| 意味 | 例文 (999件) |
defect inspectionの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2367件
SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND SURFACE DEFECT INSPECTION SYSTEM例文帳に追加
表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査システム - 特許庁
DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD FOR SOLAR BATTERY例文帳に追加
太陽電池の欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTION APPARATUS AND DEFECT INSPECTION METHOD USING THE SAME例文帳に追加
欠陥検査装置およびそれを用いた欠陥検査方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE FOR METAL COMPONENT例文帳に追加
金属部品の欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁
SUBSTRATE DEFECT INSPECTION METHOD AND SUBSTRATE DEFECT INSPECTION SYSTEM例文帳に追加
基板の欠陥検査方法および基板の欠陥検査システム - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION APPARATUS OF MICROSTRUCTURE例文帳に追加
微細構造物の欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁
DEFECT-INSPECTION OPTICAL SYSTEM AND SURFACE-DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加
欠陥検出光学系および表面欠陥検査装置 - 特許庁
DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD FOR DISPLAY DEVICE例文帳に追加
表示体の欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁
SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE AND SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加
表面欠陥検査装置および表面欠陥検査方法 - 特許庁
ARTICLE DEFECT INSPECTION APPARATUS AND ARTICLE DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加
物品の欠陥検査装置、及び、物品の欠陥検査方法 - 特許庁
UNDERWATER DEFECT INSPECTION DEVICE AND UNDERWATER DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加
水中欠陥検査装置及び水中欠陥検査方法 - 特許庁
IMAGE DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT CLASSIFICATION DEVICE, AND IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加
画像欠陥検査装置、欠陥分類装置及び画像欠陥検査方法 - 特許庁
DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加
欠陥検出方法及び欠陥検査装置 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTING APPARATUS例文帳に追加
欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁
DEFECT INSPECTING APPARATUS AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加
欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT SPECIFICATION METHOD例文帳に追加
欠陥検査装置および欠陥特定方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTING METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加
欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD AND APPEARANCE INSPECTION DEVICE例文帳に追加
欠陥検査方法及び外観検査装置 - 特許庁
INSPECTION LIGHT SOURCE APPARATUS AND DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加
検査光源装置及び欠陥検査装置 - 特許庁
DEFECT INSPECTION DATA PROCESSING METHOD例文帳に追加
欠陥検査データ処理方法 - 特許庁
CYLINDRICAL BODY DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加
円筒体欠陥検査装置 - 特許庁
INSPECTION METHOD, INSPECTION DEVICE AND MASKED DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加
検査方法、検査装置およびマスク欠陥検査方法 - 特許庁
IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD, IMAGE DEFECT INSPECTION DEVICE AND VISUAL INSPECTION DEVICE例文帳に追加
画像欠陥検査方法、画像欠陥検査装置及び外観検査装置 - 特許庁
IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD, IMAGE DEFECT INSPECTION APPARATUS, AND APPEARANCE INSPECTION APPARATUS例文帳に追加
画像欠陥検査方法、画像欠陥検査装置及び外観検査装置 - 特許庁
IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD, IMAGE DEFECT INSPECTION DEVICE, AND VISUAL INSPECTION DEVICE例文帳に追加
画像欠陥検査方法、画像欠陥検査装置及び外観検査装置 - 特許庁
IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD, IMAGE DEFECT INSPECTION DEVICE, AND EXTERNAL APPEARANCE INSPECTION DEVICE例文帳に追加
画像欠陥検査方法、画像欠陥検査装置及び外観検査装置 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEFECT INSPECTION DEVICE USING SAME例文帳に追加
欠陥検査方法およびその方法を用いた欠陥検査装置 - 特許庁
SURFACE DEFECT INSPECTION APPARATUS AND SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加
表面欠陥検査装置および表面欠陥検出方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTION DEVICE FOR FILM, AND DEFECT INSPECTION METHOD FOR FILM例文帳に追加
フィルムの欠陥検査装置およびフィルムの欠陥検査方法 - 特許庁
COLOR FILTER DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加
カラーフィルタの欠陥検査方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD FOR COLOR FILTER SUBSTRATE例文帳に追加
カラーフィルタ基板の欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEFECT INSPECTION DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加
半導体欠陥検査装置および半導体欠陥検査方法 - 特許庁
PHOTOELECTRIC CONVERSION ELEMENT, DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加
光電変換素子、欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD THEREOF, AND DEFECT INSPECTION PROGRAM例文帳に追加
欠陥検査装置及びその方法並びに欠陥検査プログラム - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE OF SURFACE OF OBJECT例文帳に追加
物体表面の欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁
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