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「diffusion region」に関連した英語例文の一覧と使い方(28ページ目) - Weblio英語例文検索
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diffusion regionの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1718



例文

The cathode wiring 10a is made of a metal and completely covers a region 24 where a boundary surface between the p-type and n^+ diffusion layers 6, 7 is formed in a plan view.例文帳に追加

カソード配線10aが金属よりなっており、かつ平面的に見てp型拡散層6とn^+拡散層7との境界面が形成されている領域である領域24を完全に覆っている。 - 特許庁

Each first impurity diffusion region 20 (20A and 20B) of low concentration and of the same conductive type as a source 26 and a drain 28 is provided on the lower side of a gate so as to adjoin the source 26 and the drain 28.例文帳に追加

ソース26とドレイン28と同一の導電型で且つ低濃度である第1不純物拡散領域20をソース26とドレイン28にそれぞれ隣接するようゲート下方側に設ける。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device excellent in its high-frequency characteristic wherein an emitter diffusion is so performed by a groove formed in its base region as to reduce further its base resistance and reduce a capacitance between its base and its emitter too.例文帳に追加

ベース領域に形成した溝によりエミッタ拡散を行い、よりベース取り出し抵抗を低減し、ベース−エミッタ間容量も低減する高周波特性に優れた半導体装置を得る。 - 特許庁

Even when a surge voltage is applied, since a pn junction is formed by the n-type semiconductor layer region 130 and the p type impurity diffusion region 170, the concentration of the surge voltage on a defect is prevented and the destruction of the dielectric separation membrane 120 is prevented.例文帳に追加

サージ電圧が印加されたとしても、n−型半導体層領域130とp型不純物拡散領域170とによりpn接合が形成されているため、サージ電圧が欠陥に集中することを防ぎ、誘電体分離膜120の破壊を防止することができる。 - 特許庁

例文

A diffusion member 110 is arranged in a space SP taken by eight suction nozzles 83, an LED lighting part 120 is arranged in a region on one side of a virtual vertical plane VP, and an imaging part 130 is arranged in a region on the other side.例文帳に追加

8本の吸着ノズル83で取り込まれた空間SPに拡散部材110が配置されるとともに、仮想鉛直面VPに対して一方側の領域にLED照明部120が配置される一方、他方側の領域に撮像部130が配置されている。 - 特許庁


例文

To provide a new impurity in which an impurity diffusion region is formed on a semiconductor substrate, while reducing the effect disturbing a crystal structure, without locally supplying energy more than is required, and which is injected into the semiconductor substrate to be used as a function region.例文帳に追加

局所的に必要以上にエネルギーが供給されることなく結晶構造を乱す効果を低減させながら半導体基板に不純物拡散領域を形成すると共に、半導体基板に注入して機能領域として用いられる新規な不純物を提供する。 - 特許庁

An N type region is formed which is contacted with part of a gate oxide film and a field oxide film formed between source and drain electrodes, and which has an impurity concentration higher than an N type impurity concentration of an SOI substrate until the N type region is brought into contact with an N type diffusion layer contacted with the drain electrode.例文帳に追加

ゲート酸化膜の一部及びソース電極とドレイン電極間に構成されたフィールド酸化膜に接触し、ドレイン電極に接するN型拡散層に接触するまで、SOI基板のN型の不純物濃度よりも高い不純物濃度を有するN型の領域を形成する。 - 特許庁

To enhance yield and performance of a semiconductor device and facilitate miniaturization of the device by distributing an impurity introduced onto a surface of a semiconductor substrate over a shallow region of the surface with high precision and at a high concentration, thereby preventing diffusion of the impurity into a deep region of the semiconductor substrate.例文帳に追加

半導体基板の表面に導入された不純物を、前記表面の浅い領域に高精度かつ高濃度で分布させ、不純物が半導体基板の深い領域に拡散することを防ぐことで、半導体装置の歩留まりおよび性能を向上させ、装置の微細化を容易にする。 - 特許庁

