意味 | 例文 (999件) |
defect inspectionの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2367件
To provide an inspection system with a scanning electron microscope for performing an inspection for the purpose of detecting a defect on a substrate with a circuit pattern of a semiconductor device, a liquid crystal, or the like formed thereon which allows the easy identification of a minute defect and a pseudo one which have been hard to identify, and an inspection method thereof.例文帳に追加
半導体装置や液晶などの回路パターンが形成された基板上の欠陥を検出する目的で検査を行う走査電子顕微鏡を搭載した検査装置において、困難となっている微細欠陥と擬似の識別を容易に実施できる検査装置及びその検査方法を提供する。 - 特許庁
To perform determination as efficiently as possible in a method for determining a drive unit for medium inspection by which the drive unit for medium inspection determines whether the drive unit for medium inspection normally detects a defect by inspecting a medium in which defect information representing the defective state of the medium is known.例文帳に追加
媒体の欠陥の状況を表す欠陥情報が既知の媒体を検査して、媒体検査用ドライブ装置が正常に欠陥を検出できたか否かの判定を上記媒体検査用ドライブ装置が行う媒体検査用ドライブ装置の判定方法において、判定をできるだけ効率的に行うことである。 - 特許庁
To provide an inspection apparatus for a phosphor formed on the back plate of a plasma display panel in which even a micro defect, e.g. a point defect, of a phosphor can be detected with high accuracy and highly reliable inspection can be ensured by processing detected information optimally, and a method for manufacturing the back plate of a plasma display panel employing the inspection apparatus.例文帳に追加
蛍光体の点欠点等の微小な欠点まで高精度に検出可能で、検出情報を最適に処理して信頼性の高い検査が可能なプラズマディスプレイパネル背面板に形成された蛍光体の検査装置、およびその検査装置を用いたプラズマディスプレイパネル背面板の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method and apparatus for inspecting defects of a glass substrate in which the inspection sensitivity of the defects of the glass substrate can be improved more than before and time to inspect the defects can be shortened, and to provide a method of manufacturing the glass substrate using a defect inspection method or a defect inspection apparatus.例文帳に追加
従来よりもガラス基板の欠陥の検査感度を向上可能であり、かつ、欠陥を検査する時間を短縮できるガラス基板の欠陥検査方法及び欠陥検査装置、並びに、前記欠陥検査方法又は前記欠陥検査装置を用いたガラス基板の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a substrate inspection device allowing accurate defect part observation and facilitating observation work.例文帳に追加
正確な欠陥部観察を行うことができるとともに、観察作業の軽減化を実現できる基板検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide an equipment and method for a base support which do not cause an error in defect detection or loss of inspection sensitivity.例文帳に追加
誤った欠陥検知または、検査感度の損失を引き起こすことのない基材支持の装置及び方法を提供する。 - 特許庁
The defects information is added with the image at the time of inspection, and then is compared with an image at the time of checking defects to correct the location of the defect.例文帳に追加
また、欠陥情報に検査時の画像を付加し、欠陥確認時の画像と照合することで位置を補正する。 - 特許庁
To provide a method for determining a photomask defect for improving the production yield of photomasks and suppressing the cost of an inspection.例文帳に追加
フォトマスクの製造歩留まりを向上し、検査コストを抑制することができるフォトマスク欠陥判定方法を提供する。 - 特許庁
To provide a defect inspection apparatus which reduces a problem occurring when a die pitch differs from an optical axis pitch in a multi-body tube.例文帳に追加
マルチ鏡筒でダイピッチと光軸ピッチとが異なったときに生じる問題を低減する欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
MASTER INFORMATION CARRIER DEFECT INSPECTION METHOD MAGNETIC FILM PATTERN TRANSFER METHOD USING MASTER INFORMATION CARRIER, AND MAGNETIC RECORDING/REPRODUCING DEVICE例文帳に追加
マスタ情報担体の欠陥検査方法、マスタ情報担体利用の磁性膜パターン磁気転写方法および磁気記録再生装置 - 特許庁
To reduce cost of a product by performing inspection of the defect in a pixel in the process of manufacture, in a light emission device.例文帳に追加
