「defect inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(32ページ目) - Weblio英語例文検索

In this method, a means of synchronization with detection of defects to calculates amount of image features of the defect, and a means for classifying defects into clusters, depending on the calculated amount of image features are added to the high-speed pattern defect inspection system.例文帳に追加

高速のパターン欠陥検査装置に、欠陥の検出に同期して欠陥の画像的特徴量を計算する手段と、計算された特徴量によって欠陥をクラスタに分類する手段とを付加する。 - 特許庁

To provide a device and a method for inspecting nondestructively an inside of a foam body capable of judging the propriety of a void as an internal defect in the foam body, without generating dispersion in every inspection person, and capable of judging easily the presence of the internal defect.例文帳に追加

発泡体に内部欠陥としてボイドがあるか否かを検査者毎にばらつきなく非破壊でかつ内部欠陥の有無を容易に判断し得る発泡体内部検査装置および方法を提供する。 - 特許庁

To eliminate the reduction of the throughput of defect inspection, and further, obtain a more improved mask yield and the more improved dimension-controllability of a transcription-pattern, etc., than conventional ones, by performing the division of the pattern in consideration of its defect redundancy.例文帳に追加

欠陥冗長性を考慮したパターン分割を行うことによって、欠陥検査のスループット低下を招くことなく、しかもマスク歩留まりや転写パターンの寸法制御性等を従来よりも向上させる。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INSPECTING APPARATUS, SEMICONDUCTOR DEFECT ANALYZER, SEMICONDUCTOR DESIGN DATA CORRECTING APPARATUS, SEMICONDUCTOR INSPECTION METHOD, SEMICONDUCTOR DEFECT ANALYZING METHOD, SEMICONDUCTOR DESIGN DATA CORRECTING METHOD, AND COMPUTE-READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加

半導体検査装置、半導体欠陥解析装置、半導体設計データ修正装置、半導体検査方法、半導体欠陥解析方法、半導体設計データ修正方法およびコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

A state plane including the defect ratio and the covering rate is set in an evaluation arithmetic means 4, and the quality of the inspection target is specified as a coordinate point on the basis of the defect rate and the covering rate after the measurement.例文帳に追加

そして、評価演算手段４において、不良比率と網羅率を含む状態平面を設定し、計測後の不良率及び網羅率に基づき検査対象の品質を座標点として特定する。 - 特許庁

To detect only the projected defect of an inspection surface, on which a fine recessed part is present or can be present, with high accuracy and to avoid the damage of a master or magnetic transfer defectiveness caused by the projected defect of a disk to enable magnetic transfer.例文帳に追加

微細な凹部があるか凹部があり得る検査面を凸欠陥のみを高精度に検出できるようにし、併せてディスクの凸欠陥によるマスタのダメージや磁気転写不良を回避して磁気転写できるようにする。 - 特許庁

To provide an X-ray defect inspection device for determining normality/abnormality of inspection objects by determining the size or the volume from radiographic images of the inspection objects, capable of accurately inspecting each inspection object, even if the inspection objects are transported, in a state that a plurality of them are in contact with each other or are overlapped, and improving the yield of inspection, without performing special for transportation.例文帳に追加

被検査物のＸ線透過像からその大きさや体積を求め、正常／異常の判定を行うＸ線欠品検査装置において、被検査物が複数個接触した状態で搬送されたり、重なり合った状態で搬送されてきても、個々の被検査物について正しく検査することが可能で、検査の歩留りを向上させ、また、搬送に特別な工夫を施す必要のない装置提供する。 - 特許庁

The final defect marking apparatus comprises a defect mark detecting device of detecting a defect mark of the film carrier tape for mounting electronic components with defect marks at predetermined points in various inspection steps in advance, and a plurality of marking devices of providing the final marking to detected defective portions of the film carrier tape for mounting the electronic components.例文帳に追加

