「defects inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an inspection apparatus for accurately detecting defects on the surface of an object to be inspected even if the spectral characteristics of illumination light change.例文帳に追加

照明光の分光特性が変化しても、被検物体の表面の欠陥を正確に検出できる検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an on-vehicle battery vent plug inspection method which has made it possible to precisely discriminate between two types of air tightness defects, excessive leakage and minute leakage.例文帳に追加

過大漏れと微小漏れの双方の気密瑕疵を的確に判別可能とした車載バッテリー用ベントプラグの検査方法の提供。 - 特許庁

The comparison unit is electrically connected to the data processing unit, compares a comparison value with a reference value, and determines whether or not the inspection object has defects.例文帳に追加

比較ユニットは、データ処理ユニットに電気的に接続されて、比較値と参考値を比較し、被検査物に欠陥がないか判断する。 - 特許庁

To provide an article inspection apparatus which is capable of evenly and surely inspecting defects on the surfaces of articles such as fruits and vegetables.例文帳に追加

果実・野菜等の物品の表面の不良をまんべんなく確実に検査することのできる物品検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and apparatus whereby the inspection and recovery of defects are performed at proper speeds by using charged-particle beams having the same diameter.例文帳に追加

検査および欠陥の修復を同一径の荷電粒子ビームを用いて、適切な速度で行う方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a wafer appearance inspection device capable of reducing detection of noncritical defects, and shortening the time required for visual confirmation.例文帳に追加

非致命欠陥を検出を低減し、目視確認に要する時間を短縮可能なウェハ外観検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To enhance recycle yield, reduce recycle cost, and eradicate defects without leaving an ACF residue on terminal parts by inspection after proper press-bonding.例文帳に追加

リサイクル歩留まりやリサイクルコスト低減、さらに、ＡＣＦ残渣を端子部分に残さず、本圧着後の検査により不良を皆無にする。 - 特許庁

To rapidly inspect shape defects in a minute pattern on a magnetic recording medium, formed from patterned media, that is an object of inspection.例文帳に追加

被検査対象であるパターンドメディアからなる磁気記録媒体の微細なパターンの形状欠陥を高速で検査できるようにする。 - 特許庁

To obtain a terminal inspection jig for surely and inexpensively finding defects of a terminal, despite a simple structure.例文帳に追加

単純な構造かつ安価であるにもかかわらず、端子の欠陥を確実に発見することができる端子検査用治具を提供すること。 - 特許庁

To provide a device for inspecting surface defects in cylindrical work and its device capable of performing reliable inspection by a simple inexpensive constitution.例文帳に追加

簡素かつ安価な構成で確実な検査ができる円筒状ワークの表面欠陥検査方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

The defect-type classification part 6 classifies the types of defects, by comparing a previously prepared reference waveform with the detected waveforms and comparing inspection waveforms, acquired by TFT array inspection for classifying the types of TFT defects, with a known reference waveform and determines the types of defects that cannot be distinguished by image display.例文帳に追加

欠陥種類分類部６は、予め用意しておいた基準波形を検出波形と比較することによって、ＴＦＴの欠陥の種類を分類するＴＦＴアレイ検査で取得した検査波形を、既知の基準波形と比較することによって、欠陥種類の分類を可能とし、画像表示では区別できない欠陥種類を判別する。 - 特許庁

To provide an inspection device and an inspection method for photographing a front board for electronic paper displays at a timing when its defects of abnormal response are conspicuous, and extracting the defects of abnormal response contained as local unevennesses in a photographed image with high precision, on the occasion of inspecting the front board.例文帳に追加

電子ペーパーの前面板の検査において、応答異常欠陥の目立つタイミングで前面板を撮像し、撮像画像内において局所的なムラとして含まれる応答異常欠陥を高精度に抽出するための検査装置、検査方法を提供すること。 - 特許庁