発光装置において、画素における不良の検査を作製工程の途中で行うことで、製品の低コスト化を図る。 - 特許庁
PLATE GLASS DEFECT DETECTOR, PLATE GLASS MANUFACTURING METHOD, PLATE GLASS ARTICLE, PLATE GLASS QUALITY DETERMINATION DEVICE, AND PLATE GLASS INSPECTION METHOD例文帳に追加
板ガラス欠陥検出装置、板ガラスの製造方法、板ガラス物品、板ガラスの良否判定装置及び板ガラスの検査方法 - 特許庁
To provide a mask inspection device capable of detecting phase defect at the stage of mask blank that is a stage before depositing a absorber pattern.例文帳に追加
吸収体パターンを被着させる前のマスクブランクの段階で位相欠陥を検出することが可能な装置を提供する。 - 特許庁
A method to be executed by a computer includes determining an optimum parameter for inspection based on a selected defect.例文帳に追加
コンピュータによって実施される方法は、選択された欠陥に基づいて検査のための最適パラメータを決定することを含む。 - 特許庁
To provide an efficient and reliable method and system for classifying defects in defect inspection of a silicon wafer substrate.例文帳に追加
シリコンウェーハ基板の欠陥検査において、欠陥を分類するための効率的で、信頼性のある方法及びシステムを提供する。 - 特許庁
An inspection map is prepared by performing a defect detection process 32 to the surface of the substrate, and a data base 34a is provided.例文帳に追加
基板表面に対して欠陥検出プロセス32を行って検査マップを製作し、またデータベース34aを提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor inspection device capable of electrostatically charging a wafer without generating a defect, etc., in a substrate such as a wafer.例文帳に追加
ウェハ等の基板に欠陥などを生じさせることなく、ウェハを帯電させることのできる半導体検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a visual inspection device capable of displaying an image of a defect imaged under a condition near to a visual observation.例文帳に追加
目視観察状態に近い状態で撮像された欠陥の画像を表示することができる外観検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a welding repair method for a turbine rotor capable of reducing time spent for defect inspection of a repair welded part.例文帳に追加
補修溶接部の欠陥検査に費やされる時間を軽減することのできるタービンロータの溶接補修方法を提供する。 - 特許庁
To provide a liquid crystal pixel inspection method capable of accurately detecting the black point defect at the edge parts of a liquid crystal pixel.例文帳に追加
液晶画素のエッジ部分における黒点欠陥を的確に検出できる液晶画素検査方法を提供すること。 - 特許庁
Image data obtained by imaging the reproduced model defect by an imaging means of the inspection device are acquired in an image processing process.例文帳に追加
撮像工程において、再現されたモデル欠陥を検査装置の撮像手段によって撮像した撮像データを取得する。 - 特許庁
To provide an inspection method, in which the defect of a through hole plating conductor can be easily inspected without destroying a plastic package.例文帳に追加
プラスチックパッケージを破壊することなく容易にスルーホールめっき導体の欠陥を検出できる検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide a liquid crystal display panel inspection illuminator preventing a part hard to see a display defect of a liquid crystal panel from occurring by making incident a uniform illumination beam on a reflection type liquid crystal panel surface.例文帳に追加
反射型液晶ディスプレイパネルの検査において、検査時の視認性を向上できる照明器を設けること。 - 特許庁
To quickly determine the presence of a defect in a product while eliminating labors and times for precision re-inspection.例文帳に追加
再度精密検査行うという手間を省いて、製造物の欠陥の有無を高速に判別することができるようにすること。 - 特許庁
To provide a defect inspection method with high sensitivity while suppressing influences by fluctuation in an optical system.例文帳に追加
露光マスクなどのパターン欠陥の検査において、光学系の変動による影響を抑え、高感度の欠陥検査方法を実現する。 - 特許庁
To provide a nondestructive inspection apparatus whose structure is simple and by which the existence of a crack-shaped defect in a plate can be judged with high accuracy.例文帳に追加
構造が簡単で、かつ高精度に板の割れ状欠陥の有無が判定できる非破壊検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a liquid crystal display whose display defect is suppressed by preventing generation of a bubble due to touch of an inspection probe.例文帳に追加
検査プローブの接触による気泡の発生を防止して、表示不良を抑制した液晶表示装置を提供する。 - 特許庁
