「defects inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

(a) Scattered light from a surface of a sample after the same process as that of an inspection object is observed to detect defects based on the intensity of the scattered light, and the positions of the detected defects and the intensity of scattered light caused by the defects are acquired.例文帳に追加

（ａ）検査対象物と同一の処理を経たサンプルの表面からの散乱光を観測して、散乱光の強度に基づいて欠陥を検出し、検出された欠陥の位置、及び当該欠陥に起因する散乱光の強度を取得する。 - 特許庁

To provide an inspection method and apparatus of defects in a magnetic head for precisely detecting defects at a specific part of the head by extracting defects at that part from a captured image even if an imaging system has shading.例文帳に追加

撮像系にシェーディングがあっても、ヘッドの特定の部分の欠陥を撮像画像から抽出してその部分の欠陥を精度よく検出することができる磁気ヘッドの欠陥検査方法および欠陥検査装置を提供することにある。 - 特許庁

Since if a sealing material and a capping material have defects, carbon dioxide is infiltrated from the defects into the interiors of the sealing material and the capping material and further into the panel, bubbles are generated when pressure is returned to normal pressure and thereby inspection for the defects can be performed.例文帳に追加

パネルのシール材や封止材に欠陥があると、そこからシール材の内部、封止材の内部、さらにはパネル内に二酸化炭素が侵入するので、常圧に戻したとき気泡が発生し、不具合があることを検査することができる。 - 特許庁

Thus, the new pixel defects can be inspected at a time when the incidence probability of the pixel defects is high, for example, in the case of passing through the Arctic Circle or the Antarctic Circle on the air route so as to correct the pixel defects on the basis of the inspection result.例文帳に追加

これにより、空路により北極圏や南極圏を通過した場合など、画素欠陥の発生確率が高い時期に新たな画素欠陥を点検することができ、この点検結果に基づいて画素欠陥を補正することができる。 - 特許庁

To provide a method and device for assisting an inspection of construction works for more surely and more uniformly inspecting various defects on site.例文帳に追加

現場で諸欠陥をより確実、より一様に検査する建設工事の検査を支援する方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device of inspecting a scintillator panel capable of detecting the existence of defects with high inspection precision in a state of a single product of a scintillator panel.例文帳に追加

シンチレータパネル単品の状態で、より高い検査精度で欠陥の有無を検出できるシンチレータパネルの検査装置を得る。 - 特許庁

To detect defects on a wafer in situ during a manufacturing process without providing a particle irradiation means or the like exclusive for inspection.例文帳に追加

ウエハ上の欠陥等を検査専用の粒子照射手段等を設けることなく製造プロセス中にインサイチュで検出する。 - 特許庁

To obtain an inspection method in which surface defects of a metal band conveyed on a production line containing a hot rolling process is detected with high accuracy.例文帳に追加

熱間圧延工程を含む製造ライン上を搬送される金属帯の表面欠陥を高い精度で検出する。 - 特許庁

To shorten the time required for obtaining a three-dimensional image in a nondestructive inspection for inspecting defects through the use of a highly sensitive magnetic sensor.例文帳に追加

高感度磁気センサを使用して欠陥を検査する非破壊検査において、３次元画像を得るまでの時間を短縮する。 - 特許庁

To reduce the time for inspection by increasing the sensitivity and speed for inspecting an object to be, such as a semiconductor wafer or the like for foreign matter or defects.例文帳に追加

半導体ウェハ等の被検査物の異物・欠陥検査の高感度化及び高速化による検査時間の短縮化。 - 特許庁

A comparison unit subtracts a reference integral value distribution 51 after sensitivity correction from the inspection integral value distribution 52 to detect defects.例文帳に追加

比較部では、検査積算値分布５２から感度補正後の基準積算値分布５１が減算され、欠陥の検出が行われる。 - 特許庁

To provide an efficient and reliable method and system for classifying defects in defect inspection of a silicon wafer substrate.例文帳に追加

シリコンウェーハ基板の欠陥検査において、欠陥を分類するための効率的で、信頼性のある方法及びシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a lighting inspection for a liquid crystal panel by which even a pixel generating minor defects can be detected.例文帳に追加

軽微な欠陥が発生している画素であっても確実に検出できる液晶パネルの点灯検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an optical panel inspection method capable of performing properly rank determination based on only display defects having a prescribed area or more.例文帳に追加

所定面積以上の表示欠陥にのみ基づくランク判定を適切に行える光学パネル検査方法を提供する。 - 特許庁

When the linearity correction is not proper, recessed parts or protruded parts are formed and are detected as defects by a photomask inspection device.例文帳に追加

リニアリティ補正が適正でない場合は、凹部又は凸部が形成され、フォトマスク検査装置により欠陥として検出される。 - 特許庁

To provide a surface inspection device capable of detecting with high accuracy defects in the surfaces of spherical or cylindrical inspected objects.例文帳に追加

球状または円柱状の被検査物体の表面の欠陥を高精度に検出し得る表面検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for inspection of a substrate using electron beams capable of extracting possible defects at higher speed than in the prior art.例文帳に追加