The semiconductor device which is provided on a common semiconductor substrate 1, with a nonvolatile memory cell having a tunnel diffusion layer 24; a MOS transistor, having a low concentration layer for the impurity concentration lower than that of the drain region on the side of a tunnel part of the drain region; and an electrostatic discharge damage countermeasure transistor is manufactured.例文帳に追加

トンネル拡散層24を有する不揮発性メモリセルと、ドレイン領域のチャネル部側に前記ドレイン領域よりも低不純物濃度の低濃度層を有するMOSトランジスタと、静電破壊対策トランジスタとを、共通の半導体基板1上に備える半導体装置が製造される。 - 特許庁

例文

In a memory cell region 10A, for electric connection between a diffusion region 171A formed between a pair of gate structures and a wiring pattern 222 formed in a BPSG film 182, a polysilicon plug 191 is preliminarily formed at a state that it is self-aligned to a gate electrode 142.例文帳に追加

メモリセル領域10Aにおいては一対のゲート構造間に形成された拡散領域171AとBPSG膜182に形成された配線パターン222との間の電気接続のため、予めポリシリコンプラグ191を、ゲート電極142に自己整合した状態で形成しておく。 - 特許庁

例文

On a p silicon substrate 1131, a charge holding region 1133 consisting of a microparticle diffusion region 1133a, a gate insulation film 1137 consisting of an SiO_2 film, and an n polysilicon electrode 1138 functioning as a gate electrode are stacked sequentially from below.例文帳に追加

p型シリコン基板1131上には、微粒子分散領域1133aからなる電荷保持領域1133、SiO_2膜からなるゲート絶縁膜1137及びゲート電極として機能するn型多結晶シリコン電極1138が下から順次積み上げられている。 - 特許庁

In a first particular generalized embodiment, a light blocking layer is located and formed interposed between a first semiconductor layer including a photoactive region and a second semiconductor layer including at least a second transistor or a floating diffusion region shielded by the light blocking layer.例文帳に追加

第1の特定の一般化された実施形態において、光ブロッキング層は、光活性領域を含む第1の半導体層と、光ブロッキング層によって遮蔽された少なくとも第2のトランジスタ又は浮遊拡散部を含む第2の半導体層との間に挿入されて配置及び形成される。 - 特許庁

A transfer circuit 20 is configured to transfer signal charges of an accumulating region 15 to a floating diffusion region 30 when in operation, and to interrupt the transfer of the signal charges when not in operation by means of a transfer gate 21 which is turned on and off in response to a transfer control signal TG.例文帳に追加

転送回路20は、転送制御信号TGに応答してオンオフする転送ゲート21によって、作動時に蓄積領域15の信号電荷をフローティングディフュージョン領域30へ転送する一方で非作動時に信号電荷の転送を遮断するように構成される。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device, which is capable of forming a side wall without producing a dent on the surface of a substrate at the side wall of a gate electrode so as to stabilize the formation positions of diffusion layer regions, such as a source region, a drain region, etc., and to obtain a semiconductor device uniform in element characteristics.例文帳に追加

ゲート電極側壁の基板表面に掘れを発生させることなくサイドウォールを形成することが可能で、これによりソース/ドレインなどの拡散層領域の形成位置が安定化して素子特性が均一な半導体装置を得ることが可能な製造方法を提供する。 - 特許庁

The semiconductor device comprises a transistor formed by a diffusion layer 103 and gate polysilicon 104 that becomes a gate electrode, an element separation region using a LOCOS oxide film 102, net-like gate polysilicon wiring 101 formed at the element separation region, and metal film wiring 105 arranged on the upper layer.例文帳に追加

拡散層103とゲート電極となるゲートポリシリ104により形成されたトランジスタと、LOCOS酸化膜102を用いた素子分離領域と、素子分離領域に形成された、網目状のゲートポリシリ配線101と、この上層に配置された金属膜の配線105とを備える。 - 特許庁

