「defect inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD OF THE SAME例文帳に追加

欠陥検査装置およびその方法 - 特許庁

PIXEL DEFECT CORRECTION METHOD, PIXEL DEFECT CORRECTION APPARATUS, INSPECTION METHOD AND INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

画素欠陥補正方法、画素欠陥補正装置、検査方法及び検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE, AND PARAMETER ADJUSTING METHOD USED FOR DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

欠陥検査装置およびこの欠陥検査装置に用いるパラメータ調整方法。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION COLOR UNEVENNESS DEFECT例文帳に追加

色ムラ欠陥検査方法及び装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD OF PDP SUBSTRATE例文帳に追加

ＰＤＰ用基板の欠陥検査方法 - 特許庁

SUBSTRATE DEFECT INSPECTION SYSTEM AND SUBSTRATE DEFECT DETECTING METHOD例文帳に追加

基板の欠陥検査システム及び基板の欠陥検出方法 - 特許庁

SUBSTRATE HOLDING DEVICE, DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT CORRECTION DEVICE例文帳に追加

基板保持装置、欠陥検査装置及び欠陥修正装置 - 特許庁

To provide a defect inspection device and a defect inspection method capable of improving accuracy of defect inspection at the end of an inspection domain.例文帳に追加

検査領域の端部における欠陥検査の精度を向上させることが可能な欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD, DEFECT INSPECTION METHOD, DEFECT DETECTION DEVICE, DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT DETECTION PROGRAM AND RECORDING MEDIUM FOR RECORDING PROGRAM例文帳に追加

欠陥検出方法、欠陥検査方法、欠陥検出装置、欠陥検査装置、欠陥検出プログラムおよびこのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

IMAGE PROCESSING DEVICE AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

画像処理装置及び欠陥検査装置 - 特許庁

AUTOMATIC DEFECT INSPECTION DEVICE FOR FILM SURFACE例文帳に追加

フィルム表面の自動欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD, DEFECT INSPECTION DEVICE, AND LINEAR LIGHT SOURCE DEVICE USED FOR IT例文帳に追加

欠陥検査方法、欠陥検査装置及びそれに用いるライン状光源装置 - 特許庁

INTERNAL DEFECT INSPECTION DEVICE FOR TUNNEL LINING例文帳に追加

トンネル覆工の内部欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION APPARATUS, DEFECT INSPECTION PROGRAM, FIGURE DRAWING APPARATUS, AND FIGURE DRAWING SYSTEM例文帳に追加

欠陥検査装置、欠陥検査プログラム、図形描画装置および図形描画システム - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD OF GLASS TUBE FOR VESSELS例文帳に追加

管球用ガラス管の欠陥検査方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION OF DEFECT例文帳に追加

欠陥検査方法と欠陥検査装置 - 特許庁

DROSS DEFECT INSPECTION DEVICE AND DROSS DEFECT INSPECTION METHOD OF MOLTEN METAL PLATING STEEL PLATE例文帳に追加

溶融金属メッキ鋼板のドロス欠陥検査装置およびドロス欠陥検査方法 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspection device with high detection sensitivity.例文帳に追加

検出感度の高い欠陥検査方法および欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE OF PLANE DISPLAY DEVICE例文帳に追加

平面表示装置の欠陥検査装置 - 特許庁

PERIODICAL DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

周期性欠陥検査方法及び装置 - 特許庁

ELECTRON BEAM DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

電子線装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

UNDERWATER DEFECT INSPECTION DEVICE FOR LINING TANK例文帳に追加

ライニング貯槽の水中欠陥検査装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

パターン欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

LIQUID IMMERSION MICROSCOPE AND DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

液浸顕微鏡、及び欠陥検査装置 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE FOR BAND LIKE BODY例文帳に追加

帯状体の表面欠陥検査装置 - 特許庁

PIXEL DEFECT INSPECTION METHOD OF LIGHT EMITTING DEVICE例文帳に追加

発光装置の画素欠陥検査方法 - 特許庁

AUTOMATIC INSPECTION METHOD AND AUTOMATIC INSPECTION DEVICE OF CRYSTAL DEFECT例文帳に追加

結晶欠陥の自動検査方法及び自動検査装置 - 特許庁

RETICLE DEFECT INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

レチクル欠陥検査装置およびこれを用いた検査方法 - 特許庁

To provide a defect inspection device and a defect inspection method capable of performing defect inspection at high speed, suppressing cost increase.例文帳に追加

コストの増大を抑えて高速に欠陥検査を行うことができる欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

DEFECT CLASSIFICATION METHOD, ITS DEVICE, AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

欠陥分類方法及びその装置並びに欠陥検査装置 - 特許庁

TRANSPARENT OBJECT DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

透過物体の欠陥検査方法、透過物体欠陥検査装置 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD BY A PLURALITY OF SURFACE DEFECT METERS例文帳に追加

複数の表面欠陥計による表面欠陥検査方法 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE AND INSPECTED RESULT DISPLAY METHOD FOR SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

表面欠陥検査装置の検査結果表示方法及び表面欠陥検査装置 - 特許庁

OPTICAL TYPE DEFECT INSPECTION METHOD FOR METAL BAND例文帳に追加

金属帯の光学式欠陥検査方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR DEFECT INSPECTION例文帳に追加

欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR DEFECT INSPECTION例文帳に追加

欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DEFECT INSPECTION例文帳に追加

欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION ANALYSIS SYSTEM, DEFECT INSPECTION ANALYSIS METHOD AND MANAGEMENT COMPUTER USED FOR THE METHOD例文帳に追加

欠陥検査解析システム、欠陥検査解析方法及びこれに用いる管理コンピュータ - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT INSPECTION METHOD, OPTICAL SCANNER, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

欠陥検査装置、欠陥検査方法、光学式走査装置、半導体デバイス製造方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DETAIL INSPECTION OF DEFECT例文帳に追加

欠陥の詳細検査方法および装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND PTP PACKING MACHINE例文帳に追加

不良検査装置及びＰＴＰ包装機 - 特許庁