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「defects inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索
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defects inspectionの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 657



例文

To provide a substrate-inspecting device achieving size reduction and enabling high-accuracy inspection for defects on a target substrate with high efficiency.例文帳に追加

小型化を実現できるとともに、被検査基板に対し精度の高い欠陥検査を効率よく行なうこと。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus for stably detecting defects even if an optical system fluctuates.例文帳に追加

光学系の変動が生じても、欠陥を安定して検出することができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

The surface of a defect substrate to be subjected to defect inspection is scanned by a light beam and is detected of its defects and their address coordinates.例文帳に追加

欠陥検査すべき基板の表面を光ビームで走査し、欠陥及びそのアドレス座標を検出する。 - 特許庁

The substrate (1) to be subjected to normal/defective condition deciding is subjected to defect inspection and the defects and their addresses are determined.例文帳に追加

本発明では、良否判定すべき基板(1)について欠陥検査を行い、欠陥及びそのアドレスを求める。 - 特許庁

例文

To provide an inspection method for surely easily detecting defects of a metallic separator for a fuel cell.例文帳に追加

燃料電池用の金属セパレータの欠陥を確実かつ簡便に検出するための検査方法を提供する。 - 特許庁


例文

To establish an inspection method for an engine capable of accurately inspecting even micro defects in an intake system.例文帳に追加

吸気系の微少な欠陥についても、高精度に検出が可能となるエンジン検査方法を確立する。 - 特許庁

To provide a transparent body inspection device for determining whether any defect exists as to various types of defects.例文帳に追加

複数の種類の欠陥について欠陥の有無を判定することができる透明体検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device including inspection use transistors capable of inspecting defects of pixels by the small number of pads.例文帳に追加

少ないパッド数で画素の欠陥を検査できる検査用トランジスタを含む液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a tool for inspecting a liquid crystal panel hardly causing oversights of defects or the like in a dynamic display operating inspection.例文帳に追加

点灯表示検査時における欠陥等の見落としの少ない液晶パネルの検査用治具を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a nondestructive inspection method for an FRP structure, capable of grasping defects quantitatively and non-personally.例文帳に追加

欠陥を定量的、非属人的に把握可能とするFRP構造物の非破壊検査方法を提供すること。 - 特許庁

例文

Then, optical inspection processing is carried out to check whether the patterned photoresist layer has defects.例文帳に追加

次に、パターン化されたフォトレジスト層が欠陥を有するか否かを検査するために光学検査処理が実行される。 - 特許庁

To accelerate inspection speed in a surface inspection device for inspecting shape defects of components and the like, by scanning the inspection surface, such as mounting circuit board, with light.例文帳に追加

本発明は実装回路基板等の被検査物表面を光走査し、その反射光に基づいて部品の形状不良等を検査する表面検査装置において、その検査速度を高速化する。 - 特許庁

To provide a method and device for defect inspection, capable of detecting the defects of an inspection member that has large surface roughness and irregularities on surface, without having to maintain the surface of the inspection member.例文帳に追加

被検査材の表面を手入れすることなく、表面粗さが大きく、表面に凹凸をもつ被検査材の欠陥を検出する欠陥検査方法および装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

By relatively moving the stage 6 to the inspection light, the projected inspection image is moved, thus improving the visibility such as point defects by residual effect by the movement of inspection images.例文帳に追加

ステージ6を検査光に対して相対移動させることにより、投影された検査画像を移動させ、検査画像の移動による残像効果によって点欠陥等の視認性を向上させる。 - 特許庁

To provide a substrate or panel inspection method, a substrate or panel inspection program and a substrate or panel inspection device which can improve the performance of detecting defects in an object to be inspected.例文帳に追加

検査対象物の欠陥を検出する性能を向上させることのできる基板またはパネル検査方法と基板またはパネル検査プログラムと基板またはパネル検査装置とを提供しようとする。 - 特許庁

To provide a mobile goods inspection unit which overcomes problems of inspection work in general at a conventional distribution center or the like, or defects of a transportation bogie having a goods inspection function proposed heretofore.例文帳に追加

従来の物流センター等における一般的な検品作業の問題点、或は、先に提案された検品機能をもたせた運搬台車の難点を解消した移動式検品機を提供すること。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection method that can save mirror finishing of a surface to a single crystal, namely an inspection target, performs a nondestructive inspection, and detects defects that are crystal defects in single crystals, are made of the same type of material as a base material, and does not accompany any different interfaces.例文帳に追加

被検査物である単結晶に対する表面の鏡面加工を省略可能としかつ非破壊検査であって、単結晶における結晶欠陥であり母材と同種の材質からなり異種界面を伴わない欠陥を検出可能とする超音波検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a printed matter inspection method and device for detecting defects in a printed matter by using only an inspection object image obtained by image-inputting the printed matter to be an object of an inspection without the need of an inspection reference image to be obtained by image-inputting the printed matter to be a reference of the inspection.例文帳に追加