A He ion is irradiated on the whole of a chip and a lifetime killer is introduced from a position d2 shallower than a position d1 of a PN junction surface 31 including the n^- semiconductor layer 22 and the p^+ diffusion region 23 to a position d3 deeper than the position d1 to form a low lifetime region 32 on the whole of the chip.例文帳に追加

チップ全面にHeイオンを照射して、n^-半導体層22とp^+拡散領域23とからなるPN接合面31の位置d1よりも浅い位置d2から深い位置d3までライフタイムキラーを導入し、チップ全体に低ライフタイム領域32を形成する。 - 特許庁

The semiconductor element 10 comprises an n-type diffusion layer 16 formed in the n^--type semiconductor region 13 at the interface between the insulation layer 12 and the semiconductor region 13 with an n-type impurity concentration gradient increasing from the anode electrode 17 toward the cathode electrode 18.例文帳に追加

半導体素子10は、絶縁膜12とN^−型半導体領域13との界面のN^−型半導体領域13内に、アノード電極17側からカソード電極18側にかけてN型不純物濃度が高くなるように濃度勾配を設けたN型拡散層16を更に備える。 - 特許庁

Thus, at the portion lying between the NMOS forming region Rnm and the PMOS forming region Rpm in an oxide film 2 for an element isolation, the N/P-type well diffusion layer 12 is hardly formed, and the CMOS device that has a small element isolation width and a high isolation function is provided.例文帳に追加

したがって、素子分離用酸化膜2のうちNMOS形成領域RnmとPMOS形成領域Rpmとの間に位置する部分には、N/P型ウェル拡散層12がほとんど形成されず、素子分離幅が小さく分離機能の高いCMOSデバイスが得られる。 - 特許庁

The optical scanner includes: a glass substrate (10) on which a metallic wire wiring region is etched to a predetermined depth; a metallic wiring formed in the metallic wire wiring region; a diffusion blocking layer (112) so formed as to cover the metallic wire on the glass substrate; and an optical scanner structure connected to the glass substrate (10).例文帳に追加

金属配線領域が所定の深さにエッチングされたガラス基板(10)と、金属配線領域に形成された金属配線と、ガラス基板上で金属配線をカバーするように形成された拡散障壁層(112)と、ガラス基板(10)と結合された光スキャナ構造物と、を備える。 - 特許庁

When sewage to be treated having a high BOD value is treated, the position of the partition wall 17 is set so as to increase the volume of a biological treatment region to increase the stagnation time of sewage to be treated in an air diffusion region and the sewage to be treated having a high BOD value is suitably treated.例文帳に追加

BOD値の高い被処理汚水を処理する場合は、生物処理領域の容積を増加させるように隔壁17の位置を設定することで被処理汚水がエアーによる散気領域を滞留する時間が増加し、BOD値の高い被処理汚水が好適に処理されることとなる。 - 特許庁

To provide a semiconductor laser, as well as its manufacturing method, that can cleave with no special problem through a cleavage method that performs positioning while looking at a stripe from the top side of a wafer in a semiconductor laser that internally has a region of a special structure, such as a Zn diffusion region in particular.例文帳に追加

特にZn拡散領域など特殊な構造の領域を内部に有する半導体レーザにおいて、ウェハ上面からストライプを見ながら位置合わせを行う劈開の方法によっても、特に問題なく劈開し得る半導体レーザおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

At the time of transition from one of the pre-mix combustion region (H) and the diffusion combustion region (D) of the engine 1 to the other, an opening of an EGR valve 35 is changed, and after the actual EGR rate EGR reaches a designated switching EGR rate (a designated EGR 1), the injection mode of fuel is switched.例文帳に追加

エンジン1が予混合燃焼領域(H)又は拡散燃焼領域(D)の一方から他方に移行するとき、EGR弁35の開度を変更して、実EGR率EGRが所定の切換EGR率(所定値EGR1)になった後に、燃料の噴射態様を切換える。 - 特許庁