予め前行程である種々の検査工程で所定箇所に不良マークが付された電子部品実装用フィルムキャリアテープの不良マークを検出する不良マーク検出装置と、不良マーク検出装置の検出結果に基づいて、検出された電子部品実装用フィルムキャリアテープの不良部分に最終マーキングを付する複数のマーキング装置を備える。 - 特許庁

To facilitate defect detection when a defect is present in a peripheral portion having a large luminance difference in an electronic display image quality inspection device detecting the display defect by picking up an image of the display defect in a display device such as a plasma display by a camera or the like, and binarizing an image obtained by differentiating the picked-up image by spatial differentiation processing or the like.例文帳に追加

プラズマディスプレイ等の表示装置における表示欠陥をカメラ等により撮像し、撮像画像を空間微分処理等により微分した画像を２値化することにより、表示欠陥を検出する電子ディスプレイ画質検査装置において、輝度差の大きい周辺部分に欠陥が有る場合の欠陥検出を容易にすることに有る。 - 特許庁

To provide an inspection device for a thin film transistor substrate capable of inspecting the presence of a defect in the thin film transistor substrate, allowing accurate inspection even under a low vacuum condition, capable of coping properly with a change in a size of the thin film transistor substrate, and capable of shortening an inspection time.例文帳に追加

薄膜トランジスター基板の欠陥の有無を検査し、低真空状態でも正確な検査が可能で、薄膜トランジスター基板のサイズの変化に適切に対応することができ、検査時間を短縮させる薄膜トランジスター基板の検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device capable of detecting sufficiently an appearance defect by widening the setting width of an irradiation condition of light irradiated to an inspection object, and having a wide tolerance of the shape, the size and the material of the inspection object and a high utility value.例文帳に追加

被検査物に対して照射する光の照射条件の設定幅を広げることにより、外観不良を十分に検出することができる被検査物の形状，サイズ，材質の許容範囲を広げ、利用価値の高い外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for generating an appearance inspection discriminator, fully letting a discriminator which determines whether an inspection object is defectless or not, fully learn, even when there are only a few available images showing a defect on the defective inspection object.例文帳に追加

検査対象物の不良品に生じた欠陥を写した画像が少数しか得られない場合でも、検査対象物が良品か否かを識別する識別器を十分に学習させることが可能な外観検査用識別器生成装置を提供する。 - 特許庁

An analyte image inspection device 20 is provided nearby an outer peripheral part of an inspection rotor 10, and captures an appearance image of an analyte moving while held by a holding part of the inspection rotor 10 to inspect whether the analyte has a defect based upon the appearance image.例文帳に追加

被検体画像検査装置２０は、検査ロータ１０の外周部近傍に設けられ、検査ロータ１０の保持部に保持されて移動する被検体の外観画像を取得して、その外観画像に基づきその被検体における不良の有無を検査する。 - 特許庁

To provide an appearance inspection device for color filters automatically determining, at high speed, whether a detected defect is present only in a single colored part or over a plurality of colored parts in an appearance inspection of a color filter, and an appearance inspection method.例文帳に追加

カラーフィルタの外観検査において、検出された欠陥が単一の着色部にのみ存在しているのか、複数の着色部に跨って存在しているのかを高速に自動判別するカラーフィルタ外観検査装置および外観検査方法を提供すること。 - 特許庁

A TFT array inspection apparatus includes: an inspection signal applying means for applying an inspection signal to a TFT array in the panel, and forming a potential distribution in a predetermined pattern on the panel; and a signal processing means for detecting a panel defect by using a secondary electron detection signal.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ検査装置は、パネルのＴＦＴアレイに検査信号を印加して、パネル上に所定パターンの電位分布を形成する検査信号印加手段と、二次電子の検出信号を用いてパネル欠陥を検出する信号処理手段とを備える。 - 特許庁

To provide a nondestructive inspection system and a nondestructive inspection method applicable to a heat insulation piping inspection or the like and capable of accurately acquiring a true signal caused by the defect of a pipe body without being influenced by the deformation of a steel plate on the outside of the heat insulation pipe.例文帳に追加

