「defect inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(28ページ目) - Weblio英語例文検索

In the storage unit 3, the inspection software stored in it performs defect determination by comparing reference values G1min to G1max stored in the inspection software and the evaluation value G2 transmitted from the substrate of the object of inspection.例文帳に追加

記憶装置３では、格納されている検査ソフトがその内部に保存されている基準値Ｇ１ｍｉｎ〜Ｇ１ｍａｘと検査対象のプリント基板から送られてきた評価値Ｇ２とを比較することにより不良判定を行う。 - 特許庁

The defect of a pattern formed on an inspection object is detected by comparing two images of corresponding patterns of the inspection object acquired by imaging the inspection object, by using a scattergram acquired from the two images.例文帳に追加

被検査対象を撮像して得た被検査対象の対応するパターンの２枚の画像を、この２枚の画像から得られる散布図を用いて比較することにより被検査対象に形成されたパターンの欠陥を検出する - 特許庁

To provide a mirror electron projection type ( including an MPJ type (also including an SEPJ type)) electron beam inspection device which is made possible to optimize a condition and a pattern defect inspection method and system by using the above electron beam inspection device.例文帳に追加

条件出しができるようにした写像投影型（ＭＰＪ型（ＳＥＰＪ）型も含む））電子線検査装置並びにこれら電子線検査装置を用いたパターン欠陥検査方法及びそのシステムを提供することにある。 - 特許庁

To provide a non-destructive inspection device using an elastic wave, capable of easily and objectively inspect whether or an inspection object covering a wide range such as a concrete structure has a defect.例文帳に追加

コンクリート構造物などの広範囲の検査対象物の欠陥の有無を、容易に且つ客観的に検査し得る弾性波を利用した非破壊検査装置を提供すること。 - 特許庁

To highly precisely detect a defect in an inspection object, by detecting fluctuation of a relative distance between a one-dimensional imaging means and the inspection object by the one-dimensional imaging means.例文帳に追加

一次元撮像手段により一次元撮像手段と検査対象物の相対的な距離の変動を検出することで、高い精度で検査対象物の欠陥を検出する。 - 特許庁

To shorten inspection time, also to contrive the effective use of space in a works and to perform exact inspection by enabling in-line detection of the internal defect of a wire.例文帳に追加

線材の内部欠陥をインラインで検出し得るようにすることで、検査時間を短縮すると共に工場内でのスペースの有効利用を図ることができ、また正確な検査を行なう。 - 特許庁

To provide an inspection method and apparatus having higher performances than conventional ones whereby the unintended kinds of defects including false informations can be removed from their inspection results and automatic-defect-classification (ADC) results.例文帳に追加

検査結果や自動欠陥分類（ＡＤＣ）の結果から、虚報を含む目的としていない種類の欠陥を除去可能な、より高性能な検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

This surface inspection device converts the hues of the reference image and the inspection image read in as R, G and B signals into the hues, compares the both images converted into the hues, and detects the defect based on a result therein.例文帳に追加

Ｒ，Ｇ，Ｂ信号として取り込まれたリファレンス画像と検査画像を色相に変換し、色相に変換された両画像を比較し、その結果に基づいて欠陥を検出する。 - 特許庁

To obtain an information managing device for assembly, adjustment and inspection processes for shortening the residence time of a defective article in assemble, adjustment and inspection processes and improving the efficiency of investigation and handling of a defect cause.例文帳に追加

組立・調整・検査工程の不具合品滞留時間の短縮、不具合原因の究明・処置を効率化する組立・調整・検査工程の情報管理装置を得る。 - 特許庁

To realize a pixel inspection device and a pixel inspection method that precisely inspect at least a defect of pixel even when the number of photoreceiving elements to one pixel of a display equipment to be inspected is small.例文帳に追加

被検査表示機器の１画素に対する受光素子数が少なくとも、画素の欠陥を精度良く検査する画素検査装置および画素検査方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

The CL detector 14 detects cathode luminescence light generated from the crystal defect at an inspection spot by irradiating the inspection spot of the semiconductor substrate 2 with the electron beam.例文帳に追加

ＣＬ検出器１４は、半導体基板２の検査箇所に電子線が照射されることによって検査箇所の結晶欠陥から発生したカソードルミネッセンス光を検出する。 - 特許庁

Besides, the sorting request from the user is made clear by using a GUI 110 for almost simultaneously displaying various kinds of inspection information acquired from a plurality of defect inspection apparatuses 101.例文帳に追加

またユーザの分類要求は、複数の欠陥検査装置１０１から取得された多様な検査情報をほぼ同時に表示するＧＵＩ１１０を用いてを用いて明確化される。 - 特許庁

When inspection is performed, the defect of the data line is judged by output of the logical circuit obtained by applying a driving signal for inspection corresponding to a prescribed logical value to the data line.例文帳に追加