In an opposing direction of the LED 105 and the incidence plane 132, the distance between an region end of the light diffusion part 125 adjacent to the LED 105 and the LED 105 is longer than the distance between a display region end adjacent to the LED 105 and the LED 105.例文帳に追加

LED105と入射面132との対向方向において、光拡散部125の位置する領域のLED105側の端部の位置とLED105との間の距離は、表示領域のLED105側の端部の位置とLED105との間の距離より長い。 - 特許庁

Two kinds of p-type impurities of boron having higher solid solubility with respect to silicon, and indium having lower solid solubility with respect to silicon, are diffused into a body region 10 while the ratio of concentration of indium in a site near the source diffusion layer 12a of the body region 10 is specified so as to be higher than that in the other sites.例文帳に追加

シリコンに対する固溶限度のより高いボロンとより低いインジウムとの2つのP型不純物をボディ領域10に拡散するとともに、そのボディ領域10のソース拡散層12a近傍の部位におけるインジウムの濃度比を該ボディ領域10の他の部位に比して高くする。 - 特許庁

To provide new impurity in which an impurity diffusion region is formed on a semiconductor substrate, while the effect of disturbing crystal structure is reduced without having to locally supply energy more than is needed and is used as a function region by injecting it to the semiconductor substrate.例文帳に追加

局所的に必要以上にエネルギーが供給されることなく結晶構造を乱す効果を低減させながら半導体基板に不純物拡散領域を形成すると共に、半導体基板に注入して機能領域として用いられる新規な不純物を提供する。 - 特許庁

A select gate 6 and a floating gate 7 are formed on a silicon substrate 1 through gate oxide films 5 and 4, a drain region 2 is formed on the side of the floating gate 7, a source region 3 is formed on the side of the select gate 6, and a diffusion layer 11 is formed in the silicon substrate 1 located between the gates 6 and 7.例文帳に追加

シリコン基板1上に、ゲート酸化膜5,4を介して選択ゲート6,浮遊ゲート7が形成され、浮遊ゲート7の側方にドレイン領域2が、選択ゲート6の側方にソース領域3が、各ゲート6,7間に位置するシリコン基板1内に拡散層11がそれぞれ形成されている。 - 特許庁

To provide a method for producing a planographic printing plate capable of preventing blanket stain and ink stain of a non-image region without lowering the ink receptivity and printing resistance of a silver image region with respect to a planographic printing plate using an aluminum sheet as a support and utilizing a silver complex salt diffusion transfer process.例文帳に追加

アルミニウム板を支持体とする銀錯塩拡散転写法を利用した平版印刷版において、銀画像部のインキ受理性・耐刷性を低下させずに、非画像部のインキ汚れ、ブランケット汚れを防止することができる平版印刷版の製造方法を提供すること。 - 特許庁

A carrier fluidization filter chamber 10 is provided with communicating ports 11 for communicating a first carrier packed section 21 (aerobic treatment region) and a second carrier packed section 22 (filtration region) with each other in the lower part of a partition 17 and is installed with air diffusion pipes 32a and 32a below these carrier packed sections 21 and 22.例文帳に追加

担体流動生物濾過槽10において、隔壁17の下部には第1担体充填部21(好気処理領域)と第2担体充填部22(濾過領域)を連通する連通口11が設けられ、担体充填部21,22の下方には散気管31a,32aが設置されている。 - 特許庁

To control a size of a gate electrode layer in processing and to control a regions of impurity diffusion layers (= a source region, a drain region) in a heat treatment step in particular when having a LDD structure as a gate length shortens with a MOS transistor made fine.例文帳に追加

MOS型トランジスタの微細化に伴い、ゲート長が短くなり、特にLDD構造を有する場合には、加工時におけるゲート電極層の寸法制御性、また、熱処理工程時の不純物拡散層(=ソース領域、ドレイン領域)の領域を制御することが重要となる。 - 特許庁

