「defects inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an inspection method and an inspection device for inspecting the existence of defects, without fail, even when defects such as peeled portions have occurred at a metal stabilized layer, inside a laminated-structure oxide superconducting conductor having at least an intermediate layer, an oxide superconducting layer, and the metal stabilized layer on a substrate.例文帳に追加

本発明は、基材上に中間層と酸化物超電導層と金属安定化層を少なくとも有する積層構造の酸化物超電導導体の内部側において金属安定化層に剥離部分などの欠陥が生じていてもその有無を確実に検査することができる検査方法と検査装置の提供を目的とする。 - 特許庁

In the apparatus for detecting the defects of the long, sheet-like products being transferred in a length direction by the inspection device and marking defective parts detected on the downstream side in the direction of transfer by the inspection device, markings are applied to two locations on the downstream side and the upstream side on both sides of the detected defects.例文帳に追加

長さ方向に搬送される長尺のシート状製品の欠陥を検査装置により検出し、該検査装置より搬送方向の下流側において検出された欠陥部分にマーキングを施す装置において、検出された欠陥を挟む下流側と上流側の２か所においてマーキングを施すことを特徴とする欠陥マーキング装置。 - 特許庁

To provide an automatic inspecting method of crystal defects by which an automatic operation is possible to reduce the burden of an operator, and the crystal defects in the semiconductor crystal can be stably inspected with high accuracy without fluctuations in inspection results, and to provide an automatic inspecting apparatus.例文帳に追加

自動運転を可能にして作業者の負担を軽減するとともに、検査結果にバラツキが生じず高精度にかつ安定して半導体結晶の結晶欠陥を検査することができる結晶欠陥の自動検査方法及び自動検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus and method that are advantageous in that defects in a circuit pattern can be measured in a contactless manner, so that the consumption of pin probes can be reduced, and the reliability of the measurement of defects in the circuit pattern can be improved.例文帳に追加

非接触方式で回路パターンの欠陥を測定してピンプローブの消耗を減少させることができるとともに、回路パターンの欠陥測定に対する信頼性を高めることができる、回路パターンの欠陥検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

A TFT array inspection apparatus 1 detects TFT defects on the basis of detected waveforms acquired by two-dimensionally scanning electron rays over TFT arrays and is provided with a defect-type classification part 6 for classifying the types of TFT defects.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ検査装置１は、電子線をＴＦＴアレイ上で二次元的に走査して得られる検出波形に基づいてＴＦＴ欠陥を検出するＴＦＴアレイ検査装置であり、ＴＦＴの欠陥の種類を分類する欠陥種類分類部６を備える。 - 特許庁

To provide an FPD (Flat Panel Display) dot defect inspection method and a device, capable of detecting all dot defects from an integrated luminance image acquired by one-time photographing, relating to the FPD dot defect inspection method and the device.例文帳に追加

本発明はＦＰＤドット欠陥検査方法及び装置に関し、１回の撮影で取得した積算輝度画像から、全てのドット欠陥を検出することができるＦＰＤドット欠陥検査方法及び装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

In an inspection method for pattern defects, when the wafer is conveyed from a reserve chamber 202 to a vacuum chamber 201, the charge of the wafer generated in advance is eliminated by using a precharge removing device 1201, or is decreased to a potential which can be controlled with precharging performed at the time of inspection.例文帳に追加

予備チャンバ２０２から真空チャンバ２０１にウェハが搬送される際に、予備除帯電装置１２０１を用いて予め生じているウェハの帯電を消去、または検査時に行われる予備帯電で制御可能な電位まで減ずる。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device which allows an inspection signal of high accuracy to be taken out to the outside in order to make it possible to inspect defects of a pixel part of a liquid crystal display element as a single substance and suppresses an increase in cost by reducing an additional circuit for taking out the inspection signal.例文帳に追加

液晶駆動素子の画素部の欠陥を単体で検査できるようにするにあたり、精度の良い検査信号を外部に取り出せると共に、そのための追加回路を少なくしてコストアップを抑えた液晶表示装置を提供する - 特許庁