検査のときには、所定の論理値に対応する検査用駆動信号をデータ線に印加し、このときに得られる論理回路の出力によりデータ線の欠陥を判定する。 - 特許庁

To provide inspection method and device for accurately grasping the presence or the absence, the position, and the size of a defect in a structure, regardless of the experience and knowledge of an inspection engineer.例文帳に追加

検査技術者の経験・知識によらずに、構造物内部の欠陥の有無、位置と大きさを正確に把握することができる検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁

To implement a highly sensitive defect inspection method in a pattern inspection apparatus by reducing the effect of the unevenness of the brightness of a pattern generated from the variation of the film thickness and the scattering of the pattern width.例文帳に追加

パターン検査装置において、膜厚の違いやパターン幅のばらつきなどから生じるパターンの明るさむらの影響を低減して、高感度な欠陥検査を実現する。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection apparatus for a multilayered substrate, whereby the defect of the multilayered substrate that might otherwise be discriminated to be a non-defective product can be found out, using a simple method.例文帳に追加

従来では良品と判断されるおそれがある欠陥を、簡便な方法で見つけることが可能な多層基板の検査方法および検査装置を提供すること。 - 特許庁

This tool defect inspection device has a support device 18 for supporting the work 12 by a chucking member 16, a ring illumination 32 for illuminating an inspection face of the work 12, and a camera 26 for imaging the illuminated work 12.例文帳に追加

ワーク１２をチャック用部材１６により支持する支持装置１８と、ワーク１２の検査面を照明するリング照明３２と、照明されたワーク１２を撮像するカメラ２６を有する。 - 特許庁

This defect detecting method has a means to detect an image of a whole chip, and, an inspection region of this image is divided into a plurality of regions based on sensitivity to fatal defects so that inspection sensitivity can be set up in each region.例文帳に追加

チップ全域の画像を検出する手段を設け、この画像を用いて致命性毎に検査領域を区分けし、それぞれの領域で検査感度を設定可能とした。 - 特許庁

To provide an inspection method of a pattern and an inspection device of the pattern capable of detecting accurately a defect even when an interference fringe (moire) is generated, and a manufacturing method of an electronic device.例文帳に追加

本発明は、干渉縞（モアレ）が発生しても、欠陥の正確な検出をすることができるパターンの検査方法、パターンの検査装置および電子デバイスの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a ring end face defect inspection apparatus for improving efficiency and obtaining improved precision and reproducibility, by automating the inspection of the end face defects of a metal ring 2.例文帳に追加

金属リング２の端面欠陥の検査を自動化できるようにし、以て、効率の改善と、良好な精度及び再現性が得られるリング端面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an optical inspection apparatus capable of identifying a defect of optical characteristics, removing foreign matters from a panel surface during an inspection process, and supplying power to a panel being inspected.例文帳に追加

光学特徴の欠陥を識別でき、かつ検査工程においてパネル表面の異物を除去でき、また検査中のパネルに電力が供給できる光学検査装置を提供すること。 - 特許庁

To extract a boundary in a cut sheet film of an inspection object from an inspection area to be recognized automatically, and to inspect a dimension and a defect within an recognized area.例文帳に追加

検査領域から検査対象である断裁された枚葉フィルムの境界を抽出して自動的に認識し認識された領域内部に対して寸法検査、欠陥検査を実行する。 - 特許庁

An image comparison part 124 compares, in each pixel in an inspection image data 120, a correspondence of an inspection image data 120 in the pixel to a reference image data 121 with a judgment threshold 141 acquired in each region comprising the computed slit pixel group, and judges defects or defect candidates.例文帳に追加

次に、検査画像の各画素毎にその画素の階調値と、その画素と対応する参照画像内の画素の画素値との第２の相関関係を求める。 - 特許庁

To provide a photomask appearance verification system for converting a coordinate value detected by a wafer inspection into a coordinate value to be used in a photomask inspection and for performing defect analysis of a photomask in an early stage.例文帳に追加

ウエハ検査で検出された座標値をフォトマスク検査で使用される座標値に変換し、フォトマスクの不具合解析を早期に行うフォトマスク外観検証システムを提供する。 - 特許庁

To precisely inspect the mechanical defect of a lip in the inspection of sealing performance for an elastic body-made lip seal and perform the automatic inspection.例文帳に追加

弾性体製のリップシールの密封性能を検査する装置と方法であって、リップの機械的欠陥を精度よく検査することが可能で、かつ自動検査を可能とする検査方法を開発する。 - 特許庁

The tool defect inspection device includes a display 30 for displaying an image picked up by the camera 26, and an image processor 28 for image-processing an inspection image of the work 12 picked up by the camera 26.例文帳に追加

