「defects inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an electrical inspection method of a film carrier tape for mounting determinable electronic components, without generating external appearance defects due to discharge breakage until a distance between projections extended between pieces of wiring is a comparatively long wiring pattern so that the insulation fault can be caused by folding a film carrier, and to provide an electrical device and a computer-readable recording medium.例文帳に追加

例えばフィルムキャリアを折り曲げることにより絶縁不良が引き起こされる可能性があるような、配線間に延出する突起間の距離が比較的長い配線パターンまで、放電破壊による外観不良を生じることなく判別可能な電子部品実装用フィルムキャリアテープの電気検査方法および電気検査装置ならびにコンピュータ読み取り可能な記録媒体を提供する。 - 特許庁

To inspect or analyze with high reliability without misconceiving fine defects, by a method wherein a correspondence relation of a correlation of a gradation value in each split region computed in a correlation computation process to a gradation value in a pixel in a secondary inspection image corresponding to each pixel in a secondary reference image is used.例文帳に追加

検査部位を撮像した検査画像と、検査部位と同一の回路パターンが形成されていることが期待される他の部位を撮像した参照画像との間で局所的な階調値むら等がある場合でも、それらの影響を受けずに欠陥検出を行うことのできる欠陥検査方法及びその装置並びに欠陥解析方法及びその装置を提供することにある。 - 特許庁

To shorten a voltage application process and reduce manufacturing costs by applying voltage to the whole liquid crystal display panel area for multiple panels and performing inspection of display defects, polymerization of monomers in the liquid crystal components, and alignment control of the liquid crystal before a multiple panel substrate where the liquid crystal display panel areas for multiple panels are arranged is cut to be divided into individual liquid crystal display panels.例文帳に追加

液晶表示パネル領域が多数枚配置された多面取り基板を切断して個々の液晶表示パネルに分割する前に、多数枚分の液晶表示パネル領域の全てに電圧を印加して、表示欠陥の検査や液晶成分中のモノマーの重合および液晶の配向制御を行なうことで、電圧印加工程を短縮し製造コストの低減を図る。 - 特許庁

The defect inspection method uses the defect inspection apparatus and discriminates whether the defects respectively detected by the defect detectors are the same by comparing and verifying the defect information of the inspected materials sent from defect detectors.例文帳に追加

欠陥検出器を複数有する欠陥検査装置であって、複数の欠陥検出器と、それぞれの欠陥検出器から送られてくる被検査材の欠陥情報を比較・照合することにより、それぞれの欠陥検出器が検出した欠陥が同じ欠陥であるのか、否かを判別する判別器とを備えた欠陥検査装置およびそれを用い、それぞれの欠陥検出器から送られてくる被検査材の欠陥情報を比較・照合することにより、それぞれの欠陥検出器が検出した欠陥が同じ欠陥であるのか、否かを判別する欠陥検査方法。 - 特許庁

In the inspection method of the antireflection transparent film, the optical defects of the antireflection transparent film are detected by using a light source in a wavelength band of 300-400 nm of ultraviolet rays, having light irradiated to one side of the base of the transparent film from one side of the antireflection transparent film for forming a low-reflection layer, and by imaging the regular reflection light using a camera for ultraviolet rays.例文帳に追加

紫外光の３００から４００ｎｍの波長域の光源を用い、透明フイルムの基材の片側表面に低反射層を形成した反射防止透明フィルムの片側表面より照射して、その正反射光を紫外光用カメラで撮像することにより、反射防止透明フィルムの光学欠陥を検出することを特徴とする反射防止透明フィルムの検査方法。 - 特許庁