A defect marking device is equipped with an inspection machine 21 which detects defects that a long filmy product 1 has, block by block, a laser marker device 22 which prints marks corresponding to the defects detected by the inspection machine 21, and a control unit 23 which controls the laser marker device 22.例文帳に追加

欠陥マーキング装置は、長尺フィルム状製品１に存在する欠陥をブロック毎に検出する検査機２１と、検査機２１によって検出された欠陥に対応してマークを印字するレーザマーカ装置２２と、このレーザマーカ装置２２を制御する制御部２３とを備える。 - 特許庁

In an electronic microscope 5 for observing the defects detected by an optical defect inspection apparatus or an optical visual inspection apparatus, an optical microscope 14 for redetecting defects is mounted thereupon and a distribution filter is inserted in its pupil surface, when the optical microscope 14 is used to observe dark field.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布フィルタを挿入する構成とする。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus and a defect inspection method using it which accurately find the number of defects on inspected materials when quality of the inspected materials is determined based on defect information of the inspected materials respectively detected by a plurality of defect detectors and determine the quality of the inspected materials based on the number of the defects.例文帳に追加

複数の欠陥検出器がそれぞれ検出した被検査材の欠陥情報に基づいて、被検査材の合否判定を行う際、被検査材の欠陥数を正確に求めることができる欠陥検査装置およびそれを用いた欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection device for rapidly and precisely determining defects such as exfoliation seen in a composite material without immersing a test body in water or coating it with a contact medium, and also to provide an inspection method using the same inspection device.例文帳に追加

試験体を水に浸したり、接触媒質を塗布することなく、複合材料にみられる剥離等の欠陥を迅速且つ精密に識別することが可能な超音波検査装置及びこの超音波検査装置を用いた検査方法を提供する。 - 特許庁

The defect inspecting device 21 has an internal defect inspection part 25 for inspecting an internal defect of the blade 1, the first surface defect inspection part 26 for inspecting defects on the first reference plane 3 of the blade 1, and the second surface defect inspection part 27 for inspecting defects on the second reference plane 4 that is orthogonal to the first reference plane 3 of the blade 1.例文帳に追加

そして、欠陥検査装置２１は、ブレード１の内部の欠陥を検査する内部欠陥検査部２５と、ブレード１の第１の基準面３における欠陥を検査する第１の表面欠陥検査部２６と、ブレード１の第１の基準面３に直交する第２の基準面４における欠陥を検査する第２の表面欠陥検査部２７とを有する。 - 特許庁

The predetermined judgment conditions are, for example, such conditions that a defect shown by the inspection result is a serious defect, such conditions that the same defects continuously arise, and such conditions that the same defects arise discontinuously or different defects continuously or discontinuously arise.例文帳に追加

予め定める判定条件は、たとえば、検査結果が示す不良が、重欠陥であるという条件、同じ不良が連続して発生しているという条件、および同じ不良が不連続にまたは異なる不良が連続してもしくは不連続に発生しているという条件である。 - 特許庁

To provide a defect inspection method, a schedule control method and a defect inspection device for periodically performing schedule control with high accuracy by plotting data of the number of defects in various kinds of electronic devices on the same chart.例文帳に追加

欠陥検査方法、工程管理方法及び欠陥検査装置に関し、複数品種の電子デバイスの欠陥数データを同一のチャートにプロットして、工程管理を定期的に精度良く行う。 - 特許庁

To provide an inspection device for a scanning optical element, which can expand the range of an inspection object region in the scanning optical element being an object to be inspected, without lowering the sensitivity of detecting optical defects.例文帳に追加

光学的欠陥に対する検出感度を下げることなく検査対象走査光学素子における検査対象領域の幅を拡げることができる走査光学素子検査装置を、提供する。 - 特許庁

To reconcile a high position resolution of a scanning image with a short inspection time; to heighten position accurately of the scanning image to a pixel position; and to improve detection accuracy of defects, in inspection of a TFT array.例文帳に追加