カメラ２６により撮像された画像を表示する表示装置３０と、カメラ２６により撮像されたワーク１２の検査像を画像処理する画像処理装置２８を備える。 - 特許庁

The inspection unit 30 is arranged with laminated four inspection parts composed of a thickness measuring device 32, a line width measuring device 33, a superposition measuring device 34, and a macro defect inspecting device 35.例文帳に追加

検査ユニット３０には、膜厚測定器３２、線幅測定器３３、重ね合わせ測定器３４およびマクロ欠陥検査器３５の４つの検査部を積層して配置している。 - 特許庁

To prevent reduction of an inspection time and detection of a falsely reported defect, by putting an inspection region within a scannable range of an electron beam, even if a substrate is tilted against the moving direction.例文帳に追加

基板が移動方向に対して傾いていても電子線の走査可能範囲に検査領域がはいるようにして、検査時間の低下や虚報欠陥の検出を防止する。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus and an inspection method capable of preventing the phenomenon that no defects are found in a liquid crystal cell or liquid crystal display by its inspection, even though a defect is found by an inspection of its array board, and capable of judging to be defective when the array board is in a state of being a single component and not assembled yet.例文帳に追加

本発明は、アレイ基板の検査で不良が発見されても液晶セルや液晶ディスプレイの検査で不良が発見されない現象を防ぎ、アレイ基板の段階で不良が判定できる検査装置および検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a display panel defect inspection system which keeps a throughput of an inspection process even if the number of inspectors is reduced, and improving the throughput of the inspection process by dispersing a visual inspection work to the plurality of inspectors.例文帳に追加

本発明は、検査員の数を減らしたとしても、検査工程のスループットを維持することができ、更に、目視検査の作業を複数の検査員に分散させることで、検査工程のスループットを向上させることが可能なディスプレイパネル欠陥検査システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a cell inspection apparatus and cell inspection method capable of efficiently carrying out inspection with high reliability by detecting the objective region in spite of rough positioning in correspondence to production of a small quantity in diversified kinds when carrying out the defect inspection of liquid crystal products in the state before sticking of a polarizing plate.例文帳に追加

偏光板貼付前の状態で液晶製品の欠陥検査を行う場合、多種少量生産に対応してラフな位置決めでも対象領域を検出して信頼性の高い検査を効率的に行うことが可能なセル検査装置及びセル検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device and a PTP packaging machine capable of carrying out transmission type inspection and reflection type inspection at the substantially same position, capable of saving a space, capable of reducing a manufacturing cost and capable of enhancing inspection efficiency, when inspecting an appearance defect in a manufacturing process of a PTP sheet.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における外観不良を検査するに際し、透過式検査及び反射式検査を略同一位置において実施でき、省スペース化、製造コストの低減及び検査効率の向上を図ることのできる外観検査装置、及び、ＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

A surface inspection method for a semiconductor wafer is provided, including: irradiating the surface of a semiconductor wafer as an inspection object with inspection light from a light source unit; detecting scattered light from an irradiation region irradiated with the inspection light of the wafer surface; and evaluating the presence or absence of a defect and/or a degree of the defect on the wafer surface based on the detected scattered light.例文帳に追加

検査対象である半導体ウェーハの表面に向かって光源部から検査光を照射すること、ウェーハ表面の検査光が照射された照射領域からの散乱光を検出すること、ならびに、検出された散乱光に基づきウェーハ表面の欠陥の有無および／またはその程度を評価すること、を含む半導体ウェーハの表面検査方法。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for inexpensively performing defect inspection with fewer errors and for automatically classifying defects, especially to provide: an automated inspection for automatically inspecting and detecting detect particles and defect patterns different from patterns that a designer intends to be; an automated inspection apparatus for automatically classifying the defects; and to provide the automated inspection method for the same.例文帳に追加

低コスト且つ誤謬の少ない欠陥探索並びにその型分類を自動的に行なう基板検査装置とその方法、特にマスク・レチクル等の基板に於いて欠陥粒子及び設計者の意図とは異なる欠陥図形を探索発見する自動検査と、それ等欠陥の型の自動分類とを行なう基板検査装置及びその自動検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a reticle defect inspection method and a reticle defect inspection device capable of calibrating the offset and gain of a sensor amplifier using a product reticle even though black and white regions each sufficiently wider than a TDI sensor imaging area do not exist in the product reticle.例文帳に追加

製品レチクルにＴＤＩセンサ撮像面積に比して充分な広さの黒領域及び白領域が存在しなくても、製品レチクルを用いてセンサアンプのオフセット及びゲインの調整が可能なレチクル欠陥検査方法及びレチクル欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a lens defect inspection device capable of forming many parallel light sources having prescribed angles by the effective use of surface illuminations and a louver layer, for example, imaging accurately a defect on a lens appearance by an imaging means, and automating inspection.例文帳に追加