従来に比べて欠陥候補を高速に抽出することが可能な電子線を用いた基板の検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an appearance inspecting device of solar cells capable of detecting various defects correctly and preventing the elongation of an inspection time.例文帳に追加

欠陥を正確に検出し、かつ検査時間の増大を防ぐことが可能な太陽電池セルの外観検査装置を提供する。 - 特許庁

When defects exist in the inspection ranges 14, 22 and 23, a CCD line sensor camera 15 receives the scattered light from each defect.例文帳に追加

ＣＣＤラインセンサカメラ１５は、検査範囲１４，２２，２３に欠陥が存在する場合、各欠陥からの散乱光を受光する。 - 特許庁

Additional data which facilitate an understanding of process errors are obtained by the succeeding detailed inspection and analysis of the details of the sampling defects.例文帳に追加

続くサンプリング欠陥の詳細な検査及び解析によって、工程誤差の把握を容易にする付加的なデータが得られる。 - 特許庁

The EUV mask inspection system can also include a data analysis device configured to analyze the aerial image for mask defects.例文帳に追加

ＥＵＶマスク検査システムは、マスク欠陥について空間像を分析するように構成されたデータ分析デバイスを含んでもよい。 - 特許庁

To define the region for inspection of defects, and to make a pattern to restrict a light-shielding region smaller than the resolution limit of a reduction stepper.例文帳に追加

欠陥検査領域の明確化と遮光領域規定パターンを縮小投影露光装置の解像限界以下とする。 - 特許庁

To provide a detect inspection device which can identify and inspect various defects, such as bubbles and foreign substances present in a transparent film.例文帳に追加

透明フィルムに存在する種々の気泡や異物などの欠陥を識別でき、検査できる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pattern inspection device attaining pattern inspection of high sensitivity by reducing an effect of brightness irregularity caused by the difference of film thickness, and applicable to a wide range of processes by actualizing various defects regarding the pattern inspection device comparing images in the corresponding areas of two patterns formed to be the same pattern and determining incoincident parts of the images as defects.例文帳に追加

本発明では、同一パターンとなるように形成された２つのパターンの対応する領域の画像を比較して画像の不一致部を欠陥と判定するパターン検査装置において、膜厚の違いなどから生じるパターンの明るさむらの影響を低減して、高感度なパターン検査を実現する。 - 特許庁

The detection technique of pixel uneveness defects detects pixel uneveness defects (a detection process ST300 for uneven pixels) from images acquired in an inspection image acquiring process ST100, and by a quantitative evaluation, based on the detected result in the detecting process of pixel uneveness, discrimination of pixel uneveness defects is conducted (a discrimination process ST400 of defects) in the images.例文帳に追加

検査画像取得工程ＳＴ１００で取得した画像から画素ムラを検出して（画素ムラ検出工程ＳＴ３００）、画素ムラ検出工程で検出された結果に基づいた定量的な評価により、画像に画素ムラ欠陥があることの判別を行う（欠陥判別工程ＳＴ４００）。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspection device capable of accurately detecting defects of a mask, without being influenced by particulate matters, even if transparent particles are scattered on the surface of a photomask (mask).例文帳に追加

フォトマスク（マスク）の表面に透明粒子が散布されても、粒状物による影響なく、マスクの欠陥を正確に検出できる欠陥検査方法及び欠陥検査装置。 - 特許庁

To provide an inspection circuit capable of detecting leak of retaining capacity, defects of an active element and wiring with high precision, and to provide an inspection method of a circuit and a matrix type display device.例文帳に追加

保持容量のリーク、能動素子や配線の欠陥を高精度に検出することができる検査回路及び回路の検査方法並びにマトリックス型表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method for inspecting only a product section regarding a pattern inspection method for detecting defects in a sheet-like printed matter where the same pattern is continuously printed on a continuous sheet.例文帳に追加

連続するシート上に同一の絵柄が連続して印刷されるシート状印刷物の欠陥を検出する絵柄検査方法に関し、製品部分のみを検査する検査方法の提案。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspection device capable of surely detecting unevenness due to defects at a surface of an object regardless of pattern or gloss at the surface of the object.例文帳に追加

対象物の表面の模様やツヤによらず、対象物表面の欠陥による凹凸を確実に検出する欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a nondestructive inspection system for accurately and quickly measuring the sectional change of an inspection target, due to aging thinness caused by defects, corrosion, or the like, with few number of times.例文帳に追加

検査対象物の、欠陥や腐食等の経時的減肉による緩やかな断面変化を、少ない回数で、正確且つ短時間に測定できる非破壊検査システムの提供。 - 特許庁

To provide an inspection device, capable of surely detecting the surface defects of the inspection object at the inspecting of the internal surface of a cylinder, such as a cylinder bore of vehicle.例文帳に追加

車両のシリンダボア等の筒状内壁面を検査する際に、被検査対象の表面欠陥を確実に検出することができる検査装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an inspection method and apparatus having higher performances than conventional ones whereby the unintended kinds of defects including false informations can be removed from their inspection results and automatic-defect-classification (ADC) results.例文帳に追加

