「defects inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

This automatic optical inspection system determines the presence of pattern defects in brightness of image data captured by the printed circuit board, by utilizing transmitted light and/or reflected light, through the 1st reference value of an illuminometer.例文帳に追加

本発明の自動光学検査システムは印刷回路基板から透過光および／または反射光を利用して獲得した映像データの明るさを照度計の第１基準値によってパターンの不良の有無を判別する。 - 特許庁

To provide an eddy current flaw detection probe for a pulsed eddy current flaw detector inspecting magnetic materials, such as carbon steel, capable of detecting defects inherent in an inspection object at a high resolution, while maintaining defect detection sensitivity.例文帳に追加

炭素鋼等の磁性材に対する検査を行うパルス渦電流探傷装置の渦電流探傷プルーブにおいて、被検査体に内在する欠陥を、欠陥検出感度を維持しつつ高分解能で検出する。 - 特許庁

To provide a method for creating a photomask pattern using an assist pattern, with which separation or placement lacking of an assist pattern is prevented, high resolution is achieved and inspection of mask defects is easily carried out.例文帳に追加

アシストパターンを用いたフォトマスクパターンの作成方法に関し、アシストパターンの分離や未配置を防止し、解像力が高くマスク欠陥検査を容易に行うことができるフォトマスクパターンの作成方法を提供する。 - 特許庁

Preliminarily, the voices emitted by an inspector, indicating the defects occurring in the inspection, for example, the words W_1-W_n are registered and a database relating to the standard voice of the worker is built up.例文帳に追加

予め、検反作業者Ａがウエブ欠点の単語Ｗ_1 〜Ｗ_n を発したときの音声に関し登録を行い、その登録音声の特徴量に基いて、その人の標準音声に関するデータベースを作成する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method by which, even if warpage exceeding a range for automatic focusing occurs, all defects on the surface of a semiconductor wafer are focused and their defect images can be obtained.例文帳に追加

自動焦点合わせ可能な範囲を超える程度の反りが発生した場合でも、半導体ウエハ表面のすべての欠陥に焦点を合わせて欠陥画像を取得することができる欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

A secondary candidate extraction part 12 binarizes the gradation image by a second threshold value set to separate wood grains and defects in a focused inspection target region, and extracts a secondary defect candidate region.例文帳に追加

二次候補抽出部１２は、着目する検査対象領域について木目と欠陥とを分離するように設定した第２のしきい値により濃淡画像を２値化し、二次欠陥候補領域を抽出する。 - 特許庁

In order to properly extract defect information from an inspection apparatus, a filtering function and a sampling function are prepared as a unit, and the defects as objects to be observed are narrowed down and extracted automatically by combining them.例文帳に追加

検査装置からの欠陥情報を適正に抽出するために、フィルタおよびサンプリング機能をユニット化して用意しておき、これらの組合せによって観察対象欠陥の絞込み抽出を自動的に行う。 - 特許庁

To greatly facilitate inspection of, for example, presence/absence of molding defects of window parts and connecting parts and also measurement of dimension in the longitudinal direction of these parts without performing a complicated manual operation after the manufacturing.例文帳に追加

製造後における煩雑な人手による作業を行うことなく、極めて容易に窓部及び連結部の成型不良の有無などの検査及び窓部及び連結部の長手方向の寸法測定を行う。 - 特許庁

In the coating image analyzer 40, the coating defects are analyzed according to the coating image data, and the analyzed results are transmitted to the coating division, the inspection division and the transport division of the manufacturing factory and are reflected on respective processes.例文帳に追加

塗装画像解析装置４０では、塗装画像データに基づいて塗装欠陥を解析し、解析した結果を製造工場の塗装部や検査部や輸送部に送信し、解析結果を各工程に反映させる。 - 特許庁

To provide a color filter which brings about no light leakage or the like, when it is installed in a liquid crystal display, in which pseudo-defects are less likely to be detected in the defect inspection of the color filter, and to provide a method for manufacturing the same.例文帳に追加