When defects exist in the inspection ranges 14, 22 and 23, a CCD line sensor camera 15 receives the scattered light from each defect.例文帳に追加
CCDラインセンサカメラ15は、検査範囲14,22,23に欠陥が存在する場合、各欠陥からの散乱光を受光する。 - 特許庁
To provide a film inspection device capable of detecting accurately a defect generated on a film during manufacture.例文帳に追加
本発明の目的は、製造時にフィルムに生じた欠陥を精度良く検出できるフィルム検査装置を提供することにある。 - 特許庁
To provide a standard substrate which enables exact inspection of a defect existing in a thin film formed on a substrate.例文帳に追加
基板上に形成された薄膜に存在する欠陥の正確な検出を可能とする標準基板を提供すること。 - 特許庁
ELECTROLUMINESCENT ELEMENT, ELECTROSCOPE USING ELECTROLUMINESCENT ELEMENT, CONDUCTION DISPLAY POWER LINE, AND CIRCUIT BOARD DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加
電界発光素子及び電界発光素子を用いた検電器及び通電表示電力線及び回路基板欠陥検査装置 - 特許庁
The stereoscopic microscope image and the macro image are read into an inspection controller 1 and displayed while correlated with defect information.例文帳に追加
実体顕微鏡画像およびマクロ画像は検査制御装置1に取り込まれ、欠陥情報と関連付けて表示される。 - 特許庁
The substrate 8 to be inspected is imaged in plural times from different positions, and defect inspection is performed based on imaged plural images.例文帳に追加
被検査基板8を異なる位置から複数回撮像し、撮像された複数の画像に基づいて欠陥検査を行う。 - 特許庁
To provide a surface inspection apparatus capable of easily changing the detection sensitivity of the defect or the like on the surface of a substrate.例文帳に追加
基板の表面の欠陥などを検出する感度を容易に変えることができる表面検査装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a lighting inspection method for a liquid crystal panel, with which even a pixel with only a slight defect occurring therein is certainly detected.例文帳に追加
軽微な欠陥が発生している画素であっても確実に検出できる液晶パネルの点灯検査方法を提供する。 - 特許庁
A steel plate or steel tape whose order is received is manufactured in advance, and defect inspection is applied to the manufactured steel plate or steel tape.例文帳に追加
予め、受注した鋼板又は鋼帯を製造し、製造された鋼板又は鋼帯に対して欠陥検査を行う。 - 特許庁
To shorten analysis time and increase analysis accuracy by arranging and providing a vast amount of defect inspection data ready for use.例文帳に追加
膨大な欠陥検査データを整理して使い易い形とすることにより、解析時間の短縮及び解析精度を高める。 - 特許庁
In a defect detection processing part 7, the difference in pixel value units, between the inspection object image 6a and the reference image 6b decomposed into space elements, is determined based on the detection gradation threshold set in a defect discrimination condition file 8, and thereby defect is detected.例文帳に追加
欠陥検出処理部7においては、欠陥判別条件ファイル8に設定されている検出諧調閾値を基に、空間要素に分解した被検物体像6aとリファレンス画像6bの画素値単位に相違を求め、欠陥を検出する。 - 特許庁
A substrate is lithographed under three conditions including a normal condition, a safe condition hardly causing a defect, and an acceleration condition easily causing a defect and, after forming a resist pattern, the number of defects is counted with respect to each area using the defect inspection device.例文帳に追加
基板に対して、通常条件、欠陥を発生し難い安全条件、欠陥を発生し易い加速条件の3条件で描画を行い、レジストパターンを形成した後、欠陥検査装置を用いて領域毎の欠陥数を求める。 - 特許庁
To provide a device for detecting a surface defect and a defect under the surface skin, and a method for detecting the same wherein an ultrasonic surface wave can carry out flaw detection of a whole surface by going around a width direction of an inspection object, and reflected waves from other than a defect are reduced.例文帳に追加
超音波の表面波が被検査体の幅方向を一周して全面探傷することができ、欠陥以外からの反射波を低減する表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置及びその方法を提供する。 - 特許庁
The defect inspection device includes a signal processing device for imaging an image of a photomask in various illumination conditions, detecting a defect of the photomask by using an output signal from an A/D converter, and outputting a color image of the photomask including the detected defect.例文帳に追加