検査結果や自動欠陥分類（ＡＤＣ）の結果から、虚報を含む目的としていない種類の欠陥を除去可能な、より高性能な検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus and method, capable of easily resolving a pseudo contact and detecting fine defects such as cracks and so on by an electric inspection.例文帳に追加

疑似接触を簡便に解消することで、電気的検査によってクラック等の微少不良の検出を可能とする検査装置、及び検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

An inspection system 1 is provided with an image pickup device 2 which obtains an image of the object to be inspected, an inspecting and classifying device 4 which performs inspection and automatic classification of defects, and a host computer 5.例文帳に追加

検査システム１に、検査対象の画像を取得する撮像装置２、検査および欠陥の自動分類を行う検査・分類装置４、および、ホストコンピュータ５を設ける。 - 特許庁

Inspection parts 6a, 6b reads out the image data from the cell kind memories 5a, 5b respectively, performs inspection in parallel by an adjacent pixel comparison method or the like, and extracts defects.例文帳に追加

検査部６ａおよび６ｂは、それぞれセル種メモリ５ａおよび５ｂから画像データを読み出し、隣接画素比較法等によって並列的に検査を行い、欠陥を抽出する。 - 特許庁

This defect detecting method has a means to detect an image of a whole chip, and, an inspection region of this image is divided into a plurality of regions based on sensitivity to fatal defects so that inspection sensitivity can be set up in each region.例文帳に追加

チップ全域の画像を検出する手段を設け、この画像を用いて致命性毎に検査領域を区分けし、それぞれの領域で検査感度を設定可能とした。 - 特許庁

To provide a four-terminal inspection method and a four-terminal inspection jig using a single-sided transfer probe allowing to inspect breaks and via defects between both sides of a substrate by a simple apparatus structure with high precision.例文帳に追加

片面移動式プローブを用いた４端子検査方法及び４端子検査用治具に関し、簡単な装置構成で基板表裏間の断線・ビア欠陥を高精度で検査する。 - 特許庁

To provide a ring end face defect inspection apparatus for improving efficiency and obtaining improved precision and reproducibility, by automating the inspection of the end face defects of a metal ring 2.例文帳に追加

金属リング２の端面欠陥の検査を自動化できるようにし、以て、効率の改善と、良好な精度及び再現性が得られるリング端面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

An image comparison part 124 compares, in each pixel in an inspection image data 120, a correspondence of an inspection image data 120 in the pixel to a reference image data 121 with a judgment threshold 141 acquired in each region comprising the computed slit pixel group, and judges defects or defect candidates.例文帳に追加

次に、検査画像の各画素毎にその画素の階調値と、その画素と対応する参照画像内の画素の画素値との第２の相関関係を求める。 - 特許庁

To provide a visual inspection system and a visual inspection method capable of improving a yield by discriminating only defects on the surface of a non-light-transmission layer.例文帳に追加

非透過層の表面上の欠陥のみを判別可能とすることで、歩留り向上につなげることができる外観検査システムおよび外観検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a defect inspection method for an axially symmetric object, which permits handy and quick inspection of defects such as chips or burrs with a higher detection accuracy as caused at a corner part, in the inspection of products with the aim of guaranteeing the quality thereof.例文帳に追加

品質保証を目的とした製品検査において、角部に発生する欠けやバリ等の欠陥を、高検出精度、簡便、かつ迅速に検査することができる軸対称物体の欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To improve the sensitivity for detecting defects in a laser ultrasonic inspection apparatus and a laser ultrasonic inspection method of a type in which laser beams for generating ultrasonic waves and for detecting ultrasonic waves are scanned on the surface of an inspection object.例文帳に追加

超音波発生用及び超音波検出用のレーザービームを検査対象の表面上で走査させるタイプのレーザー超音波検査装置及びレーザー超音波検査方法において、欠陥検出の感度を向上させる。 - 特許庁

To deciding a sampling position of a read/write test by use of position information of defects detected by optical inspection, to test only areas near the defects detected by the optical inspection, thereby achieving efficient read/write test.例文帳に追加

光学的な検査により検出した欠陥の位置情報を用いてリード・ライトテストのサンプリング位置を決定することにより、光学的な検査により検出した欠陥の近傍領域だけをリード・ライトテストするようにして、リード・ライトテストを効率よく行えるようにする。 - 特許庁

To provide an inspection system by which investigation or the like of the causes of defects of a semiconductor sample can be easily performed by making the work for observing defects detected by a SEM (scanning electron microscope)-aided appearance inspection apparatus is surely performable with the use of a review apparatus with high definition.例文帳に追加

ＳＥＭ式外観検査装置で検出した欠陥をレビュー装置で高分解能観察する作業を容易、且つ確実に行えるようにし、半導体試料の欠陥に対する原因究明等が容易に行える検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for inspecting defects in which the sensitivity can be adjusted easily in a comparison inspection of comparing a test object image and a reference image with each other and detecting defects from a difference of the images.例文帳に追加

検査対象画像を参照画像と比較してその差異から欠陥を検出する比較検査において、感度調整が容易な欠陥検査方式及び装置を提供することにある。 - 特許庁