「defects inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

HIGH-SENSITIVITY OPTICAL INSPECTION SYSTEM AND METHOD FOR DETECTING DEFECTS ON DIFFRACTING PLANE例文帳に追加

回折面上の欠陥を検出するための高感度光学検査システムおよび方法 - 特許庁

To provide a visual inspection apparatus for detecting defects, according to the accuracy requested.例文帳に追加

要求される精度に応じた欠陥の検出が可能な外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an efficient inspection by preventing the occurrence of false defects caused by a position alignment error.例文帳に追加

位置合わせミスによる擬似欠陥の発生を抑制し、効率の良い検査を行うこと。 - 特許庁

By performing inspection by division into quarters, it is possible to visually detect line defects and pixel defects in which unpressed parts are displayed.例文帳に追加

４分割で検査することで、線欠陥や押下していない部分が表示されてしまう画素欠陥の検出が視覚的に行える。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of precise inspection of defects independent of pitch of repeated pattern on a substrate.例文帳に追加

基板に形成された繰り返しパターンのピッチによらず高精度な欠陥検査が行える欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

An inspection control part 17 discriminates defects on the surface of the inspection object 1, based on the detected signal from the light-receiving part 16.例文帳に追加

検査制御部１７は、受光部１６からの検出信号に基づいて、被検査物１の表面の欠陥を判別する。 - 特許庁

To obtain an inspection apparatus which is capable of accurately positioning a work at a prescribed inspection position so as to properly inspect very fine defects.例文帳に追加

被検査物を所定の検査位置に精度良く位置決めし、非常に微細な欠陥も適切に検査することを可能にする。 - 特許庁

To provide a tool capable of readily analyzing a number of defects detected, under a plurality of inspection conditions by an inspection apparatus.例文帳に追加

複数の検査条件で検査装置が検出した多くの欠陥の解析を容易に行うことができるツールを提供する。 - 特許庁

To provide a surface inspection method and a surface inspection apparatus for precisely detecting defects on the surface of a work.例文帳に追加

加工物の表面の欠陥を高精度に検出することができる表面検査方法及び表面検査装置の提供。 - 特許庁

Thereby, only a real defect excluding the part where patterns are joined (false defects) is left in the part where defects are detected by the comparing inspection, which lessens works for deciding defects by an operator and reduces the inspection time for the mask.例文帳に追加

これにより、比較検査で得られた欠陥検出部には、描画繋ぎ部分（擬似欠陥）を除いた正真の欠陥だけが残されるので、作業者の欠陥判定の負担を軽くすることができ、マスクの検査時間を短縮できる。 - 特許庁

To reliably detect defects on the surface of an inspection object, which is represented by a semiconductor wafer or a glass substrate, reflecting the detection results on the defects on the backside of the inspection object.例文帳に追加

半導体ウェハやガラス基板に代表される被検査物の裏面における欠陥に関する検出結果を反映して、上述した被検査物の表面の欠陥を確実に検出する。 - 特許庁

To provide an observation condition determination support apparatus that enhances the accuracy for classification of defects based on the inspection data about the defects of a semiconductor device detected by an inspection apparatus.例文帳に追加

検査装置で検出された半導体装置の欠陥に関する検査データに基づいて、欠陥の分類精度の向上が可能な観察条件決定支援装置を提供する。 - 特許庁

To detect minute defects with improved sensitivity by preventing pseudo-defects from occurring because of minute variations of a pattern to be inspected for a method of inspecting defects for comparing inspection and reference patterns.例文帳に追加

検査パターンと参照パターンとの比較を行う欠陥検査法に関し、検査対象パターンの微小な変動による擬似欠陥の発生を防ぎ、微小な欠陥を感度良く検出する。 - 特許庁

To provide a circuit board inspection method and a circuit board inspection apparatus capable of accurately detecting unsoldered and solder defects of surface-mounting-type ICs by electrical continuity inspection.例文帳に追加

面実装型ＩＣの未ハンダやハンダ不良を電気的導通検査で精度良く検出することが可能な回路基板検査方法及び回路基板検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a water leak inspection agent and a water leak detection method allowing visual inspection of the subject of inspection over a long period for any defects causing leaks.例文帳に追加

