「defect inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

DEFECT INSPECTION METHOD OF ANTIREFLECTION FILM AND DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

反射防止フィルムの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD, DEFECT INSPECTION DEVICE AND PATTERN EXTRACTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査方法、欠陥検査装置、及びパターン抽出方法 - 特許庁

DATA COMPRESSION METHOD, DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

データ圧縮方法、欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION RECIPE CREATING METHOD例文帳に追加

欠陥検査レシピ作成方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT DETECTION DEVICE例文帳に追加

欠陥検査方法および欠陥検出装置 - 特許庁

IMAGING DEVICE, DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT INSPECTION METHOD AND ELECTRON BEAM INSPECTION DEVICE例文帳に追加

撮像装置、欠陥検査装置、欠陥検査方法及び電子線検査装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DEFECT INSPECTION例文帳に追加

欠陥検査方法及び装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置および方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

欠陥検査方法および装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

不良検査方法および装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE FOR GLASS CONTAINER例文帳に追加

ガラス容器の欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS THEREOF例文帳に追加

欠陥検査方法とその装置 - 特許庁

DEFECT CONCENTRATION DEGREE INSPECTION DEVICE AND DEFECT CONCENTRATION DEGREE INSPECTION PROGRAM例文帳に追加

欠陥密集度検査装置および欠陥密集度検査プログラム - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DEFECT INSPECTION例文帳に追加

欠陥検査方法および装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE, SPECIMEN FOR ELECTRONIC DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置、電子装置用試験体、及び欠陥検査方法 - 特許庁

DISPLAY DEFECT INSPECTION DEVICE, DISPLAY DEFECT INSPECTION METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

ディスプレイ欠陥検査装置、ディスプレイ欠陥検査方法及びプログラム - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD OF SUBSTRATE FOR PDP例文帳に追加

ＰＤＰ用基板の欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE AND DEFECT INSPECTION SUPPORT METHOD例文帳に追加

欠陥検査方法，欠陥検査装置及び欠陥検査支援方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION APPARATUS AND ILLUMINATION DEVICE例文帳に追加

欠陥検査装置、照明装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD FOR RESIST PATTERN例文帳に追加

レジストパターンの欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD OF POLYCRYSTAL SILICON SUBSTRATE例文帳に追加

多結晶シリコン基板の欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION OF DEFECT例文帳に追加

欠陥検査方法及び装置 - 特許庁

GLASS SUBSTRATE DEFECT INSPECTION DEVICE AND GLASS SUBSTRATE DEFECT INSPECTION METHOD AND GLASS SUBSTRATE DEFECT INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

ガラス基板欠陥検査装置及びガラス基板欠陥検査方法並びにガラス基板欠陥検査システム - 特許庁

To provide a defect inspection device, defect inspection method, and defect inspection program capable of shortening the inspection time.例文帳に追加

検査時間を短縮することができる欠陥検査装置、欠陥検査方法及び欠陥検査プログラムを提供すること。 - 特許庁

DEFECT INSPECTING APPARATUS, DEFECT INSPECTION METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

欠陥検査装置、欠陥検査方法およびプログラム - 特許庁

EDGE SENSOR AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

エッジセンサおよび欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION OF DEFECT例文帳に追加

欠陥検査方法とその装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE OF CONTAINER MOUTH PART例文帳に追加

容器口部の欠陥検査装置 - 特許庁

SEAMING DEFECT INSPECTION METHOD OF CAN例文帳に追加

缶の巻締め不良検査方法 - 特許庁

DEFECT ANALYZER, INSPECTION SYSTEM, AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥解析装置，検査システム、及び、検査方法 - 特許庁

INSPECTION METHOD FOR SURFACE DEFECT AND INSPECTION DEVICE THEREOF例文帳に追加

表面欠陥の検査方法および検査装置 - 特許庁

DEFECT ANALYSIS APPARATUS, INSPECTION SYSTEM, AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥解析装置，検査システム、及び、検査方法 - 特許庁

APPARATUS FOR THICKNESS DEFECT INSPECTION AND ITS INSPECTION METHOD例文帳に追加

厚み欠陥検査装置及びその検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の不良検査法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE FOR DISPLAY DEVICE例文帳に追加

ディスプレイ装置の欠陥検査装置 - 特許庁

PHOTORECEPTOR MEMBER DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

感光体部材欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

NONDESTRUCTIVE INSPECTION DEVICE FOR CONCRETE DEFECT例文帳に追加

コンクリート欠陥非破壊検査装置 - 特許庁

FILTER DESIGN METHOD, FILTER, DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

フィルタの設計方法、フィルタ、欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE OF SEALED HONEYCOMB STRUCTURE例文帳に追加

目封止ハニカム構造体の欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE FOR HONEYCOMB FILTER例文帳に追加

ハニカムフィルタの欠陥の検査方法、及び、ハニカムフィルタの欠陥の検査装置 - 特許庁

PAINTED SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND PAINTED SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

塗装表面欠陥検査方法及び塗装表面欠陥検査装置 - 特許庁

DESIGN METHOD OF FILTER, FILTER, DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

フィルタの設計方法、フィルタ、欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

HOLE FILLER DEFECT INSPECTION SYSTEM OF PRINTED BOARD AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

プリント基板の穴充填部欠陥検査システム及び欠陥検査方法 - 特許庁

To provide a defect inspection device and defect inspection method capable of omitting a false defect and inspecting a defect at high inspection sensitivity.例文帳に追加

擬似欠陥を除外して高い検査感度で欠陥検査が可能な欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