断熱配管検査等に適用可能であり、断熱配管外側の鋼板の変形に影響されることなく、配管本体の欠陥による真の信号が精度良くとらえられる非破壊検査装置および非破壊検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device and a visual inspection method, capable of confirming the propriety of a production process of forming a pattern appearing on the surface of a semiconductor wafer or the like, at the same time as with the visual inspection of a defect appearing on a wafer surface.例文帳に追加

半導体ウエハなどの表面に現れるパターンを形成した製造プロセスが適切であるか否かを、このウエハ表面に現れる欠陥の外観検査と同時に確認することが可能な外観検査装置及び外観検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for inspecting a defect, capable of recalculation by collecting image data for a product currently on a production line even during a continuous inspection, without giving influence to an inspection tact and without stopping the line, and capable of evaluating ability of an inspection machine itself.例文帳に追加

連続検査中においても、その検査タクトに何も影響を与えること無く、またラインを止まることなく、現在流れている製品の画像データを集収し、再計算することができ、検査機自身の能力を評価することを目的とする。 - 特許庁

The defect inspection device for processing image information imaging an inspection object having a prescribed area to be inspected by a plurality of area sensors and discriminating a defect based on a characteristic amount calculated from brightness change in the area includes correction means between characteristic amount imaging systems for correcting the difference between the characteristic amounts to the same defect between the plurality of the area sensors in each area sensor.例文帳に追加

所定の被検査エリアを有する検査対象を、複数のエリアセンサにより撮像した画像情報を処理し、前記エリア内の輝度変化から計算した特徴量に基づいて欠陥を識別する欠陥検査装置において、 前記複数のエリアセンサ間の同一欠陥に対する特徴量の差を補正する、特徴量撮像系間補正手段を前記エリアセンサ毎に備える。 - 特許庁

When the sensor output x is obtained in an actual inspection, the speed V of the inspection pig is measured, flux density B is calculated according to the function and the extent of a defect is calculated based on the flux density B thus calculated.例文帳に追加

そして、実際の検査においてセンサの出力ｘが得られたとき、そのときの検査ピグの速度Ｖを測定し、前記式に基づいて磁束密度Ｂを計算して、それに基づいて欠陥の程度を判別する。 - 特許庁

This pipe magnetic powder flaw detector 10 comprises an inspection liquid tank 20, a pipe vertical moving device 30 and an electrode moving device 40, and magnetizes the pipe 1 in an inspection liquid to form a magnetic powder pattern at a weld defect part.例文帳に追加

パイプ磁粉探傷装置１０であって、検査液槽２０と、パイプ上下移動装置３０と、電極移動装置４０とからなり、パイプ１を検査液中で磁化し、溶接欠陥部に磁粉模様を形成させるもの。 - 特許庁

To provide a device and a method for shape inspection which can surely detect a dimensional insufficiency and can determine it as a defect when the shape and dimensions of an inspection object are smaller even by a little than prescribed ones.例文帳に追加

被検査体が所定の形状および寸法よりもわずかでも小さい場合には寸法不足を確実に検出して欠陥であると判定できる形状検査装置および形状検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a film that is excellent in handleability in a sheet state and has optical characteristics causing no hindrance to a visual inspection in a cross-nicol method which is typical as a defect inspection of contamination of foreign matters etc. in a polarizing plate.例文帳に追加

シート状態の取扱性に優れ、偏光板の異物混入等の欠陥検査として一般的なクロスニコル法による目視検査で障害とならないような光学特性を有するフィルムを提供する。 - 特許庁

In substrate inspection prior to pattern forming that uses design data 303, a defective fraction 506 is calculated, taking into consideration the position of a detected defect 504 on an inspection map indicating the place on a wafer.例文帳に追加

パターン形成前の基板検査において、設計データ３０３を利用して、検出された欠陥５０４がウェハ上の場所を示した検査マップ上のどの位置にあるを考慮して不良率５０６を計算する。 - 特許庁