フォトマスクの画像を種々の照明条件のもとで撮像し、A/D変換器からの出力信号を用いてフォトマスクの欠陥を検出し、検出された欠陥を含むフォトマスクのカラー画像を出力する信号処理装置とを具える。 - 特許庁
To provide a device and a method for detecting a hole defect detecting accurately existence of a hole defect and the position if a hole defect exists, by preventing surely excessive detection of hole defects of an inspection object by a light receiving part.例文帳に追加
受光部による被検査物の穴欠陥の過剰検出を確実に防止して、穴欠陥の有無、及び穴欠陥があった場合のその位置の検出を精度良く行うことができる穴欠陥検出装置及び穴欠陥検出方法を得る。 - 特許庁
To provide a marking controller which marks a label with a pattern for identifying an inspecting device which has detected a defect in response to a plurality of defect detection signals in defect inspection of printed matter and attaches it onto the printed matter, or puts a mark on the printed matter.例文帳に追加
印刷物の欠陥検査において、複数の欠陥検出信号に対し、欠陥を検出した検査装置の判別が可能なパターンを、ラベルにマーキングし印刷物に貼付、あるいは印刷物にマーキングするマーキング制御装置を提供する。 - 特許庁
Thereafter, in step S5, an area ratio of a defect inspection object domain by the area reducing function to a whole defect inspectable domain is determined, and in step S6, the number of chips having an estimated defect is estimated and converted, based on the area ratio.例文帳に追加
その後、ステップS5において、面積縮小機能による欠陥検査対象領域の全欠陥検査可能領域に対する面積比を求め、ステップS6において、上記面積比に基づき、推定欠陥有りチップ数を推定換算する。 - 特許庁
To provide a magnetic defect inspecting method for magnetic disk, capable of carrying out highly accurate defect inspection by correcting the positional shifting of a magnetic head recording/reproducing element for inspecting a defect so as to make a reproducing signal high in S/N.例文帳に追加
磁気ディスクの磁気的欠陥検査用方法に関し、欠陥を検査する磁気ヘッドの記録・再生用素子位置ずれ補正を行うことによって、再生信号を高S/N化し、精度の高い欠陥検査を行うことを可能とする方法を提供する。 - 特許庁
To provide an outward appearance inspecting device which can quickly and precisely perform different kinds of defect inspection of different inspection standards, by a single inspection part irrelevantly to unevenness of a resin mold surface for protecting a semiconductor chip.例文帳に追加
半導体チップを保護するための樹脂モールド面の凹凸によらず、検査規格が異なる複数の欠陥検査を単一の検査部において、高速、かつ、高精度で行うことができる外観検査装置を提供すること。 - 特許庁
To provide an inspection device for optical lens capable of precisely performing inspection of optical defect or optical performance of an optical lens used for a small CCD camera or the like in a short time, and reducing the inspection cost.例文帳に追加
小型CCDカメラ等に使用される光学レンズの光学的欠陥の有無や光学性能の検査を短時間に正確に行うことができ、また、検査コストも低減させることのできる光学レンズの検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a defect inspection method for an axially symmetric object, which permits handy and quick inspection of defects such as chips or burrs with a higher detection accuracy as caused at a corner part, in the inspection of products with the aim of guaranteeing the quality thereof.例文帳に追加
品質保証を目的とした製品検査において、角部に発生する欠けやバリ等の欠陥を、高検出精度、簡便、かつ迅速に検査することができる軸対称物体の欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide a structure inspection apparatus and inspection method therefor which provides an inspection image in which the visibility of a defect is improved by preparing a video image having a resolution higher than a pixel resolution that a TV camera itself has.例文帳に追加
TVカメラ自体が有する画素分解能よりも高い分解能を有する映像を作成することにより、欠陥の視認性を向上させた検査画像を得構造物の検査装置及びその検査方法を提供する。 - 特許庁
A data update part 160 for inspection control changes specific standards to strict standards which are narrower in non-defect range, when there is a specific number of inspection objects that the inspection device has judged to be defective and the repair operator has judged to be normal.例文帳に追加
検査制御用データ更新部160は、検査装置は異常と補修作業者は正常と判断した検査対象物が所定数あるときは所定基準を正常範囲が狭くなるような厳格な基準に変更する。 - 特許庁
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