検査対象物中にある水漏れを生じる欠陥を長期間にわたって目視で検出できる水漏れ検出剤および水漏れ検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide an optical inspection device used for detecting the surface defects of a substrate.例文帳に追加

基板の表面欠陥を検出するために用いられる光学的検査装置を提供する。 - 特許庁

In a specific embodiment, an inspection system for detecting defects on a sample is disclosed.例文帳に追加

具体的な実施形態において、試料上の欠陥を検出する検査システムが開示される。 - 特許庁

To provide a method and algorithm for elongated defects in an eddy current inspection system.例文帳に追加

渦電流検査システムにおける長手方向欠陥のための方法及びアルゴリズムを提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method for extracting a target defect among defects acquired from an image.例文帳に追加

画像から取得される欠陥から目的欠陥を抽出するための検査方法を提供する。 - 特許庁

When defects occur during the drawing of the preform 11, the inspection light 46 becomes a scattered light.例文帳に追加

プリフォーム１１を延伸する際に欠陥が発生していると、検査光４６は散乱光となる。 - 特許庁

The wafer-inspection SEM is useful to review minute defects in the semiconductor-manufacturing process. 例文帳に追加

ウエハ検査SEMは、半導体製造工程の微小な欠陥を調べ直すのに有用である(役立つ)。 - 科学技術論文動詞集

To make the inspection of pattern defects possible in a photomask using a resist as a light shield by a photomask defect inspection device which detects transmitting light.例文帳に追加

レジストを遮光体としたホトマスクにおいて、透過光検出型のホトマスク欠陥検査装置によるパターン欠陥検査を可能にする。 - 特許庁

This display controller 4 can shorten an inspection time necessary for a visual inspection process, since the controller includes a display control unit 7 which excludes, from display objects on the occasion of the visual inspection process, lighting patterns for detecting defects belonging to inspection items determined to have no defects in an automatic inspection process.例文帳に追加

本発明の表示制御装置４は、目視検査工程の際、自動検査工程において欠陥がないと判定された検査項目の欠陥を検出するための点灯パターンを表示対象から除外する表示制御部７を備えているので、目視検査工程に要する検査時間を短縮することができる。 - 特許庁

A defect identification determining part 21 obtains the times of defect detection by determining whether the defects detected by defect inspection devices arranged in a plurality of inspection processes are the same defects or not.例文帳に追加

欠陥同一判定部２１は、複数の検査工程に配置された欠陥検査装置によって検出された欠陥が同一欠陥であるか否かを判定して欠陥検出回数を求める。 - 特許庁

An inspection system stores feature quantity and removes bad pages when the defects occur, and stops the print processing when similar defects occur again.例文帳に追加

不良が発生した際には特徴量を記憶し不良ページの除去を行い、再度同様の不良が発生した際には印刷処理を停止する。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for defect inspection, capable of reliably detecting defects regardless of the kind of the defects, and to provide a method of manufacturing a pattern substrate.例文帳に追加

欠陥の種別によらず、確実に欠陥を検出する欠陥検査装置、欠陥検査方法、及びパターン基板の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To implement a defect inspection by accurately discriminating bubble-caused projection defects and foreign-matter-caused projection defects from surface roughness on a substrate to be inspected.例文帳に追加

検査対象基板の気泡起因の突起欠陥と、異物起因の突起欠陥と、表面のうねり(ラフネス)を、正確に判別して、欠陥検査を行う。 - 特許庁

An average relation between the inspection sensitivity and the number of defects is obtained with respect to each condition to see if there is any value outside the relation (the number of defects).例文帳に追加

そして、各条件について、検査感度と欠陥数の平均的な関係を求め、かかる関係から外れる値（欠陥数）があるか否かを調べる。 - 特許庁

To improve a detection precision of defects by eliminating the influence of noise at the peripheral section of a substrate in an inspection of defects in the transparent substrate have a large plate thickness.例文帳に追加

板厚の大きい透明な基板の欠陥の検査において、基板の周辺部のノイズの影響を無くし、欠陥の検出精度を向上させる。 - 特許庁

To provide an inspection system of a vial for reliably and speedily detecting defects (foreign matter, defects, or the like) at a portion that cannot be inspected in the vial easily.例文帳に追加

