「defects inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a manufacturing method of a plasma display panel that includes an inspection process, which can feedback quickly the inspection result of a phosphor layer to a coating process of a phosphor material, and can determine the type of defects, and also, which is low in facility cost and running cost, and an inspection method and an inspection device for phosphor layer.例文帳に追加

蛍光体層の検査結果を速やかに蛍光体材料の被着工程にフィードバックできると共に、設備コスト及びランニングコストが低く、欠陥の種類の判別が可能な検査工程を有するプラズマディスプレイパネルの製造方法、並びに蛍光体層の検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide inspection system, utilizing virtual review which enables operators to efficiently drive inspection equipment, and to achieve staff reduction by performing review determination, based on the image which represents capture of defects on a substrate, and to provide inspection method that uses it.例文帳に追加

基板上の欠陥をキャプチャーしたイメージに基づいて、作業者がレビュー判定を行なうことにより、検査装備を效率的に駆動でき、作業人員を縮小することができる仮想レビューを利用した検査システム及びそれを用いた検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device to detect defects by using an electron beam which, in case the electron beam is used, can prevent a deterioration of an inspection performance due to differences of contrasts of inspection images caused by differences of kinds and densities of circuit patterns in a chip in a testpiece.例文帳に追加

電子線を用いて欠陥を検出する検査装置において、電子線を用いた場合の、試料内のチップ内の回路パターンの種類や密度の差異によって生じる検査画像のコントラストの差異を原因とした検査性能の低下を防止する。 - 特許庁

By relating inspection results to coordinates of positions of the acquisition of the inspection results and storing them, it is possible to efficiently use the inspection results for analysis etc., highly accurately determine causes of defects, and improve the quality and yields of chips 21a.例文帳に追加

また、その検査結果をそれが得られた位置の座標と関連付けて記憶することにより、検査結果を解析等に効率的に利用することができ、より高精度に不良原因を究明し、チップ２１ａの品質向上、歩留まり向上を図れる。 - 特許庁

To find burning defects in its early stages, improve the stability of appearance quality without transporting lens for inspection and provide an optical lens at a low unit cost.例文帳に追加

焼き付き不良の早期発見ができ、レンズの検査のために搬送することなく外観品質の安定性向上が計れ、レンズ単価を安価に提供する。 - 特許庁

To meet the generally contradictory requirements that sensitivity for detecting pattern defects be increased and that the speed of inspection be increased or the amount of false information be reduced.例文帳に追加

パターン欠陥検出感度を高くすることと、検査速度を速くしたり・虚報を少なくしようとすることは、一般的には矛盾した要求となる。 - 特許庁

The defects or position deviations of conductive balls 3 on a wafer 2 mounted in a batch mounting equipment part 10 are examined with an inspection equipment part 20.例文帳に追加

検査装置部２０により、一括搭載装置部１０において搭載したウエハ２上の導電性ボール３の欠落あるいは位置ずれを検査する。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus capable of highly accurately detecting pattern defects without reducing the light quantity of a laser beam used for defect detection.例文帳に追加

欠陥検出に用いるレーザ光の光量が低減することなく、パターン欠陥の検出を高感度にて行うことができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a simple defect inspection device, capable of inspecting defects based on diffracted light and scattered light from a substrate (object to be inspected) at high throughput.例文帳に追加

基板（被検物体）からの回折光と散乱光とに基づく欠陥検査を高スループットで行える簡素な欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a bonding force inspection device capable of surely inspecting intermediate defects and dispensing with complicated operations such as light axis adjustment of an instrument.例文帳に追加

中間的な不良も確実に検出でき、且つ機器の光軸調整などの煩雑な作業も不要な接着力検査装置を提供すること。 - 特許庁

Inspection threshold values for detecting defects or breakage of wires are corrected on the basis of the first wire width and the second wire width (steps 109 and 114).例文帳に追加

第１のしきい値における導体の第１の線幅、第２のしきい値における第２の線幅、および第３のしきい値における第３の線幅を求める。 - 特許庁

Thus, even when there is irregularity of the gradation value between the inspection image data and the reference image data, it is possible to correctly judge the defects or defect candidates.例文帳に追加

検査画像内の各画素について、第１の相関関係と第２の相関関係を基にその画素が欠陥を構成しているか否かを判定する。 - 特許庁

To provide a metal surface high-speed inspection device for speedily inspecting the defects of a continuous metal surface such as a railroad rail during running.例文帳に追加

鉄道レールのような連続した金属表面の欠陥を、走行しながら高速で検査することができる金属表面高速検査装置を提供する。 - 特許庁

A surface defect detector 3 is provided on an inspection line and the surface defects of a cold-rolled steel sheet 1 are detected and input to a marking controller 5.例文帳に追加

検査ラインには表面欠陥検出器３が設けられ、冷延鋼板１の表面欠陥を検出してマーキング制御装置５に入力する。 - 特許庁

Then, the defect inspection apparatus is composed so that defects in the part to be inspected are inspected, based on the result of addition and computation by the signal processing means.例文帳に追加