Performing defect inspection with the TFT substrate that is set in the temperature condition when it is actually operating in the array inspection in the array process allows defects, which are usually detected in and after the cell process, to be detected in the early stages of the array process.例文帳に追加

アレイ工程でのアレイ検査において、ＴＦＴ基板を実際に駆動したときの温度状態として欠陥検査を行うことによって、通常、セル工程以降で検出される欠陥をアレイ工程の早い段階で検出する。 - 特許庁

By combining the design intention information 6 and the hot spot information 7, an inspection place of high occurrence possibility of systematic defects with respect to the characteristic of the semiconductor integrated circuit, and the defect inspection time can be significantly shortened.例文帳に追加

これら設計意図情報６とホットスポット情報７を組み合わせることによって、半導体集積回路の特性に対して、システマティックな欠陥が発生可能性の高い検査場所を限定し、欠陥検査時間を大幅に短縮することができる。 - 特許庁

The inclined transfer line scanning inspection method determines defects on the glass substrate, by performing comparison processings among the gray values of pixels obtained by line scanning of the glass substrate transferred with inclination, the threshold of sensitivity of the hardware, and the threshold of the inspection sensitivity.例文帳に追加

傾斜搬送されたガラス基板のラインスキャンによって得られた画素のグレイ値、ハードウェアの感度のしきい値及び検査感度のしきい値の間の比較処理によりガラス基板上の欠陥を判定する傾斜搬送ラインスキャン検査方法。 - 特許庁

The substrate inspecting method includes a step for applying an inspection light to a substrate formed with the patterns, a step for sensing an intensity of the inspection light reflected from the substrate, and a step for determining whether there are the defects of the patterns based on the sensed intensity.例文帳に追加

基板検査方法は、パターンが形成されている基板に検査光を加える段階と、基板で反射された検査光の輝度を感知する段階と、感知された輝度からパターンの不良有無を判断する段階とを含むことを特徴とする。 - 特許庁

Inspection conditions decided by at least the eyelectronic optical conditions in a charged particle source and an irradiating optical means are a plurality of different inspection conditions, and a defect classification means that classifies the defects of a sample using a plurality of defect information obtained by irradiating the sample under a plurality of inspection conditions is provided.例文帳に追加

少なくとも荷電粒子源と照射光学手段における電子光学条件によって決定される検査条件が複数の異なる検査条件であって、該複数の検査条件で試料を照射し得られた複数の欠陥情報を用いて、試料の欠陥を分類する欠陥分類手段を備える。 - 特許庁

To provide a polyester film suitable for a base film for a release film capable of achieving the high-degree accuracy of inspection of a polarizing plate in a state of being laminated with the release film when carrying out the inspection of the presence or absence of defects such as distortion and unevenness, and foreign matter by visual inspection by using a crossed nicols method.例文帳に追加

離型フィルムが貼り合わされた状態の偏光板について、歪みやムラのような欠陥や異物の有無の検査をクロスニコル法による目視検査によって行う場合において、高度な検査の精度を実現することのできる離型フィルムのベースフィルムとして好適なポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁

To easily detect a protrusion in an edge part of a seal, to surely grasp fine uneven defects impossible to be grasped by visual observation, to eliminate dispersion in inspection, and to allow the accurate and reliable inspection, in the extrusion inspection to an inside of a fused thermoplastic material of the striped seal.例文帳に追加

横線シールの溶融熱可塑性材料の内部へのはみ出し検査において、シールの縁部の突起を容易に検出し、目視で不可能であった微小な凹凸欠陥も確実に捉えることができ、検査のバラツキがなく、正確且つ信頼性のある検査を可能にする品質検査方法及び品質検査装置を提供する。 - 特許庁

In the printed matter inspection method and device, the defects in the printed matter are detected from a difference between a prescribed small area image in the inspection object image obtained by image-inputting the printed matter and a similar small area image in the inspection object image whose correlation coefficient with the prescribed small area image is maximum.例文帳に追加