An edge portion of image data is subjected to smoothing processing in which correction data subjected to screen processing using a multi-valued dither matrix which grows smoothly without pattern interference is added in a high density region, and correction data subjected to error diffusion with density stability is added in a low density region.例文帳に追加

画像データのエッジ部分に、高濃度域はパターン干渉のない平滑な成長をする多値のディザマトリックスを用いたスクリーン処理を施した補正データを付加し、低濃度域は濃度安定性のある誤差拡散を施した補正データを付加するスムージング処理を施す。 - 特許庁

A color reproducing range is more improved by5% by using the diffusion film containing at least dyestuff having selective absorption in a wavelength region from 440nm to 510nm and/or dyestuff having selective absorption in a wavelength region from 570nm to 605nm at least in any one of a diffusion layer, base material and a back coat layer for the liquid crystal display device.例文帳に追加

少なくとも、440nmから510nmの間の波長領域に選択的な吸収を有する色素、及び/または570nmから605nmの間の波長領域に選択的な吸収を有する色素を、拡散層、基材及びバックコート層の少なくともいずれか1つに含有させた拡散フィルムを液晶表示装置表示装置に用いることにより、色再現範囲を5%以上向上することが可能である。 - 特許庁

This variable gain circuit is equipped with two diffusion regions 12 and 13 which are made at a specified interval within a semiconductor substrate, an insulating layer 16 which is provided in the region caught between the two diffusion regions 12 and 13 besides being on the semiconductor substrate, and a gate 17 which is provided on this insulating layer 16.例文帳に追加

この発明は、半導体基板内に所定間隔をおいて形成させた2つの拡散領域12、13と、半導体基板上であってその2つの拡散領域12、13に挟まれた領域に設けた絶縁層16と、この絶縁層16上に設けたゲート17とを少なくとも備えている。 - 特許庁

Consequently, a thermal diffusion into a backing-layer region containing the active layer 5 having a multiple quantum well structure progresses when the clad layer 12 is grown in Zn doped as an acceptor during the growth of the clad layer 12 but the thermal diffusion is inhibited largely by Si doped to the diffraction grating layer 8.例文帳に追加

このため、p導電型のクラッド層12の成長中にアクセプタとしてドーピングされたZnは、クラッド層12の成長時に多重量子井戸構造の活性層5を含む下地層領域への熱拡散が進行するが、回折格子層8にドーピングされたSiによってその熱拡散が大幅に抑制される。 - 特許庁

Stress concentration can be eased by estranging adjacent high concentration diffusion regions 13 a predetermined distance via an epitaxial layer 12 formed into an impurity concentration lower than that of the high concentration diffusion region 13, and the occurrence of crystal strain in the semiconductor device 10 can favorably be controlled.例文帳に追加

隣り合う高濃度拡散領域13が、高濃度拡散領域13より低い不純物濃度に形成されたエピタキシャル層12を介して所定距離離間することによって、応力の集中を緩和することができ、半導体素子10内に結晶歪が生ずることを良好に抑制することができる。 - 特許庁

To provide a coaxial flow diffusion flame burner unit for manufacturing an optical waveguide so as to have a uniform particle distribution by reducing the sizes of the particles of glass soot and to provide the coaxial flow diffusion flame burner unit for manufacturing the optical waveguide for uniformly depositing the glass soot by evaporation on over a wider region.例文帳に追加

ガラススートの粒子のサイズを小さくして均一な粒子分布を有するようにするための光導波路製造用同軸流拡散火炎バーナー装置を提供し、より広い領域にかけて均一にガラススートを蒸着させるための光導波路製造用同軸流拡散火炎バーナー装置を提供する。 - 特許庁

