陥ウェーハおよび欠陥検査レシピ作成方法 - 特許庁
INSPECTION APPARATUS FOR MASK DEFECT AND METHOD FOR INSPECTING MASK DEFECT例文帳に追加
マスク欠陥検査装置およびマスク欠陥検査方法 - 特許庁
DEFECT DETECTOR FOR TAPE CARRIER, AND DEFECT INSPECTION SYSTEM例文帳に追加
テープキャリアの欠陥検出装置および欠陥検査システム - 特許庁
DEFECT CHECKING SYSTEM, DEFECT CHECKING APPARATUS AND INSPECTION APPARATUS例文帳に追加
欠陥確認システム、欠陥確認装置および検査装置 - 特許庁
DEFECT INSPECTING METHOD, DEFECT INSPECTION SYSTEM AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加
欠陥検査方法，欠陥検査システム及びコンピュータプログラム - 特許庁
DEVICE FOR AUTOMATIC INSPECTION OF SURFACE DEFECT AND INSPECTION METHOD例文帳に追加
表面欠陥自動検査装置および検査方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD FOR HOLLOW FIBER MEMBRANE例文帳に追加
中空糸膜の欠陥検査方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTION APPARATUS, DEFECT INSPECTION METHOD, AND MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
欠陥検査装置、欠陥検査方法、及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
LASER SCATTERING DEFECT INSPECTION SYSTEM AND LASER SCATTERING DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加
レーザー散乱式欠陥検査装置及びレーザー散乱式欠陥検査方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD, METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加
欠陥検査方法、半導体装置の製造方法及び欠陥検査装置 - 特許庁
SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND SURFACE DEFECT INSPECTION APPARATUS USING THE SAME例文帳に追加
表面欠陥検査方法及びそれを用いた表面欠陥検査装置 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD, DEFECT INSPECTING APPARATUS, DEFECT INSPECTION PROGRAM, RECORDING MEDIUM STORING THE PROGRAM RECORDED THEREON例文帳に追加
欠陥検査方法、欠陥検査装置、欠陥検査プログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
ILLUMINATION APPARATUS FOR INSPECTION DEVICE, AND DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加
検査装置用照明装置および欠陥検査装置 - 特許庁
INSPECTION METHOD AND INSPECTION DEVICE FOR STEEL PRODUCT SURFACE DEFECT例文帳に追加
鋼材表面欠陥の検査方法および検査装置 - 特許庁
RESIST INSPECTION APPARATUS AND DEFECT INSPECTION METHOD OF MASK SUBSTRATE例文帳に追加
レジスト検査装置及びマスク基板の欠陥検査方法 - 特許庁
LINE INSPECTION DEVICE FOR METAL SURFACE DEFECT例文帳に追加
金属表面欠陥ライン検査装置 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD BY IMAGE RECOGNITION例文帳に追加
画像認識による不良検査方法 - 特許庁
SHAPE DEFECT INSPECTION DEVICE, SHAPE MODELING DEVICE, AND SHAPE DEFECT INSPECTION PROGRAM例文帳に追加
形状欠損検査装置、形状モデリング装置および形状欠損検査プログラム - 特許庁
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