印刷物を画像入力して得た検査対象画像における所定小領域画像と、前記所定小領域画像との相関係数が極大である前記検査対象画像における類似小領域画像との差異から、前記印刷物における欠陥を検出するようにした印刷物検査方法および装置。 - 特許庁

To provide an inspection method capable of inspecting automatically all the defects of a material attached onto a substrate in a display manufacturing method and an inspection device used therefor, and to provide the display manufacturing method applied with the inspection method, and an image processing method for dividing an image data into data corresponding to individual display cells in the inspection method and an image processor used therefor.例文帳に追加

表示装置の製造方法において基板上に被着された材料の全ての欠陥を自動的に検出できる検査方法及びそれに使用する検査装置、この検査方法を適用する表示装置の製造方法、前記検査方法において画像データを個々の表示セルに相当するデータに分割する画像処理方法及びそれに使用する画像処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for reducing the time of inspecting defects in a mask and thereby reducing a cost for mask inspection, and for suppressing an increase in the temperature of the mask in an electron beam exposure apparatus.例文帳に追加

マスクの欠陥検査の時間を短縮でき、これによりマスクの検査費用を低減させ、電子ビーム露光装置のマスクの温度上昇を抑制する方法を提供する。 - 特許庁

To obtain an unevenness defect detection method for enhancing unevenness constituents only and detecting unevenness more reliably, to provide a device for detecting unevenness defects automatically, and to provide an inspection system, or the like.例文帳に追加

ムラ成分だけを強調でき、より確実なムラ検出を行うことができるようなムラ欠陥検出方法、自動的にムラ欠陥検出を行うための装置、検査システム等を得る。 - 特許庁

On a picture plane of thumbnail display for a defect, an image most saliently showing the features of a defect is determined/displayed for each of defects from inspection information, the kind of defect, etc.例文帳に追加

欠陥のサムネイル表示画面において、検査情報や欠陥種類等から、欠陥毎にその欠陥の特徴を最も顕著に表すような画像を決定し、表示する。 - 特許庁

Accordingly, since the impure substances adhered inside the sample chamber or the like can be removed, generation of defects at the semiconductor manufacturing processes, after the measurement and inspection, can be restrained.例文帳に追加

これによって、試料室内等で付着する不純物を除去することができるため、測定，検査後の半導体製造工程における不良発生を抑制することが可能となる。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for inspection of honeycomb structure defects, wherein defective places of partitions for composing cells near outer peripheral walls are detected with an improved sensitivity.例文帳に追加

外周壁近傍のセルを構成する隔壁の欠陥箇所を感度良く検出するハニカム構造体欠陥検査装置及びハニカム構造体欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To realize the acceleration of an inspection in a device which inspects the defects of the same design patterns, foreign matter, residue or the like on a wafer in the manufacturing process of a semiconductor device with electron beams.例文帳に追加

半導体装置の製造過程にあるウェハ上の同一設計パターンの欠陥、異物、残渣等を電子線により検査する装置において、検査の高速化を実現すること。 - 特許庁

According to the junction wafer inspection method, since defects caused by foreign matters generated on the interface of the junction wafer can be inspected by a simple method, high work efficiency can be expected.例文帳に追加

この接合ウェハ検査方法によれば、簡単な方法で接合ウェハの界面に発生する異物による欠陥を検査することができるので高い作業性が期待できる。 - 特許庁

To develop a new ultrasonic inspection method and a related probe having improved sensitivity to small subsurface defects while maintaining or reducing sensitivity to background noise of a microstructure.例文帳に追加

微細構造の暗騒音に対する感度を維持又は低減しながら、小さな表面下欠陥に対する感度を高めた新しい超音波検査方法及び関連するプローブを開発すること - 特許庁

To provide a cut size inspection apparatus which inspects the length of a book in a transfer direction with high precision and does not cause quality defects such as scratches and abrasions in the book.例文帳に追加