本発明は、液晶表示装置とした際に光漏れ等がなく、またカラーフィルタの欠陥検査の際に擬似欠陥が検出されることが少ないカラーフィルタ、およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an optical member inspection device having handleability, capable of discovering flaws, defects or the like of a small-diameter member having a small diameter and a small radius of curvature, easily by one-time focusing.例文帳に追加

小径でかつ曲率半径の小さな小径部材の表面の傷や欠陥等の発見を、一度ピント調整を行うことによって容易に行える、使い勝手に優れた光学部材検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a non-destructive inspection system which can accurately obtain positional relations of defects in an object to be inspected by using ultrasonic flaw detection and X-ray flaw detection, and can simplify works for setting flaw detection trajectories.例文帳に追加

本発明の目的は、超音波探傷とＸ線探傷による被検体の欠陥の位置関係を正確に把握でき、探傷軌跡設定作業を簡略化できる被破壊検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide an inspection method capable of detecting with high accuracy defects (minute unevenness, scars, stains, or the like) on the inner peripheral surface of a slender cylindrical container, that is, a cylindrical container having an opening diameter that is small in comparison with the depth thereof.例文帳に追加

細長い円筒容器、すなわち、その深さに比較して、開口径が小さい円筒容器の内周面の欠陥（微少な凹凸、キズ、汚れ等）を精度よく検出できる検査手法を提供する。 - 特許庁

To provide a sponge member appearance inspecting apparatus for enabling an appearance inspection, without making an object to be inspected halt, if it is no possible to confirm the presence of defects in the object to be inspected object without deformations.例文帳に追加

変形させなければ欠陥の有無を確認することが不可能な被検査物であっても、被検査物を一旦停止させることなく外観検査を可能とするスポンジ部材外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a proximity effect correction method for decreasing the number of times of proximity effect correction which induces defects in judging the accuracy of proximity effect correction and thereby, for decreasing works in conventional defect judgment inspection.例文帳に追加

近接効果補正の精度判定において、欠陥となる近接効果補正の回数を低減し、これにより従来の欠陥判定検査における作業を軽減することができる近接効果補正方法を提供する。 - 特許庁

The optical system is configured to direct EUV light from an inspection area of an EUV patterning device onto the array of sensors, whereby the analog data are used to determine defects or to compensate for anomalies found on the EUV mask.例文帳に追加

光学システムは、ＥＵＶパターニングデバイスの検査エリアからのＥＵＶ光をセンサのアレイに誘導し、アナログデータはＥＵＶマスク上で発見される欠陥を判定し、または異常を補償するために使用される。 - 特許庁

In an inspection system for planar objects having a periodic structure, programmable optical Fourier filtering in the focal plane of a telecentric lens system is used to directly identify physical phenomena indicative of non-periodic defects.例文帳に追加

非周期欠陥を表す物理現象を直接識別するために、テレセントリック・レンズ系の焦点面でプログラム可能光フーリエ・フィルタリングが周期構造を有する平面対象物を検査するためのシステムに使用される。 - 特許庁

To provide a polyester film which is appropriate when, with regard to a polarizing plate with a release film laminated, an inspection whether defects such as distortion and nonuniformity and a foreign substance exist or not is carried out by a visual test according to a cross nicol method.例文帳に追加

離型フィルムが貼り合わされた状態の偏光板について、歪みやムラのような欠陥や異物の有無の検査をクロスニコル法による目視検査によって行う場合に好適なポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁

To provide a pattern inspection device, capable of conducting stable detecting operation by reducing influence of noise in detecting defects in a repeated pattern, without previously giving an ideal pattern.例文帳に追加

あらかじめ理想パターンを与えることなく、繰り返しパターンに存在する欠陥を検出するにあたって、ノイズの影響を低減させて安定した検出動作を行うことが可能なパターン検査装置を提供する。 - 特許庁

The appearance inspection is applied to the downward surface 1a where the transfer pattern of the transfer mold 1 is formed and determines whether there are defective parts on the transfer mold 1 so as to prevent the defects of the wiring pattern prior to transferring to the substrate.例文帳に追加

配線パターンの欠陥を防止するため、基板への転写に先立ち、転写用型１に欠損部があるかどうか、転写用型１の転写パターンの形成面１ａを下向きにして外観検査を行う。 - 特許庁