そして、その欠陥検査装置を、前記信号処理手段による加算演算の結果を基に前記被検査箇所の欠陥検査を行うように構成する。 - 特許庁

This realizes handy and quick inspection by examining defects such as chips or burrs caused at the corner part using the contact type displacement meter.例文帳に追加

本発明では、接触式の変位計を用いて角部に発生する欠けやバリ等の欠陥を検査することで、簡便かつ迅速な検査を実現している。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of detecting defects where the light intensity felt by the image of inspected object is not much difference from that of a normal section.例文帳に追加

被検査物体像が感じる光強度が正常部とあまり変わらない欠陥を検出することが可能な欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a mesh inspection apparatus capable of correctly extracting defects without being affected by a change in the thickness of a mesh width due to the unevenness of etching and printing.例文帳に追加

エッチングや印刷のムラによりメッシュ幅の太さの変化に影響されずに正確な欠陥抽出を行うことが可能なメッシュ検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device capable of rapidly detecting problems by transmitting defect information such as the number of occurred defects in an easily understood manner.例文帳に追加

欠陥の発生数などの欠陥情報を分かり易く伝えることで、問題点の検知を迅速に行うことができる外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a system which is particularly beneficial for analysis of defects on semiconductor wafers and which is suitable for in-line inspection of wafers in a manufacturing plant due to automation.例文帳に追加

半導体ウェーハ上の欠陥の分析に特に有利であり、自動化による製造プラント内でのウェーハのインライン検査に適するシステムを提供する。 - 特許庁

To easily find defects also in a manufacturing process, when manufacturing an organic EL element without evaluation and inspection by actual emission.例文帳に追加

実際の発光により評価及び検査をすることなく有機ＥＬ素子を製造するにあたり製造工程においても欠陥の発見を容易に行う。 - 特許庁

To provide an inspection device and a burn-in testing device for a semiconductor device capable of specifying a defective mode and a fault mode, performing analysis and predicting market defects further.例文帳に追加

不良モード，故障モードの特定、解析さらには市場不良予測が可能な半導体装置の検査装置およびバーンイン試験装置を提供する。 - 特許庁

To detect the defects of having a resistance value of an intermediate level by using an electrically noncontact inspection probe.例文帳に追加

電気的に非接触の検査用プローブを用いて中間レベルの抵抗値を有する不良を検出することができる基板検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method of a pattern formation body capable of easily detecting defects of patterns having different wettability.例文帳に追加

本発明は、容易に濡れ性の異なるパターンの欠陥を検出することができるパターン形成体の検査方法を提供することを主目的とする。 - 特許庁

In the wiring pattern inspection method, electromagnetic waves are irradiated to a wiring pattern, and the presence or absence of defects of the wiring pattern is detected, on the basis of the amount of transmission of the electromagnetic waves.例文帳に追加

配線パターンに電磁波を照射し、該電磁波の透過量から前記配線パターンの欠陥の有無を検知する配線パターンの検査方法である。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection method for detecting defects precisely without being affected by the contamination and inclination of the surface of an inspection body.例文帳に追加

検査体表面の汚れや傾きに影響されることなく欠陥を高精度で検出することができる超音波探傷方法を提供する。 - 特許庁

To provide a pattern inspection device and a method capable of detecting with high accuracy defects of an opening pattern, even if there remain adjustment residues of alignment.例文帳に追加

アライメントの合わせこみ残差があっても、開口パターンの欠陥を高精度に検出することが可能なパターン検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method of terminals fitted to a battery for inspecting with speed and accuracy defects of the terminals mounted on the battery by image processing.例文帳に追加

電池に取り付けられた端子の不具合を画像処理により迅速かつ精度よく検査する電池に取付けた端子の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an error inspection method to solve or decrease conventional defects or problems associated with packet switching in a high-speed switching environment.例文帳に追加

高速スイッチング環境でパケットを切り換えることに付随する従来の欠点及び問題を軽減又は解消する誤り検査方法を提供すること。 - 特許庁

To minimize the production loss of defective products by enabling automatic inspection of printing defects with high accuracy and making the time until a faulty printing is found shortest.例文帳に追加

印刷欠点を高い精度で自動検査でき、しかも印刷不良を発見するまでの時間を最短にして不良品生産ロスを最小限とする。 - 特許庁

To quickly analyze coating defects found by customers or the like and quickly feed back the analyzed result on a coating process, an inspection process, a transport process and the like.例文帳に追加

顧客などにより発見された塗装欠陥を迅速に解析し、解析結果を塗装工程や検査工程，輸送工程などに迅速に反映する。 - 特許庁

To provide a surface inspection device capable of acquiring scattered light intensity distribution information for each scattering azimuth angle, and detecting foreign matters and defects, with high sensitivity.例文帳に追加

散乱方位角別の散乱光強度分布情報が得られ、かつ、高感度で異物・欠陥を検出可能な表面検査装置を実現する。 - 特許庁

To provide a foreign-body inspection apparatus by which defects in large quantities can be prevented and by which a yield is maintained in the mass-production line of a semiconductor production process.例文帳に追加