検査の基準とする印刷物を画像入力して得る検査基準画像を必要とせず、検査の対象となる印刷物を画像入力して得る検査対象画像だけを用いてその印刷物における欠陥を検出する印刷物検査方法および装置を提供する。 - 特許庁

The determination step is to determine characteristic defects, caused in manufacturing process carried out in units of a plurality of semiconductor devices, among the characteristic defects of the semiconductor devices based upon a result of the re-inspection in the second wafer inspection step.例文帳に追加

判定工程は、第2ウエハ検査工程による再検査の結果に基づいて、半導体装置の特性不良のうち、複数個の半導体装置単位で行われる製造処理において生じる特性不良を判定する。 - 特許庁

Each single-class classifier is configured for each class to identify defects belonging to each class on the basis of the inspection parameter values, while identifying the defects not in each class as unknown defects.例文帳に追加

各単一部類分類子は、それぞれの部類に対して、検査パラメータ値に基づいてそれぞれの部類に属する欠陥を識別し、一方でそれぞれの部類に入っていない欠陥を未知欠陥として識別するように構成される。 - 特許庁

To achieve a charged particle beam device or an inspection method using a charged particle beam, wherein the inspection can be performed under the inspection condition where at least two or more kinds of electrical defects can be picked up in a single inspection with higher probability than a conventional method.例文帳に追加

少なくとも2種類以上の電気的欠陥を1回の検査で従来よりも高い確率で捕捉可能な検査条件で検査を実行可能な荷電粒子線装置ないし荷電粒子線による検査方法を実現する。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection apparatus for detecting finer defects and high fatal damages to a circuit pattern, with higher sensitivity, in the optical semiconductor defect inspection method, and to provide an inspection apparatus that uses die comparison method.例文帳に追加

ダイ比較方式を用いた光学式半導体欠陥検査方法及び検査装置に関して、より微細な欠陥や回路パターンに対して致命性の高い検出を、より高い感度で検出する検査方法及び検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a technology for detecting defects with high accuracy, or a technology for supporting defect detection, regardless of a surface shape of an inspection object to be subjected to visual inspection.例文帳に追加

外観検査を行う検査対象の表面形状によらず、高い精度で欠陥を検出する技術または欠陥の検出を支援する技術を提供する。 - 特許庁

To provide a pattern inspection apparatus that can accurately detect relatively large defects generated in a repetition pattern region, and to provide a pattern inspection method.例文帳に追加

繰り返しパターン領域に発生した比較的大きな欠陥を正確に検出することができるパターン検査装置およびパターン検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

Furthermore, inspection data by a plurality of inspection devices can be registered in one defect and the grouping information of defects as an analyzing object can be selected arbitrarily.例文帳に追加

また、ひとつの欠陥について複数の検査装置による検査データを登録可能とし、解析対象である欠陥の分類情報を任意に選択可能とした。 - 特許庁

Next, whether chips adjacent to the defective chip have defects or not is inspected excluding the defective chip with inspection sensitivity higher than that of the first defect inspection processing (step S16).例文帳に追加

続いて、不良チップを除いて、その不良チップに隣接するチップに欠陥があるか否かを、第1の欠陥検査処理よりも検査感度を上げて検査する(ステップS16)。 - 特許庁

To provide a fuel cell system, a leak inspection device, a leak inspection method, and a fuel cell, capable of appropriately preventing working defects of a switching valve due to foreign substance.例文帳に追加

異物による開閉弁の作動不良を適切に防止することができる燃料電池システム、リーク検査装置、リーク検査方法および燃料電池を課題とする。 - 特許庁

To provide an optical inspection apparatus for a plate member and an optical inspection method for the plate member which precisely detect minute defects on a surface of the plate member.例文帳に追加

板状部材の表面微小欠陥の検出を精度高く行うことができる板状部材用光検査装置及び板状部材用光検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection method and a visual inspection apparatus, capable of speedily classifying defects into types of defect according to the form of objects to be inspected, without having to raise the apparatus cost.例文帳に追加

装置コストが増大することなく、検査対象の形態に応じた欠陥種別に迅速に分類可能な外観検査方法および外観検査装置の提供。 - 特許庁

For that, artificial defects caused by the scanning shift of the electron beams are eliminated on the images, whereby a high-sensitivity, the high-throughput electron beam type inspection device, and the inspection method can be provided.例文帳に追加

そのため、差画像上に電子ビームの走査ずれに起因する擬似欠陥がなくなって、高感度高スループット電子ビーム式検査装置と検査方法を提供できる。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection device for defects in a nonplated part not plated and a plated part plated on a surface of a substrate having a metal pattern.例文帳に追加

金属パターンを有する基板の表面に施されためっきされていない非めっき部とめっきがされているめっき部の欠陥検査方法及び検査装置の提供である。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection device for semiconductor device that can precisely detect characteristic defects of semiconductor devices formed on a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウエハ上に形成された半導体装置の特性不良を精度よく検出することができる半導体装置の検査方法および検査装置を提供すること。 - 特許庁