The array substrate 10 is divided into two inspection blocks 10A, 10B, and total two scanning signal lines 2 are selected, respectively, from each inspection block, and inspected simultaneously, and thereby a pixel address of a defect candidate is specified.例文帳に追加

アレイ基板１０を２個の検査ブロック１０Ａ，１０Ｂに分割し、各検査ブロックから１本ずつ合計２本の走査信号線２を選択して同時に検査し、これにより不良候補の画素アドレスを特定する。 - 特許庁

The inspection results corresponding to one substrate corresponds to a combination of inspection results of each substrate displayed on the right-side of the screen to display coordinates of the position of foreign matter/a defect in the substrate as a map.例文帳に追加

基板１枚分に相当する検査結果は、画面右側に表示された１枚１枚の基板検査結果の結合に相当し、基板における異物／欠陥の位置における座標をマップとして表示される。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of performing more accurately defect inspection in the periphery of the end of a substrate, by performing irradiation with illumination light from a direction in which an effect of scattered light from a circuit pattern is suppressed.例文帳に追加

回路パターンからの散乱光の影響を抑えた方向から照明光の照射を行うことで、基板の端部近傍の欠陥検査をより正確に行うことができる検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and a method thereof for highly accurately distinguishing noise or nuisance defects from real defects by unifying inspection results different from each other in lighting conditions or detection conditions.例文帳に追加

照明条件、もしくは検出条件の異なる検査結果を統合することで、ノイズやNuisance欠陥と真の欠陥を高精度に判別することができる欠陥検査装置及びその方法を提供することにある。 - 特許庁

Processing for smoothness failure inspection is executed, by using an image generated by imaging under the spot illumination, and a processing for irregularity defect inspection is executed, by using an image generated through imaging under entire illumination.例文帳に追加

そして、スポット照明下の撮像で生成された画像を用いて平滑性不良検査用の処理を実行し、全体照明下の撮像で生成された画像を用いて凹凸欠陥検査用の処理を実行する。 - 特許庁

Inspection systems, circuits and methods are also provided to enhance defect detection by addressing saturation levels of the amplifier and analog-digital circuitry as a limiting factor of the measurement detection range of an inspection system.例文帳に追加

検査システムの測定検出範囲の制限要因として増幅器及びアナログ・デジタル回路の飽和レベルに対処することによって欠陥検出を強化するための検査システム、回路及び方法も提供される。 - 特許庁

Of the pattern inspection device 1, a comparing inspection part 10 generates a defect candidate area D in an inspected image S by comparing the inspected image S with a reference image R.例文帳に追加

パターン検査装置１において、比較検査部１０は、被検査画像Ｓと参照画像Ｒとを比較して被検査画像Ｓにおける欠陥候補領域Ｄを特定する２値化された欠陥候補画像Ｑを生成する。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection device for inspecting quickly a defect such as a cavity, a flaw and a stain, even when a machining oil or a cleaning liquid is deposited on an inner face of an inspected cylindrical object such as an engine cylinder.例文帳に追加

エンジンシリンダなどの被検査円筒物体の内面に加工油や洗浄液が付着していたりしても、高速で、鋳巣、傷、汚れ等の欠陥を検査できるようにした欠陥検査装置及びその方法。 - 特許庁

According to a simple approach, a reflection component in the reflection elastic wave Wref on a surface S1 of the inspection object 2 is reduced and a reflection component in a cavity (defect) 21 inside the inspection object 2 can easily be detected.例文帳に追加

簡易な手法によって、反射弾性波Ｗrefにおける被検査体２の表面Ｓ１での反射成分が低減され、被検査体２内部の空隙（欠陥）２１での反射成分が検出し易くなる。 - 特許庁

To provide a printing quality inspection device which performs an inspection of the printing quality state of a sheet on which printing has been applied, eliminates defective sheets, and at the same time, can print the defect information in a margin region of the defective sheet.例文帳に追加