面照明とルーバー層の効果的な使用により所定の角度を持った平行光源を多数形成でき、例えばレンズの外観上の欠陥を撮像手段に精度良く撮像できて検査の自動化を図ることが可能なレンズ欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

The white inspecting image over the whole face is displayed on a screen 2, when no defect exists in the liquid crystal light valve 14G of the inspection object, and the inspecting image with a color is displayed on the screen 2, when a defect exists in the liquid crystal light valve 14G of the inspection object.例文帳に追加

検査対象の液晶ライトバルブ１４Ｇに欠陥がなければ、スクリーン２には全面が白色の検査用画像が表示されるが、検査対象の液晶ライトバルブ１４Ｇに欠陥があれば、スクリーン２には色付きの検査用画像が表示される。 - 特許庁

This device has a configuration wherein, when detecting a foreign matter or a defect on the surface of the inspection object, a parameter for digital filtering is changed dynamically during inspection, and the foreign matter or the defect is discriminated by using a result acquired by removing a low-frequency changing component which is a noise component.例文帳に追加

そして、被検査体表面上の異物や欠陥を検出する際、デジタルフィルタリングのパラメータを検査中に動的に変化させ、ノイズ成分である低周波変動成分を除去した結果を用いて、異物や欠陥を弁別する構成とする。 - 特許庁

To provide a pattern inspection method and device that can inspect a pattern defect formed on a substrate with high accuracy in a short time, and specially, sufficiently prevent degradation of detecting sensitivity and inspection accuracy of a defect to a boundary part of pattern density of an element.例文帳に追加

基板上に形成されたパターンの欠陥検査を高精度且つ短時間で行うことができ、殊に、素子のパターン疎密の境界部に対しても、欠陥の検出感度及び検査精度の低下を十分に防止できるパターン検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide defect inspection apparatus having a GUI for simply controlling a plurality of probes in a defect inspection apparatus in which the plurality of probes for measuring electrical properties of samples containing fine circuit wiring patterns are combined with a charged particle beam apparatus.例文帳に追加

微細な回路配線パターンを含む試料の電気特性を測定する複数のプローブと荷電粒子線装置とを組み合わせた不良検査装置において、複数のプローブを単純に制御するためのＧＵＩを有する不良検査装置を提供する。 - 特許庁

Thereby, when there exists a defect at the portion provided in the hole 61 of the inspection electrode means 6, discharge is made at the defective part, thereby a defect of the piezoelectric tube 3 provided at the hole 61 of the inspection electrode means 6 can be identified.例文帳に追加

これによって、検査用電極手段６の孔６１に配設された部分に欠陥が存在する場合、その欠陥部で放電するため、欠陥が検査用電極手段６の孔６１に配設された圧電体チューブ３に存在することを特定できる。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus for substrates, which substantially improves accuracy in defect inspection when light reflected from substrates are detected to inspect defects of the substrates on the basis of results of the detection despite a simple constitution and having cost advantage.例文帳に追加

基材からの反射光を検出してその結果に基づいて基材の欠陥検査をおこなうにあたり、構成が簡易であると共にコスト的に有利でありながら、欠陥検査の精度を著しく向上することができる基材の欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

A determination part 7 determines that the inspection target is a defective product when the number of pixels in the defect candidate land is larger than a specific pixel number, and determines that the inspection target is a good product when the number of pixels in the defect candidate land is smaller than the specific pixel number.例文帳に追加

判定部７は、欠陥候補ランドの画素数が規定画素数以上である場合、検査対象物が不良品であると判定する一方、欠陥候補ランドの画素数が画素数閾値未満である場合、検査対象物が良品であると判定する。 - 特許庁

To provide a defect marker for forming indentations easy to check by visual inspection independently of the existence or non-existence of rustproof oil or of defect detection performance on the fabricator side as to a processing line for winding up an aluminum sheet into a coil, a method of defect marking, and a defect-marked coil.例文帳に追加

アルミニウム板をコイルに巻き取る処理ラインにおいて、防錆油の有無及び加工メーカー側の欠陥検出性能に関らず、目視によって容易に確認可能な圧痕を形成することができる欠陥マーキング装置、欠陥マーキング方法及び欠陥マーキングされたコイルを提供することを目的とする。 - 特許庁

The defect inspection apparatus scans a local region of a defect detected on the surface of the inspected structure, measures the quantity of a characteristic property corresponding to a type of the defect such as the coincidence with a crystal grain boundary of the crack, compares a measured detection signal with a database data and determines a type of the defect.例文帳に追加

検査対象構造物の表面に検出された欠陥の局部的範囲を走査し、欠陥の種別に応じた例えば亀裂の結晶粒界との一致度のような特徴的な特性量を計測し、この計測された検出信号をデータベースのデータと比較し欠陥種別を判定する。 - 特許庁