本の搬送方向の長さを高精度に検査することが可能で、本へのキズやコスレといった品質不良を引き起こさない断裁寸法検査装置を提供すること。 - 特許庁

With this automatic photographic apparatus, defects, characters of a label, etc. at checked points in an arbitrary surface state at an arbitrary position can be photographed under the best lighting conditions, and the accuracy of product inspection is improved.例文帳に追加

任意の位置にある任意の表面状態のチェック箇所の欠陥やラベルの文字などを最良の照明状態で撮影することができ、製品検査の精度が向上する。 - 特許庁

To decrease overlookings of micro-defects due to the maladjustment of an image pick-up conditions in a method for minute inspection of a defect executed, after the position of the defect on an object to be inspected is measured beforehand.例文帳に追加

被検査対象物の欠陥位置が予め計測された後に欠陥の詳細検査を行う方法において、撮像条件の不具合による微小欠陥を見逃しを低減する。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus for metal materials for inspecting defects which occur in the surface and inside of a metal material as continuously feeding the metal material.例文帳に追加

金属材料を連続的に送りながら、金属材料の表面や内部に生じる欠陥を検査することができる金属材料の欠陥検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

(f) Among non-destructive inspection devices that are capable of inspecting defects three-dimensionally and use ultrasound or X-ray tomography, those designed for inspecting composite materials 例文帳に追加

ヘ　三次元的に欠陥を検査することができる非破壊検査装置であって、超音波又はエックス線断層撮影法を用いるもののうち、複合材料を検査するように設計したもの - 日本法令外国語訳データベースシステム

One method includes classifying defects on a specimen using inspection data generated for the specimen combined with defect review data generated for the specimen.例文帳に追加

一方法は、試料のために生み出された検査データを、この試料のために生み出された欠陥レビューデータと組み合わせたものを使用して、この試料上の欠陥を分類することを含む。 - 特許庁

To provide a method and apparatus improving image uniformity and contrast quality in detection of defects in a patterned semiconductor substrate by a charged particle utilization type defect inspection device.例文帳に追加

帯電粒子利用型欠陥検査装置によるパターン形成ずみの半導体基板の欠陥の検出に、画像の均一性およびコントラストの質を改善する方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which minute defects in itself or in its electrodes can be detected in a stage before a substrate attachment process is carried out and to provide its inspection method.例文帳に追加

半導体素子や電極の微小欠陥を基板組付け工程の前の段階で検出可能な半導体素子およびその半導体素子の検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a system for inspecting a sample for a defect and an inspection method which can make production start in a short time, make a reliability test appropriate, reduce initial defects in an element and improve the element reliability.例文帳に追加

製品の短期立ち上げ，信頼度試験の適正化，素子初期不良の低減，素子信頼度の向上を実現できる試料の欠陥検査システム、および検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a coating surface defects inspecting illuminating method and device which projects a patterned image, which can be inspected with more uniform detection accuracy and effectively on a coating surface as an inspection object.例文帳に追加

より均一な検出精度で且つ効率良く検査可能なパターン像を、検査対象である塗装面に投影する塗装面欠陥検査用照明方法及び装置の提供。 - 特許庁

To provide an automated inspection apparatus capable of inspecting both solder joints affecting the performance and reliability of PCBA and mounted components for defects.例文帳に追加

ＰＣＢＡの性能及び信頼性に影響を及ぼすハンダ接合部の欠陥およびコンポーネントの取り付けの欠陥の両方を検査し得る自動化された検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a support system which is made efficient by a method wherein an observation operation for confirming the shape of an external appearance defect is narrowed down properly from an enormous number of defects detected by the high sensitivity of a visual inspection apparatus.例文帳に追加

外観検査装置の高感度化により検出された膨大な欠陥数から、外観不良の形状を確認する観察作業を適切に絞り込み、効率化を図ること。 - 特許庁

To provide an evaluation method of internal defects capable of obtaining correlation between a flaw distribution acquired by an ultrasonic inspection method and that acquired by a radiographic test method.例文帳に追加