半導体製造工程の量産ラインにおいて、大量の不良を未然に防ぎ、歩留りを維持させるための異物検査装置を提供する。 - 特許庁

To efficiently conduct sensitivity evaluation by generating program defects information, which is required for conducting the sensitivity evaluation of a reticle inspection apparatus, on the side of CAD data which are inputted to the inspection apparatus, not on the side of an actual reticle.例文帳に追加

レチクル検査装置の感度評価を行うために必要な作り込み欠陥情報を、実レチクル側ではなく検査装置に入力するＣＡＤデータ側に生成することにより、感度評価を効率良く行う。 - 特許庁

To provide a glide inspection method of a magnetic disk, for accurately detecting small-ized defects that cannot be detected by conventional glide inspection means, and further reducing the conventional floating height of a glide head.例文帳に追加

グライドヘッドの浮上量を今以上に下げることなく、現状のグライド検査では検出できないような微小サイズの欠陥をも精度良く検出することが可能な磁気ディスクのグライド検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a display device capable of detecting automatically all defects in a pattern formed on a substrate, an inspection method of the substrate for the display device, and an inspection device of the substrate for the display device.例文帳に追加

基板上に形成されたパターンにおける全ての欠陥を自動検出できる表示装置の製造方法、表示装置用基板の検査方法及び表示装置用基板の検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a plate glass inspection method that inspects the quality of a plate glass in an accurate and reliable way in the case of presence of defects in inspection target parts such as edge parts along sides of the plate glass or an inner wall of a through-hole, which may cause damage to the plate glass.例文帳に追加

板ガラスの辺に沿う端縁部や貫通孔の内壁部等の検査対象部に破損原因となる欠陥が存在する場合に、当該板ガラスの良否を正確且つ確実に検査する。 - 特許庁

To provide a polyester film for lamination with a polarizing film, minimizing light transmission and optical interference color which cause overlooking of mixed foreign matters and defects in inspection of polarizing plates and excellent in easiness of inspection.例文帳に追加

偏光板検査時において、異物混入や欠陥を見落とす原因である光透過と光干渉色を最小限に押さえた昜検査性に優れた偏光フィルム貼り合わせ用ポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁

To provide a surface inspection device for executing accurate inspection by eliminating the influence of worked parts existing on the surface of an inspecting object on judgment of the existence of defects, and for speeding up processing.例文帳に追加

被検査物の表面に存在する加工部が欠陥の有無の判別に与える影響を排除して正確な検査を実施でき、かつ処理の高速化を図ることが可能な表面検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a vehicle inspection apparatus which can reduce the opportunity for detecting defects during a travel as much as possible while coping with the increase of the number of inspection items caused by the tendency of the electronic control of vehicles or while improving the accuracy of preventive safety.例文帳に追加

車両の電子制御化に伴う点検項目数の拡大に対応し、または予防安全の精度を向上しながら、移動途中での故障検知の機会を極力減少させることを目的とする。 - 特許庁

To provide a workpiece inspection apparatus that reduces time required for imaging and inspecting a workpiece having a portion that has been formed by periodical exchange, and reduces overlooking of defects, as well as a workpiece inspection method.例文帳に追加

周期的に繰り替えられて形成された部分を有するワークの撮像及び検査に要する時間を短縮しつつ、欠陥の見逃しを低減できるワーク検査装置及びワーク検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a heat exchanger that allows eliminating defects in welded parts by enabling detection and identification of internal defects through an inspection using radioactive rays or the like and that is excellent in manufacturability and a method for manufacturing the heat exchanger.例文帳に追加

放射線等を用いた検査により内部欠陥を検知、識別することが可能となり溶接部の欠陥を無くすことができると共に、製作性に優れた、熱交換器及び熱交換器の製造を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide a photovoltaic device inspection apparatus and a method of determining defects in the photovoltaic device, capable of determining whether the photovoltaic device is good or not by energizing the photovoltaic device to allow EL light emission and checking defects from the light emission state.例文帳に追加

太陽電池に通電することでＥＬ発光させ、発光状態から欠陥の有無などを調べ、太陽電池の良否を判定することができる太陽電池の検査装置及び太陽電池の欠陥判定方法を提供する。 - 特許庁

To detect defects of an inspection object even when the defects have concave shapes or convex shapes, and to inspect sheets not having transparency, having low transparency, or having a surface with glossiness.例文帳に追加

検査対象における欠陥の形状が凹状又は凸状のいずれであっても検出可能とするとともに、光透過性を有しないものや低いもの、表面に光沢を有するシートなどについても検査の対象物とする。 - 特許庁

An electronic microscope 5, for observing defects detected by an optical defect inspection apparatus or an optical visual inspection apparatus, is configured in such a manner that an optical microscope 14 for redetecting defects is mounted thereupon and that a distribution polarization element and a spatial filter are inserted in its pupil surface, when the optical microscope 14 is used to observe dark field.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布偏光素子及び空間フィルタを挿入する構成とする。 - 特許庁