ＴＦＴアレイの検査において、走査画像の高い位置分解能と短い検査時間とを両立させ、ピクセル位置に対する走査画像の位置精度を高め、欠陥の検出精度を向上させる。 - 特許庁

To provide an inspection device for pattern defects, capable of realizing high reliability stable pattern defect inspection, having high resolution relative to minute patterns by using an ultraviolet laser beam as the light source.例文帳に追加

紫外レーザ光を光源として微細パターンを高解像度で、しかも安定したパターン欠陥検査を高信頼性で実現するようにしたパターン欠陥検査装置を提供することにある。 - 特許庁

Thus, fine defects in the recessed part on the substrate 9, which is difficult to be detected by an ordinary defect inspection device for performing inspection, by irradiating the substrate with light can be detected with high accuracy.例文帳に追加

これにより、基板に光を照射して検査を行う通常の欠陥検査装置では検出が困難な基板９上の微小な凹部内の欠陥を高精度に検出することができる。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection device for cast hole capable of inspecting defects of the cast hole with high accuracy with simple configuration even when the shape of the hole is complex.例文帳に追加

鋳造品空孔における欠陥を簡易な構成で、かつ空孔の形状が複雑である場合にも精度よく検査することが可能な鋳造品空孔の検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pattern inspection apparatus and a method for it which can finely set an area where a high accuracy inspection is required, suppress detection of untrue defects and rapidly inspect a pattern.例文帳に追加

高精度の検査が必要なエリアをきめ細かく設定し、かつ擬似欠陥の検出を抑制しつつ、迅速にパターン検査をすることが可能なパターン検査装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

To provide video information having reliability, in which appearance inspection of defects in the welding parts of piping or the like used to be executed by visual inspection can be executed by video images, such as moving images and still images.例文帳に追加

本発明は、これまで、目視にて行われていた配管など溶接部の欠陥の外観検査を、動画や静止画などの映像にて行える信頼性を持つ映像情報を提供する。 - 特許庁

To provide an exterior appearance inspection method that reliably detects defects without overlooking ones in a short time with a simple device and processing, and an exterior appearance inspection device.例文帳に追加

検査を短時間で行うことが可能であり装置や処理が煩雑にならず、欠陥を見逃すことがなく確実に検出することが可能である外観検査方法及び外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection method and an ultrasonic inspection device capable of evaluating a deterioration degree of a subject, and the integrity of a surface layer part of the subject, and detecting the direction of defects with high accuracy.例文帳に追加

被検体の劣化度評価と被検体表層部の健全性評価と欠陥の方向性を高精度に検出できる超音波検査方法及び超音波検査装置を提供する。 - 特許庁

In the inspection apparatus using an electron microscope which senses the defects present on the pattern of a sample based on the sensed signal of secondary charged particles generated by a scanning electron beam, there is provided such a function that the informations obtained by its ADC function are so fed back to its inspection function in the form of an inspection/non-inspection region as to improve its inspection and ADC performances.例文帳に追加

電子線を走査して発生する二次荷電粒子の検出信号に基づいて試料のパターン上の欠陥を検出する電子顕微鏡を用いた検査装置において、ＡＤＣ機能で得られた情報を検査／非検査領域という形で検査機能にフィードバックさせ、検査性能、ＡＤＣ性能の向上を図る機能を備える。 - 特許庁

To provide an apparatus for detecting defects in a device, capable of detecting an arbitrary part of 2.0-2.5 mm square at abort 20-30 nm image resolution, without having to move a sample from the viewpoint of high operability, in inspection of defects in a device.例文帳に追加

デバイスの欠陥検査において、高操作性の観点からサイズ２〜２.５mm 角内の任意個所を試料移動させることなく、２０〜３０ｎｍ程度の像分解能で検査できるデバイスの欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a phase difference defect inspection device which easily discriminates and detects the residual defect of a phase shifter and the surface flaw defect of a glass substrate from another defects, such as foreign matter (light shielding) defects.例文帳に追加