To improve quality of a product to be shipped to a market by investigating/solving a cause of defects discovered after an inspection process and after shipment of the product and to promptly reflect the investigated/result on a manufacturing process and the inspection process in a manufacturing plant to improve the quality of the product.例文帳に追加

一般的に製造業者には、製品の品質を向上させるため、検査工程や製品出荷後に発見された不具合事象の原因を究明・解決し、製造工場内の製造工程や検査工程へ迅速に反映することにより、市場へ出荷する製品の品質をいっそう向上することが望まれている。 - 特許庁

When the end face defects of the metal ring 2 are inspected by a defect inspection section 15, an angle to the surface to be inspected at least in first and second waveguides included in the defect inspection section 15 is continuously changed in a prescribed range (θ1 to θ5) by an angle changing means.例文帳に追加

欠陥検査部１５によって金属リング２の端面欠陥が検査する際に、角度変更手段により、前記欠陥検査部１５に含まれる少なくとも前記第一の導光路及び第二の導光路の前記被検査面に対する角度を所定の範囲（θ１〜θ５）で連続的に変更操作する。 - 特許庁

By focusing on a temperature rising rate of the surface temperature and the difference of the surface temperature generated between a sound part and the defective part, and by quantifying these relations, an effective range for detecting defects inside the inspection object is determined, and the reliability of inspection results in the effective range is ensured.例文帳に追加

表面温度の温度上昇率と、健全部と欠陥部の間に生じる表面温度の差に着目し、これらの関係を定量化することにより、被検査体の内部における欠陥を検出することのできる有効範囲を決定し、当該有効範囲において検査結果の信頼性を保証する。 - 特許庁

To provide a polyester film suitable as a base film for a release film which can obtain the high precision of inspection, regarding a polarizing plate in a state of being pasted with the release film, when inspecting whether defects such as strain and unevenness and foreign matter are present by visual inspection according to a crossed Nicols method.例文帳に追加

離型フィルムが貼り合わされた状態の偏光板について、歪みやムラのような欠陥や異物の有無の検査をクロスニコル法による目視検査によって行う場合において、高度な検査の精度を実現することのできる離型フィルムのベースフィルムとして好適なポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁

In this method for detecting finish accuracy and defects of a circuit pattern of a printed wiring board and an inner layer circuit-including copper clad laminate of its partly-finished product, this installation method for the lighting system is characterized by installing a light source vertical to an inspection object and a light source oblique to the inspection object in conjunction with each other.例文帳に追加

プリント配線板及びその中間製品である内層回路入り銅張積層板の回路パターンの仕上がり精度並びに欠陥検出方法において、被検査物に対して垂直方向の光源と斜め方向の光源を併用して設置することを特徴とする照明装置の設置方法。 - 特許庁

A non ejection detecting part 9 prepared at a control part 8 judges by different judgment methods the presence or absence of defects of the inspection image data to the reference image data by comparing the reference image data and the inspection image data with each other, and judges defective recording due to non ejection of the nozzle by OR of the result of the judgment.例文帳に追加

制御部８に備えられている不吐出検出部９は、基準画像データと検査画像データとを照合して当該基準画像データに対する当該検査画像データの不良の有無を異なる判定手法により判定し、この判定の結果の論理和によりノズルの不吐出による記録不良を判定する。 - 特許庁

When specifying the position to be observed on a sample and applying electron beams for forming an image, based on the position information of a defect inspected and detected by other inspection device, observation of electrical defects that can be conducted with a potential contract by designating electron beam irradiation conditions, detectors, detection conditions, and the like, according to the types of defects to be observed.例文帳に追加

他の検査装置で検査され、検出された欠陥の位置情報をもとに、試料上の被観察位置を特定し、電子線を照射し画像を形成する際に、観察すべき欠陥の種類に応じて電子ビーム照射条件および検出器、検出条件等を指定することにより、電位コントラストで観察可能な電気的欠陥が可能になる。 - 特許庁