印刷が成されたシートの印刷品質状態の検査を行い、不良シートを排除するとともに、不良シートの余白領域に欠点情報を印字することができる印刷品質検査装置を得る。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection device capable of measuring stable and highly-accurate defect reflecting echo, by removing an influence of a temperature change of an inspection object and measuring water by performing temperature compensation of a sound pressure round-trip transmission rate.例文帳に追加

音圧往復通過率の温度補償を行い被検査物と測定水の温度変化の影響を排し、安定したかつ精度の高い欠陥反射エコーの測定を実現できる超音波検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method of a tire irregularity pattern and an inspection device of the tire irregularity pattern capable of determining a defect of a three-dimensional shape of the pattern with high reliability without depending on a brightness distribution image of irregularities.例文帳に追加

凹凸の輝度分布画像によることなく、高い信頼性をもって、図形の三次元形状の欠陥を判定することのできるタイヤ凹凸図形の検査方法、および、タイヤ凹凸図形検査装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a defect inspection method which improves inspection sensitivity to a short in a bottom part between wiring, and which detects even a short of a miniaturized pattern in a bottom part between a plurality of wiring arranged in parallel.例文帳に追加

配線間の底部のショートに対する検査感度を向上させ、微細化されたパターンであり、平行に並んだ複数の配線間の底部におけるパターンショートであっても検出可能な欠陥検査方法を実現する。 - 特許庁

When the image data are inputted, the image processors 40-1 to 40-4 inspect a defect within the set inspection range on the basis of the inspection condition so as to output the inspected result to the controller 50.例文帳に追加

画像処理装置４０−１〜４０−４は、画像データが入力されると、設定された検査範囲において、検査条件に基づき欠陥の検出を行い、検査結果を制御装置５０へ出力する。 - 特許庁

To provide a surface inspection method and a surface inspection device capable of detecting accurately the position of a defect on a surface to be inspected, without increasing the time required for inspecting the surface to be detected of a specimen.例文帳に追加

被検体の被検面を検査することに要する時間の増大を招くことなく、被検面における欠陥の位置を正確に検知することができる表面検査方法および表面検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method of an optical film, capable of inspecting a defect precisely by preventing sufficiently reflection of light onto the optical film.例文帳に追加

光学フィルムへの光の映り込みを十分に防止して、欠陥の検査を的確に行うことができる光学フィルムの検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect inspection device for electroluminescent element capable of surely discriminating RGB colors, and is further, capable of inspecting a plurality of pixel areas on a manufacturing line.例文帳に追加

ＲＧＢの色を確実に識別でき、さらに製造ライン上で複数の画素領域を検査できるエレクトロルミネッセンス素子の欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection technology, capable of determining a defect with high sensitivity up to the most peripheral part of a memory mat part of a semiconductor device or up to a peripheral circuit that has no repeatability.例文帳に追加

半導体装置のメモリマット部の最周辺部や、繰り返し性の無い周辺回路まで高感度に欠陥判定できる検査技術を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device capable of high-accuracy inspection of the defect of a photomask having a light-shielding part, light-transmitting part and fine pattern part, in a short time.例文帳に追加

遮光部と、透過部と、微細パターン部とを有するフォトマスクにおいて、短時間でかつ高精度な欠陥検査を行うことができるを提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device of a can lid joint (seaming part), having superior detection accuracy, capable of detecting whatever joint defect accurately and surely.例文帳に追加

検出精度に優れ、どのような接合不良でも正確かつ確実に検出することができる缶蓋接合部（巻締め部分）の検査装置を提供すること。 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM CONTROLLER, CHARGED PARTICLE BEAM OPTICAL DEVICE USING THE SAME, CHARGE PARTICLE BEAM DEFECT INSPECTION DEVICE AND CONTROL METHOD FOR CHARGED PARTICLE BEAM例文帳に追加

荷電粒子ビーム制御装置、及びそれを用いた荷電粒子ビーム光学装置、荷電粒子ビーム欠陥検査装置、並びに荷電粒子ビーム制御方法 - 特許庁