In the practical fabric inspection, the inspector carries out the visual inspection of the fabric and orally pronounces the words relating to fabric defects and the voices are input through a microphone.例文帳に追加

実際の検反に際し、検反作業者Aは、目視による検反を行うと共に、その検反結果についての単語W_? をマイクを介して音声入力する。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection method which enables accurate detection of surface defects in information recording media which can cause errors, and to provide a surface defect inspection apparatus.例文帳に追加

エラーとなり得る情報記録媒体の表面の欠陥を精度良く検出可能な表面欠陥検査方法および表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an active matrix substrate and a defect inspection method therefor which allow the presence of defects to be surely inspected.例文帳に追加

欠陥の有無を確実に検査することができるアクティブマトリクス基板およびその欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

Defects information is added with an image at the time of inspection, and then is corrected for an amount of positional deviation between image information and layout information.例文帳に追加

また、欠陥情報に検査時の画像を付加し、画像情報と設計情報との位置ずれ量で補正する。 - 特許庁

To provide a system and method for automatically inspecting the accuracy of an absolute humidity inspection device capable of overcoming the defects of a prior art.例文帳に追加

先行技術の欠点を克服する絶対湿度検知装置の精度を自動的に検査を提供すること。 - 特許庁

To provide a system for cutting plate glass which can automatically perform the inspection of defects and cutting of the plate glass.例文帳に追加

板ガラスの不良品検査と割断とを自動的に行うことができる板ガラスの割断システムを提供すること。 - 特許庁

To obtain a defect-inspecting semiconductor substrate facilitating detection of defects, without changing the function and constitution of an inspection unit.例文帳に追加

検査装置の機能や構成を変えることなく、欠陥を検出しやすくする欠陥検査用半導体基板を得る。 - 特許庁

To provide an improved high-sensitivity optical inspection system for detecting defects on diffracting plane, including surface pattern.例文帳に追加

表面パターンを含む回折面上の欠陥を検出するための改良された高感度光学検査システムの提供 - 特許庁

To provide a substrate inspection method and a device capable of improving the power of test of defects on the substrates.例文帳に追加

基板上における欠陥の検出率の向上を図ることが可能な基板検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

EB data as mask design data are transformed into a format of the apparatus for inspecting the defects, thereby acquiring inspection data.例文帳に追加

マスク設計データとしてのEBデータを欠陥検査装置用のフォーマットに変換することにより検査データを得る。 - 特許庁

To provide wiring pattern inspection method capable of easily detecting defects of wiring patterns, in a short time.例文帳に追加

配線パターンの欠陥を短時間で簡単に検知することができる配線パターンの検査方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a method for determining defects being present in the surface and the inside of a foam roller by an inspection, and a device therefor.例文帳に追加

発泡体ローラーの表面部と内部に存在する欠陥を1度の検査で得る方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect-inspecting apparatus for speedily detecting both of foreign object defects and light-scattering defects at the light-scattering transmission sheet by one inspection with high sensitivity.例文帳に追加

光散乱透過シートにおける異物欠点と光散乱欠点の両方を一回の検査で高感度にかつ高速に検出することができる欠点検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a system for inspecting substrate defects, whereby the inspection accuracy for substrate defects can be improved by increasing a resolution of a defect observing apparatus.例文帳に追加

欠陥観察装置の解像度を上げることにより、基板の欠陥検査精度を向上させることができる基板の欠陥検査方法および基板の欠陥検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide an image inspection apparatus for detecting defects, without fail, by suppressing reflection of illumination obstructing detection of defects to a target having a curved surface of a mirror surface.例文帳に追加

鏡面の曲面を有する対象物に対する、欠陥検出の支障となる照明の映り込みを抑制し、確実な欠陥検出を可能とする画像検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of detecting relatively large-sized defects with high sensitivity as well as fine defects whose amount of change in height or depth is equal to or less than 1 nm.例文帳に追加

比較的大きなサイズの欠陥を高感度で検出できると共に、高さ又は深さの変化量が1nm又はそれ以下の微細な欠陥も検出できる検査装置を実現する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspecting apparatus for easily, accurately, and quickly detecting defects contained in a quartz glass material, especially minute defects, such as bubbles, and foreign objects.例文帳に追加

石英ガラス材の内部に含まれる欠陥、特に泡、異物等の微小な欠陥を容易に、正確に、短時間で検出できる欠陥検査方法および欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

例文

The image processing and control device 100 detects defects on the surface of the semiconductor chip 1 by the inputted image signal, and judges whether or not the defects are in compliance with the specifications thereof, based on the results of the inspection.例文帳に追加

画像処理/制御装置100は、入力した画像信号から半導体チップ1の表面の欠陥を検出し、検出結果に基づいて半導体チップの合否を判断する。 - 特許庁




  
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