To provide a surface inspection device which can inspect foreign substances, defects or the like with uniform sensitivity without relying on the rotation angle of the primary scanning direction even if the intensity of scattered light which is generated from the foreign substances, defects or the like which are present on or near the surface of a semiconductor wafer has an anisotropic property of being dependent on an illumination direction.例文帳に追加

半導体ウェハ表面や表面近傍に存在する異物や欠陥等に由来して発生する散乱光の強度が照明方向に依存する異方性を有する場合であっても主走査方向の回転角に依存せずに均一な感度で異物や欠陥等の検査が可能な表面検査装置を実現する。 - 特許庁

To provide a highly reliable defect inspection device detecting defects without omission by forming, in a clear contrast image, an image of a rugged defect with small curvature changes formed on a transparent body sheet-like material surface.例文帳に追加

透明体シート状物表面に発生した曲率変化の小さな凹凸状欠陥を、最も鮮明な明暗像になる状態で結像させることにより、欠陥を漏れなく検出し、信頼性の高い欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a polyester film for laminating with a polarizing film which is improved against light leakage or interference colors as the cause for overlook of intrusion of foreign matters or defects when inspecting a polarizing plate and which has excellent and easy inspection property.例文帳に追加

本発明は、偏光板検査時において、異物混入や欠陥を見落とす原因である光漏れ及び光干渉色を改善し、昜検査性に優れた偏光フィルム貼り合わせ用ポリエステルフィルムを提供すること。 - 特許庁

An arithmetic part 1 uses an inspection value of the production history information to make a warning means generate a warning when the ratio of the number of conforming articles which possible become defects after shipment to the number of all conforming articles exceeds a specific value.例文帳に追加

演算部１は、生産履歴情報の検査値を用いて、出荷後に不良に転じる可能性がある良品の数について、全良品の数に対する割合が所定の値を超えると、警告手段に警告させる。 - 特許庁

Since the light projection part 17 uses ring-shaped lamps 26a-26d for applying inspection light at various angles from the surrounding of the image pick-up position of an image pick-up part 18, defects with any reflection factor and directivity can be securely subjected to irregular reflection.例文帳に追加

投光部１７は、リング状ランプ２６ａ〜２６ｄを使用して、撮像部１８の撮像位置の周囲から様々な角度で検査光を照射できるので、どのような反射率，指向性を持つ欠陥も確実に乱反射させる。 - 特許庁

In a manufacturing method of a lithography original, a continuous pattern of periodic patterns 4 which appear on a circuit pattern 3 is formed over the substantially whole area of a substrate, and defect inspection is performed to detect defects in the continuous pattern.例文帳に追加

実施の形態のリソグラフィ原版の製造方法は、回路パターン３に表れる周期的パターン４を連続させた連続パターンを基板の略全面にわたって形成し、連続パターンの欠陥を検出する欠陥検査を行う。 - 特許庁

To provide an inspection specification setting method, or the like for improving the yield of a thin-film manufacturing apparatus by limiting the influence of projecting defects to the minimum and for improving the quality.例文帳に追加

凸状欠陥の影響を最小限に局限して薄膜製造装置の歩留まりを向上させることができると共にその品質も併せて向上させることが可能な薄膜表示装置の検査諸元設定方法等を提供する。 - 特許庁

The agricultral products inspection device 10 consists of a light source 20 for irradiating agricultral products 14 with light of an ultraviolet region, an image pickup device 18 for picking up the image of the agricultral products 14 and a control unit 22 for judging the presence of the fresh defects.例文帳に追加

農産物検査装置１０は、農産物１４に紫外線領域の光を照射する光源２０と、農産物１４の画像を撮像する撮像装置１８と、生傷の有無を判定する制御装置２２と、からなる。 - 特許庁

To provide a solder ball which can solve the problem of defects in the deletion judgement, the height measurement, and the visual inspection of a solder bump defect due to the discoloration of the solder bump in soldering, and further to provide the solder bump using the same solder ball.例文帳に追加

本発明の目的は、はんだ付け時の変色に起因したはんだバンプの欠損判定、高さ測定、ならびに目視検査での不良の問題を解決するはんだボールおよびそれを用いたはんだバンプを提供することである。 - 特許庁