位相シフターの残存欠陥及びガラス基板の表面傷欠陥を異物（遮光）欠陥等の他の欠陥と区別して検出することを簡便に行なう位相差欠陥検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

In this method, a means of synchronization with detection of defects to calculates amount of image features of the defect, and a means for classifying defects into clusters, depending on the calculated amount of image features are added to the high-speed pattern defect inspection system.例文帳に追加

高速のパターン欠陥検査装置に、欠陥の検出に同期して欠陥の画像的特徴量を計算する手段と、計算された特徴量によって欠陥をクラスタに分類する手段とを付加する。 - 特許庁

To provide an apparatus for optically inspecting defects of magnetic disks and capable of accurately determining the positions of fine defects, even by illuminating a region which is wider than an inspection region with illumination light having a Gaussian distribution.例文帳に追加

ガウシアン分布を有する照明光で検査領域よりも広い領域を照明しても微細な欠陥の位置をより正確に求めることが可能にする光学式の磁気ディスク欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method capable of accurately inspecting the presence of a micro defects in a resin layer, such as a protective layer formed on a base material.例文帳に追加

基材上に形成された保護層などの樹脂層における微少欠陥の有無を正確に検査し得る検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an organic EL (electroluminescent) display device and its manufacturing method capable of restraining increase of defects accompanying shape inspection of barrier ribs.例文帳に追加

隔壁の形状検査に伴う不良の増加を抑制することが可能な有機ＥＬ表示装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device that efficiently carries out automatic identification of the types of defects on an end portion of an object to be inspected such as a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェハ等の被検査体の端部の欠陥の種類を効率的に自動判別することが可能な検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method which enables detection of defects on an edge line of a surface to be inspected, only on the basis of the binarized images of the surface to be inspected.例文帳に追加

被検査面の二値化画像のみに基づいて被検査面のエッジライン上の欠陥を検出可能な欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method which can easily, rapidly, and non-destructively inspect defects and measure a film thickness in a nanoimprint molding laminate.例文帳に追加

ナノインプリント成型積層体の欠陥検査や膜厚測定を簡便かつ迅速に、非破壊で行うことが可能な検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for inspection of an object to be inspected (hereinafter, a workpiece), capable of correctly and efficiently inspecting defects in the workpiece.例文帳に追加

本発明は、被検査物の欠陥を確度よく能率的に検査可能な被検査物の検査方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a method and device for inspection of a honeycomb structure capable of easily detecting defects of the partition wall in the honeycomb structure before sealing.例文帳に追加

封口前のハニカム構造体の隔壁の欠陥を容易に検出できるハニカム構造体の検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an improved mask inspection system to support the minimization or removal of defects from mask patterns transferred onto a substrate.例文帳に追加

基板上へと転写されるマスクパターンからの欠陥の最小限化または除去の支持するために改善されたマスク検査システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a system for inspecting defects of a pattern shape and positional deviation of a servo pattern at high speed in inspection of a patterned medium for a hard disk.例文帳に追加

ハードディスク用のパターンドメディアの検査において、パターン形状及びサーボパターンの位置ずれの欠陥を高速に検査する方式を提供する。 - 特許庁

To provide a bubble sorting method in a glass substrate for sorting bubbles from defects detected by a visual inspection device of a color filter.例文帳に追加

カラーフィルタの外観検査装置によって検出された欠陥から、気泡を選別処理するガラス基板内の気泡選別処理法を提供する。 - 特許庁

This inspection data processor is displayed with a defect map 19 indicating a position of a defect on a film, and a defect histogram 21 indicating a distribution of the defects on the film.例文帳に追加

フィルム上の欠陥の位置を示す欠陥マップ１９やフィルム上の欠陥の分布を示す欠陥ヒストグラム２１が表示されている。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for inspecting thread parts of glass bottles whereby thread part defects can be accurately detected without depending on a visual inspection.例文帳に追加

目視検査に頼らず、ねじ部欠点を精度よく検出することができるガラスびんのねじ部検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