The concentration of a low concentration N-type diffusion layer 14 of a drain electrode 26 that affects the characteristics of N channel high voltage MOS transistor 10 can be increased 50% by generating an overlapping region 36 at the border portion between a gate electrode 22 and the low concentration of N-type diffusion layer 14.例文帳に追加

ゲート電極22と、ドレイン電極26の低濃度N型拡散層14との境界部分にオーバーラップ領域36を設けることで、上記Nチャンネル高耐圧MOSトランジシタ10の所謂トランジスタ特性に影響のある低濃度N型拡散層14の濃度を約50%増加することができる。 - 特許庁

The photodiode unit PD includes a light reception portion 11 comprising an N conductivity type diffusion layer for accumulating signal charges obtained by photoelectrically converting incident light, and an accumulation layer 12 comprising a diffusion layer region (P-layer) of low impurity concentration having, for example, a P conductivity type for suppressing a dark current.例文帳に追加

フォトダイオード部PDは、入射光を光電変換して得た信号電荷を蓄積するためのN導電型の拡散層からなる受光部11と、暗電流を抑制するための、たとえばP導電型を有する低不純物濃度の拡散層領域(P−層)からなるアキューミュレーション層12と、を有して構成されている。 - 特許庁

An optical diffusion portion 40 for randomly dispersing light, or a white optical diffusion portion is arranged in the ineffective region on the solar cell element 11.例文帳に追加

受光面側の透光性シート状部材12と、裏面側のシート状部材との間に、板状太陽電池素子11を挟み、内部の隙間に封止樹脂14を充てんした構造であって、太陽電池素子11上の無効領域に、光を乱反射する光拡散部40または白色を有する光拡散部を、配置する。 - 特許庁

The luminous body 10 comprises a light emitting element 11 formed of a semiconductor, a light diffusion means 12 provided in a region including right above a light emitting part 11a of the light emitting element, and a reflector 13 provided around the light emitting element for mainly reflecting light which does not transmit the light diffusion means.例文帳に追加

半導体からなる発光素子11と;発光素子の発光部11a直上を含む領域に設けられた光拡散手段12と;発光素子の周囲に設けられ、光拡散手段を透過していない光を主に反射する反射体13と;を具備する発光体10を構成する。 - 特許庁

The gas diffusion layer 42 of the cathode electrode 4 has a water retaining/water repellent part mixed layer 44 in which a water retaining part 442 is formed in a water repellent part 441, and a conductive gas exchange restriction layer 7 is installed in a restriction region established beforehand on the entrance side of the oxidant gas passage 6 between the oxidant gas passage 6 and the gas diffusion layer 42.例文帳に追加

カソード電極4のガス拡散層42は、撥水部441内に保水部442が形成された保水・撥水部混在層44を有し、酸化ガス流路6とガス拡散層42の間には、酸化ガス流路6の入口側に予め設定した制限領域に導電性のガス交換制限層7を設けている。 - 特許庁

The diode element comprises a P type silicon layer 3 formed at a part positioned in an underlayer of the partial separation insulating film 4 in the active region 30, and a P type diffusion layer 5 and an N type diffusion layer 6 formed to reach the buried insulating film 2 while sandwiching the partial separation insulating film 4 and the P type silicon layer 3.例文帳に追加

ダイオード素子は、活性領域30における部分分離絶縁膜4の下層に位置する部分に形成されるP型シリコン層3と、埋込み絶縁膜2に達し、部分分離絶縁膜4およびP型シリコン層3を挟むように形成された、P型拡散層5およびN型拡散層6とを有する。 - 特許庁

A first reflection layer 11 and a first shading layer 12 are laminated in order at the first region 1 among planes of an observer 7 side of a supporting body 8, a second decoration layer 14 on which patterns composing a design shape including a first decoration layer 13 and characters are formed are laminated in order in the second region 2, and a first diffusion layer 31 is laminated in the third region 3.例文帳に追加