バイアルにおいて検査が困難な部位の欠陥（異物，欠け等）を確実に且つ高速に検出することができるバイアルの検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device for film defects of a turbine blade easily, accurately detecting the defects of a film covering the blade surface and provide a method therefor.例文帳に追加

翼表面に被覆した被膜の欠陥を簡易にして精確に検出できるタービン翼の被膜欠陥検出装置およびその方法を提供する。 - 特許庁

To extract feature quantities corresponding to respective local defect and overall defect when the local defects and overall defects multiply occur in an inspection image.例文帳に追加

検査画像において局所的な欠陥と全体的な欠陥が複合的に発生した場合に、欠陥の各々に対応する特徴量を抽出する。 - 特許庁

To provide a defect detecting method capable of emphasizing the defects of an inspection object, without depending on the luminance of the inspection object.例文帳に追加

検査対象の輝度に依存することなく当該検査対象の欠陥を強調することができる欠陥検出方法を提供すること。 - 特許庁

Defects are determined thereby at the same time in the pattern inspection, and a through-put of the inspection is enhanced proportionally to the number of the electronic optical systems.例文帳に追加

これにより、パターン検査の欠陥判定を同時に行えるとともに、電子光学系の数に比例して検査のスループットが向上する。 - 特許庁

To realize a pattern inspection method and an inspection apparatus with a simple structure, which surely detect killer defects but do not detect one being not the killer defect.例文帳に追加

キラー欠陥は確実に検出するが、非キラー欠陥は検出しない簡単な構成のパターン検査方法及び検査装置の実現。 - 特許庁

To provide a bridge expansion joint inspection device and a bridge expansion joint inspection method which can systematically inspect defects of a core bar of a bridge expansion joint.例文帳に追加

橋梁用伸縮継手の芯金の損傷を合理的に検査することの可能な検査装置及び検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus for precisely inspecting internal surface defects of holes without inserting an inspection head into screw holes or holes.例文帳に追加

ねじ穴または穴の内部に検査ヘッドを挿入することなく穴の内部表面欠陥を精度よく検査できる検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a surface inspection apparatus and a surface inspection method capable of detecting the state of defects in the surface of matter in detail.例文帳に追加

物質表面の欠陥の状態を詳細に検出することができる表面検査装置および表面検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a surface inspection apparatus and a surface inspection method, capable of detecting defects in the wide range of the surface of a material to be inspected.例文帳に追加

広範囲で被検査体の表面の欠陥を検出することができる表面検査装置および表面検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus and a defect inspection method which can surely detect defects in an edge of a semiconductor wafer substrate.例文帳に追加

半導体ウェハ基板のエッジ部の欠陥を確実に検出することができる欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

Defects are determined thereby at the same time in the pattern inspection, and a throughput of the inspection is improved proportionally to the number of the electronic optical systems.例文帳に追加

これにより、パターン検査の欠陥判定を同時に行えるとともに、電子光学系の数に比例して検査のスループットが向上する。 - 特許庁

The microscopic inspection device refers to the distribution information 15 stored in the storage device before executing the microscopic inspection and omits execution of the microscopic inspection in a region where the macro-defects are distributed on the inspection substrate.例文帳に追加

ミクロ検査装置は、ミクロ検査を実施する前に、記憶装置に記憶された分布情報１５を参照して、被検査基板のうちマクロ欠陥が分布している領域ではミクロ検査の実施を省略する。 - 特許庁

This defect inspection system for inspecting defects of an inspection object comprises a data generation means for generating inspection information for specifying an inspection and inspection result information containing defect information showing the details of the defect detected by inspection in a predetermined united format, and registering the generated inspection result information in a database.例文帳に追加

検査対象の欠陥を検査する欠陥検査システムにおいて、検査を特定する検査情報と、検査で検出した欠陥の詳細を示す欠陥情報を含む検査結果情報を所定の統一フォーマットで生成し、生成した検査結果情報をデータベースに登録するデータ生成手段とを有する。 - 特許庁

To provide a defect inspection system saving a space and efficiently checking defects.例文帳に追加

本発明は、省スペース化を図り、かつ能率のよい欠陥検査を可能にした欠陥検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide a substrate inspection method that facilitates specifying a device which causes defects.例文帳に追加

欠陥を生じさせる原因となる装置を容易に特定することができる基板検査方法を提供する。 - 特許庁