超音波探傷法により得られるきず分布と放射線透過試験法により得られるきず分布との相関を得ることが可能な内部欠陥の評価方法を提供すること。 - 特許庁

When inspecting defects in the wafer 1, the bevel section of the wafer is irradiated with inspection light, the scattered light is detected, and a place, where weak scattered light within a prescribed light intensity range in the detected scattered light is dense, is located, thus detecting defects in the bevel section.例文帳に追加

ウェーハ１の欠陥検査の際に、ウェーハのベベル部に検査光を照射し、その散乱光を検出し、検出した散乱光の内で所定の光強度範囲内にある弱い散乱光が密集した箇所を特定することにより前記ベベル部の欠陥を検知する。 - 特許庁

To provide an inspection system for improving working efficiency by reducing a confirmation work load using a microscope by discriminating types of defects and deciding whether the types are appropriate, by processing the defective images with a plurality of thresholds for all the defects within a substrate.例文帳に追加

基板内の全ての欠陥に対して複数の閾値によって欠陥画像を処理して欠陥の種類の判別と良否判定を行う事により、顕微鏡による確認作業負荷を削減する事を可能とし、作業効率を向上させる検査システムを提供する。 - 特許庁

The historical defect list 8 is created for each wafer 1 and comprises a coordinates position, the number of detects, size, a cluster information, an index information of an image capturing, and the like of each defects for every inspection processes 31, 32, etc., and 3N, and every information in relation to the defects of the wafer.例文帳に追加

この欠陥来歴リスト８は、ウエハ１毎に作成され、各検査工程３_1,３_2,……,３_N毎に分けて夫々の欠陥の座標位置や検出数，大きさ，クラスタ情報，画像取得のインデックス情報などからなり、当該ウエハでの欠陥に関する全ての情報を含んでいる。 - 特許庁

To manufacture a magnetic disk medium with few defects by detecting original defects without detecting a groove of a magnetic film and a pattern of unevenness or the like as a defect in an error inspection process of a step for manufacturing the discrete track magnetic disk medium or a bit patterned magnetic disk medium.例文帳に追加

ディスクリートトラック磁気ディスク媒体またはビットパターンド磁気ディスク媒体の製造段階のエラー検査工程において、磁性膜の溝、凹凸などのパターンを欠陥として検出することなく本来の欠陥を検出し、欠陥の少ない磁気ディスク媒体を製造する。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection device for inspecting surely and efficiently a shape defect of a fine pattern in a color filter having the risk of bringing an unfavorable influence on display coming up widely by generating a plurality of small-sized defects in adjacent positions.例文帳に追加

小サイズの複数の欠陥が近接した位置に発生することにより表示上の悪影響が広く及ぶ可能性のあるカラーフィルタの微細パターンの形状欠陥を確実にかつ効率的に検査する検査方法、ならびに検査装置を提供すること。 - 特許庁

In each inspection, based on servo patterns recorded on each face, the inspection apparatus performs positioning of a magnetic head corresponding to the respective faces and recording of test data, and detects deficiency due to the defects of a magnetic layer from the results obtained by reproducing the test data.例文帳に追加

それぞれの検査では、それぞれの面に記録されたサーボ・パターンに基づいてそれぞれに対応する磁気ヘッドの位置決めおよびテスト・データの記録を行い、このテスト・データを再生して得た結果から磁性層の欠陥に起因する不具合を検出する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and apparatus therefore capable of detecting defects or contaminations on various circuit patterns to be repeatedly formed on inspection object substrates, discriminating from normal circuit patterns, without depending on optical conditions.例文帳に追加

被検査対象基板上に繰り返して形成される様々な回路パターン上に生じる欠陥または異物を、光学条件に依存せず、正常な回路パターンと弁別して欠陥を検出する欠陥検査方法及びその装置を提供することにある。 - 特許庁