支持体8の観察者7側の面のうち、第1の領域1には第1の反射層11、第1の遮光層12が順に積層され、第2の領域2には第1の加飾層13と文字を含む意匠形状を構成するパターンが形成された第2の加飾層14が順に積層され、第3の領域3には第1の拡散層31が積層されている。 - 特許庁

The imaging apparatus (CMOS image sensor) comprises: a p-type silicon substrate 10; a gate insulating film 11; three gate electrodes, that is, a transfer gate electrode 12, a multiplication gate electrode 13 and a read-out gate electrode 14; a photodiode portion (PD) 15; a floating diffusion region 16 made of an n-type impurity region; and an element isolation region 17.例文帳に追加

この撮像装置(CMOSイメージセンサ)は、p型シリコン基板10と、ゲート絶縁膜11と、1つの転送ゲート電極12、1つの増倍ゲート電極13および1つの読出ゲート電極14の3つのゲート電極と、フォトダイオード部(PD)15と、n型不純物領域からなるフローティングディフュージョン領域16と、素子分離領域17とにより構成されている。 - 特許庁

The region is set by at least either a position in the direction of the height and/or in the direction of the width of the diffusing pipe to the heat exchanger or an angle of a jetting opening of the diffusion pipe to the heat exchanger.例文帳に追加

前記領域は、拡散パイプの熱交換器に対する高さ方向及び又は幅方向の位置か、拡散パイプの噴射孔の熱交換器に対する角度の少なくとも一方によって設定される。 - 特許庁

This is because holes generated due to an inter-band tunnel effect are attracted to the word gate by negative potential on the junction end portion of a right diffusion region 42 and further accumulated under a target control gate 62.例文帳に追加

これは、右側の拡散領域42の接合端部でバンド間トンネル効果により発生するホールが負の電位によってワードゲートの方に引き寄せられ、目標制御ゲート62の下に更に蓄積されるからである。 - 特許庁

The support 5 has a heat diffusion body 253 for axially moving heat so that the axial temperature distribution, in a maximum recorded material-passing region of the nip-forming surface 253a is substantially uniformed at a predetermined fixing temperature.例文帳に追加

支持体5は、ニップ形成面253aの被記録材の最大通過領域における軸方向の温度分布が所定の定着温度で略均一になるように、軸方向に熱を移動させる熱拡散体253を有する。 - 特許庁

Since the source diffusion layer 15a and the well contact layer are adjacent to each other along the lengthwise direction, the forming region of source contact layers 14a, 14b in contact with them can be reserved in the lengthwise direction.例文帳に追加

ソース拡散層15aおよびウェルコンタクト層は、上記長手方向に沿って隣接しているため、これらに接するソースコンタクト層14a、14bの形成領域を上記長手方向に確保することができる。 - 特許庁

In the formation region of an electrode pad 7, N+ diffusion regions 19a, 19b, and 19c are formed on the surface of a P-type semiconductor substrate 3 so as to be separated form each other by a field oxide film 21.例文帳に追加

電極パッド7の形成領域において、P型半導体基板3の表面にフィールド酸化膜21によって互いに分離されてN+拡散領域19a,19b,19cが形成されている。 - 特許庁

To provide a semiconductor device having a gate structure that can reduce the parasitic capacitance between a gate electrode and a source/drain diffusion region (including its wiring) and can make a transistor element to operate at a high speed, and to provide a method of manufacturing the device.例文帳に追加

ゲート電極とソース/ドレイン拡散領域(及びその配線を含む)との間の寄生容量を低減でき高速動作が可能となるゲート構造を有する半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

例文

In the light guide plate 2 to be used for the edge light type backlight system, a base region A with a specified width extending from the end face 21 on the incident side in a base reflection plane 22 is formed into a diffusion plane by abrasive blasting treatment or the like.例文帳に追加

エッジライト式のバックライトシステムに用いる導光板2では、その底面反射面22における、入光側の端面21から所定幅の底面領域Aが、ブラスト処理等によって拡散面とされている。 - 特許庁




  
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