To provide a digital protector and controller that can readily find defects in an automatic checking circuit and timely, without an inspection tour by a maintenance worker and contributes to improvement in operation reliability, by enhancing the operation accuracy of the automatic checking circuit.例文帳に追加

保守員の巡視によらずとも、自動点検回路の不具合を簡単且つタイムリーに発見することができ、自動点検回路の動作精度を高めて、動作信頼性の向上に寄与するディジタル形保護制御装置を提供する。 - 特許庁

The system 1 for inspecting a semiconductor wafer comprises a defect classifier for automatically classifying semiconductor wafer defects, based on defect inspection parameters and a knowledge base, and a classification support unit for supporting the defect classifier.例文帳に追加

半導体ウェハの検査システム１は、欠陥検出パラメータと知識ベースとに基づき、半導体ウェハの欠陥分類を自動的に行う欠陥分類装置と、この欠陥分類装置を支援する分類支援装置とを備えている。 - 特許庁

In the wiring pattern inspection method, electromagnetic waves are irradiated to the surface of a ceramic green body, in which a wiring pattern is formed in its surface or in the inside, and the presence or absence of defects of the wiring pattern is detected, on the basis of the amount of transmission of the electromagnetic waves.例文帳に追加

また、表面又は内部に配線パターンが形成されたセラミックグリーン体の表面に電磁波を照射し、該電磁波の透過量から前記配線パターンの欠陥の有無を検知する配線パターンの検査方法である。 - 特許庁

To provide a means of inspecting fine defects with high throughput and high reliability, and provide a device manufacturing method with an improved yield of device manufacturing by processing a mask inspection with such a device.例文帳に追加

本発明は、細かい欠陥を高スループット、高信頼性で検査を行う手段を提供し、そのような装置でマスク検査を行う事によりデバイス製造の歩留りを向上させるデバイス製造方法を提供する事を目的とする。 - 特許庁

To provide a non-destructive inspection apparatus for solving the problem of safety and experience, without the risk of an inspector suffering suffocation or low-temperature burn by a coolant, and for detecting defects in the depths, even with respect to high-resistivity materials.例文帳に追加

検査員が冷却剤による窒息や低温やけどを負う危険がなく、安全性、習熟の問題を解決することができ、しかも高抵抗率材料に対しても深部欠陥が検出可能な非破壊検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of detecting with high sensitivity the defects in a mixed mount wafer (system LSI, or the like), capable of detecting widely a defect species, and capable of enhancing a defect capturing rate, and to provide a method therefor.例文帳に追加

混載ウェハ（システムＬＳＩなど）などに対して欠陥を高感度に検出し、しかも欠陥種を幅広く検出して、欠陥捕捉率を向上することができるようにした欠陥検査装置及びその方法を提供することにある。 - 特許庁

The inspection system (50) is configured to use X-ray radiation (56) at one or more energies to inspect nuclear fuel pellets disposed within a nuclear fuel rod (20) about defects in the nuclear fuel pellet (18).例文帳に追加

検査システム（５０）は、核燃料ペレット（１８）内の欠陥に関して核燃料棒（２０）内に配置された核燃料ペレット（１８）を検査するために、１つまたは複数のエネルギーのＸ線放射（５６）を使用するように構成される。 - 特許庁

To provide an empty bottle inspection system capable of reliably detecting defects of even empty bottles with irregularities formed on their outer surfaces and bottles with printed outer surfaces at high speeds without being affected by the irregularities and print.例文帳に追加

外面に凹凸が形成されている瓶や印刷が施されている瓶であっても、それらの凹凸や印刷に影響されること無く、空瓶の欠陥を確実に且つ高速に検出できる空瓶の検査システムを提供する。 - 特許庁

To reduce the rate of occurrence of difference between the results of the whole track-area certification and shipping certification where inspection is performed, by thinning out tracks to be inspected without inspecting the defects of all the tracks of magnetic data recorded in a magnetic disk surface.例文帳に追加

磁気ディスク面に記録された磁気データの全トラックの欠陥検査をせずに検査トラックを間引きして検査を行う飛ばし方式のサーティファイにおいて、全トラック領域のサーティファイの結果との誤差の発生割合を軽減する。 - 特許庁